H01J — Электрические газоразрядные и вакуумные электронные приборы и газоразрядные осветительные лампы
Катод для магнетронных приборов
Номер патента: 587798
Опубликовано: 23.03.1987
МПК: H01J 1/20, H01J 23/04
Метки: катод, магнетронных, приборов
...данной конструкциитакже является наличие термомеханических колебаний катода в пространстве взаимодействия,Цель изобретения - предотвращение 4 Овозникновения термомеханических колебаний катода.Поставленная цель достигается тем,что в предложенном катоде для магнетронных приборов полуподогревного типа цилиндр выполнен из отдельных соединенных друг с другом элементов сгофрамн на концах, а между этими элементами и стержнем расположены кольцевые изоляторы, 50Стержень может быть выполнен полым, и его полость соединяется с системой охлаждения для увеличения теплоотвода с механически жесткогостержня при большой обратной бомбардировке катода.Разделение катода на отдельныеэлементы с механической развязкоймежду ними в виде гофр позволяет при 8...
Магнетрон
Номер патента: 426599
Опубликовано: 23.03.1987
Авторы: Александров, Быстров, Марин, Пушкарев, Суходолец
МПК: H01J 23/20
Метки: магнетрон
...между всеми штырьками и внутренним стержнем коаксиала при перемещении стержня вдоль своей оси. Так как коаксиальная линия перестройки в предлагаемом магнетроне не является резонансным элементом (ее резонанс 9 2ные свойства не используются, а наоборот, нежелательны), то для .исключения этих резонансных свойств приняты специальные меры: зазор между внутренним стержнем линии и наружным элементом уменьшен настолько, что волновое сопротивление линии весьма мало (0,5-1,0 Ом); внутренний стержень коаксиала имеет переменный профиль поверхности только со стороны, обращенной к анодному блоку, чем обеспечивается асимметрия собственных высокочастотных полей коаксиальной линии, препятствующая возникновению собственных резонансов в линии.На Фиг.1...
Способ определения работы выхода коллектора термоэмиссионного преобразователя
Номер патента: 1298811
Опубликовано: 23.03.1987
Авторы: Оганезов, Тимошенко, Цхакая
МПК: H01J 45/00
Метки: выхода, коллектора, преобразователя, работы, термоэмиссионного
...резко переходит во второе плато, соответствующее многослойному адсорбированному покрытию.В области Т ( Т выражение (1) записывается50звездочкой отмечены значения )и Г приТ .=Т. В произвольнои точке кривоин 55Ч, (Т ) )ге=х+т.+кттп 1(фн)-е - 1Л/а Мыми О+ ь) 112Поскольку измерения 7:. и Хс производятся относительно реперного уровня Ч;с Т, можно записатьт):-У - тт= - ( :) + Те0 1+гР Ф(1+:к) )ледовател ьнок=/тес:-.- т - l,+Хк - КТе 1 п ":к 1+(2));е 1Расчет показывает, что зависимость логарифмического члена ь(2) от температуры коллектора с достаточно высокой точностью (не хуже +-0,005 эВ) можно экстраполировать линейной зависимостью 1,4 10(Те -Т,т). В результатеХ = Ч-тс к - Ч +Х - 1,4.10" (Те - Те) (3)Пример. Измеряется работа выхода...
Пропорциональный счетчик
Номер патента: 1202448
Опубликовано: 30.03.1987
Автор: Русин
МПК: G01T 1/16, H01J 47/06
Метки: пропорциональный, счетчик
...поле, близкое 3 Ок полю цилиндрического конденсатора.Электроды анод 1 и сетка 3 отделеныдруг от друга и от катода 2 тканеэквивалентным изолятором 4. Толщина а пристенки счетчика выбрана такой, чтобыона была больше пробега любого иэдельта-электронов, выбитых ТЗЧ изатомов вещества стенки в процессе их сд(1)ионизации,Работает данный счетчик следующим 4 Ообразом. Перед облучением его полостьзаполняется газом и после подключенияк нему необходимых электронных схем(тех же, что и для СПС при измеренииединичного микродозиметрического рас 45пределения) на анод подается напрядения 1, на сетку напряжения 0,Б,катод заземляется, Если теперь такойсчетчик поместить в мононаправленноеле ТЗЧ и облучать его параллельнооси, то счетчик будет...
Материал для полого катода спектральной лампы
Номер патента: 1300585
Опубликовано: 30.03.1987
Авторы: Бабицына, Бельский, Ковалева, Очертянова, Садикова
МПК: H01J 61/09
Метки: катода, лампы, материал, полого, спектральной
...друг от друга соотношением компонентов, мас.7: 25Селен Медь30 7032 6835 6538 6242 58Получение сплавов медь-селен с содержанием селена 30-42 мас./ проводили высокотемпературным синтезом из меди и селена особой чистоты в от качанных до 10 Па и запаянных кварцевых ампулах. Ампулы помешали во вращающуюся печь. при 1100-1150 С. Вращение печи производили в течение 1 ч,о затем медленно охлаждали до 200-300 С, 40 после чего охлаждение образцов проводили в режиме выключенной печи.Из полученных сплавов были изготовлены полые катоды для спектральных ламп. Относительная интенсивность 45 излучения лампы определялась при различных токах 16-25 мА, Максимальная чувствительность и стабильность работы лампы достигалась нри оптимальном токе 20 мА....
Электролюминесцентное устройство
Номер патента: 1301327
Опубликовано: 30.03.1987
Авторы: Арто, Иорма, Ральф, Свен, Туомо
МПК: H01J 29/18
Метки: электролюминесцентное
...например, при печатаниичерной проводящей зоны, полностьюпокрывающей отверстие 8,В материалах с высокой четкостьюпроводимость верхнего электрода становится более критической, В такомслучае используется вариант конструкции, изображенный на фиг.2. Конструкция позволяет производить разделение отцельного электрического элемента (например, элемента 4 на фиг,2),а также использовать более тонкиепроводящие полоски, например, для соединения нескольких семисегментных элементов так, что соответствующие сегменты электрически соединены,Если электрическая монтажная схема полностью изготовлена из черного материала, то не требуются отдельные проводящие эоны 7. Устройство согасно фиг.3 является предпочтительным вариантом конструкции в...
Способ термообработки стеклооболочек электровакуумных приборов
Номер патента: 1302349
Опубликовано: 07.04.1987
Авторы: Волчкевич, Кужман, Морозов, Немцов, Степаньянц, Федоров
МПК: C03B 32/00, H01J 5/02
Метки: приборов, стеклооболочек, термообработки, электровакуумных
...радиационного охлаждения стеклооболочки в вакууме от температуры 500 - 520 С до 100 - 150 С.На фиг. 1 изображена установка радиационного вакуумного отжига стеклооболочек ЭВП, реализующая предлагаемый способ; на фиг. 2 - цикл термообработки стекло- оболочек ЭВП.Способ осуществляют следуюшим обра. зом.Обрабатываемая стеклооболочка 1, например экран электроннолучевой трубки, устанавливают на теплоизолированную подставку 2, включают источник 3 теплового излучения и одновременно начинают откачку рабочего объема до давления 1 - 5 Па вакуумной системой 4, Экран 5, препятствуюший тепловым потерям при нагреве и выдержке, выполнен с возможностью свертывания, что позволяет интенсифицировать передачу тепла от нагретой стеклооболочки 1 к...
Электронно-оптический преобразователь изображения
Номер патента: 1302350
Опубликовано: 07.04.1987
Авторы: Карл-Вильгельм, Хартмут
МПК: H01J 31/50
Метки: изображения, электронно-оптический
...электродом для запирающего электрода, причем анод и запирающий электрод так расположены друг относительно друга, что они пропускают проходящий через анодную щелевую диафрагму пучок электронов и в направлении распространения луча присоединяются запирающая диафрагма, отклоняющее устройство, короткая магнитная линза и экран.1302350 5 10 5 20 25 30 35 40 45 50 формула изобретения 3Электронно-оптический преобразователь изображения отличается тем, что расстояние между фотокатодом и анодом достигает нескольких миллиметров и ширина щели анодной щелевой диафрагмы составляет примерно 0,1 мм; запирающий электрод и противоположный электрод так расположены друг относительно друга, что расстояние между ними порядка 1 мм, расстояние отклоняющих...
Устройство для исследования поверхности твердого тела
Номер патента: 1302351
Опубликовано: 07.04.1987
Автор: Назаренко
МПК: H01J 37/20
Метки: исследования, поверхности, твердого, тела
...производится на атмосфере при отведенной (сдвинутой в осевом направлении) гильзе, Введение штока с образцами в область откачки на форвакуум, а затем - в высоковакуумную магистраль осуществляется по известной схеме.Вращение от привода 10 перемещения объектоносителя 4 передается на кулачок 15 посредством валика 14, двух пар конических зубчатых колес 12 11 и тяги 13. Рабочий выступ кулачка 15 входит в зацепление с углублениями в ленте 5 (фиг. 1) и перемещает ее по ходу часовой стрелки, либо против хода, на величину., кратную расстоянию между двумя оптическими осями в 2-лучевом анализаторе. При дальнейшем вращении кулачка рабочий его выступ выходит из зацепления с лентой, что приводит к остановке ее.Затем при дальнейшем вращении...
Вакуумный манипулятор
Номер патента: 1302352
Опубликовано: 07.04.1987
Авторы: Мельник, Находкин, Тяпкин, Федорченко
МПК: H01J 37/20
Метки: вакуумный, манипулятор
...фланце 39 вакуумной камеры 40 в ее центре. Кассета вторым вакуумным фланцем 36 закреплена на нижнем фланце 41 вакуумной камеры 40 так, чтобы ось1 О держателя 37 образца проходила через вертикальную ось вакуумной камеры 40 и нарасстоянии от центра каФеры 40 большем,чем минимальный выезд захвата 20 держателя образца от этого центра.Манипулятор работает следующим образом,Вращение второго ввода 8 вращения преобразуется посредством второй коническойзубчатой передачи из колес 13 и 14 вовращательное движение центральной трубы1, которое в свою очередь преобразуетсяпосредством реечно-зубчатой передачи (15,16) в возвратно-поступательное перемещениекаретки 17 в горизонтальной плоскости понаправляющим 10 и 23, Вращение первоговвода 7 вращения...
Спектрометр оже-электронов
Номер патента: 1302353
Опубликовано: 07.04.1987
Авторы: Зашквара, Часников, Юрчак
МПК: H01J 49/46
Метки: оже-электронов, спектрометр
...получают спектр энергий вторичных электронов,Специфическая особенность предлагаемого датчика заключается в том, что в режиме, благоприятном для Оже-микрозондирования глубоких впадин на поверхности образца, поток вторичных электронов, выходящий из поверхности обрзца под малым углом отбора а, в результате отражения от ЭСЗ, сегментные электроды которого обращены к образцу выпуклыми поверхностями. трансформируется в пучок, наклоненный под углом близким к а 1= 42.3, при котором в ЦЗА осуществляются наиболее благоприятные условия для угловой фокусировки второго порядка и наилучшего энергетического разрешения.Существенное отличие от известных устройств состоит в том, что радиус внешнего сегментного сферического электрода К больше...
Электронный спектрометр
Номер патента: 1304106
Опубликовано: 15.04.1987
Авторы: Александров, Голиков, Матышев, Романов, Уткин, Холин, Чепарухин
МПК: H01J 49/44
Метки: спектрометр, электронный
...прорезается выходная щель поворотного устройства. М, - угол касательной к траектории в точке К. Этот же угол Ж является углом ввода осевой траектории во входную щель Р 0 квазиконического энергоанализатора, прорезанную в электроде 4 этого анализатора в соответствии с выбранным режимом его работы. М. - угол касательной к траектории в точке О (середина щели с координатами гп, 2 п).О оДиапазон углов 70ь й 90 определяется выбором режима работы квазиконического энергоанализатора (режим фокусировки: мнимое кольцо ось) в соответствии с теорией его работы.Диапазон углов 10Ъ й ЗО определяется взаимным расположением входной щели квазиконического энерго- анализатора и исследуемого источника заряженных частиц (образца) с учетом необходимости...
Газоразрядный источник света
Номер патента: 1304107
Опубликовано: 15.04.1987
Авторы: Боровков, Островский, Хотяинцева
МПК: H01J 61/00, H01J 61/64
Метки: газоразрядный, источник, света
...изобретения является снижение напряжения зажигания,н повышение срока службы.На чертеже представлена принципиальная схема источника света.Газоразрядный источник света содержит прозрачную колбу 1, наполненную светоизлучающей средой (инертным газом или смесью их) при давлении, соответствующем тлеющему разряду. В колбе размещена пьезоэлектрическая пластина 2, на противоположных боковых поверхностях которой расположены узкие (доли миллиметра) проводящие электроды 3, выводы 4 от которых выходят из колбы 1 и служат для крепления прибора и для подведения электрического напряжения к электродам 3. На внутреннюю поверхность колбы может быть нанесен слой люминофора для изменения спектрального состава излучения.Устройство работает...
Цветной кинескоп
Номер патента: 1304760
Опубликовано: 15.04.1987
Автор: Дональд
МПК: H01J 29/02
...игорловиной 3, соединенными конуснойчастью 4, На внутреннюю поверхностьфронТального стекла 2 нанесен трехцветный мозаичный катодолюминесцентный экран 5. Теневая маска 6 установлена на заданном расстоянии отэкрана 5,В горловине 3 размещен .электронный прожектор 7, а в области соединения горловины с конусной частьюколбы установлена отклоняющая система 8.Теневая маска 6 выполнена (фиг,2)с отверстиями в виде щелей 9, которыеотделены друг от друга перемычками10, Чередующиеся перемычки 11 уменьшены по толщине со стороны электрон. ного прожектора по крайней мере дополовины площади поперечного сеченияперемычек при постоянной длине щелей.В другом варианте изобретения вторые 35чередующиеся перемычки 12, расположенные.между первыми 11...
Контактный эмиттер
Номер патента: 668489
Опубликовано: 15.04.1987
Авторы: Кандалов, Карелин, Кравцова, Максимов
МПК: H01J 3/04, H01J 37/08
Метки: контактный, эмиттер
...-того," "что" тблькочасть этих участков обладает максимальной эмиссионной способностью Причиной указанных недостатков являетО щлотуиярнаяСтруктура"и -низкая35 40 Данное обстоятельство может быть объяснено тем, что в подобных контактных эмиттерах сетки имеют обычно большую прозрачность и эмиттер обладает высокой проницаемостью. Следствием этого является малый перепаддавления рабочего вещества на эмиттере, что обуславливает сильную завйсимость эмиссионных свойств от величины Потока цезия сквозь эмиттерКрометого, вольфрам, часто используемыйдля изготовления контактных эмитте-.ров, имеет большую теплоту десорбции"йонов цезия, что определяет сравни-, тельно высокий уровень требуемых ра 45 бочих температур эмиттера,Целью изобретения является...
Электронно-оптическая система для цветных кинескопов
Номер патента: 1128718
Опубликовано: 23.04.1987
Авторы: Ващенюк, Гейзлер, Гордон, Грозык, Ивашкин, Цыганенко, Шумик
МПК: H01J 29/50
Метки: кинескопов, цветных, электронно-оптическая
...системы,Указанная цель достигается тем,чта Б ЭОС для цветных кинескопов, содеря;ащей три компланарно расположенпых эектронпх прожектора, систему Фокусировки к чашеобразный анод, крайпке отверстия которого выполнены с циппдркческой атбортовкой внутрь его полости с увеличивающейся высоток Б направлении к оси центральйого отверстия, отбортовка крайних отверстпй выполнена ступенчатой Формы с границей, проходящей через оси отверстий и перпендикулярной плоскости расположения прожекторов, при этом радиус К части отверстий с меньшей высотой отбортовки выбран из выраженпяК,-О,З 1 К,-К, +1,где К , 13 - соответственно радиус итолщина стенки отбортовки части отверстия сбольшей высотой отбортовки.На Фит,1 показан продольный разрез ЭОС",...
Масс-спектрометр
Номер патента: 1305795
Опубликовано: 23.04.1987
Авторы: Борискин, Брюханов, Еременко, Лощинин, Рамендик, Скрипченко
МПК: H01J 49/30
Метки: масс-спектрометр
...пластины28, например 50 мм , вместо первоначального сечения пучка ионов в фокальной плоскости, равного, например, 40 0,03 мм . В результате этого микроканальная пластина 8 способна эффективно без насыщения регистрировать пульсирующие пучки ионов высокой плотности тока, создаваемые импульсным лазерным источником 1 ионов. Попадая в каналы микроканальной пластины 8, вторичные электроны размножаются и по выходу из микроканальной пластины 8 попадают на коллектор 9, где создают 50 регистрируемый сигнал, который поступает на вход интегратора. Поступающий на вход микропроцессора сигнал обрабатывается микропроцессором в реальном масштабе времени: выделяется максимум, определяется момент его наступления и сумма слагающих сигналов...
Электронно-лучевая трубка
Номер патента: 1307489
Опубликовано: 30.04.1987
Авторы: Катенина, Кравченко, Морозова, Попов
МПК: H01J 31/06
Метки: трубка, электронно-лучевая
...луча по границе окружности осуществляется за период колебаний исходной частоты. Электронный луч возбуждает в анодной цепи импульсы тока, частота следования которых определяется числом пересечений лучом системы электродов 3 анодной мишени 4. Изменением амплитуды напряжений, подводимых к входам сканирующей системы, т.е. границы траекторий, вычерчиваемой лучом), осуществляется мгновенный переход от одного значения коэффициента умножения к другому. Конструкция мишени 4 (фиг.2) обеспечивает три значения коэффициента умножения 4, 8 и 16, соответствующие траекториям луча с радиусами К, К, Кэ.Предлагаемое устройство позволяет обеспечить умножение частоты следования электрических импульсов с переменными коэффициентами, которые могут мгновенно...
Способ юстировки электромагнитной зондоформирующей системы
Номер патента: 1307490
Опубликовано: 30.04.1987
Автор: Рыбалко
МПК: H01J 37/26
Метки: зондоформирующей, системы, электромагнитной, юстировки
...поля этои45жение будет иметь вид ровного кругапри горизонтальном положении о ъектоонтальном положении объекто- тоДержателЯ наклонЯют в стоРонУ придержателя. такого емного окна преобРажения не представляется слож- чения сим етрич изным как при ручном, так и при авто- верстия диафрагмы,Составитель В.ГаврюшинРедактор А.Гулько Техред В.Кадар Корректор М.Шароши Заказ 1 б 37/50 Тираж 699 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и открытий113035, Москва, Ж, Раушская наб., д,4/5 Производственно-полиграфическое предприятие, г.ужгород, ул.Проектная,4 Изобретение относится к микрозондовой технике, может быть использовано в электронной и ионной микроскопии, и является дополнительным к авт. св. У 1157589. 5Целью...
Способ электронномикроскопического анализа намагниченности магнитной ленты
Номер патента: 1307491
Опубликовано: 30.04.1987
Авторы: Беловол, Виленчик, Якобсон
МПК: H01J 37/26
Метки: анализа, ленты, магнитной, намагниченности, электронномикроскопического
...лентах.Целью изобретения является расшн рение функциональных воэможностей способа за счет визуализации изображения магнитной сигналограммы, запи-. санной на магнитной ленте.На чертеже показана схема расположения образца магнитной ленты в просвечивающем электронном микроскопе.Способ осуществляется следующим15 образом.Магнитную ленту с сигналограммой перегибают по строчке записи и помещают в дифракционную или объективную камеру просвечивающего электронного микроскопа. Электронный пучок 1 про ходит в электронном микроскопе 2 перпендикулярно краю перегиба, т,е. по касательной к рабочей поверхности образца намагниченной магнитной ленты 3 в месте его перегиба. Часть электронного пучка 1, попадая на экран 1 изображения, пересекает силовые линии...
Ионно-циклотронный резонансный масс-спектрометр
Номер патента: 1307492
Опубликовано: 30.04.1987
Авторы: Горшков, Мордехай, Николаев, Тальрозе
МПК: H01J 49/38
Метки: ионно-циклотронный, масс-спектрометр, резонансный
...умножение частоты, достигнутое за счет специального соединения электродов детектора, позволяет расширить диапазон исследуемых масс, повышает отношение сигнала к шуму в спектрах, так как на высоких частотах электронная схема усилителя шу(1+А У - 4 Аф сов 2 ч,.с емкостной коэффициент, постоянный для данного устройства;частота циклотронного движения жгута ионов;отношение радиуса вращенияжгута ионов к радиусу ячейгде СО ки. 2 2мит меньше в 1/и по мощности для так называемого "фликер-шума".Повышение разрешающей способности в ИЦР спектрометре с предлагаемой ячейкой, является прямым следствием увеличения ча.стоты регистрируемого сигналаДействительно, огибающая регистрируемого сигнала имеет вид экспоненты, следовательно, Фурье-...
Способ анализа ионов в гиперболоидном масс-спектрометре типа ионной ловушки
Номер патента: 1307493
Опубликовано: 30.04.1987
Авторы: Колотилин, Овчинников, Сафонов, Суслов, Терехин, Шеретов, Ястребков
МПК: H01J 49/42
Метки: анализа, гиперболоидном, ионной, ионов, ловушки, масс-спектрометре, типа
...блока.При использовании иоццо-флуоресцент ного анализа канал счета фотонов флуоресцснции необходимо также синхроцизинировать с работой высокочастотного генератора. В этом случае удается улучшить соотношение сигнал шум и увеличить чувствительность анализа.11 д чертеже иллюстрируется предлагаемый способ анализа и устройство для его реализации.Предлагаемое устройство состоит из электронного источника 1, анализатора, образо 5 ванного кольцевым 2 и двумя торцовымиэлектродам 3, соединенными электрически, коллектора 4 электронов, детектора 5 ионов, ньсокочастотцого генератора 6, выход кото 13074935 1 О 5 20 25 30 35 40 45 50 55 рого подсоединен к электродам анализатора, блока 7 управления высокочастотным генератором, выходы которого...
Электростатическая фокусирующая линза для электронно лучевой трубки с электромагнитным отклонением
Номер патента: 455676
Опубликовано: 30.04.1987
Авторы: Безданская, Гейзлер, Ивашкив, Койфман, Кучеров, Цыганенко
МПК: H01J 29/58
Метки: линза, лучевой, отклонением, трубки, фокусирующая, электромагнитным, электронно, электростатическая
...пучка применяются в основном одиночныетрехэлектродные линзы в различномконструктивном исполнении,Однако известные электростатические фокусирующие линзы имеют неравномерную разрешающую способность порабочему полю экрана, что обусловлено влиянием поля магнитной отклоняющей системы на пучок в зоне фокусировки,Цель изобретения - уменьшение эффективной толщины одиночной линзыи уменьшение возмущающего влияниямагнитного поля отклоняющей системы.На чертеже приведена схема предлагаемой фохусирующей линзы.Предлагаемая электростатическаяфокусирующая система, выполненнаяв виде одиночной линзы, образована,первым электродом 1, фокусирующимэлектродом 2 и третьим электродом 3.фокусирующий электрод 2 и третийэлектрод 3 выполнены в виде чашек...
Способ определения распределения плотности мощности в сечении пучка излучения
Номер патента: 1309118
Опубликовано: 07.05.1987
Авторы: Ивлев, Нестеренко
МПК: H01J 1/54
Метки: излучения, мощности, плотности, пучка, распределения, сечении
...максимальный угол падения излучения на поглотитель 8 , при котором пумоксфчок излучения еще не выходит за край поглотителя. При этом обеспечивается преобразование излучения в видимое для максимально допустимого значения3плотности мощности Ф. Затем на приемник подают излучение 13, часть которого 14 проходит через поглотитель. Наблюдают изменение цвета или пороговую светимость поглотителя 15, возникающую в результате его нагрева поглощенной частью излучения (эквиэнергетическая линия, поверхность). Если плотньсть мощности излучения У меньше У,ч, то светимость поглотителя не наблюдается. В этом случае путем поворота приемника с помощью устройства 4 следует уменьшить угол падения излучения на приемник ( или с помощью регилируемого...
Устройство для шлифования наружной поверхности экрана кинескопа
Номер патента: 1309119
Опубликовано: 07.05.1987
Авторы: Зимицкий, Каган, Привалова, Разин
МПК: H01J 9/20
Метки: кинескопа, наружной, поверхности, шлифования, экрана
...13. Причем наклон роликов 8 и 9 по отношению к вертикали на угол Ж по ходу 55 движения экрана позволяет усилить контакт между шлифовальной лентой 6 и поверхностью экрана 3 по его периферии. 1 1309Изобретение. относится к производству электронно-лучевых трубок (ЭЛТ),в частности экранов ЭЛТ.Целью изобретения является повышение качества обработки экрана, которое достигается введением дополнительного прижимного узла,На фиг.1 изображено устройство,общий вид; на фиг.2 - вид А нафиг.1;фиг.3 - вид Б на фиг.1; 1 Офиг.4 - схема расположения лент нанаибольшей дуге наружной поверхности экрана кинескопа,Эмпирически устав и и, чт ширина а рифленойржимвсить2должка бытьа = (0,5 - 0,7) Ь,где Ь - ширина. шлифоцальиой ленты,Если ширина рифленой ленты...
Устройство для масс-спектрометрического анализа поверхностей космических объектов
Номер патента: 1218852
Опубликовано: 07.05.1987
Авторы: Манагадзе, Сагдеев, Шутяев
МПК: H01J 49/40
Метки: анализа, космических, масс-спектрометрического, объектов, поверхностей
...и исследуемым объектом1 = 25 м, равно Затем выделенные ионы регистрируются детектором 4, При этом каждой 50 массе соответствует пик с определенной задержкой от начала развертки.По амплитуде пиков можно судить о процентном содержании элементов в грунте. Для регистрации и запоминания 55 сигнала можно использовать многоканальный анализатор, функционально аналогичный, например прибору МАЧЕГОКМКЕСОКЭЕК модель 8100 фирмы 3 Р ьг 14, 2 Уг= 5 10ионов. 1 121885Изобретение относится к областикосмического приборостроения и можетбыть использовано для дистанционногоисследования элементного состава космических объектов, лишенных атмосФеры.. Целью изобретения является повышение точности результатов и расширение функциональных...
Устройство для электростатического отклонения пучка заряженных частиц
Номер патента: 1310921
Опубликовано: 15.05.1987
Автор: Рапопорт
МПК: H01J 3/30
Метки: заряженных, отклонения, пучка, частиц, электростатического
...с усилителем 2 и резистором 3 образует аналоговый интегратор.На фиг.2 показана эпвра 5 входно 25 го сигнала и эпвра 6 напряжения на . выходе.Устройство работает следующим об. разом.Вследствие большого коэффициента усиления по напряжению инвертирующий вход усилителя 2 находится под потенциалом земли, а ток заряда электрического конденсатора, образованного отклоняющими пластинами 1, практи чески равен току, протекающему через резистор 3, и, следовательно, пропорционален входному напряжению. Поэтому напряжение на отклоняющих пластинах 1 равно интегралу от напряже ния, приложенного к входу устройства. При подаче на вход устройства постоянного напряжения на отклоняющих пластинах 1 напряжение изменяется по линейному закону (фиг,2). При 45...
Устройство для масштабирования изображения в электронном микроскопе
Номер патента: 1310922
Опубликовано: 15.05.1987
Автор: Онищенко
МПК: H01J 37/295
Метки: изображения, масштабирования, микроскопе, электронном
...индикатора 17 соединен с блоком 19 управления фотосъемкой электронного микроскопа,Устройство работает следующим об" разом.Электронный поток экранируется двумя металлическими иглами 3 и 5 над люминесцентным экраном 2. В процессеконтроля изменяют расстояние между концами экранирующих игл пропорционально размерам между заданными точками объекта на изображении, Электрический сигнал с преобразователя 11 поступает на вход первого АЩ 1 18, где преобразуется в цифровую величину, пропорциональную продольному смещению игл по координате Х, и далее возводится в квадрат в первом квадраторе 21, после чего поступает на первый вход сумматора 22. Электрический сигнал с преобразователя 12 поступает на вход второго АЦП 19, где преобразуется в цифровую...
Способ анализа ионов в квадрупольном масс-спектрометре
Номер патента: 1316060
Опубликовано: 07.06.1987
Авторы: Аверина, Маишев, Митрофанов
МПК: H01J 49/34
Метки: анализа, ионов, квадрупольном, масс-спектрометре
...подается ца полеобразующие электроды 5 фильтра масс, от источника 13 питания ступенчато подают дополнительное тормозящее напряжение У , причем время, в течение которого тормозящее напряжение поддерживают пос- тояцным мин13 о м = сопяс с К .о 5 131 бОо. - частота ВЧ-напряжения,рад/с;Т - время, с;регистрируют зависимость ионного тока от времени,определяют ио графику зависимости ионного тока от времени время развертки одного цикла группы ионов с одним массовым числом 7 м время полного цикла развертки То , диапазон массовых чисел устройства и исследуемого потока ионов, кроме того, определяют наличие фона. Если фон есть, значит есть ионы с энергиями более энергии отклоняющего поля фильтра масс 15 бО бинтервал изменений величины...
Узел вращающегося анода рентгеновской трубки
Номер патента: 1317521
Опубликовано: 15.06.1987
Авторы: Вилем, Павел, Франтишек
МПК: H01J 35/10
Метки: анода, вращающегося, рентгеновской, трубки, узел
...расположенная вблизи анодного диска, выполнена в виде цанги, в которой с натягом закреплен торцовый упор, при это цднга отделена от фронтальной стенки кожуха анода зазором, упругие кольца соприкасаются с опорой втулкой по меньшей мере по трем прямым 1 О и С поверхностью держателя анода такжепо меныпей мере по тре прямым, а указанные три прямые не лекат в одной плоскости, причем каждое упругое кольцо изготовлено из металлического листа или фолыи волнообразного профиля.15На фиг. 1 изображен предлагаемыйузел, фронтальное сечение общей компоновки; на фиг. 2 -- форма упругой втулки.На уступах 1 на обеи.х сторонах вала 2помещены подшипники 3 качения свои ми внутренними кольцами и зд(1 иксированы фиксирующими элементами 5, например,...