H01J 49/40 — спектрометры, работающие по принципу измерения времени полета ионов
Селектор скоростей нейтральных частиц
Номер патента: 255420
Опубликовано: 01.01.1969
МПК: H01J 49/40
Метки: нейтральных, селектор, скоростей, частиц
...Однако в такой конструкции селектора повышение скорости, вращения ротора выше 30000 об(мин вязано с серьезными затруднениями, поскольку несимметрично загружены подшипники и трудно производить динамическую балансировку вращающейся части, состоящей из якоря двигателя и ротора селектора, расположенных вдоль одной оси.Описываемое устройство отличается от известного тем, что селектирующие канавки или кольца с прорезями устанавливают на периферии цилиндрического ротора, являющегося одновременно якорем обращенного симметричного электродвигателя, причем, с целью получения высокого постоянства ск рости вращения, применяют синхронный г стерезисный двигатель, питающийся от ст тического пнвертора напряжения, синхронизируемого генератором...
Устройство для прерывания пучка медленныхнейтронов
Номер патента: 265304
Опубликовано: 01.01.1970
Автор: Бурмистров
МПК: G01T 3/00, H01J 49/40
Метки: медленныхнейтронов, прерывания, пучка
...20 из материала, обладающего пьезоэлектрическими свойствами, например кварца, установлены под углом к падающему потоку, обеспечивающему брегговское условие отражения нейтронов, и подключены к высокочастотно му генератору .переменного напряжения, возбуждающему в них высокочастотные поперечные пьезоэлектрические колебания. Йзобретение относится к области эксг 1 ери. ментальной ядерной физики. Прерывагели нейтронов являются наиболее важным узлом в спектрометрах нейтронов по времени пролета,Известны прерыватели пучков медленных нейтронов, в которых для создания нейтронных пачек используются вращающиеся механические устройства (роторы),В известных устройствах с механическими прерывателями не удается получить длительности пачек нейтронов...
Механический селектор
Номер патента: 319915
Опубликовано: 01.01.1971
МПК: H01J 49/40
Метки: механический, селектор
...случаях, когда изменение функции распределения в пределах полосы пропускания селектора Л велико, приближенная функция распределения значительно отличается от истинной функции, причем установить величину ошибки невозможно без проведения измерения при помощи селекторов, имеющих другие значения параметра у (п=1, 2, 3, ), вычисления приближенных функций (оо, утт) и определения истинной функции распределения пу 15 Цель изобретения функции распределен(о) и ошибок, допус т 1 ип функции 1(о) с У(Оо, у), определяем 20 денным за селскторо раметра у. Описываемый селе смотренного тем, что кания Л 1, Лг и Лъ ко 25 значения относитель пускания у(ут, уг, уз лизовать способ опр деления молекул по ванный на проведен 30 сти за селектором пнайденных...
Механический селектор нейтральных частиц
Номер патента: 302679
Опубликовано: 01.01.1971
Автор: Павлов
МПК: G01T 5/00, H01J 49/40
Метки: механический, нейтральных, селектор, частиц
...выходовпар каналов,Угол меяду радиусом, проведенным в центр 60произвольного выхода 5, и радиусом, проведенным в центр одной из щелей б, имеет величинуВысота колец исятот диаметра пото пости аппаратуры, регистрирующей частицы потока, прошедшие сквозь селектор (д - 0,0 в 0,1).Внешнее кольцо 1 имеет толщину 1, вг,треннее кольцо 2 - толщину 0,01 - 0,02 г,Радиус несущсго диска 3 равен внешнему радиусу кольца 1, а его толщина выбирается из соображений прочности конструкции и меняется в пределах от 0,03 до 0,08 г в зависимости от выбора величины пв, и го.Радиус г наружного кольца, ширина,г щелей и каналов, толщина 1 наружного кольца, число д щелей и выходов пар каналов, величина з дуги закрутки, а также величины а, а. и р определяются из...
Способ определения функции распределения молекул по скоростям
Номер патента: 314164
Опубликовано: 01.01.1971
МПК: H01J 49/40
Метки: молекул, распределения, скоростям, функции
...от,истинной функции распределения /(о 0), причем устаповпть вел:чину ошибки, равной /(оо - / (о,. у) , невозможно.0 Целью описываемого способа является повышение точности определения истинной функции распределения молекул по скоростям /(о)Описываемый способ отличается тем, что 5 потоки селектированных молекул измеряютпри различных значениях параметра у, определяют приближенные функции распределения для этих значений у и экстраполируют найденные функции распределения до функ ции, соответствующей у=О и являющейся истинной функцией распределения по скоростям.Предлагаемый способ заключается в следу ю 1 цем.25 Измеряют потоки селектированных молекул р(оо; у) прп различных значениях у(0("о(). По результатам измерений Лр(оо; у) определяют...
Способ время-пролетного масс-спектро-метрического количественного анализа
Номер патента: 832622
Опубликовано: 23.05.1981
Авторы: Кудрявцев, Никоненков, Потапов
МПК: H01J 49/40
Метки: анализа, время-пролетного, количественного, масс-спектро-метрического
...пролета, каждый испаряющийимпульс налагают на дополнительныйпредварительный импульс, длительностькоторого больше. времени пролета ионовь пространство дрейфа, а постоянноенапряжение при этом понижают на величину амплитуды предварительного импульса.На фиг, 1 изображена схема времяпролетного атомного зонда,на фиг, 2 - .эпюры напряжений на образце.Время-пролетный атомный зонд содержит высоковольтный блок питания1 к которому подключают образец 12,экранирующий электрод 2 и детекторионов 3, размещенные в вакуумной камере 4, сумматор 5, таймер 6, интенсиометр 7, дополнительный генератор8 высоковольтных импульеов, генератор 9 испаряющих импульсов, блок 10задержки, задающий генератор 11,Работа зонда происходит следующимобразом.С помощью...
Время-пролетный масс-спектрометр
Номер патента: 1005216
Опубликовано: 15.03.1983
Авторы: Иванов, Козлов, Мамырин, Шмикк, Щебелин
МПК: H01J 49/40
Метки: время-пролетный, масс-спектрометр
...проходят в щель второго. электрода.Для увеличения плотности электронного тока, что ведет к увеличению чувствительности масс-спектромегра, в источ-нике ионов могут использоваться несколько электронных пушек, расположенных за первым электродом гак, что плоскости ленточных электронных пучков пересекаются по оси, параллельной оси лазерных лучей. В этом случае в первом электроде прорезается несколько шелей. 35На фиг. 1 изображена блок-схема времяпролетного масс-. спекгромегра; на фиг. 2 - консгрукпия источника ионов.Предлагаемое устройство состоит из импульсного источника 1 ионов, дрей- е фового пространства 2 и приемника 3 ионов. Источник ионов включает шелевой коллиматор 4, формирукпгий газовую струю. Иве днафрагмы 5 н 6 лазерных лучей....
Время-пролетный масс-спектрометр
Номер патента: 1046800
Опубликовано: 07.10.1983
Авторы: Александров, Иванов, Мамырин
МПК: H01J 49/40
Метки: время-пролетный, масс-спектрометр
...и нитевидный катод, пространство дрейфа и приемник ионов, в электронную пушку устанавливаются три дополнительных плоских щелевых электрода, размещенных между тремя упомянутыми электродами и камерой ионизации, все шесть электродов располагаются таким образом, что оси их щелей параллельны нитевидному катоду инаходятся е ним в одной плоскости,перпендикулярной плоскостям всехэтих электродов, нитевидный катод расположен посредине между наружнымпервым и следующим - вторым электродами при условии, что.ф; - толщина "го электрода.В предлагаемом масс-спектрометремагнитная Фокусировка электронногопучка заменена электростатической,которая обеспечивается введением вэлектронную пушку трех дополнительных щелевцх электродов между тремясуществовавшими и...
Радиочастотный масс-спектрометр
Номер патента: 1051619
Опубликовано: 30.10.1983
Авторы: Игнатенко, Кочеев, Суханов
МПК: H01J 49/40
Метки: масс-спектрометр, радиочастотный
...= 1(Схема содержит корпус 1 и изолированные друг от друга и от корпуса 1 плоские сеточные электроды 2, делитель 3 напряженйя, подключенный к блоку 4 питания и соединенный с электродами 2 анализатора, формирователь 5 бегущей волны электрического поля, выполненный по схеме ион-. ного разрядного сдвигового регистра, соединенный через конденсаторы б с электродами 2 анализатора, высокочастотный генератор 7, тормозной сеточный электрод 8, соединенный с блоком 4 питания, коллектор 9 ионов, соединенный с регистрирующей аппаратурой 10, моноэнергетичный поток ионов 11, поступающий из ионного источника на вход анализатора.Устройство работает следующим . образом.Моноэнергетичный поток ионов непрерывно поступает в анализатор. Делитель 3...
Время-пролетный спектрометр ультрахолодных нейтронов
Номер патента: 1053187
Опубликовано: 07.11.1983
Авторы: Ефимов, Кунстман, Серебров, Тальдаев
МПК: H01J 49/40
Метки: время-пролетный, нейтронов, спектрометр, ультрахолодных
...3),Прерыватель в таком спектрометресостоит из диска со целью (1"ый ротор) и барабана (2-ой ротор), распо"ложенного за диском (по ходу пучка).Барабан набран иэ стеклянных пластин,между которыми оставлены зазоры дляпрохождения УХН. Когда при врацениищели первого и второго роторов располагаются вдоль оси пучка, нейтронный импульс проходит на детектор,.Второй ротор позволяет перекрывать,значительное количество импульсовпервого ротора (например, И ) и уве.личивает скважность системы в М раз.В данном спектрометре при такой конструкции прерывателя удалось увеличить скважность примерно в 2,5 разапо сравнению с обычным дисковым прерывателем Однако такой скважностинедостаточно для измерения спектраУХН с точностью 1. 5Таким образом,...
Времяпролетный масс-спектрометр
Номер патента: 1061194
Опубликовано: 15.12.1983
Авторы: Бусыгин, Каллестинов, Ульмасбаев
МПК: H01J 49/40
Метки: времяпролетный, масс-спектрометр
...а приемник ионов помещен в дополнительном патрубке, расположенном под углом 2 сС к оси симметрии масс-спектрометра.Электроды поворотного конденсатора представляют собой две параллельные металлические сетки.10 На чертеже представлена схемапрздлагаемого масс-спектрометра.Масс-спектрометр содержит в камере анализатора импульсный ион.ный источник 1, бесполевое про странство 2 дрейфа, два зазораконденсатора 3 и 4 отражателя, приемник 5 ионов и поворотный сетчатый конденсатор, представляющий собой две плоские параллельные сетки 20 6 и 7, расположенные под углом ок оси симметрии камеры анализатора Сетка 7 постоянно заземлена,Сетка 6 с помощью электронного ключа 8, запускаемого сигналом с источника ионов через блок 9 задержки,...
Времяпролетный масс-спектрометр
Номер патента: 1095272
Опубликовано: 30.05.1984
Авторы: Ковалев, Ларин, Мотовичев, Сучков
МПК: H01J 49/40
Метки: времяпролетный, масс-спектрометр
...масс-спектрометр включает в себя вакуумированную вре- б 5 мяпролетную трубу 1, в которой соосно расположены твердотельный источник 2 ионов с источником 3 первичного пучка, коллимирующее отверстие 4,детектор 5 ионов, электростатическуюотражающую систему 6, фильтр 7 низких энергий, плоские электроды 8-13.Устройство работает следующим образом,Излучение лазера Фокусируется наобразец из источника 3 первичногопучкаОбразованный под действием импульса излучения пакет ионов с энергиями до тысячи эВ распространяетсяв бесполевом пространстве дрейфа внаправлении отражающей системы 6,.Ионы с энергиейс ЧБ ) - потенциал электрода 8) отражаются в направлении детектора и движутся в бесполевом пространстве до фильтра 7 низких энергий....
Масс-спектрометрический способ анализа твердых тел
Номер патента: 1105962
Опубликовано: 30.07.1984
МПК: H01J 49/40
Метки: анализа, масс-спектрометрический, твердых, тел
...ионов по энергиям.Энергия разлета ионов лазерной плазмы заключена в диапазоне Ои 1 кэв (при. плотности мощности излученияпо10 Вт/см ): Однако энергоанализатора пропускает к регистратору из всех ионов с данными М/ только час- тицы, имеющие фиксированную скорость,1 О/р: ( -(2) 11например, при использовании в качестве энергоанализатора цилиндрическогоконденсатора радиус центральной траектории ионов в энергоанализаторе;заряд электрона;напряжение на обкладках конденсатора;25 расстояние между обкладками. в данном случае ГДР Г Ь - Т.е. 30 Очевидно, что на регистратор частицы с разными Р /М будут поступать в виде отдельных пакетов, поступающих в различные моменты времени 35(3) Для установления количественных соотношений необходимо...
Спектрометр пучков заряженных частиц
Номер патента: 970511
Опубликовано: 15.08.1985
МПК: H01J 49/40, H01J 49/48
Метки: заряженных, пучков, спектрометр, частиц
...4 цилиндрического зеркала,находящийся под потенциалом Земли,внешний электрод 5 цилиндрическогозеркала, на который подается отклоняющий потенциал, внутренний электрод б двухкаскадного цилиндричес-кого зеркала, находящийся под потенциалом Земли, внешний электрод 7двухкаскадного цилиндрического зеркала, на который подается отклоняющий потенциал, внутренний электрод8 сферического зеркала, на которыйподается отклоняющий потенциал,внешний электрод 9 сферическогозеркала, находящийся под потенциаломЗемли детектор 10, модулятор, представляющий собой систему из двух концентрических сферических электродов11 из прозрачной сетки, соединенныхчерез переключатель с источникомимпульсного напряжения,970511 до квадрата угловой...
Масс-спектрометрический способ анализа ионов и масс спектрометр
Номер патента: 1228161
Опубликовано: 30.04.1986
Авторы: Колотилин, Овчинников, Самодуров, Чердаков, Шеретов
МПК: H01J 49/40
Метки: анализа, ионов, масс, масс-спектрометрический, спектрометр
...постоянное напряжение, меньшее потенциала катода источникаэлектронов, л с выхода 17 на другуюсетку подается импульсное напряжениеБ. Первая сетка служит для предотвращения попадания электронов изионного источника в пролетный анализатор, а вторая - для предотвращения попадания ионов из ионного ис"точника в пролетный анализатор вовремя процесса накопления ионовнокаол )(ТСпособ реализуется с помощью указанного устройства следующим образом.В течение времени С , (либо втечение части его) в ионйый источниквводят ионизирующий электронный поток.В течение этого времени ионы накапливаются в ловушке и при правильном выборе параметров питающего напряженияП и У сортируются. При этом ионнаяловушка настроена на те же ионы, чтои пролетный...
Времяпролетный масс-спектрометр
Номер патента: 1241303
Опубликовано: 30.06.1986
Авторы: Дубенский, Новикова, Шмикк
МПК: H01J 49/40
Метки: времяпролетный, масс-спектрометр
...потенциалами всех предыдущих электродов. 14 Мс)КО ф41,ин - соответственно максимальная и минимальная энергии ионов в дрейфе,а расстояние между электродами должно удовлетворять выражениюВведение трех дополнительных сетчатых электродов позволяет уменьшить длительность д 1 ионных пакетов на входе детектора и увеличить разрЕшающую способность ВПМ примерно в пять раз, а также увеличить чувствительность, т.е получить на выходе детектора 3 сигнал, уровень которого больше, чем у известного масс-спектрометра, при одинаковом парциальном давлении в приборе ис" следуемого газа или паров вещества.Сравним , - величину импульса ионного тока на входе детектора известного масс-спектрометра и 1г величину импульсного тока на входе детектора предлагаемого...
Времяпролетный масс-спектрометр
Номер патента: 1247973
Опубликовано: 30.07.1986
Авторы: Александров, Галль, Голиков, Печалина, Холин
МПК: H01J 49/40
Метки: времяпролетный, масс-спектрометр
...факторов в приборах, рассмотренных выше, Отсутствие дисперсии по энергии позволяет также сделать вывод, что потери ионного тока будут крайне незначительны, вследствие чего ожидается значительный выигрыш в чувствительности даже по сравнению с прототипом.Дополнительным преимуществом предлагаемых приборов является возможность уменьшения габаритов без потери временной дисперсии, т.е. создания высокочувствительных малогабаритных масс-спектрометров.В качестве конкретного варианта можно рассмотреть времяпролетный массспектрометр, электроды которого с целью упрощения конструкции выполнены коаксиальными, в виде квазиконических поверхностей с общим основанием, описываемых уравнением(г)2 в -2-К 1 и,=С 1=1,2, (4)с 1 2 с 1где г=Гх УК. -...
Устройство для измерения угловых корреляций при бета-распаде
Номер патента: 1257727
Опубликовано: 15.09.1986
МПК: H01J 49/40
Метки: бета-распаде, корреляций, угловых
...11, задающего тип поляризации(6 или 6 ),Введение в устройство компенсаторапридает лазерному излучению круговуюполяризацию ГБ или 6 ). Это позволяет регистрировать не все ядра отдачи, а лишь те, спин которых направлен в определенном направлении, т.е.имеет определенную проекцию на ось лазерного луча Е. Таким образом, устройство становится способным измерять- Фкроме Ч и Чеще и третью физическую величину - проекцию спина ядра отдачи Л что позволяет вычислить углы р и Г и, следовательно, определить коэффициенты А и В. При этом потребуется лишь незначительно изменить способ измерения - провести исследование не один раз, а два раза для двух различных видов поляризации ( 6 и.Б ). Применение компенсатора в предлагаемом устройстве...
Времяпролетный масс-спектрометр
Номер патента: 1118229
Опубликовано: 07.02.1987
Автор: Манагадзе
МПК: H01J 49/40
Метки: времяпролетный, масс-спектрометр
...кратера. В этом случае образованная при воздействии излучения плазма практически не выходит наружу ("зарывание"),Целью изобретения является увеличение чувствительности прибора и точности измерения.Ф Цель достигается тем, что в известном времяпролетном масс-спектрометре, содержащем импульсный источник ионов, детектор и рефлектор, расположенный перед детектором после пространства дрейфа, рефлектор выполнен в виде тора, расположенного коаксиально центральной оси массспектрометра, по которой также расположен детектор ионов, при этом на входе рефлектора расположена электростатическая отклоняющая система тороидальной конфигурации, а пространство дрейфа между источником ионов и рефлектором ограничено двумя коническими металлическими...
Устройство для масс-спектрометрического анализа поверхностей космических объектов
Номер патента: 1218852
Опубликовано: 07.05.1987
Авторы: Манагадзе, Сагдеев, Шутяев
МПК: H01J 49/40
Метки: анализа, космических, масс-спектрометрического, объектов, поверхностей
...и исследуемым объектом1 = 25 м, равно Затем выделенные ионы регистрируются детектором 4, При этом каждой 50 массе соответствует пик с определенной задержкой от начала развертки.По амплитуде пиков можно судить о процентном содержании элементов в грунте. Для регистрации и запоминания 55 сигнала можно использовать многоканальный анализатор, функционально аналогичный, например прибору МАЧЕГОКМКЕСОКЭЕК модель 8100 фирмы 3 Р ьг 14, 2 Уг= 5 10ионов. 1 121885Изобретение относится к областикосмического приборостроения и можетбыть использовано для дистанционногоисследования элементного состава космических объектов, лишенных атмосФеры.. Целью изобретения является повышение точности результатов и расширение функциональных...
Способ масс-спектрометрического анализа и устройство для его осуществления
Номер патента: 1172405
Опубликовано: 30.10.1987
Авторы: Александров, Галль, Лебедев, Санченко
МПК: H01J 49/40
Метки: анализа, масс-спектрометрического
...пакеты ионов детектируют на линии фокусов, получая пространственный масс-спектр.На фиг. 1 представлена схема времяпролетного масс-спектрометра; на фиг, 2 изображен управляемый коммутатор.Устройство содержит источник 1 ионов (фиг. 1), первую пролетную камеру 2, первый сетчатый электрод 3, второй сплошной электрод 4, детектирующую пластину 5 с фотоэмульсионным слоем, источник питания б, управляемый коммутатор 7, вторую пролетную камеру 8, детектор 9 по времени попадания ионов, Управляемый коммутатор содержит генератор 1 О прямоугольных импульсов (например, Г 5- 56) с диапазоном длительности импульсов 1 О+1000 мкс, генератор 11 источника ионов, генератор 12 разрядника 13, блок 14 питания.Принцип работы электронного коммутирующего...
Времяпролетная масс-спектрометрическая установка
Номер патента: 1527677
Опубликовано: 07.12.1989
МПК: H01J 49/40
Метки: времяпролетная, масс-спектрометрическая
...мкс с второго выхода задающегогенератора 1 на выталкивающий электрод,5источника 3 ионов поступают импульсымалой длительности и большой амплитуды. В ионизационной камере формирунтся пачки ионов, состоящие из ионов разных масс, и затем выталкиваются в пространство 4 дрейфа, где через времяГ 2 ЧЦцгде Б - длина дрейфового пространства,заряд ионов;Ц - ускоряющее (выталкивающее)напряжение;ш - масса ионов,регистрируются вторичным электроннымумножителем 5, В момент формированияс, пачек ионов часть напряжения генератора 1 запускает генератор 11, вырабатывающий синхронизированный с моментом запуска сигнал Ч (фиг,2 а) иисзадержанный относительно момента запуска на время С, сигнал Ч, (фиг.2 б),Величина времени Се определяется длиной дрейфового...
Времяпролетный масс-спектрометр
Номер патента: 1594628
Опубликовано: 23.09.1990
Авторы: Абрамов, Бандура, Высочкин, Иванов, Сурков, Сысоев
МПК: H01J 49/40
Метки: времяпролетный, масс-спектрометр
...ми5 159462 шени 2 в наружную 1 О либо внутреннюю 11 его часть. Угол наклона р образующих элементов 9 выбирается при этом из интервала 40-50 , когдаоэмиссия ионов, образующихся при ударе микрочастицы, максимальна,Электрическое поле, создаваемое частями 10 и 11 данного элемента жалюзи и частями 10 и 11 соседнего элемента с меньшим радиусом основания,имеющи- ми соответственно потенциалы Бр, Б, , П , Бк, создаваемые йодключением к крайним электродам бло-. ков 8 питания, замедляет и поворачивает обратно ионы, движение которых в результате гидродинамическо" го разлета плазмы направлено в сторону, противоположную направлению от данного элемента жалюзи к вход ному окну анализатора 4, Пакет ионов, ускоренных электрическим полем, формируемым...
Времяпролетный масс-спектрометр
Номер патента: 1597965
Опубликовано: 07.10.1990
Авторы: Игнатов, Кирьянов, Матанцев, Эрзин
МПК: H01J 49/40
Метки: времяпролетный, масс-спектрометр
...образуемые в источнике 1 ионов и фокусируемые фокусирующими линзами 2, поступают в фокусирующую систему 3 прямого пучка ионов, состоящую из соосных цилиндров. Система примыкает к двух- зазорному рефлектору 4, в котором происходит фокусировка ионов по энергии. Ионы теряют в первом зазоре большую часть энергии (70) и с меньшей скоростью входят во второй зазор, где и происходит основной эффект Фокусировки ионов по энергии, т.е, ионы большей энергии проходят большее расстояние до отражения и большее расстояние до детектора, в результате чего они попадают в детектор в одно время с ионами меньшей энергии, прошедшими меньшее расстояние,Изобретение относится к масс-спектро. метрии, конкретно к времяпролетным массспектрометрам,...
Времяпролетный масс-спектрометр
Номер патента: 1651327
Опубликовано: 23.05.1991
Автор: Манагадзе
МПК: H01J 49/40
Метки: времяпролетный, масс-спектрометр
...ограниченной сетками 3 и 4,и образованные ионы удерживаютсяэлектростатическим полем до включениявыталкивания, после чего ионы сэнергией ф 30 эВ начинают двигатьсяв области; ограниченной сетками 4 и 5,получив дополнительно 200 эВ, далее,пройдя через область дрейфа и отклонившись в поле электродов, ионы отражаются в поле рефлектрона и попадают надетектор..Величина напряжения Н выбираетсяэкспериментально по максимуму сигнала и наилучшего разрешения.В режиме регистрации ионов сеточная сборка 2, 3 и 4 используетсяв качестве электростатического затво 45ра. В этом режиме на прибор подаютсяте же напряжения, что и в режиме нейтрального газа за следующим исключе нием провод 7 отключен, диафрагма бсоединена с корпусом: в ждущем режиме50сетка...
Способ выделения ионов дейтерия из моноскоростного потока ионов
Номер патента: 699922
Опубликовано: 07.07.1991
МПК: G01T 1/00, H01J 49/40
Метки: выделения, дейтерия, ионов, моноскоростного, потока
...одноразрядных ионов П и Не В моноскоростном потоке солнечного ветра такой способ не позволяет отделить П от ионов Не из-за оди накового отношения массы к заряду -ш/с для этих сортов ионов,Цель изобретения - разделение потоков гП+ и 4 Не, т.е. разработка , фспособа однозначного вьщеления изпотока моноскоростного солнечноговетра ионов дейтерия - П и последующего анализа их по энергии,Это достигается тем, что ионыгП+ и 4 Неф+ пропускают сквозь твер-гЪ,дую мишень толщиной не более 1 мкг.смепревращает фНефф в ионы фНеф, для акоторых Е/Ч удваивается по сравнениюс первичной Е/"1 для фНе и затемс помощью электростатического анализатора (ЭСА) производят раздельныйФанализ однозарядных ионов 2 П+ й 4 Че699922 Эти измерения производились на...
Нейтронный спектрометр
Номер патента: 1684832
Опубликовано: 15.10.1991
Автор: Втюрин
МПК: H01J 49/40
Метки: нейтронный, спектрометр
...окончания измерений полученный времяпролетный спектр преобразуется в эквивалентный ему времяпролетный спектр импульсного нейтронного источника с длительностьюимпульса С/И, где И = 2 -1 - длинапсевдослучайной последовательности,а полученная статистическая точность,пропорциональная средней интенсивности потока нейтронов, определяетсякоэффициентом заполнения псевдослучайнбй последовательности, который равен 1/2,Данное устройство может быть модифицировано для целей традиционнойнейтронной спектроскопии путем установки замедлителя между нейтроннымконвертером и нейтроноводами, При=.том спектр нейтронного конвертерасглаживается замедлителем, а исследуемый образец и детектор устанавлиаются на другом конце нейтронопровода....
Способ формирования массовой линии ионов во времяпролетном масс-спектрометре
Номер патента: 1691905
Опубликовано: 15.11.1991
Авторы: Бочкарев, Семенчук, Семкин, Юсупов
МПК: H01J 49/40
Метки: времяпролетном, ионов, линии, масс-спектрометре, массовой, формирования
...вид, гпХ=г 1 Е(г; гпг), (5) гдеЕо, 0 11 о, то т Тгг.а (Тд - т)Начальные условия: при 1=0, Х(0)=-.0, Ч(0)=-ЧОИнтегрируя уравнение движения (5) ивыражая ЧО через т 1(момент вылета в бесг 1 олевае пространство са скоростью Ч 12), можно получлть выражение для скорости Ч 12 кэк функцию 1гпд чо(огп 2 тО - го т, - г 11(8) БаЗОВОЕ ВрЕМя Прапатэ ТГГ дпо ИэакрЕНной массы гп.г определяетсц соотношениглг,112Гд = 1 о 4- - .- --- -, 1 б)1 01 хого5 1, 2Таким образом, время пролета Т ионовс массой г 1 будет равно1 1 11(7)гп д гп д 11 1 12п 1 ) гп (Гд - т 1)Тэк как время г 1 зависит от начальнойскорости Чо. т,е. т;=-т 1 (Чо), та из выражения(2) слеДУет, чго ДлЯ ионов с массой птпг 1- ТТр, и наоборот, при пт=гп,4 Т=Т 1,Можно показать. что для ионов с...
Способ определения элементного и изотопного состава веществ
Номер патента: 1691906
Опубликовано: 15.11.1991
МПК: H01J 49/40
Метки: веществ, изотопного, состава, элементного
...)ИИ,1)Р 1)Йфа ДС ПР)48 Л 414 ИК(Э, сЭСТОЯНИЕ148 Х;,)у Областями дрейса (л приемника госта( ляет 550 мм, В ксэчсстве приемника ионсв(СЛ 101484 Т НИЗКОЙ ЭсСп(ЭОСТРВНЕННОСТИ ИС"цо,ьзуется шевронная сборка микрока 1 )-Ь)х пласти 11,Р 1 сН с(ЛИЗЕ ВВОИВ )ИЙ ДЕЙТЕРИЯ Б ДО -НЫХ Э ГЛО)КБНИЯХ В КгЕСТВР ИССЛЕД/ЕМО)0Об)ЛЗЦа исГ)ользуют пробы дон)ых стло)к"1(Лй, 1.еобхОДимаЯ веп;и)48 н(П 1)яКснн эСТ)( 1 сз ГНИ Г 1400 ГОЛ 1 ОцрЕДЕЛЯ/(ВСЬ Г 0;1 Ть Б 1 смен 1 в:с 14 ени 1" 0 цооиг Г- ;1(т ьч(брос зарях(енных )астиц из (;сгоч)(ика 1 се частицы обладают ссставляющи,",лс;01(.с)и, нэГ)1)авлРн ными кэ 1, Вдоль,11,Г 1(Х 1, ПС)цво(ЗК 1/ МагИТНОГО ПОЛЯ.88 счет поперея;(гй сос:га:) ЯющэйГ)ВИ)К ТСЯ ПР Л;(РОРОс)с(ЭЛМ Р;)Д)4/Са(41, Б(с(Ичин ы кот опых си...
Магнитный анализатор
Номер патента: 1699355
Опубликовано: 15.12.1991
Автор: Ишков
МПК: H01J 49/40
Метки: анализатор, магнитный
...ионов. Поверхности полюсов на участке 6 параллельны и создают однородное магнитное поле, а на спирали 4 поверхности локально параллельны для каждого данного значения азимута р а с ростом азимута р расстояние между ними линейно увеличивается от заданного на участке 6 до максимального на выходном торце 9. На участках 10 и 11 магнитное поле практически отсутствует благодаря глубоким глухим вырезкам 10 и 11,Устройство работает следующим образом;Ионы разных масс импульсно инжектируются в точке О на участке 6 однородного магнитного поля и в соответствии с величиной своей массы распределяются по траекториям так, что ион с минимально разрешимой массой идет по траектории 7, а ион с максимально разрешимой массой - по траектории 8. За...