H01J — Электрические газоразрядные и вакуумные электронные приборы и газоразрядные осветительные лампы

Страница 195

Способ наполнения металлогалогенной лампы для фотоэкспонирования печатных плат

Загрузка...

Номер патента: 1184030

Опубликовано: 07.10.1985

Авторы: Гаврилкина, Гусейнов, Макаров, Сухарев

МПК: H01J 61/20

Метки: лампы, металлогалогенной, наполнения, печатных, плат, фотоэкспонирования

...15 с минимальными (Т), оптимальными (11) и максимальными (11 Т) значениями дози ровки компонентов, мг/смз: 1 сплав 0,03, 0,13, 2,0; ТТ сплав 0,05; 0,6;2,9; ТТХ сплав 0,12; 1,25; 4,0, 20Мощность находится в пределах от 1000 до 3000 Вт. При минимальных и максимальных значениях компонентов наблюдается ухудшение спектральных характеристик и снижение знергетичес. 25 кого К 1 Щ в диапазоне длин волн 300- 400 нм, При значениях компонентовсплава за пределами минимальной и максимальной дозировок наблюдается снижение концентрации излучающих ЭО компонентов в разряде и уменьшение доли УФ излучения в области спектра 300-400 нм ниже 10%, При оптимальной дозировке компонентов наблюдается максимальный КГЩ излучения в области спектра 300-400 нм.Введение...

Способ контроля качества диэлектрических покрытий проводников

Загрузка...

Номер патента: 1187224

Опубликовано: 23.10.1985

Авторы: Носов, Смирнов

МПК: G01N 27/68, H01J 37/00

Метки: диэлектрических, качества, покрытий, проводников

...3, выполненный в виде изолированного проводника с рабочей площадкой 4 диаметром 1-3 мм,вспомогательный электрод 5, натекатель 6, систему 7 вакуумной откачки, 20измеритель 8 давления в камере,источник 9 напряжения, один полюскоторого подключен к дополнительномуэлектроду 3, а второй через переключатель 10 может быть подключен 25либо к вспомогательному электроду 5,либо к проводнику контролируемогоизделия 11. Установка содержит такжекоординатно-чувствительный фотоприемник 12 и счетчик 13 дефектов покры. З 0тия.Способ контроля диэлектрическихпокрытий осуществляется следующимобразом. Контролируемое изделие 11 устанавливают в камеру 1 и измеряют максимальное Йм и минимальное Ймин расстояния от площадки 4 дополнйтельного электрода 3 до...

Импульсный таситрон

Загрузка...

Номер патента: 1188806

Опубликовано: 30.10.1985

Авторы: Богданова, Гнидо, Крестов, Тихомиров

МПК: H01J 17/44

Метки: импульсный, таситрон

...В предлагаемом изобретении вторая сетка -35мелкоструктурная, и ее ведение увеличивает токи гашения до сотен ампер.На чертеже схематически представ 40лены предлагаемый прибор со схемойуправления,Прибор состоит иэ двух разрядныхпромежутков - основного 1 и дополнительного 2, образованных общим полым45накальным катодом 3 и расположеннымис противоположных сторон от негодвумя мелкоструктурными сетками 4и 5 и анодами 6 и 7. В основномразрядном промежутке 1 между като 50дом 3 и сеткой 4 расположена мелкоструктурная сетка 8 на расстоянииот сетки 4, равном длине свободногопробега ионов. ВИИИПИ Заказ 6750/54 Филнал ПОП "Патент", г. Схема управления прибором содержит источники 9, 1 О и 11 отрицательного напряжения, источники 12 и 13...

Способ подготовки мишеней из непроводящих порошкообразных материалов для анализа методом масс-спектрометрии вторичных ионов

Загрузка...

Номер патента: 1188808

Опубликовано: 30.10.1985

Авторы: Барбашев, Власюк, Пристер

МПК: H01J 49/26

Метки: анализа, вторичных, ионов, масс-спектрометрии, методом, мишеней, непроводящих, подготовки, порошкообразных

...ей способность сохранять форму при любой ориентации35в пространстве. Полученная такимобразом дисперсная система наноситсятонким (Ь=0.2 - 2 мм) слоем на проводящую подложку, которая химическис ней не взаимодействует.Интервал толщин Ь=0,2 - 2 мм выбран из следующих соображений. ПриЬс 0,2 мм дисперсная система быстрораспыляется (при энергии первичныхионов аргона, равной 10 кэВ, скоростьраспыления доходит до 1 мм(ч) и ужечерез 10-15 мин масс-спектр состоитв основном из пиков, соответствующихматериалу подложки, При слое, большем 2 мм, начинает сказываться зарядка поверхности, которая ведет к ис,"кажению масс-спектра.Для того, чтобы при малых толщинах масс-спектр подложки не наклады. -вался на масс-спектр исследуемого55общества, ее средний...

Электронно-лучевая трубка

Загрузка...

Номер патента: 1189357

Опубликовано: 30.10.1985

Авторы: Джеймс, Ричард

МПК: H01J 29/07

Метки: трубка, электронно-лучевая

...верхней и нижней границей. Пример этой нерегулярной границы показан на фиг. 3, на котором три строки 20 оканчиваются в более низкой точке, 15 чем оканчиваются соседние три строчки 21, поскольку частичная апертура19 (показана пунктиром) не вскрыта травлением.Участок улучшенной трубки, имеющей регулярную плавную по контуру верхнюю и нижнюю. границу экрана в соответствии с изобретением, показан на фиг. 4. Маска 22 имеет ту же конфигурацию апертурной щели по большей части маски, как и маска 12 на фиг, 3, за исключением того, что апертурная модель некоторых колонок видоизменена в верхней и нижней периферии, чтобы обеспечить всем апер турным колонкам полную ширину, а апер-. турным щелям - примыкание к требуемой граничной линии. Маска 22...

Способ массо-спектрометрического определения изотопной концентрации углерода в метаноле

Загрузка...

Номер патента: 1190427

Опубликовано: 07.11.1985

Авторы: Кернер, Орджоникидзе, Парулава

МПК: H01J 49/26

Метки: изотопной, концентрации, массо-спектрометрического, метаноле, углерода

...линии устраняется вымораживанием метанола непосредственно в ампуле напуска притемпературе не более -64 С с послеЗОдующей ее откачкой до остаточногодавления газов не более 3.10 Э Па.Принимаются ввиду следующиеусловия.Изотопная концентрация углерода35при фрагментации не меняется, поэтому все фрагменты. метанола сохраняют исходные изотопные концентрации углерода и отношения:нсн о" эсн,он "фон,он,40ц 2 СНО осНОН СНОН= сопят (1),Интенсивности ионных токов молекулярных, фрагментных и протонированных изотопных форм пропорцио - 45нальны произведениям вероятностейих образования иа концентрациисоответствующих изотопов.С помощью этих условий и экспериментально фиксированных интенсивностей пиков ионных токов с массовыми числами 31 и 34...

Газоразрядное коммутирующее устройство

Загрузка...

Номер патента: 1191978

Опубликовано: 15.11.1985

Авторы: Андронова, Арш, Крижановский, Кузьмичев, Шендаков

МПК: H01J 1/50, H01J 17/14

Метки: газоразрядное, коммутирующее

...последовательно включают в высоковольтную цепь. При подаче в первый (основной)зазор 5 импульса магнитнбго поля Н(фиг. 2) длительностью 7, несколько меньшей длительности разрядноготока 1 Р ( 7 ), в основном зазоре 5зажигается разряд в скрещенных полях,обеспечивающий прохождение разрядного тока. Импульс магнитного поля Нподается во второй (вспомогательный)зазор 6 в момент времени, предшествующий на величину Ь 72, равную нескольким микросекундам, окончанию импульса Нтак, чтобы в нем сформировался устойчивый разряд. Длительность импульса Нвыбирается равной 10-15 икс. За это время плазма в первом зазоре полностью распадается, и его электропрочность восстанавливается. При окончании импульса Н разряд во втором зазоре гаснети...

Растровый электронный микроскоп

Загрузка...

Номер патента: 1191980

Опубликовано: 15.11.1985

Авторы: Вольфганг, Герхард

МПК: H01J 37/20

Метки: микроскоп, растровый, электронный

...дистанционное управление перемещением объектодержателя. Шаговыемоторы 30 связаны с управляющим блоком 24, периферическая часть 31 которого служит для ввода данных.Управляющий блок 24 служит для,полного управления столом 28 и сравнения заданного значения перемещенияобъекта со средним истинным значением, измеренным лазерной измерительнойсистемой, подключенной в цепь обратной связи управления столом.Лазерная измерительная системаоснащена Не-Яе-лазером и образуетинкрементальную измерительную системус инкрементом 3 /16=0,04 мкм,Две измерительные призмы 32 лазер-ной измерительной системы для Хи У-направлений расположены непосредственно на координатном столе 28. Двепризмы 33 сравнения для Х- и У-направлений расположены в камере 27объектов таким...

Газоразрядная лампа высокого давления

Загрузка...

Номер патента: 1191982

Опубликовано: 15.11.1985

Авторы: Алявин, Мельников, Салкин

МПК: H01J 61/22

Метки: высокого, газоразрядная, давления, лампа

...т л и ч а ю щ а я с я тем, что,с целью увеличения продолжительностиее горения путем устранения разрушения защитного покрытия, окись металлаимеет коэффициент линейного расширения, близкий к коэффициенту линейного расширения материала.металлической рамы, в качестве соединения алюминия использована оксисоль алюминия,а указанные компоненты находятсяв соотношении в пределах от 20:1до 2:1 соответственно.3 4 Окись алюминия 20 Окись магния Оксихлорид алюминиия Оксинитрит алюминия Прочность покрытия вори- ся при тельная нагрева- нии ся при ся при нагрева- транснии портировке и сборке Составитель В.ГорчановаРедактор М.Товтин Техред О,цецеКорректор Г.Решетник Заказ 7165/49 Тираж 678 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам...

Импульсная газоразрядная лампа

Загрузка...

Номер патента: 1191984

Опубликовано: 15.11.1985

Авторы: Трофимцева, Хузмиев, Хузмиева

МПК: H01J 61/54

Метки: газоразрядная, импульсная, лампа

...кри визны трубки колбы 1 (т.е. проходящей по внешней наибольшей окружности изогнутой части колбы 1), нанесена полоска 5 в виде прозрачного проводящего покрытия (например, на основе двуокиси олова с добавками, повышающими прозрачность, термостойкость и проводимость). Вне разрядной области колбы 1, т.е. в ее прямых частях, где установ лены электроды 3, полоска 5 более широкая или распространена на всю окружность колбы 1, и в этой зоне одним из известных методов осуществлен контакт проводящей полоски 5 с металлическим проводом 6. Ножки лампы с токовводами 2 в данном примере выполнения укреплены в цоколе 7 из изолирующего материала. Выводы 8 служат для подключения к устройству питания электродов 3, а вывод 9 - для подключения...

Безэлектродная люминесцентная лампа

Загрузка...

Номер патента: 1191985

Опубликовано: 15.11.1985

Автор: Юшков

МПК: H01J 65/04

Метки: безэлектродная, лампа, люминесцентная

...на фиг. 2 - лампа с полостью, образованной конической и цилиндрической частями.Лампа содержит колбу 1, покрытую люминофором 2, с полостью 3, в которой установлен индуктор 4. В переходном блоке 5 размещен высокочастотный генератор (не показан). Лампа снабжена цоколем б. Полость 3 и индуктор 4 могут быть выполнены полностью коническими (фиг. 1) или могут быть образованы конической и цилиндрической частью (фиг. 2).В начальный момент после включения лампы с коническим индуктором, за счет аксиального электрического поля индуктора, возникает Е-разряд, который затем переходит в Н-разряд, имеющий тороидоподобную форму и расположенный коаксиально с индуктором. Н-разряд в парах ртути с добавкой аргона при давлении 40 - 400 Па является...

Способ управления игнитронным разрядником

Загрузка...

Номер патента: 1193736

Опубликовано: 23.11.1985

Авторы: Арш, Козлов, Коряковский, Крижановский, Кузьмичев, Лапшин, Рыбин, Шендаков

МПК: H01J 13/32

Метки: игнитронным, разрядником

...зона нагрева корпусаи анодного изолятора до 90-200 Снаходится в области разрядника сповышенной напряженностью электрического поля. В электродных системах, типа тех, которые реализуются в игнитронных разрядниках,напряженность электрического поля может достичь критического значения,для пробоя по микрокапилляр ному механизму (2 10 4 В(см) в областианодного изолятора и на прианодной 30 40 45 5 1 О 15 2025 части корпуса выше токоприемной поверхности анода и ниже ее на высоту не менее трех величин зазоровмежду боковой поверхностью анода и корпусом, Однако удаление нижней границы зоны нагрева от анодане должно превышать расстояниямежду катодом и анодом во избежание нагрева ртутного катода и повышения давления паров ртути...

Способ получения излучения

Загрузка...

Номер патента: 1193843

Опубликовано: 23.11.1985

Авторы: Кулюпин, Пилипчак, Федорович

МПК: H01J 61/00, H05B 33/20

Метки: излучения

...плотного защитного покрытия ЫО, его нанесение проводилось методом, например, электронного распыления.Отдельный светящийся центр получают при последовательном пережигании светящихся центров. Для этого через пленку пропускают электрический ток мощностью Ч , большей той У, при которой пленка начинает светиться, т.е. УУ. Происходит перегорание отдельных светящихся центров, Затем снова увеличивают мощность до ЧЖ , при этом происходит перегорание еще ряда центров.Таким образом, путем последовательного пережигания получают на пленке (2 х 2 10 мм) один светящийся 50 центр. Интенсивность .свечения такого центра остается стабильной в течение нескольких тысяч часов. Пережигание центров можно проводить, подавая импульсное напряжение, напри мер 15...

Электродная система для источников электронов и ионов

Загрузка...

Номер патента: 1144542

Опубликовано: 30.11.1985

Авторы: Антипов, Елизаров, Мартынов, Чесноков

МПК: H01J 27/02, H01J 3/00

Метки: ионов, источников, электродная, электронов

...близким к изобретению техническим решением является ионнооптическая система, образованная тремя электродами, образованньви подпружиненными металлическими нитями.Недостатком системы является наличие элемента, подверженного тепловым и силовым нагрузкам одновременно, 20 что снижает надежность источника.Целью является повышение надежности работы нощно-оптической системы ионного источника.Цель достигается тем, что в элек тродной системе для источников электронов и ионов, содержащей по крайней мере два электрода, каждый из электродов системы выполнен в виде концентрических колец и радиально 30 расположенных стержней, причем внутренние кольца свободно посажены на стержнях, а внешние жестко скреплены со стержнями,На фиг.1 и 2 изображены две...

Устройство калибровки датчика интегрального потока ионов космической плазмы

Загрузка...

Номер патента: 1032899

Опубликовано: 07.12.1985

Авторы: Гусева, Ермолаев, Застенкер, Лейбов, Немечек, Ноткин, Шафранкова

МПК: G01T 1/15, H01J 47/00

Метки: датчика, интегрального, ионов, калибровки, космической, плазмы, потока

...соединен с командным устройством, а один из выходов соединен с телеметрической системой, другой параллельно подключен к супрессорной сетке цилиндра Фарадея, при этом расстояние между супрессорной сеткой и коллектором цилиндра фарадея прямо пропорционально диаметру цилиндра фарадея и напряжению пробоя между ними,Уменьшение этого расстояния, с одной стороны, позволяет при сохранении всех остальных параметров уменьшить амплитуду треугольного напряже 20 ния на супрессорной сетке, что упрощает конструкцию и электрическую схему, но, с другой стороны, ведет к уменьшению величины напряжения пробоя между супрессорной сеткой и коллектором цилиндра Фарадея, Оптимальной величиной оказалось отношение диаметра коллектора к расстоянию отнего до...

Способ контроля поверхностных дефектов твердых материалов

Загрузка...

Номер патента: 1196971

Опубликовано: 07.12.1985

Авторы: Красная, Носенко, Остер, Ясколко

МПК: H01J 9/42

Метки: дефектов, поверхностных, твердых

...в . расширениефункциональных воэможностей засчет увеличения числа материалов,подлежащих контролю.На фиг.1 и 2 приведены результаты измерения ФСЭСущность способа заключается втом, что поверхность покрываютпредварительно возбужденными веществами (эмиттерами), обладающимихорошей проникающей способностьюили хорошейадгезией с дефектнымиместами и значительной фотостимулированной экзоэмиссией, излишеквещества удаляют, после чего измеряют ФСЭ, которая идет с декорированных таким образом дефектныхмест исследуемого материала.Заметная ФСЭ сульфатов при возбуждении фотонами проявляется принаименьшей энергии, равной 9 эВ.Воэбужцение ФСЭ можно производить такжевысокоэнергетичными электронами (например, а -частицами) сэнергией 2,3 10 эВ,...

Амальгама для люминесцентных ламп

Загрузка...

Номер патента: 1196972

Опубликовано: 07.12.1985

Авторы: Дадонов, Калязин, Федоренко

МПК: H01J 61/20

Метки: амальгама, ламп, люминесцентных

...введению в известныйсостав амальгамы, являющейся диамаг"нетиком, ферромагнитного материала,шарику амальгамы, в виде которогоона обычно дозируется в лампу,придается магнитное свойство, т.е.способность притягиваться к поверхности магнита, что позволяет шарикиамальгамы легко и быстро собиратьс большой поверхности полов произдования, особенно из труднодоступныхмест, куда они могут попасть в результате различных видов технологических потерь при производстве ламп.С этой целью необходимо только снабдить соответствующие устройства, служащие для уборки помещений, небольлых, куда она может попасть в результате разрушения ламп. Кроме того,амальгама предлагаемого состава может легко отделяться с помощьюмагнитных сепараторов от...

Способ модуляции релятивистского пучка заряженных частиц

Загрузка...

Номер патента: 1116903

Опубликовано: 07.12.1985

Авторы: Новиков, Юшков

МПК: H01J 25/00

Метки: заряженных, модуляции, пучка, релятивистского, частиц

...возбуждается СВЧ-поле, в волноводе возбуждают симметричную волну типа Но 1и накладывают постоянное внешнее продольное магнитное поле с индукцией,Вдопределяемой неравенством 1 с сз,гггде б - индукция магнитного поля, Тл;Е - заряд частиц, Кл; 20масса частицы, кГ;напряженность азимутальнойУэлектрической компонентыСВЧ-поля, В/м;- расстояние от среднего радиуса трубчатого пучка до стенки волновода, м,а на выходе из волновода пучок пропускают через коллиматор.Рассмотрим процесс модуляции на ЗОпримере трубчатого электронного пучка. Электронный пучок проводят в волноводе, в котором возбуждают СВЧ-волну Н -типа. На участок взаимодействия пучка с СВЧ-полем волны накладывают продольное магнитное поле индукцией Ь . При равенстве скоростипучка 1/р и...

Источник ионов

Загрузка...

Номер патента: 849920

Опубликовано: 15.12.1985

Автор: Ковальский

МПК: H01J 27/04

Метки: ионов, источник

...в зоне компенсации пространственного заряда пучка и, следова" тельно, пучок, достигнув минимального поперечного размера, начнет вновь расширяться. Таким образом, в известном источнике ионов можно получить лишь локальное повышение плотности тока. Целью изобретения является повышение плотности ионного тока пуч Эта цель достигается тем, что в источнике ионов, содержащем газоразрядную камеру, включающую термокатод, анод, экранный электрод с экстрагирующим отверстием, средство созданиямагнитного поля в камере и систему ускорения осесимметричного пучкаионов, газоразрядная камера выполненав виде тора прямоугольного сечения, ось симметрии которого совпадает с осью симметрии пучка ионов, экранный электрод совмещен с внутреннейстенкой...

Источник ионов

Загрузка...

Номер патента: 803737

Опубликовано: 15.12.1985

Автор: Ковальский

МПК: H01J 27/22

Метки: ионов, источник

...изобретения является повышение плотности ионного тока,37 1электрода в его главной плоскостисимметрично извлекающему отверстиюанод и источник питания разряда,анод выполнен в виде прямоугольнойпетли, введен дополнительный источник питания для поддержания тока через анод, термокатод выполнен в видеаналогичной по форме аноду. петли ирасположен в плоскости, параллельной плоскости расположения анода, подругую по отношению к извлекающемуотверстию сторону от этой плоскости.На чертеже представлена структурная схема ионного источника,Корпус газоразрядной камеры 1 (показан пунктиром, представляющийсобой катодный электрод, имеет формуполого цилиндра с дном, на которомпомещается тигель с рабочим веществом. Внутри полости катода...

Катодно-лучевая трубка с теневой маской

Загрузка...

Номер патента: 1199207

Опубликовано: 15.12.1985

Автор: Альберт

МПК: H01J 29/07

Метки: катодно-лучевая, маской, теневой, трубка

...Техред З.Палий Корректор В.Бутяга Тираж б 78 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж-Э 5, Раушская наб., д, 4/5Заказ 7741/62 Филиал ППП "Патент", г, Ужгород, ул. Проектная,Изобретение относится к электронной технике, в частности к технике цветных катодно-лучевых трубок, снабженных теневыми масками.Целью изобретения является повышение прочности и жесткости маски за счет искривления ее поверхности.На чертеже представлена конструктивная схема экранно-масочного узла катодно-лучевой трубки.Представленный узел содержит фронтальную плоскую панель 1 экрана и теневую маску 2, связанную с панелью 1 с помощью элементов Э крепления и поддерживающих планок 4.Маска 2 выполнена со множеством...

Способ автоионномикроскопического измерения профилей пробегов имплантированных в металлы ионов

Загрузка...

Номер патента: 1160880

Опубликовано: 15.12.1985

Авторы: Бобков, Лазарев, Суворов

МПК: H01J 37/285

Метки: автоионномикроскопического, имплантированных, ионов, металлы, пробегов, профилей

...импульсов; заштрихованные облаети соответствуют погрешностямопределения 11 и 7 с учетом тогофакта, что напряженность поля наилучшего отображения поверхности образца имеет неопределенность 15 Е.118 фцг. 2 приведен пример зависимости числа 11 Г, испаренных полем иудаленных за пределы диафрагмы заодин импульс атомов образца от числа 11 И импульсов для разных размеровХ зондового отверстия (значения .определяют число атомов грани, одновременно проходящих сквозь зондовоеотверстие и могут составлять от 3до 35). Зависимость получена из серии автоионных изображений грани(011) вольфрамового образца при- 8,0 кБ и 117 = 1,45 кВ. Сущность изобретения заключается и следующем,1 чл измерения профилей пробегов цмплантированных в металл ионов какого-либо...

Электронная лампа

Загрузка...

Номер патента: 465127

Опубликовано: 23.12.1985

Авторы: Лелиовский, Московская, Церевитин

МПК: H01J 21/10

Метки: лампа, электронная

...цилиндра находится шток 2, изготовленный иэ молибдена или другого тугоплавкого материала, соединенный с одной стороны с дер" жателем ножки. На другом конце штока 2 расположены шайба, изолятор и держатель катода 1, Нити катода закреплены на держателе. Они расположены вдоль оси лампы и поддерживаются в ней мере двумя элементами, ходящимися в контакте один другим. таком положении при работе приборапосредством пружины.;управляющая сетка выполнена ввиде ряда поперечных колец 3, укрепленных на стержнях 4, Стержни расположены параллельно оси электроннойлампы на расстоянии и в промежуткахмежду нитями катода, Экраннаясетка содержит кольца 5 и 6, обра О зованные проволокой одного диаметраи находящиеся в контакте друг с другом Кольца 5...

Детектор заряженных частиц

Загрузка...

Номер патента: 1050382

Опубликовано: 23.12.1985

Авторы: Аматуни, Арванов, Гавалян

МПК: G01T 1/38, H01J 49/44

Метки: детектор, заряженных, частиц

...диэлектрика. Временные отметчики на основе таких слоев регистри вруют факт прохождения релятивистскихминимально ионизирующих частиц сдостаточно высокой эффективностью( = 65 .). Однако пористые диэлектрические слои на основе таких веществкак, например, КС 1 или КВ в силу их гигроскопичности сильно ухудшают свои эмиссионные свойствасо временем, что обуславливаеттехнические трудности, возникающиепри их использовании, в то времякак слои из негигроскопичных веществ (МО, криолит) таких трудностей не вызывают. Таким образом,детектируемая частица, проходя через указанный слой, вызывает вторичную, усиленную полем, электронную эмиссию слоя из области, радиус которой линейно зависит отЛоренц-фактора частицы, и остается лишь, не допустив...

Электростатический энергоаназилатор заряженных частиц

Загрузка...

Номер патента: 1120870

Опубликовано: 23.12.1985

Автор: Фишкова

МПК: H01J 49/48

Метки: заряженных, частиц, электростатический, энергоаназилатор

...через центр плоскогоэлектрода перпендикулярно ему, другой электрод выполнен в виде цилиндра, усеченного плоскостью, параллельной плоскому электроду, иобращен вогнутостью в сторону последнего,На фиг,1 изображена схема электростатического анализатора в плоскости дисперсии (МОЕ) и в вертикальной плоскости (10); на фиг,2 (а,б,в) - варианты поперечного сеченияего электродов,Знергоанализатор состоит из источника 1 заряженных частиц, двухгд между входом водом из него центаекторни пучка,Ианализатора,сила э разно равная отношениюпотенциалов между егоэлектродами 7 к ускорящему потенциалу У;начальный угол наклонацентральной траекториина входе в поле;- величина максимальногоудаления центральной тектории пучка от продолной оси;-...

Диодный микроскоп

Загрузка...

Номер патента: 1201919

Опубликовано: 30.12.1985

Авторы: Рыбалко, Тихонов

МПК: H01J 37/26

Метки: диодный, микроскоп

...таким образом, чтобы шероховатость ее рабочей (зондируемой) поверхности была менее шероховатости (топологического рельефа) регистрируемого микроскопом объекта, Это условие обеспечивает величину переменной составляюшей сигнала, снимаемого с пластины 4, менее амплитуды шума основного видеосигнала, снимаемого с объекта. Кроме того, использование острия зонда 1 с радиусом большим, чем радиус рабочего второго зонда 2, также позволяет снизить шумовую составляющую опорного (нормируюшего) сигнала за счет 15 20 25 30 35 40 45 уменьшения влияния топологии тестовой пластины на переменную составляющую сигнала. Поскольку изменение тока диода острие - пластина при прочих равных условиях определяется и радиусом закругления острия, то чем...

Способ послойного анализа твердых веществ

Загрузка...

Номер патента: 1201920

Опубликовано: 30.12.1985

Авторы: Коляда, Комаров, Ташлыков, Ченакин

МПК: G01N 27/62, H01J 49/26

Метки: анализа, веществ, послойного, твердых

...энергии ионно-лучевогоФлегирования, при котором разрешаетсямаксимум каналированных ионов (Е 2)с этой энергией и максимум неканали 35рованных ионов с максимальной энергией (Е 4) (см. фиг,2, энергии Еп иЕ 4При распылении поверхности ионнолегированного вещества наблюдается40 максимум потоков вторичных ионов,обусловленный окислением поверхности и насыщением ее ионами первичногопучка, После распыления слоя (обычно толщиной 500-1000 А) параметры45 потоков вторичных ионов стабилизируются. Следовательно, первый максимум распределения эталонного элемента должен находиться на глубинене меньшей этого слоя 81,.1201920 арасположен на глубине 1350 А. Такимобразом, расстояние между экстремумами и, соответственно, разрешениепо глубине составляет 250...

Катодный узел для мощных газоразрядных ламп

Загрузка...

Номер патента: 1201921

Опубликовано: 30.12.1985

Авторы: Араскин, Киреев, Молодцов, Рабинович, Ященко

МПК: H01J 61/073

Метки: газоразрядных, катодный, ламп, мощных, узел

...3, сопрягаемый попритираемым конусным поверхностям.Водяная рубашка 4 с каналами 5 припаяна к основанию 1 легкоплавкимприпоем 6 с Тп, ниже 300 С во избежание отжига меди, Наружная поверхность 7 основания выполненазеркальной, алюминированной в вакууме.Держатель 3 представляет собойцельную деталь с приплавленным кнему вольфрамовым катодом 8, имеющимполость 9, заплавленную медью,В процессе работы тепловой потокот горячего опорного пятна дуги,располагающегося на рабочей частикатода 8, передается через полость9, заполненную медью, к медномудержателю 3, который, расширяясь,заклинивает в гнезде 2 по конуснойповерхности..Высокая прочность гнезда обеспечивает возможность полученияусилия прижатия держателя 3 к гнезду 2, превышающего предел...

Источник отрицательных ионов

Загрузка...

Номер патента: 854197

Опубликовано: 07.01.1986

Авторы: Бельченко, Деревянкин, Дудников

МПК: H01J 27/04

Метки: ионов, источник, отрицательных

...Источник работает следующим образом. В газоразрядную ячейку по каналу 6 в катоде или аналогичному каналу в аноде подается газообразное рабочее вещество, а из кон.тейнера 7 - пары цезия. Между катодом 3 и корпусом газоразрядной камеры 1 прикладывается напряжение, поджигающее и поддерживающее разряд.,При достаточно малых зазорах (О, 5-1 мм) между катодом и анодом разряд локализуется в полуцилиндрической канавке 5 примыкающей к эмиссионной щели 2,При глубине канавки 2 мм сильноточный тлеющий разряд, генерирующий отрицательные ионы, зажигается и без магнитного поля, но без магнитного поля вместе с отрицательными ионами извлекается интенсивный поток сопутствующих электронов, который формируется в пучок. В этом режиме из источника можно...

Устройство для измерения остаточного отклонения магнитных отклоняющих систем

Загрузка...

Номер патента: 1205204

Опубликовано: 15.01.1986

Авторы: Грицкив, Педан

МПК: H01J 3/32

Метки: магнитных, остаточного, отклонения, отклоняющих, систем

...Нт . Иавыходах первого триггера 2 формируются напряжения Б 8 и Нз, Падвлиянием. напряжения 1, нд выходах 10второго триггера 3 возникают напряжения Нуо, с)2 с, ) служащие в качествесигналов, поступающих на сигнальныевходы аналоговых ключей 5 и б соответственно. В результате одновременной подачи напряжения Б нятретий триггер 4 на его выходе формируется сигнал, который в качествеуправляюп 1 его подается на те же ключи5 и б. Под влиянием этого сигнала выхадной сигнал Б второго триггера3 поступает поочередно на неинвертирующий и инвертирующий входы операционного усилителя 7, в результатечего на его выходе формируется сиг - 25нал Н 1 . Посредством усилителя 9этот сигнал, будучи преобразованнымв ток 1 о (случай, когда выходноенапряжение...