H01J — Электрические газоразрядные и вакуумные электронные приборы и газоразрядные осветительные лампы

Страница 172

Способ стробирования оптического сигнала на фотоэлектронном умножителе

Загрузка...

Номер патента: 983825

Опубликовано: 23.12.1982

Авторы: Петрунин, Шавель

МПК: H01J 43/00

Метки: оптического, сигнала, стробирования, умножителе, фотоэлектронном

...их следования.Цель изобретения - расширение диапазона частоты следования стробируемого оптического сигнала в сторону сверхвысо ких частот.Цель достигается тем, что согласно способу стробирования оптического сигнала на фотоэлектронном умножителе, при котором оптический сигнал направляют на фотокатод, воздействуют на аналоговый электронный сигнал, полученный с фотока 35 тода, запирающим и отпираюшим электрическими сигналами, которые подают синхронно с оптическим сигналом на модулятор фототока, задерживают запирающий сигнал, на время, равное длительности40 отпирающего сигнала, делают равными амплитуду и длительность отпираюшего и запирающего сигналов, причем длительность отпираюшего сигнала выбирают меньше половины времени пролета...

Устройство для анализа жидких материалов методом вторичноионной масс-спектрометрии

Загрузка...

Номер патента: 983826

Опубликовано: 23.12.1982

Авторы: Ильинский, Попов

МПК: H01J 49/14

Метки: анализа, вторичноионной, жидких, масс-спектрометрии, методом

...- повышение воспроизводимости результатов и расширениедиапазона анализируемых материалов.Данная цельдостигается тем, что в 30устройстве для анализа жидких материалов методом вторично-ионной масс-спектрометрии, содержащем источник первичных ионов, держатель образца, масс=анализатор и детектор, держатель образцавыполнен из пористого материала.На фиг. 1 изображена схема предлагаемого устройства; на фиг, 2 - масс-спектры вторичных ионов для мишени на основе монолитного молибдена (а) и на 40основе пористого молибдена (б).Устройствосостоит из источника 1ионов, держателя 2 исследуемого образца, масс-спектрометра 3,Перед анализом исследуемое вещество вводится в жидком состоянии в капилляр 50 ные каналы пористого твердого тела, являющегося...

Способ масс-спектрального анализа вещества

Загрузка...

Номер патента: 983827

Опубликовано: 23.12.1982

Авторы: Кабаченко, Тарантин

МПК: H01J 49/26

Метки: анализа, вещества, масс-спектрального

...в ионном источнике ионизируют исследуемое вещество и измеряют спектр массовых чисел, путем изменения режима ионизации в источнике ионов раздельно получают однозаряд 25 ные и двухзарядные ионы и раздельно измеряют спектры масс однозарядных и двухзарядных ионов и путем сравнения полученных масс-спектрограмм определяют раздельное содержание элементов зо и комплексных соединений, имеющих одинаковые массовые числа.Для этого используют экспериментальную закономерность, заключающуюся в том, что отношения выходов двух зарядных молекулярных ионов к выходам однозарядных ионов одних и тех же комплексных и молекулярных соединений существенно меньше, в 20-30 раз ) аналогичных отношений выходов атомар О ных ионов.Предлагаемый способ...

Способ калибровки медицинского масс-спектрометра

Загрузка...

Номер патента: 983828

Опубликовано: 23.12.1982

Авторы: Пушкина, Слуцкий

МПК: H01J 49/26

Метки: калибровки, масс-спектрометра, медицинского

...образцовой газовой смесиатмосферного воздуха, калибровку по СО 1 Опроводят по альвеолярному воздуху, причемчувствительность по СО устанавливаютиз условия постоянства суммы концентрации (парциальных давлений) всех газов навдохе и выходе. 15В основу способа положена неизменностьсуммы концентраций (парциальных давлений) всех газовых компонентов в процессе дыхания вследствие постоянства суммарного давления. При дыхательном коэффициенте, равном единице, изменение концентрации СО равно изменению концентрации 02,и концентрации остальных газовых компонентов остаются неизменнымиот входа и выходу. При отклонении этого 25коэффициента от единицы концентрацииостальных газовых компонентов меняютсяв ту или другую сторону на величину раэницы между...

Способ масс-спектрометрического анализа молекулярных нелетучих веществ

Загрузка...

Номер патента: 983829

Опубликовано: 23.12.1982

Авторы: Поволоцкая, Танцырев

МПК: H01J 49/26

Метки: анализа, веществ, масс-спектрометрического, молекулярных, нелетучих

...молекулярными ионами ъ -аланина, Н + ИН (СН )2 СО 2 Н 3, цифрой Й пик протонированных молекулярных ионов глицерина Н + СНОН(СН ОН)2 3+, цифрой 5 - пик протонировайных молекулярных ионов валина 1 Н + (СН З) к фСН СНИН 2 . СО 2 Н 3+, цифрой 6 - пик протонированных молекулярных ионов 0 - лизинаН + ИН (СН),СНЙ Нх х СОН 3 и цифрой 7 - пик протонированных молекулярных ионов- аргинина Н + МНС(МН) . МН(СН 2) х х СН(НН)СО Й 3. П р и м е р 1, Иишень приготавливают следующим образом. Навеску сухого валина растворяют в глицерине.Концентрация валина в глицерине составляет 0,75 вес.Ф. Полученный раствор наносят на никелевую подложку слоем, 0,3 мм. Подложку с раствором вводят в масс-спектрометр. Записьмасс-спектра производят при следующих условиях:...

Накопительная ячейка для масс-спектрометрического анализа летучих веществ

Загрузка...

Номер патента: 983830

Опубликовано: 23.12.1982

Авторы: Агафонов, Бессмертная, Фаерман

МПК: H01J 49/26

Метки: анализа, веществ, летучих, масс-спектрометрического, накопительная, ячейка

...4 ионного источника. Внутри ее коаксиально укреплена спомощью изолятора с отверстиями 5 стеклянная трубка 6, покрытая проводящимслоем 7, на поверхности которого выращены иглообразные полупроводниковые45монокристаллы 8, длина которых в 210 раз меньше зазора между трубками 1и 6, Исследуемый газ пропускают череззазор между трубками 1 и 6,; при этомна поверхности полупроводниковых микро Овыступов 8 происходит сорбция менее.летучих компонентов смеси. Периодическиосуществляют электрический разряд между усами и электродом (трубкой 1); подавая на них по токовводам 9 разностьпотенциалов в несколько киловольт. Приэтом под действием электрического разряда за время Т полупроводниковые усы 0нагреваются, а накопленные на них вещества испаряются,...

Масс-спектрометр

Загрузка...

Номер патента: 985846

Опубликовано: 30.12.1982

Авторы: Андрианов, Задорожный, Юдин

МПК: H01J 49/26

Метки: масс-спектрометр

...подключен вход усилителя 7 управления током катода, источник 8 переменного тока, откоторого залитан управляемый преобразователь 9 переменного напряжения в постоянное, управляющий вход которого соединен с выходом усилителя 7 управления током катода 10 ионнзацнонной камеры 11.Устройство работает следующим обре=ч ЗОМеУсилитель 1 сравнивает падение напряжения на измерительном элементе 2 обусловленное протекающим через него током эмиссии катода 10, с потенциалом источника 3 опорного напряжения,45С помощью переменного резистора изме рительного элемента 2 осуществляется ручная регулировка рабочего тока термсьлектронной эмиссии.Ускоренные с помощью ионизирующего 5 О напряжения электроны попадают на ионизационную камеру 11, а часть электронов,...

Герметичный токоввод в кварцевую колбу лампы

Загрузка...

Номер патента: 985847

Опубликовано: 30.12.1982

Авторы: Симакин, Хузмиев, Хузмиева, Якусевич

МПК: H01J 61/36

Метки: герметичный, кварцевую, колбу, лампы, токоввод

...токоввоце в кварцевую кол-бу лампы, содеркащем герметично заштвмпованную в кварцевую ножку лампыплоскую фольгу с; по меньшей мере, двумя зонами, каждая иэ которых соединена соответственно с электроцом и выводом с помощью токоподводяших звеньев,расположенных вдоль противоположныхпроцольных сторон указанньх зон, зонырасположены в разных параллельных продольных плоскостях. 25На фиг, 1 представлен токоввод, общий вид, на фиг. 2 - токоввоц с двумяпараллельными зонами, поперечный разрезфна фиг, 3 - токоввод с тремя параллельными зонами, поперечный разрез,ФЦЗащтампованная в кваревую ножку1 молибденовая фольга 2 имеет две угрипараллельных плоских зоны, распределенных пластинчатыми вклацьпцами 3, толшлна которых не превышает толщины стен 35ки...

Индуктивный накопитель энергии

Загрузка...

Номер патента: 690988

Опубликовано: 30.12.1982

Автор: Долгачев

МПК: H01J 3/02

Метки: индуктивный, накопитель, энергии

...фиг. 1 приведена схема индуктивного накопителя, содержащая источник питания 1, соленоид накопителя 2,нагрузку 3, электрически взрываемыйпроводник 4, вакуумную камеру 5 ивспомогательный соленоид б,На фиг, 2 приведена схема накопителя для случая, когда в качественагрузки 3 используется сильноточная ускорительная трубка.Взрываемый проводник 4.расположен в вакуумной камере 5 (фиг.1)или в камере ускорительной трубки 3(фиг, 2) перпендикулярно силовымлиниям магнитного поля, создаваемого690988 Формула изобретения ВНИИПИТираж 7 каз 10667/1 Подписноедополнительным соленоидом 6 (фиг, 1) или соленоидом накопителя 2 (фиг. 2). Проводник 4 (фиг. 2) может быть изогнут в плоскости, перпендикулярной пересекающим ее силовым линиям магни тно го...

Холодный катод

Загрузка...

Номер патента: 654018

Опубликовано: 30.12.1982

Авторы: Зыкова, Кучеренко

МПК: H01J 1/20

Метки: катод, холодный

...осаж.- дения.На фиг, 2 приведено распределение тока .в предлагаемом варианте полого холодного катода с пленочным покрыти ем А)20 (кривая 1) диаметром 15 мм, длиной 60 мм (боковая поверхность катода 35 см при разрядном токе 5 15 мм в неоне, Р = 1 мм рт,ст.). Оно получено с помощью секционированного катода, схематически изображенного в верхней части рисунка. Здесь ;же приведено распределение толщин 10 1 окисной пленки в предлагаемом катоде (кривая 2) . На этой же фигуре показано типичное распределение тока для обычного цилиндрического полого ) катода (кривая 3 ) диаметром 15 мм, )5 длиной 70 мм, Кривая 4 получена, когда толстая часть клинообразного окисного покрытия ориентирована в сторону отбора тока (анода). Если же отбор тока...

Устройство для контроля неравномерности распределения плотности тока импульсного пучка заряженных частиц

Загрузка...

Номер патента: 580794

Опубликовано: 07.01.1983

Авторы: Ольховиков, Саморуков, Скосарев

МПК: H01J 47/06

Метки: заряженных, импульсного, неравномерности, плотности, пучка, распределения, частиц

...При сохранении контролируемой величины в пределах заданного порогового уровня печатается знак нормы (например, 0). Таким образом, по окончании работы сдвигового регистра, на ленте ЗПМ регистрируется карта отклонений распределения плотности тока пучка от среднего значения с 3 580794 ние времени обработки результатов измерения контролируемого параметра,Это достигается тем, что в предлагаемом устройстве датчики плотности тока пучка соединены с накопительными 5 конденсаторами и встречно включенными диодами схем выявления знака отклонения, причем катоды диодов через аналоговые ключи подсоединены к конденсатору верхней границы среднего зна" О чения который соединен с датчиком среднего значения плотности тока пучка и вторая обкладка...

Материал для нераспыляемого самоактивирующегося газопоглотителя

Загрузка...

Номер патента: 989612

Опубликовано: 15.01.1983

Авторы: Глебов, Лясников, Николаева

МПК: H01J 7/18

Метки: газопоглотителя, материал, нераспыляемого, самоактивирующегося

...газопоглотителя снижает на 7-10% технологический бракпо "осыпанию" покрытий и заметно улучшает вакуум в готовых изделиях, чтоследует из таблицы.По сравнению с базовой конструкцией 3 Й 061. группы периодической системы с мещ,шей, чем у основного металла, на800-1000 С температурой плавления,при этом размер частиц основцого ме талла составляет 80100 мкм, а дополнительного 10-15 мкм.Газопоглотитель может содержатьодно из указанных сочетаний металлов:титан-церий, цирконий или ванадий-лан;ган, йиобий-уран, гафний или ниобий оскандий или иттрий, гафний-гитан, гаф,ний или тантал-торий,Принципиальные преимущества данногоустройства вытекают из того, что принадлежащем подборе количества гранулометрии и температуры плавления...

Времяпролетный масс-спектрометр

Загрузка...

Номер патента: 989613

Опубликовано: 15.01.1983

Авторы: Колотилин, Сафонов, Шеретов

МПК: H01J 49/48

Метки: времяпролетный, масс-спектрометр

...= 2 т 1пш1 во1 д - фаза входа иона в поле;одна из координат х, у, г.35При о К и 0 (К (электроды вытянуты вдоль оси г) рабочие точки на диаграмме стабильности по координате га и с находятся вблизи начала2координат. В этом случае время движения ионов Т в такой системе равно1Вггде р = а + - ,245 ,При а ф 0 и с 1, соизмеримом с а, (прямая 1 на Фиг. 1)1рг-.а и Т = -1 Гат,е. время движения ионов в ионном 50 зеркале пропорционально, как и в обычных времяпролетных масс-спектрометрах, квадратному корню из массы.При а = 0 (ось 0 )р- , а время% - р55 т.е. в этом случае наблюдается линейная зависимость времени движения ионаот его массы, что является большимпреимуществом по сравнению с обычнымивремяпролетными масс-спектрометрами.Можно показать, что...

Датчик квадрупольного масс-спектрометра

Загрузка...

Номер патента: 989614

Опубликовано: 15.01.1983

Авторы: Бехарский, Вайсберг, Захарченко, Колотилин, Савин, Сафонов, Шеретов

МПК: H01J 49/42

Метки: датчик, квадрупольного, масс-спектрометра

...управлением (ЧПУ). При этом и ги0896 решение позэлектродов с-спектромет шить ошибку 4 к увеличен чувствищийся тем, разрешающей сп ности, электрод чика выполнен с верхности, пара ким плоскостям ной системы,формула обретен Датчик квадр метра, содержаши электрод, выполи пербопического тво СССР./62, 1972 1,щютотип) в,3перболическая поверхность, и плоскость электродов должны выполняться по одной программе, что гарантирует точное взаим ное расположение посадочных и рабочих поверхностей. Применение станков с ЧПУ дает также высокую идентичность всех электродов в датчике, что особенно важ но при сборке датчика.На чертеже показана электродная сис тема монопольного масо-спектрометра. 1 ОСхема содержит полеобразуюшие элект. роды 1 и 2,...

Датчик квадрупольного фильтра масс

Загрузка...

Номер патента: 989615

Опубликовано: 15.01.1983

Авторы: Зенкин, Колотилин, Сафонов, Шеретов

МПК: H01J 49/42

Метки: датчик, квадрупольного, масс, фильтра

...диаметра стержней датчикаприводят к такому же изменению величиныи, что особенно существенно, кпоявлению разной асимметрии в распределении поля даже при незначительном 20разбросе в диаметрах стержня,Известно, что для нормальной работыквадрупольного фильтра масс требуетсявысокая точность изготовления и сборкиэлектродов из датчиков, которая на практике часто достигает одного микрона,Суммарная ошибка в изготовлении датчика складывается из ошибок в изготовлении посадочных поверхностей крепежной керамики и ошибок в изготовлении 30самих стержней (разброс по диаметрамстержней, уход диаметра стержня поего длине), В конечном итоге суммарнаяошибка проявляется в изменении расстояний от центра датчика до стержней о ) уЬгВелйчина О...

Устройство питания анализатора гиперболоидного масс спектрометра

Загрузка...

Номер патента: 989616

Опубликовано: 15.01.1983

Авторы: Вайсберг, Веселкин, Захарченко, Зенкин, Савин, Шеретов

МПК: H01J 49/42

Метки: анализатора, гиперболоидного, масс, питания, спектрометра

...постоянного напряжения, соединенного через регулирующий элемент с автогенератором, выход которого соединенс детектором, и источникаопорного напряжения, соединенного со схемой сравнения, автогенератор и детектор введеныв цепь обратной связи между выходомрегулирующего элемента и входом усилителя разностного напряжения,Компенсация изменения амплитудывысокочастотного напряжения при перестройке частоты в таком устройствеосуществляется изменением величины напряжения на аноде генератора, что значительно увеличивает эффективность стабилизации, уменьшает изменение положения рабочей точки усилительного элемента генератора и мало влияет на величинунагруженной добротности контура автогенератора,На чертеже приведена структурнаясхема предлагаемого...

Металлогалогенная лампа

Загрузка...

Номер патента: 989617

Опубликовано: 15.01.1983

Авторы: Алявин, Волков, Мельников, Минаев, Пчелин

МПК: H01J 61/20

Метки: лампа, металлогалогенная

...сизвестными срок службы, так как колвчество галогенидов ртути подобрано та 1 О ким образом, что оно превышает расче 1 снсвт-стехиометрическое по уравнениям(1) и (2) на 0,1-2,0 мч/см объемгорелки, таким образом, после взаимодействий реакций (1) и (2) свободный15 галоген из состава избыточного галогь-,нида ртути будет участвовать в процессепереноса вольфрама со стенок горелкина электроды, увеличивая продолжительность горении ламп. Кроме того, наличие20 бромида ртути в составе компонентовнаполнения позволяет сделать процесспереноса вольфрама более эффективным,1что представлено в таблице,0,1 0,014 0,031 0,021 0,137 0,06 0,112 Окись диспрозияОкись гольмия 0,25 Окись тулия Йодид ртути Йодид цезия 0,95 0,2 0,8 Бромид ртутиРтуть 8,65 7,8...

Полый катод

Загрузка...

Номер патента: 991528

Опубликовано: 23.01.1983

Авторы: Васильева, Галль, Тиркельтауб, Хасин

МПК: H01J 1/20

Метки: катод, полый

...внутренней полуцилиндров, практически исключает поверхности и токоподводц, полый влияние магнитного поля тока накала цилиндр и токоподводы выполнены из на заряженнце частицы внутри цилиндфольги тугоплавкого металла в виде Яддвух полуцилиндров, переходящих в В качестве примера исполнения бы плоские участки, прилегающие друг ли изготовлены и испытаны опытные к другу по всей их поверхности, 16 образцы предлагаемого катода с ди-:На фиг.1 и 2 изображены варианты аметром цилиндрической полостиф конструкции катода. 50 мкм и толщиной эмиссионного слояПолый цилиндр 1 в виде микрока-20 мкм. Испытания показали, что пилляра из эмиссионного материала предлагаемая конструкция работоспозаключен в оболочку из фольги туго собна и позволяет создавать...

Электроннооптическая система

Загрузка...

Номер патента: 991529

Опубликовано: 23.01.1983

Авторы: Назаров, Якушев

МПК: H01J 9/18

Метки: электроннооптическая

...системы. Кроме того, сопряжение центрнрующнх стержней по посадкес натягом в пределах упругости препятст-.вует возникновению в соединении тепловыхзазоров и нарушению центровки иэ-заразличия температурных коэффициентовлинейного расширения различных материапов деталей электронно оптическойсисгемы в условиях изменяющихся температур. 3 9915 электрода в области отверстий не превышает 0,3 диаметра стержней. При этом отверстия для стержней могут 6 ыть выполнены в мембранах, закрепленных на электродах. 5На фиг. 1 изображено устройство, общий вид, "на фиг. 2 - один иэ электродов; на фиг. 3 - разрез А-А на фиг. 2.Электроды 1 электронно-оптической системы (фиг. 1) установлены на основа- О нии 2 через дистанционные изоляционные втулки 3,...

Эндотрон

Загрузка...

Номер патента: 991530

Опубликовано: 23.01.1983

Авторы: Дубовской, Турбин

МПК: H01J 21/14

Метки: эндотрон

...входному сопротивлению резонатору Л - 4, на СВЧ могло бы обес-. печить высокочастотиое напряжение на втором выходном зазоре, равное нулю. Однако в УКВ диапазоне зто может приводить к резкому увеличению габаритов. зндотрона, что связано с опасностью возникновения азимутальных паразитных коаебаний и возрастанием активных потерь энергии,В предлагаемом эндотроне обеспечены: повышенный на 2-4% КПД, высокая электрическая прочность и надежность в работе. Формула изобретения 1. Эндотрон, содержащий герметичный корпус с размещенными в нем анодом, катодом, сеткой и включенным между анодом и другим электродом блокирующим элементом, выполненным в виде двух емкостных зазоров, образованных проводящими пластинами, разделенными диэлектрическими...

Устройство юстировки электронного луча в электронно-лучевых приборах

Загрузка...

Номер патента: 991531

Опубликовано: 23.01.1983

Авторы: Глиненко, Грицкив, Педан

МПК: H01J 29/82

Метки: луча, приборах, электронно-лучевых, электронного, юстировки

...т.е. расположенными на одной строке растра мишени ВндикОна (фигф 3 Ге В этом случаеимпульсы на входе ччетчика 16, который с каждым импульсом кадровой частоти сбрасывается, будут отсутствовати дешифратор 18 закроет ключ 20.Счетчик 22 сохранит значение кода,при котором пятна оказались сведенными по вертикали и через цифро-вналогьвый преобразователь 24 обеспечит требуемое значение тока в катушках вератикального отклонения отклоняющей системы 1. Сигнал с выхода дешифратора18 одновременно поступает на блок 8управления, которым обеспечиваетсяпереход на работу второй схемы 5 питания катушек первой отклоняющей сиотемы 1 за счет подачи открывающегопотенциала на второй управляющий входключа 21. Вторая схема 5 питания катушек го- ризонтального...

Газоразрядная спектральная лампа

Загрузка...

Номер патента: 991532

Опубликовано: 23.01.1983

Авторы: Симакин, Филоненко, Хузмиев, Цветков, Цебоев

МПК: H01J 61/10

Метки: газоразрядная, лампа, спектральная

...лампы.Благодаря этим преимушествам предлагаемая лампа способна надежно работатьв бортовых устройствах,3 99153ности усугубляются, клеевые соединения.ограничивают теплостойкость конструкции, лампа становится еше более нетехнологичной и ненадежной, механическаяпрочность ее также снижается,Целью изобретения является повышение технологичности изготовления, тепло- .стойкости и надежности лампы,Эта цель достигается тем, что в газоразрядной спектральной лампе, содержа- ощей цилиндрическую колбу из кварцевогостекла с выходным окном, прозрачнымдля ультрафиолетового излучения, вдоль1оси которой последовательно установленыэлектроды, по меньшей мере .часть изкоторых имеет осевые отверстия и закреплена в стенках колбы, снабжена...

Способ энергоснабжения наземных потребителей из космоса

Загрузка...

Номер патента: 946174

Опубликовано: 23.01.1983

Авторы: Арманд, Евич, Нариманов, Парамонов

МПК: H01J 17/00

Метки: космоса, наземных, потребителей, энергоснабжения

...предлагаемого методаявляется то, что положительный эффектдостигается без существенной затраты 20 времени и средств. Применяемые реагенты доступны, при этом пиридин практически полностью регенерируется, а хлористый тоэил превращается в и -толуолсульфокислоту, которая может быть 25 легко выделена иэ реакционной смеси. П р и м е р. К раствору 1,0 г+23 о, т,пл, 112-113 С,В265 нм) в 2 мл абсолютного пиридйнадобавляют раствор 0,50 г (0,0026 моль)свежеперекристаллиэованного хлористоготозила в 1 мл абсолютного пиридина,Полученный раствор выдерживают при80-90 С в течение 1 ч в колбе, изкоторой предварительно откачан воздух,Затем из реакционной смеси отгоняютпиридин (на роторном испарителе притой же самой температуре)....

Способ энергоснабжения наземных потребителей из космоса

Загрузка...

Номер патента: 946372

Опубликовано: 23.01.1983

Авторы: Арманд, Евич, Нариманов, Парамонов

МПК: H01J 17/00

Метки: космоса, наземных, потребителей, энергоснабжения

...- схема энергоснабжения средне- и высокоширотных наземных приемных пунктов из космоса с ретрансляцией СВЧ-энергии с помощью системы.30 из двух космических электростанций, обращающихся по суточным эллиптическим синхронным орбитам; на фиг. 3 - схема энергоснабжения средне- и высокоширотных. наземных приемных пунктов из космоса с ретрансляцией СВЧ-энергии с по мощью системы из двух космических электростанций, обращающихся по суточ,ным околокруговым синхронным орбитам;40.Схема включает передающую антенну 1 первой электростанции, наземный приемный пункт 2, пассивный ретранслятор 3 электростанции и передающую антенну 4 второй электростанции.Сущность способа для варианта из .,двух космических станций КЭСи КЭС для снабжения, например...

Способ герметизации электровакуумных приборов

Загрузка...

Номер патента: 993358

Опубликовано: 30.01.1983

Авторы: Виноградов, Грошков, Зайдель, Куклев, Луферов, Назаров, Нестеров, Юрков

МПК: H01J 9/26

Метки: герметизации, приборов, электровакуумных

...вакуумно-плотного соединения катодного и анодного узлов рентгеновского электронно-оптического преобразователя осуществляется следующим образом.цуч(сов .-1 чу -)т гЪБок 65 Герметизирующий экран катодного узла покрывают металлом, хорошо смачиваемым металлом-уплотнителем, например, серебром. Для обеспечения герметичности соединения применяют лужение этого герметизирующего экрана серебром, В качестве металла-уплотнителя применяют металлы или эвтектики с низкими температурой плавления и упругостью пара при температуре плавления. Такими материалами 0 являются олово, индий, галлий и их эвтектики. При испольэовании в качестве металла-уплотнителя олова,применяют олово марки СВЧ. Следующей подготовйтельной операцией явля ется...

Ортогонализационная система передающей телевизионной трубки

Загрузка...

Номер патента: 993359

Опубликовано: 30.01.1983

Авторы: Балекин, Иванов, Шитиков

МПК: H01J 31/00

Метки: ортогонализационная, передающей, телевизионной, трубки

...6 и кольцевого сеточного 7 электродов, а также. мишени 8,Электронный пучок на выходе влектронного прожектора 2 фокусируетсяэлектростатической фокусирующей системой 3, отклоняется отклоняющейсистемой, надеваемой снаружи на колбу1 трубки, и ортогонализируется приподходе к мишени 8 электрическим по"лем ортогонализирующей системы 4.Качество ортогонализации пучкаоценивается значениями параметров Ри 6 , представляющих собой усреднение квадрата радиальной скоростиэлектронов пучка Ч по радиусу мишени (р),или по площади мишени (6)мл , ЪР= Ч Йг; 5= -36)",где г - максимальная величина отМклонения пучка по радиусу от центра мишени.Ортогонализация улучшается при уменьшении значений Ч в максимуме и при максимальном отклонении....

Устройство для визуализации инфракрасного излучения

Загрузка...

Номер патента: 993360

Опубликовано: 30.01.1983

Авторы: Балыгин, Семенов, Шелемин

МПК: H01J 31/49

Метки: визуализации, излучения, инфракрасного

...излучения) может бытьзафиксирован, например, с помощьюфото-или кинокамеры,Устройство работает следующим образом,Горючее (например газ),из источника 5 горючего попадает в системугорелок 3 через связующие трубопроводы и регуляторы 4 интенсивности ЭОгорения, воспламеняют его на выходеформирователя 7 пламени 6. Формирователи 7 создают устойчивую зону горения пламени б, температуру 35 которого Т устанавливают регулятором 4 интенсивности горения, Излучение ИК диапазона подают от источника 1 через оптическую формирующую систему 2 в зону пламени б, образующе О гося на выходе формирователей 7, установленных вдоль оси пучка излучения под углом к оси пучка излучения. В зоне пламени б(в сечениях пучка когерентного излучения)...

Фотоэлектронный умножитель

Загрузка...

Номер патента: 993361

Опубликовано: 30.01.1983

Авторы: Вильдгрубе, Ронкин

МПК: H01J 43/00

Метки: умножитель, фотоэлектронный

...предлагаемый Фотоэлектронный умножитель,Фотоэлектронный умножитель со-, 35держит фотокатод 1, Фокусирующийэлектрод в ниде конуса 2, диноднуюсистему 3 и вырезывающие диафрагмы 4.Умножитель работает следующим образом. 40Электронная оптика, обеспечивающая Фокусировку фотоэлектронов на1-й динод при радиальной форме Фотокатода, моделируется таким образом,чтобы пучек Фотоэлектронов с рабочейплощади фотокатода был сфокусированна центральную часть 1-го динода.Обычно диаметр сфокусированногона 1-й динод пучка Фотоэлектроновне превосходит нескольких миллиметров. Таким образом, при рабочей площади 1-го динода" 2-5 см использу,ется лишь незначительная, центральнаяего часть. Формула изобретения 55 60 диафрагма с отверстием диаметром 38 мм,...

Масс-спектрометр

Загрузка...

Номер патента: 993362

Опубликовано: 30.01.1983

Авторы: Гартманов, Коган, Павлов

МПК: H01J 49/32

Метки: масс-спектрометр

...входного окна здесь должна быть малой. 20Повышение чувствительности, определяемое ростом геометрического фактора толька за счет увеличения площади входного окна, приводит к существенному увеличению размеров и ве са масс-спектрометра, что недопустимо в условиях космического эксперимента, или к ухудшению его разрешающей способности.30Цель изобретения - повыениечувствительности и увеличение разрешающей способности масс-спектрометрапредназначенного для космическихисследований. 35Указанная цель достигается тем,фчто в масс-спектрометре, состоящем.,Ускоряющих пластин, электростатического энергоанализатора, масс-анали; затора, содержащего электростатический конденсатор и постоянный магнит,и приемника с выходной целью, обкладки...

Способ определения качества сильноточных катодов газоразрядных источников света высокой интенсивности

Загрузка...

Номер патента: 993363

Опубликовано: 30.01.1983

Авторы: Дробот, Намитоков, Овчинников

МПК: H01J 61/073

Метки: высокой, газоразрядных, интенсивности, источников, катодов, качества, света, сильноточных

...качества катодов предлагается осуществлять не по времени от момента приложения напряжения до развития дугового разряда, а по промежутку времени ь ф начала 4 О дугового разряда до,завершения формирования дуги, так как оно в большей степени зависит от состояния катода.П р и м е р. Проводят измерения времени от момента возникновения разряда до достижения током установившегося значения(времени формирования разряда) на стандартных лампах ДРЛи лампах с заведомо нарушенной технологической обработкой электродов. Нарушением технологического процесса считается изготовление электродов без бария, а также обработка электродов только в водороде или только в вакууме. Нормальным электродом счи тается такой, у которого в качестве оксида применены...