H01J 49/30 — с использованием магнитных анализаторов

Номер патента: 764011

Опубликовано: 15.09.1980

Авторы: Кузема, Пакулин

МПК: H01J 49/30

Метки: магнитронный, масс-спектрометр

...3, 4, 5также могут быть поданы и постоянные напряжения. Магнит 7 создает магнитное полев анализаторе и источнике ионов. Наличиез 5магнитного поля в источнике ионов препятствует расплыванию электронного пучка иуменьшает энергетический разброс выходящих ионов, тем самым способствуя увеличению разрешающей способности.Масс-спектрометр работает следующимобр.азом. Вышедшие из источника 1 ионы двигаются в масс-анализаторе либо по инерции, либо в ускоряющем или тормозящем (в зависимости от напряжения источника 15 питания на электроде 2 относительно коллекторов, которые мы всегда предполагаем находящимися под нулевым потенциалом) электрическом поле по криволинейным траекториям, радиусы которых зависят от отношения заряда частиц к ее массе. При...

Номер патента: 708857

Опубликовано: 23.09.1980

Авторы: Майдиков, Скобелев

МПК: H01J 49/30

Метки: анализатор, продуктов, реакций, ядерных

...вход ванализатор.На чертеже представлена схема пред)лагаемого устройства.Устройство содержит мишень - источник 1 продуктов ядерных реакций,перемещаемое по координате мишеньвход в анализатор перезарядное устройство 2, электромагнитный сепаратор3.Предлагаемое устройство работаетследующим образом.Выбитые продукты ядерных реакций,летящие со скоростью 108 - 109 см/с,во многих случаях имеют возбужденныесостояния с временами жизни от 10 4 сиОдо 10 с, распад которых приводит кзначительному увеличению ионного заряда летящего атома. Это увеличениесвязано с заполнением образовавшихсяпри снятии возбуждения вакансий навнутренних атомных оболочках путемпереходов за время 10 4 с. Такимобразом, процесс снятия возбужденияи последующее увеличение ионного...

Номер патента: 785908

Опубликовано: 07.12.1980

Авторы: Пакулин, Цирлин, Шерешевский

МПК: H01J 49/30

Метки: магнетронный, масс-спектрометр

...питания 17, Электрически изолированные друг от друга части внутреннего электрода 14 ионизационной камеры 8 подключены к тому же источнику питания 17 через источники 6 и 7 модулирующего напряжения соответственно. Коллектор 3 подключен к регистрирующему устройству 18,Масс-спектрометр работает следующим образом.Электроны, эмиттируемые катодом 11, проходят через ионизационную камеру 8 и попадают на коллектор электронов 12 Молекулы газа в ионизационной камере 8 ионизируются электронами. Образующиеся ионы под действием ускоряющего электрического поля, которое создается источником 17 между ионизационной камерой 8 и наружным сетчатым электродом 2 анализатора масс 1, ускоряются и двигаются в направлении коллектора 3 по криволинейным...

Номер патента: 801139

Опубликовано: 30.01.1981

Авторы: Кузема, Пакулин, Цирлин, Шерешевский

МПК: H01J 49/30

Метки: магнетронный, масс-спектрометр

...крышки4 и 5 изолированы друг от друга,например, с помощью изолирующихпрокладок 8 и 9 и соединены с клеммами соответственно отрицательнойи положительной полярности источника 10 питания,Масс-с; ектрометр работает следующим образом,Под действием ускоряющего напряжения (источник которого на чертежене показан), гриложенного междуанализатором 2 масс и источником7 ионов, ионы двигаются в направлении коллектора б круговым сходящимся потоком по криволинейным траекто.риям, радиус кривизны которых зависит.от скорости и массы иона ивеличины магнитного поля, создаваемого магнитом 1. При модуляции ускоряющего напряжения (источник которого на чертеже не показан) траектории ионов изменяются таким образом, что ионы заданной массы то попадают, то не...

Номер патента: 817799

Опубликовано: 30.03.1981

Авторы: Лепорский, Макаров, Маныкин

МПК: H01J 49/30

Метки: abtoma, macc-спектрометра, блок, выбора, переключением, преде-лов, регистрирующего, тическим, уст-ройства, чувствитель-ности, шкал

...числу схем сравнения, Управляющие входы мультиплексоров 10 соединены с выходами счетчика 12, Для каждой иэ схем 7 сравнения число ячеек памяти равно К,Узлы 4 фиксации амплитуды, выходыкоторых подключены к схеме 11 совпадения кодов, служат для выбора пикав качестве метки, а схема 11 даетразрешение на послецовательное включение пределов измерения для каждого пика, приходящего на второй коллектор.Для перевода регистрирующего прибора с одного предела измерения надругой служат переключатели 12, входы которых связаны с выходами соответствующих мультиплексоров 10.Пусть при развертке масс-спектрана щель первого по ходу разверткиколлектора находит пучок ионов смассовым числом И, а на щель второго коллектора - М+ К, причем, максимальная...

Номер патента: 824343

Опубликовано: 23.04.1981

Авторы: Кузинец, Пакулин, Цирлин, Шерешевский

МПК: H01J 49/30

Метки: магнетронный, масс-спектрометр

...4 ионов находятся внутри корпуса 12, служащего вакуумной камерой.Ионизационная камера 7, катод 10 и коллектор 11электронов подключены к источнику 13питания. Коллектор 2 подключен к изметельному усилителю 14,Масс-спектрометр работает следующим образом.Электроны, эмиттируемые катодом 10, проходят через ионизационную камеру 7 и попадают на коллектор 11 электронов; Молекулы газа в ионизационной камере 7 ионизуются электронами и под действием ускоряющего электрического поля, которое создается источником .13 между ионизационной камерой 7 и наружным сетчатым электродом 5. анализатора 1 масс, ускоряются и двигаются в направлении коллектора 2 по криволинейным траекториям под влиянием магнитного поля, создаваемого магнитом 3. Все ионы, попадающие...

Номер патента: 858148

Опубликовано: 23.08.1981

Автор: Саченко

МПК: H01J 49/30

Метки: магнитного, масс-спектрометра, юстировки

...щелей источника и детектора ионов. В денном способе осуществляют поворот магнита вокруг оси. Однако это не исключает необкодимости в передвижении источника и детектора, поэтому применяются совместно с юстировочными перемещениями последник, вследствие чего эти способы обладают указанными недостатками, связанными со сложностью конструктивного обеспечениями 23.( ц) ) ( ) ,ют поворот н параллельное смещенне эффек- Ь н асасХ 1 ги ат -1 тЬВ)стсВ, тиаиыи расин магнитного попа согпасио (Ф 9 Ж формулам т / СсЧ нхси -ссиФормул а обретения пособ юстировки магнитного массра с магнитными экранами, на совмещении объекта и я с плоскостями щелей источектора ионов, о т л и ч а ютем, что, с целью упрощения юстнровки и расширения ее тей, фиксируют...

Номер патента: 873306

Опубликовано: 15.10.1981

Авторы: Фишкова, Шпак

МПК: H01J 49/30

Метки: масс-спектрометр

...создании магнитногополя нужной конфигурации, что дополнительно приводит к снижению дисперсии,Цель изобретения - повышение разрешающей способности. масс-спектрометра,Цель достигается тем, что в массспектрометре заряженных частиц, содержащем источник ионов, анализаторв виде электромагнита, приемник ионови схему питания, ярмо электромагнитаанализатора выполнено в виде двухпластину образующих прямой двугранныйугол, и соединено с полюсом, расположенным симметрично относительно плоскости, проходящей через ребро двугранного угла и делящий его пополам,причем ось источника ионов на входев анализатор находится на расстоя 35нии, составляющем 0,2-0,6 расстояния от ребра двугранного угла до полюса.Магнитное поле предлагаемого масс 40спектрометра...

Номер патента: 873307

Опубликовано: 15.10.1981

Авторы: Фишкова, Шпак

МПК: H01J 49/30

Метки: масс-спектрометр

...Далее пучок попадает в магнитный анализатор .2; в котором происходит разделение пучка по массам таким образом, что при данной гиле магнитного поля ионы одинаковой массы попадают в приемник 5. При этом электростати.ческие линзы 3 и 4 осуществляют фокусировку по углу одновременно в горизонтальной и вертикалвной плоскостях. При использовании в схеме спектрометра в качестве фокусирующих ас- тигматичных электростатических.линз 3 и 4 (фиг. 1) квадрупольных линз и при режиме работы анализатораЬ = 2,01 О 08 Ь ф ХО Оф 231, и ХО = -0,2) увеличение прибора в плоскости дисперсии МА = 0,44, а общая длина пути ионов от источника до уриемика 5 = 2,8 Ь . Тогда Ощ = " = 12 мм/м на 1 Х изменения массы, где д, - угол между осью приемника 5 и осью Е....

Номер патента: 980192

Опубликовано: 07.12.1982

Авторы: Вершевский, Гольдин, Житников, Исаков

МПК: H01J 49/30

Метки: масс-спектра, развертки

...4, преобразователь 7 магнитного поля в напряжение, инвертируюший и неинвертирующий выходы которого подключЕны через переключатель 8 напряжения развертки и резистор 9 к входу усилителя 4. ( Работа устройства осуществляется 40 следующим образом.Исходное магнитное поле устанавливается при замкнутом контакте 2 и верхнем положении переключателя 8. При этом выходное напряжение регули-. 45 руемого источника 1 опорного напряжения поступает на вход усилителя 4. На этот же вход усилителя 4 поступает напряжение преобразователя 7 магнитного поля. Разность входных токов усиливается усилителем 4 и поступает на силовую обмотку электромагнита 5. Магнитное поле электромагнита 5, таким образом, устанавливается пропорциональным выодному напряжению...

Номер патента: 1064348

Опубликовано: 30.12.1983

Авторы: Гусарова, Курнаев, Савелов

МПК: H01J 49/30

Метки: магнитный, спектрометр

...выполнена в виде и прямолинейных участков, угол наклона которьв определяется йз следукщегосоотноаения:1064348 3 Электромагнит 3,5 подключается к источнику питания и на вход спектрометра подается пучок заряженных частиц. Б зазоре между полюсныве наконечниками б формируется однородное магнитное попе, эффективная граница которого определяется магнитныьщ экранаьи 4 и 5. В зависимости от энергии частиц или от отнааения массы Частицыкк ее заряду в магнитном поле происходит разделение исследуе мого пучка частиц. Диафрагма 7 выде-:. ляет из щелевого пучка отдельные пучки с определенным значением импульса, которые регистрируются детектирующей сборкой 8, сигналы с которой 5 выводятся через фланец 9. При этом, выпалняя выходную границу полюсных...

Номер патента: 1089670

Опубликовано: 30.04.1984

Авторы: Галль, Трубачев

МПК: H01J 49/30

Метки: магнитная, энергомассанализатора

...медианной плоскости дпа полюсных наконечника с прямолинейными Входнои и Выхоцной гракицам 1 д ка" дый из которых образован вращением .а раллельной медианной плоскостк пря;1 О линейной образующей относительно точк.: пересечения входной и выходной границ полюсных наконечников 2.В известной системе наконечники создают однородное поле напря)геккост;которого постоянна на любом лучележащем в медианной плоскости и прсхо.дящем через точку пересечения входк "д "и выходной границ. Характерным для данной системы является невозможность псключениг ссберп ческой аберрации для всего диапазона анализируемьк масс или энергий паличие аксиальных и хроматических абер. раций иэображения, небольшая дисперсия и светосила магнитного анализ:. тора. В результате...

Номер патента: 1128308

Опубликовано: 07.12.1984

Авторы: Гринько, Дудченко, Кузема, Лялько, Савин

МПК: H01J 49/30

Метки: масс-спектрометр

...призмы определяются из условияф,Н,ггнгде г, и Н, - радиус центральнойтраектории ионов, исоответствующая емунапряженность магнитного поля дополнительнойпризмы;И 1 - аналогичные параметрыосновной призмыНа чертеже представлена принципиальная схема предлагаемого массспектрометра.Устройство содержит последовательно расположенные источник 1 ионов, дополнительную аксиально-симметричную магнитную призму 2, электростатическую линзу 3, основную магнитную призму 4 и приемник 5 ионовМасс-спектрометр работает следующим образом.Ионывьппедшие из ионного источника 1 в виде расходящегося пучка, поступают в дополнительную магнитную призму 2 и разделяются в ее неоднородном магнитном поле по величине отношения массы иона к его заряду. Ионы...

Номер патента: 1138856

Опубликовано: 07.02.1985

Авторы: Афанасьев, Баранова, Петров, Явор

МПК: H01J 49/30

Метки: заряженных, многоканальный, частиц, энергоанализатор

...движении заряженных частиц в однородном электрическом поле с точностью до членов второго порядка малости и при .Г/У1 координата 1 частицы, достигающей плоскости =-3, выражается формулой 4 еМ2 2 22 В 1 ЯеЧ 1 с 5 где- расстояние от оси пучка доэлектрода,Я - энергия частицы,е - заряд частицы,- разность потенциалов между электродами,0 - проекция угла наклона траектории частицы наплоскость 2 (плоскостьчертежа),- проекция угла наклонатраектории на плоскость МБ;А - координата частицы навходе в анализатор.Выражение (1) не содержит членов,пропорциональных А, что говорит оналичии фокусировки по ширине пучка,в отличие от известного устройства,где осуществляется фокусировка поуглу 06. Член, пропорциональный Ж ввыражении (1), аналогичен члену,...

Номер патента: 1148062

Опубликовано: 30.03.1985

Авторы: Коваль, Литвинов, Физгеер

МПК: H01J 49/30

Метки: заряженных, распределений, частиц, энергетических

...количеству вторичных ионоввыбранного типа, от их энергии,35определяемой напряженностью электрического оля 21 .Недостаток указанного способаопределяется необходимостью много 40кратной записи участков масс-спектра и последующим пересчетом данныхдля построения энергетических распределений, а также трудностью исследования тонкой структуры спектра,поскольку измерение проводитсяпо точкам, т.е. дискретно.Цель изобретения - повышение скорости и точности измерения. 62 2 Е= - к м оУстройство, реализующее данныйспособ, может быть выполнено в ви45 де обычного анализатора с последовательно расположенными электростатическими дефлекторами и секторныммагнитом, причем блоки питанияэлектростатического и магнитного 50 анализатора могут...

Номер патента: 1101076

Опубликовано: 15.06.1985

Авторы: Зернов, Кельман, Мит, Назаренко, Якушев

МПК: H01J 49/30

Метки: масс-спектрометр, призменный

...линз, образованных электродами 3, 4 и 5, телескопических систем с электродами 5, 6 и 7, вось миуголыюй магнитной призмы 8, вокруг которой расположены семь электростатических систем, Каждая электростатическая система состоит изэлектродов 9, 10 и 11. Электроды 9 и 10 образуют две симметрично расположенные цилиндрические линзы,электроды 10 и 11 - два также симметрично61 л7 0 1 УЫ 06 ),М я а следующемх пересечениедовательново втором зелинзе первой до по ни о емы второ 3 1101расположенные ионных зеркала. ЛинииОН, ОН 2 и т.д. являются осями симметрии для электростатических систем и одновременно биссектрисами углов полюсных наконечников магнитной5призмю, Каждый электрод состоит издвух идентичных параллельных пластин, симметрично...

Номер патента: 1173465

Опубликовано: 15.08.1985

Авторы: Гартманов, Коган, Павлов, Харченко

МПК: H01J 49/30

Метки: масс-спектрометр

...Ч, имеющая то же направление после прохождения заряженными частицами магнита, где Ч - исходная скорость иона.Ограничение отношения Чцч у/Ч дает воэможность, используя предлагаемую конструкцию масс-анализатора, проводить масс-анализ ионных потоков одновременно в широком диапазоне их исходных потоковых энергий (скоростей) с хорошим разрешением по М/Е.При 1/д ( 50 нарушаются условия для одновременной регистрации частиц определенной массы в широком диапазоне исходных потоковых скоростей и ухудшается разрешение прибора, При 1/д) 200 уменьшается чувствительность прибора.Таким образом, указанные отличительные признаки в совокупности позволяют масс-спектрометру при наличии малой величины составляющей начальной скорости частиц, ограниченной...

Номер патента: 1182629

Опубликовано: 30.09.1985

Авторы: Ануфриев, Бронштейн

МПК: H01J 49/30

Метки: масс-спектрометр

...поля и частоты модулирующего напряжения в соответствии с требуемой для выбранных масс разрешающей способностью. Оператор или автоматическое устройство устанавливает для данной массы такую частоту генератора, которая соот - ветствует номеру гармоники ь необходимому для получения нужной разрешающей способности, и .одновременно переключает бесполевые камерымодулятора так, чтобы общая длина 1 камер ( 1 = 1,2,3) определялась соотношением,(2) 45 Например, для разрешения мультиплетов гелия и водорода (24 а. е.м) требуется небольшая разрешающая способность (до 2000), целесообразен выбор меньшего значения гармоники п 1, а для разрешения дублета Хе"СС 191 гз(129 а.е.м) требуется разрешающая способность 70000, целесообразен выбор большего...

Номер патента: 1218426

Опубликовано: 15.03.1986

Авторы: Ефис, Житников, Мамырин

МПК: H01J 49/30

Метки: магнитном, масс, масс-спектров, резонансном, спектрометре

...г/ . Пормере уменьшения Н устаноь 3 ченнаянеизменная частота совпадает срезонансными частотами пиков совсе более увеличивающимися номерами гармоник.Падение интенсивности выходныхтоков при изменении Н относительно .Н , соответствующего условиям 1,4)и (5) обусловлено тем, что впервойступени прибора ионный луч сходитсо щели 6 модулятора (фиг.1) . Таким образом, при молях меньших Н и больших Н ток ионов с массой М не появляетсяай аК- Й - (из выражеН к(5)ф а аК=,2-8 (из чено, если Чем больше разрешающая способность первой ступени 1, тем меньше 6 Н = Н - Н =Н - Н . Следователь 2 о .оно, для получения однозначной настройки прибора на выбранный компенсационный пик при поле Но необходимо достаточно большое 11, . Минимальное значение разрешающей...

Номер патента: 1305795

Опубликовано: 23.04.1987

Авторы: Борискин, Брюханов, Еременко, Лощинин, Рамендик, Скрипченко

МПК: H01J 49/30

Метки: масс-спектрометр

...пластины28, например 50 мм , вместо первоначального сечения пучка ионов в фокальной плоскости, равного, например, 40 0,03 мм . В результате этого микроканальная пластина 8 способна эффективно без насыщения регистрировать пульсирующие пучки ионов высокой плотности тока, создаваемые импульсным лазерным источником 1 ионов. Попадая в каналы микроканальной пластины 8, вторичные электроны размножаются и по выходу из микроканальной пластины 8 попадают на коллектор 9, где создают 50 регистрируемый сигнал, который поступает на вход интегратора. Поступающий на вход микропроцессора сигнал обрабатывается микропроцессором в реальном масштабе времени: выделяется максимум, определяется момент его наступления и сумма слагающих сигналов...

Номер патента: 1447196

Опубликовано: 23.09.1990

Авторы: Березовский, Извозчиков, Кисляков, Петров

МПК: H01J 49/30

Метки: анализатор, атомных, многоканальный, частиц

...В результатепредельная энергия, регистрируемаяанализатором, возрастает на величину 1При этом сужается диапазон Д одновременно, регистрируемых энергий. Вотсутствие потенциала на камере иониФоо Езракеэации этот диапазон Д = -з естьЕминотношение энергий ч а стиц, реги стрируемых самым высокоэнергетичным и самым низкоэиергетичным каналами аналио Гзатора. Величина Д задаетсягеометрией анализатора и состанляет н разоцых моделях анализаторов Д =10-30,-При подаче на корпус ионизационнойкамеры 1 тормозящего напряжения .этот диапазон Д существенно уменьошится по сравнению с Д , В этом случае высокознергетичным и ннзкоэнергетичцым каналами будут зарегистриронаны энергии частиц на входе и камеруоионизации соответственно Е, =Елакс+омаис ла кси...

Номер патента: 1596401

Опубликовано: 30.09.1990

Авторы: Воронов, Гузенко, Курбатов, Моисеев, Фролов

МПК: H01J 49/30

Метки: космический, магнитный, спектрометр

...магнитами 5-8 с потерями магнитного напряжения не более 3-Я от магнитного напряжения на высоте Ь рабочего зазора. Размеры магнитов 5-8 в принятых ограничениях конструкции выбираются из условия наиболее энергетического выгодного режима работы, что одновременно обеспечивает минимум массо-габаритных показателей магнитной системы в целом.Дпя высококоэрцетивных сплавов типа КСоптимальные размеры магнитов, отнесенные к размерам рабочей зоны имеют значения При этом среднее значение индукции в рабочей зоне составляет В ,=0,4 Тл. Таким образом, максимальное значение индукции в рабочей зоне,которое можно получить при эффективном использовании магнитных матерна;лов для сплава КС"составляет В0,5 В, где В- остаточная индукция материала постоянных...

Номер патента: 1605288

Опубликовано: 07.11.1990

Авторы: Вайсберг, Доля, Кузема, Лялько, Овчаренко, Огенко, Павленко, Савин

МПК: H01J 49/30

Метки: анализатор, ионный, микрозондовый

...15 составляет .2000 эВ, В качестве энерго- анализатора может быть применен цилиндрический конденсатор с параметрами: гр = 300 мм, ф = 63,5 . Напряожение ца пластинах 1440 В. В качестве масс-анализатора 17 может быть использовано секторц )е однородное магнитное поле с параметрами; г, = 300 мм, Аз 300 мм,Ц=45 . Напряженность магнитного поля в зазоре магнита масс - анализатора Н = 10000 Э. Ширина селекторной диафрагмы 16 регулируется н пределах 0-2 мм, При ширине пятна, с которого эмиттируются вторичные ионы, равной 5 мкм, разбросе энергий ионов ДБ = 10 эВ и энергии ионного пучка, поступающего в масс-анализатор, Ц - 2000 эВ масс-спектральное разрешение системы сбора и анализа вторичныхНионов -- = 4000, а диапазон массДш1 - 3100...

Номер патента: 1674290

Опубликовано: 30.08.1991

Авторы: Кельман, Мит

МПК: H01J 49/30

Метки: ионами, магнитного, масс-спектрометр, многократным, поля, призменный, прохождением

...направляется на магнитную призму 1. Магнитная призма разлагает ионный пучок по массе и энергии, после чего он отражается первым ионным зеркалом и направляется в электростатическую призму, Электростатическая призма компенсирует разброс ионов по углам, образовавшийся после прохождения магнитной призмы из-за неоднородности ионов по энергии, вследствие чего все ионы с одинаковой массой, но с небольшим различием по энергии, движущиеся до поступления в магнитную призму 1 по параллельным траекториям, после прохожде 1674290ния электростатической призмы вновь идут параллельно друг другу. Таким образом устраняется ограничение разрешающей способности прибора, связанное с разбросом по энергии в ионном пучке, т,е. достигается фокусировка по...

Номер патента: 1720108

Опубликовано: 15.03.1992

Автор: Черепин

МПК: H01J 49/30

Метки: анализа, ионов, масс-спектрометрического

...в меридиональной плоскости, которая сама поворачивается относительно оси полюсов, Для строгого описания такого движения иона решают связанные дифференциальные уравнения движения вида: где гп - масса иона;о - заряд;Н - напряженность магнитного поля;Ех, Еу, Е - компоненты напряженностиэлектрического поля,В аналитическом виде решить эти уравнения невозможно и нужно применять численные методы, Однако для обоснования предлагаемого способа достаточно приближенной оценки, основанной на рассмотрении проекции траектории ионов на экваториальную плоскость (фиг.2).Если ион с энергией цОО и скоростью Ч; - т р я движется в вкввторивявП 1 ной плоскости в магнитном поле Н, то поддействием силы Лоренца траектория становится дугой окружности с...

Номер патента: 1725290

Опубликовано: 07.04.1992

Авторы: Саченко, Шиморин

МПК: H01J 49/30, H01J 49/44

Метки: анализа, двух, заряженных, направлениях, ортогональных, спектрометрического, фокусировкой, частиц

...формуле (1), на Фиг.2 - устройство, реализующее предлагаемый способ, где с - схема рас 25 Анализируемый пучок заряженныхчастиц направляют в аксиально-сим"метричное магнитное поле с напряженностью (1) Пучок диафрагмируетсяпо ширине щелью 2 (фиг,2), установЗ 0 ленной в магнитном поле на рассто"янии г от оси симметрии, и коллимируется щелью по угловому разбросу таким образом, чтобы оптическая ось 4 составляла с окружностью г = г угол, определяемый соотношением (2) . Двигаясь в магнитном поле с напряженностью (1),моноимпульсный пучок заряженных частиц фокусируется в средней плоско сти в некоторой точке на осевойтраектории. При этом имеет местоФокусировка как в радиальном, таки в аксиальном направлениях, причем указанная объемная фокусировка...

Номер патента: 1839274

Опубликовано: 30.12.1993

Автор: Черепин

МПК: H01J 49/30

Метки: масс-спектрометр

...от наружного 8 и внутреннего 9 электродов расположена входная диафрагма 5, а в противолежащей входной диафрагме 5 стороне кольцевого проводящего электрода 10 относительно центра сферы расположена первая промежуточная диафрагма или щель 11, диаметр или ширина которой больше диаметра входной диафрагмы 5, причем угловое расстояние между центрами первой промежуточной диафрагмы 11 и вгорой диафрагмой 5 составляет угол т - Э . Противоположно первой промежуточ;ой диафрагме 11 в кольцевом провод:.щем электроде 10 расположена вторая промежуточная диафрагма 12, диаметр которой больше диаметра входной диафрагмы 5, а центр ее находится в экваториальной плоскости под углом 20 относительно входной диафрагмы 5. По ходу ионного пучка, описывающего...

Номер патента: 1178257

Опубликовано: 27.01.1996

Авторы: Александров, Галль, Саченко

МПК: H01J 49/30

Метки: анализа, веществ, состава, энергомасс-спектрального

1. Способ энергомасс-спектрального анализа состава веществ, заключающийся в ионизации исследуемого вещества, формировании ионного пучка линзами электронно-оптической системы, разложении его в спектр по энергии в электрическом поле электростатического анализатора и по массам в магнитном поле магнитного анализатора с одновременной фокусировкой пучка совокупным действием обоих полей по начальным направлениям и энергиям, детектирование электрических и массовых спектров и считывание информации о них с детектирующих устройств, отличающийся тем, что, с целью увеличения точности, достоверности, экспрессности, упрощения анализа и повышения его информативности изменением потенциала линзы вертикальной фокусировки электронно-оптической формирующей...

Номер патента: 1134043

Опубликовано: 20.01.2000

Автор: Айзенцон

МПК: H01J 49/30

Метки: заряда, удельного, частиц

Способ измерения удельного заряда частиц, например ионов, во взаимно перпендикулярных переменном поперечном электрическом поле и постоянном продольном магнитном поле, направленном перпендикулярно поверхности коллектора частиц, включающий операции создания на поверхности коллектора исходной линейной развертки с помощью электрического поля в отсутствие магнитного поля, включения магнитного поля и определения значения удельного заряда, отличающийся тем, что, с целью уменьшения времени регистрации при обзоре всего спектра, а также потребляемой мощности за счет уменьшения индукции магнитного поля, регистрируют положение исходной линейной развертки, регулируют индукцию магнитного поля до значения...

Номер патента: 1326100

Опубликовано: 20.01.2000

Автор: Айзенцон

МПК: H01J 49/30

Метки: заряда, удельного, частиц

Способ измерения удельного заряда частиц по авт.св.N 1134043, отличающийся тем, что, с целью повышения точности и чувствительности измерений количественного содержания компонентов в анализируемом веществе и уменьшения помех для наблюдения спектра при качественном определении его состава, дополнительно осуществляют фокусировку компонентов и измерения их тока на дополнительный коллектор, а регулирование напряжения U1 между пластинами отклоняющей системы осуществляют в соответствии с выражением,где U1I - ускоряющее напряжение, В;d - диаметр входного отверстия дополнительного коллектора,...