H01J — Электрические газоразрядные и вакуумные электронные приборы и газоразрядные осветительные лампы

Номер патента: 1170529

Опубликовано: 30.07.1985

Авторы: Дробашева, Калиев, Кудрина, Петров, Сведлов, Скоропад, Спицын, Шмыков

МПК: H01J 27/02

Метки: ионов, источника, материал, металла, твердотельного, щелочного

...вещество эмиттирующее ионы щелочных30металлов, который выполнен из кислородной вольфрамовой бронзы состава Ме 71%03,где для Ма х = 0,5 - 0,98, К х = 0,3 - 0,5,КЬ и Сз - х = 0,28 - 0,32.При рабочей температуре 950 С и 1 Л == 1000 В для составов КЬ ЪОзи С 806%03плотность ионного тока щелочного металла составила соответственно 2,4 10 А сми 3,3 1 ОА см . Для составов Х а О 9%о 5и К %03 при 925 С и 11 = 1000 В получены плотности ионных токов 2 1 О 3 А см-и 5,21 10А см- соответственно. Изменение плотности ионных токов (1, А см ) от температуры при Б = 4000 В для различных составов представлено в табл. 1.Временная стабильность плотности ионных токов (1, А смпредставлена в табл. 2. Для: 1 Чаб,9%05, Кб%03 1 = 925 С; КЬО 5%О Сзо,б%03 1...

Номер патента: 1170980

Опубликовано: 30.07.1985

Автор: Альберт

МПК: H01J 29/32, H01J 31/20

Метки: трубка, электронно-лучевая

...к электронной технике а именно к цветным электронно-лучевым трубкам с линейчатым люминесцентным экраном и теневой маской.Известны электронно-лучевые трубки, используемые в телевизионных приемниках с цветным изобракением, содержащие колбу с прямоугольным днищем, имеющем взаимно выпуклые боковые стороны, линейчатый катодолюминесцентный экран, расположенный на внутренней поверхности днища колбы, и теневую маску с щелевыми отверстиями, прн этом люминофорные линии экрана и соответствующие отверстия теневой маски образуют серию вертикальных прямолинейных колонокОднако несмотря на то, что такие трубки получили широкое расдростране.ние, у боковых сторон экранов, а также в его углах во время работы образуются нежелательные зубцы.Известна...

Номер патента: 1170981

Опубликовано: 30.07.1985

Автор: Бела

МПК: H01J 61/56

Метки: лампа, электрическая

...И.КелемешФюММ ьвЗаказ 4720 И 7 Корректор В.Синицкая Тираж 679 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5Филиал ППП патент", г. ужгород, ул. Проектная, 411Изобретение относится к электрической лампе, имеющей по меньшей мере одну газоразрядную трубку, находящуюся в стеклянной колбе, высокочастотный стартер, прикрепленный к.шейке стеклянной колбы, и примыкающий к ним цоколь лампы.Целью изобретения является упро. щение технологии изготовления и уменьшение. габаритов.На чертеже представлен один иа ва риантов конкретного выполнения лампы.В колбе 1 лампы гааоразрядная трубка 2 .смонтирована на крючках 3 и 4 стеклянной ножки 5. На основании 6 расположены...

Номер патента: 1171869

Опубликовано: 07.08.1985

Авторы: Белоус, Булах, Шеин

МПК: H01J 1/34

Метки: матрица, преобразовательного, прибора, сеточная, электронного

...с фотопроводящим приемным слоем.Поверхность матрицы 1 фиг. 2), на которую выходит общий сеточный электрод 3, покрывается фотопроводящим слоем 4. На противоположную поверхность матрицы наносится металлическая пленка 6, а на стенках каналов 2 формируется высокоомный вторично-эмиссионный слой 5, находящийся с одной стороны в контакте со слоем 4 и со второй - с металлической пленкой 6. Между пленкой 6 и сеточным электродом прикладывается напряжение Ч. Поверхность фотослоя 4, ограниченная шестиугольным сечением одной ячейки сеточного электрода и сечением проводящего слоя канала, образует приемный элемент фоточувствительной мозаики, Сопротивление такого элемента должно быть близким к сопротивлению канала.Преобразуемое длинноволновое...

Номер патента: 1171870

Опубликовано: 07.08.1985

Авторы: Чупахин, Этингер

МПК: H01J 49/26

Метки: анализа, воды, масс-спектрометрического, особой, степени, чистоты

...примесей, перераспределение примесей между поверхностью и объемом пробы; при низних температурах менее вероятно испарение легколетучих примесей. Следовательно, после сублимации на поверхности оставшейся части пробы сконцентрируются примеси из всего сублимированного объема,Коэффициент, концентрирования равен отношению сублимированного объема к объему, используемому при масс-спектрометрическом анализе. Искровая масс-спектрометрия позволяет при анализе снимать слой пробы толщиной до 10 мкм. Сублимируя часть пробы толщиной 1 см, можно получить коэффициент концентрирования более 1000. Концентрация примесей в объеме пробы всегда в 100 - 1000 раз меньше поверхностной концентрации по всем элементам. Так как подложкой для концентрата примесей...

Номер патента: 970511

Опубликовано: 15.08.1985

Авторы: Ашимбаева, Зашквара

МПК: H01J 49/40, H01J 49/48

Метки: заряженных, пучков, спектрометр, частиц

...4 цилиндрического зеркала,находящийся под потенциалом Земли,внешний электрод 5 цилиндрическогозеркала, на который подается отклоняющий потенциал, внутренний электрод б двухкаскадного цилиндричес-кого зеркала, находящийся под потенциалом Земли, внешний электрод 7двухкаскадного цилиндрического зеркала, на который подается отклоняющий потенциал, внутренний электрод8 сферического зеркала, на которыйподается отклоняющий потенциал,внешний электрод 9 сферическогозеркала, находящийся под потенциаломЗемли детектор 10, модулятор, представляющий собой систему из двух концентрических сферических электродов11 из прозрачной сетки, соединенныхчерез переключатель с источникомимпульсного напряжения,970511 до квадрата угловой...

Номер патента: 1173463

Опубликовано: 15.08.1985

Авторы: Алимов, Краснушкин, Соловьев, Топорков

МПК: H01J 37/256

Метки: оже-микроанализатор, растровый

...на концах. Болты проходят внутри опорных тепло изолирующих элементов, например керамических втулок 8, и ввинчены в выступы крышки 4, обеспечивая тем самым Фиксацию колонны 9 в пространстве и передачу ее веса помимо мембра ны через втулки 8 на камеру образцов. В камере образцов расположен анали,затор 10 и объектодержатель 11. Патрубки 12 служат для соединения с вакуумной системой, а штуцеры 13 - для соединения с системой охлаждения,Устройство работает следующим образом.В колонне 9 Формируется электронный пучок, ВозбуждакиДИЙ вторичные 40 электроны с поверхности образца, которые анализируются по энергиям анализатором 10, При прогреве камеры 5 образцов происходит передача тепла электромагнитной колонне 9, что может отрицательно влиять на...

Номер патента: 1173464

Опубликовано: 15.08.1985

Авторы: Алексеев, Верховская

МПК: H01J 37/28

Метки: микроскоп, просвечивающий, растровый, электронный

...система 6 и детектор 14 электрически связаны с электроннолучевой трубкой (ЭЛТ) 15.Устройство работает следующим образом. 45 Электронный зонд, сформированный осветительной системой ПРЭМ, с помощью двухъярусной отклоняющей системы 6 сканирует по объекту. Центр 50 вращения пучка обычно совмещен с отверстйем апертурной диафрагмы 5, которая находится в фокальной плоскости дополнительной линзы 7. В этом случае образец сканируется параллельно перемещающимся электронным пучком (угол падения пучка на образец остается постоянным). В общем случае отклоняющая система может содержать одинярус и располагаться до или послеобъективной линзы. Основным условиемдля сохранения угла падения пучкана образец является требование расположения центра...

Номер патента: 1173465

Опубликовано: 15.08.1985

Авторы: Гартманов, Коган, Павлов, Харченко

МПК: H01J 49/30

Метки: масс-спектрометр

...Ч, имеющая то же направление после прохождения заряженными частицами магнита, где Ч - исходная скорость иона.Ограничение отношения Чцч у/Ч дает воэможность, используя предлагаемую конструкцию масс-анализатора, проводить масс-анализ ионных потоков одновременно в широком диапазоне их исходных потоковых энергий (скоростей) с хорошим разрешением по М/Е.При 1/д ( 50 нарушаются условия для одновременной регистрации частиц определенной массы в широком диапазоне исходных потоковых скоростей и ухудшается разрешение прибора, При 1/д) 200 уменьшается чувствительность прибора.Таким образом, указанные отличительные признаки в совокупности позволяют масс-спектрометру при наличии малой величины составляющей начальной скорости частиц, ограниченной...

Номер патента: 1173466

Опубликовано: 15.08.1985

Авторы: Герасимов, Найфонов, Хузмиев, Хузмиева

МПК: H01J 61/36

Метки: газоразрядной, лампы

...заполнение полости вкладыша 3, уже заваренного в ножку 2, газопоглотителем 9. Электрод 6 установлен с достаточным зазором относительно конца трубки 8 и закреплен на проволочных держателях 10, приваренных к диску 11, к которому приварена и фольга 4. Запаянный отросток трубки 7 выходит 45 наружу через центральное отверстие в выводе 5 и закрыт защитным колпачком 12, Противоположный электродный узел лампы может не иметь газопогло" тителя. В этом случае он изготавливается известным способом.При изготовлении лампы кварцевый вкладьпп 3 снабжен соосными кварцевыми трубками 7,и 8. Конец трубки 8 запаян в образовавшийся выступ на 55 расстоянии 3-5 мм от места присоединения к вкладышу 3 и надрезается вкруговую, что облегчает его последующее...

Номер патента: 786686

Опубликовано: 15.08.1985

Авторы: Николаев, Танцырев

МПК: H01J 37/08

Метки: вторичных, ионов, источник

...в которой располагается исследуемый 2 О объем, откачивается цо сверхвысокого вакуума, что требует применения сложных и,цорогостоящих вакуумных систем.Ближайшим к изобретению техническим решением является источник вто ричных ионов, содержащий держатель. образца с нагревателем, систему электродов и вывод ьые щели 2 .ГЭтот источник вторичньп ионов ра.ботает ь условиях высокого вакуума 1 О.ь (давление остаточных газон 10 мм рт.ст), Для предотвращения загрязнения поверхности исследуемого объекта. он нагревается до температуры несколько сот градусоа,Необходимость прогрева значительно сужает круг вешеств, которые могут быть проанализированы с помощью метода масс-спектрометрии вторичных ионов. Метод становится неприменимымк веществам,...

Номер патента: 1077501

Опубликовано: 23.08.1985

Авторы: Воробьев, Кириченко, Цвык, Шестопалов

МПК: H01J 9/42

Метки: коэффициента, плазменной, приборах, редукции, свч, частоты

...поток возбуждает однолепестковую диаграмму направленности излучения.Следовательно, устанавливая плот-,55 ность тока (2), всегда получают од-нолепестковую диаграмму 3 направления излучения (фиг. 1) с максимальной ин+ с 2 ус црсс 05 Г = - . -(бб 1 +я ч. ыЕ ыч-О Ю .-1 Я в + о ов и 2) при измерении угла Г = Г + о(-15 ЗИ -1 бв.оЙ=6 8 (О (У лсов Г -совГ ) (4 а. Формулами (4), (4 а) удобно пользоваться, если одна из диаграмм 4 или 5 близко ирилегает к поверхности дифракцИОННОй рЕШЕтКИ (фИГ, 3; бв(- ) Г,огде 29 - ширина диаграммы направленности дифракционного излучения),Следует отметить, что если один из углов с( (фиг,3,4) или оба эти угла одновременно (фиг.5,6) пунктирными диаграммами 4,5 близко прилегают к поверхности дифракционной решетки,...

Номер патента: 1118222

Опубликовано: 23.08.1985

Авторы: Успенский, Федяков

МПК: H01J 3/02, H05H 1/00

Метки: источник, электронов

...размер отверстия в аноде;Н - расстояние между катодоми анодом.На фиг, 1 показан предлагаемый источник электронов в разрезе; на фиг, 2 - приведено распределение потенциала вдоль оси источника.Источник электронов, содержит газонаполненную камеру 1, в которой соосно установлены катод 2 и анод 3 с осесимметричным отверстием 4. Между катодом и анодом подключен источник питания 5. За анодом 3 со стороны противоположной катоду 2, установлен вспомогательный электрод 6, выполненный в виде отрезка металлической проволоки, электрически соединенный с анодом. При этом расстояние от анода 3 до электрода 6 удовлетворяет соот- ношению Источник. электронов работает следующим образом.При определенном давлении газа(10 2 -10 " торр) в...

Номер патента: 1174998

Опубликовано: 23.08.1985

Авторы: Баранников, Гладников, Голубев, Капустин

МПК: H01J 17/54

Метки: газоразрядный, термоэмиссионный, триод

...является повышение КПД прибора путем уменьшения энергозатрат на управление.Основой уменьшения энергозатрат является снижение величины сеточного 1 О тока при сохранении величины гасящего потенциала.На чертеже изображен предлагаемый триод,Триод содержит сетку, состоящую 15 издвух секций 1 и 2, разделенных электрическим изолятором 3 , накапливаемый катод 4 и анод 5, которые вместе с сеткой и керамическими кольцами 6 образуют замкнутый объем для плаз . мообраэующего газа (смесь паров С= дВа) .При подаче анодного напряжения разряд горит между катодом 4 и анодом 5 триода, проходя через отверстия сек ций 1 и 2 сетки. Подача отрицательного гасящего потенциала на одну из секций сетки вызывает рост ленгмюров. ского слоя в отверстиях этой...

Номер патента: 1174999

Опубликовано: 23.08.1985

Авторы: Ашурков, Гаврилкина, Гусейнов, Мельников, Прикупец, Салкин

МПК: H01J 61/36, H01K 3/20

Метки: высокоинтенсивных, излучения, источников, кварцевое, оболочек, стекло, токоввода

...40 клея (связующего) . Размол порошка 502 проводится до размеров частиц 1-2 мкм, что обеспечивает более рав, номерное распределение их в полимере для лучшей адгезии и, в последую щем, получение хорошего спая с кварцевой основой горелки.Покрытие, состоящее из ЯО 2 и г 02, имеет промежуточный КТР меж 1 ду молибденом и оксидом кремния 50 ( 1 У)-кварцевым стеклом, так как 7 гО в диапазоне рабочих температур внешнего звена 200-300 С имеет КТР, практически совпадающий с молибденом 5-7) 10 1/ С.55Неорганический полимер получают путем выпаривания при кипячении ЬО 7,-ного водного раствора оксинитра. а циркония до плотности 1,65- ,70 г/см (при 20-22 С), Оксинитрат иркония Ег 0 ( ЙО 1 2 Н О ири длительом кипячении образует...

Номер патента: 1175370

Опубликовано: 23.08.1985

Авторы: Джозеф, Эрнест

МПК: H01J 29/07

Метки: кислотоустойчивой, копии, образования, поверхности

...фиг.б - в конце), которое проводится обычным образом с использованием водного раствора хлорного железа с соляной кислотой. Для поддержания крепости раствора в него вводят регулируемые количества газообразного хлора.По завершению травления покрытий копиями пист промывают водой для удаления достатков раствора, кислотоустойчивые покрытия 7 и 8 удаляют путем распыления на них водного раст вора едкого натрия при 50-80 С, после этого лист промывают в воде и сушат.В табл.1 приведены составы (в граммах) и свойства составов, которые могут быть применены в предлагаемом способе. Состав 1 может использоваться в лабораторных усло" виях, а составы 2-4 - в промышленности. Составы готовят следующим обра- зомеСостав 1. Растворяют при интенсивном...

Номер патента: 1175371

Опубликовано: 23.08.1985

Автор: Ричард

МПК: H01J 29/87

Метки: трубка, электронно-лучевая

...две П-образные пластины ввиде бандажа 4, размещенные такимобразом, чтобы окружить боковыестенки 17, Пластины обода сцепляютсяс пленкой 5 при помощи термообработки эпоксидной смолой или сложнымполизфиром пропиточного состава 18.Кроме того, вокруг пластин ободазакреплена и напряжена металлическаялента путем гофрирования металлического зажима 19,Внутренняя поверхность оболочкинаходится под вакуумом высокогоуровня (малым давлением) порядка10 мм Ня. В этом примере, с прямоугольной цветной трубкой 19 Ч 90,атмосферное давление создает давление на внешнюю поверхность смотрового окна с общими силами, равными1800 кг. На боковую стенку 17 исоседние части раструба 6 действуютпериферийные силы напряжения порядка 70 кг/см . При образовании трещины...

Номер патента: 1141920

Опубликовано: 30.08.1985

Авторы: Баялиев, Пустовойт, Столяров

МПК: H01J 7/18

Метки: газопоглотитель, нераспыляемый

...1 представлена конструкция нераспыляемого газопоглотителя,состоящая из металлической ленты 1,слоев активного материала 2 и тонкихпленок палладия, Обезгаживания инагрев газопоГлотителя осуществляютсяпрямым пропусканием тока через металлическую подложку 3. На фиг. 2 изображены зависимости скорости откачкипо водороду и давления от температуры.Пределы толщин слоя палладия определены исходя из требований обеспечить увеличение скорости откачки,расширение спектра откачиваемых газови ускорение процесса регенерации, атакже из эксплуатационных требованийк газопоглотителю в каждом конкретном случае.сПоложительный эффект от использования газопоглотителя наблюдаетсяпри условии сплошности палладиевогопокрытия, т,е, его толщина должнабыть не менее...

Номер патента: 1143249

Опубликовано: 30.08.1985

Авторы: Быковский, Гусев, Козырев, Оганесян, Пасюк, Пекленков

МПК: H01J 27/02

Метки: ионов, источник, многозарядных, циклотрона

...в месте прохождения лазерного излучения и отверстием для извлечения ионов таким образом, что ось трубки совпадает с нормалью к поверх ности мишени в точке фокусировки лазерного излучения, причем мишень выполнена в форме полого цилиндра, ось которого перпендикулярна магнитным силовым линиям.На чертеже изображена схема предложенного источника многозарядныхионов для циклотрона.Источник ионов содержит лазер 1, устройство 2 для проводки и Фокусировки лазерного излучения. Подложкамишени изготовлена в виде четыреходинаковых колец 3 - 6, соединенныхмежду собой беэ зазора, имеющих одну ось, перпендикулярную оси полюсов циклотрона. Материал, предназначенный для ионизации, нанесен на внутреннюю поверхность колец. По диаметру без касания...

Номер патента: 1176859

Опубликовано: 30.08.1985

Автор: Ричард

МПК: H01J 29/07

Метки: кинескопа, маска, теневая, цветного

...на противоположных сторонах теневой маски растров отверстий;со стороны электронных прожекторови со стороны экрана, соответственно;на Фиг. 4 - теневая маска, вид спереди; на фиг, 5 - разрез А-А на фиг,4;на фиг. 6 - разрез Б-Б на фиг. 4; нафиг, 7 - разрез В-В на фиг. 4.Маска 1 содержит колонки отверстий 2.Отверстия 2 каждой колонки разделяются перемычками 3. В маске 1 естьучастки с полной толщиной и участкиуменьшенной толщины, Участки полной толщины состоят из полос 4 междуколонками отверстий и островков 5у перемычек 3, Полосы 4 и островки 5разделены участками 6 уменьшеннойтолщины. Представленная на фиг. 1 поверхность маски обращена к экрану кинескопа (противоположная поверхностьобращена к электронному прожектору).Когда маска имеет...

Номер патента: 1177862

Опубликовано: 07.09.1985

Авторы: Гусев, Дмитриев

МПК: H01J 29/02

Метки: кинескопа, сборки, узла, цветного, экраномасочного

...перпендикулярном . плоскости экрайа (маски).На фиг. 2 показаны исходные отклонения расстояний между экраном и маской в контролируемых точках от номинального значения расстояния Н для случая почти полного сопряжения по верхности маски с поверхностью экрана, Для наглядности и упрощения схемы приняты следующие допущения. Номинальное значение расстояния между экраном и маской и технологический допуск на 50 это расстояние постоянны во всех точках ЭМУ, а величины отклонений расстояний между экраном и маской от номи" нального в контролируемых точках вы- ражены в условных единицах, .На фиг,2 55 величины отклонений не выходят за пределы поля допуска В, величина которого 20 условных единиц. Такое взаимоположение экрана и маски обычно...

Номер патента: 1177863

Опубликовано: 07.09.1985

Авторы: Григорьев, Леонтьев, Соозарь, Шкунов

МПК: H01J 31/02

Метки: многолучевой, плоский, прибор, электронный

...9- в виде взаимно перпендчкулярных пластин, образующих ячейки 14, которые, как и отверстия 13, соосны эмиттерам 6. Форма отверстий 13 может быть 55 круглой или щелевой. От этого зависит количество фокусирующих электродов 8 и расстояние между ними. Отклоняющие электроды 9 могут быть выполнены не только из пластин, но и в виде дефлектрона или иметь иную конструкцию. Электроды 10 мишени выполнены в виде полупроводниковых кристаллов, но могут быть выполнены также в виде пластин с диэлектрическим покрытием.Отличие предлагаемого прибора заключается в расположении катодных пластин 2,3 и 4 и 5 в разных плоскостях одна параллельно другой. Пластины 2,5 и 4, 3 при этом расположены одна напротив другой и развернуты в противоположные стороны...

Номер патента: 1177865

Опубликовано: 07.09.1985

Авторы: Гуськова, Колесов, Корженевич

МПК: H01J 31/50

Метки: оптических, регистрации, сигналов

...затвора ЭОП на его экране образуется Я кадров, моменты начала которых отличаются на Ь с = 21,/С, а их длительность определяется временем . срабатывания затвора. При этом каждый последующий кадр слабее по интенсивности засветки в (КК,) раэ, где К К 1 - коэдйициенты отражения светоделительных покрытий наружньи поверхностей первого интерферометра. При первом прохождении интерферометра 6 световой пучок ослабляется в . (1-К,)(1-К,) раз.Таким образом, возможное число И кадров определяется как минимально возможным размером одного кадра при заданном размере фотокатода ЭОП, так и коэффициентами отражения К и К, наружных покрытий интерферометра, которые выбираются в соответствии с технологическими .возможностями.Последний кадр ослаблен по...

Номер патента: 1181013

Опубликовано: 23.09.1985

Автор: Кабин

МПК: H01J 9/42

Метки: активного, вещества, диоде, концентрации, паров, термокатода, электровакуумном

...усилителя 17 и генератора 3 видеоимпульсов. Блок 20 сравнения устраняет ошибку измерений, вызванную дрейфом постоянно 1 го электронного тока черед диод, и обеспечивает точное выполнение операции вычитания этой постоянной составляющей блоком 14 вычитания.Устройство работает следующим образом.В подготовительном режиме переключатель 11 режима работы обеспечивает генерацию генератором 10 высокой частоты такого напряжения, амплитуда и частота которого достаточны для эффективной ионизации остаточных газов. Это напряжение поступает на анод 7 диода 5 и производит накоппение ионов. Импульсы генератора 3 видеоимпульсов подаются на катод 4 и периодически извлекают ионы из межэлектродного промежутка. Тем самьм создаются условия для периодического...

Номер патента: 1181014

Опубликовано: 23.09.1985

Автор: Кабин

МПК: H01J 9/42

Метки: давления, диоде, электровакуумном

...Амплитуда высокочастотного напряжения радиоимпульсов должна быть достаточной для эффективной ионизации молекул и поддерживается неизменной в процессе измерений. Скважность радиоимпульсов определяется конструктивными особенностями ЭВП и максимально допустимым воздействием устройства на ЭВП и на изменение измеряемого давления от этого воздействия. Период повторения серии коротких. (длинных) импульсов определяется требуемой длительностью длинного радиоимпульса, компромиссом между снижением погрешности измерений от усреднения суммарного сигнала электронноготока только коротких (или длинных)импульсов и необходимым быстродействием устройства.Устройство работает следующим образом. 10Задающий каскад 4 генератора 8 высокочастотного напряжения...

Номер патента: 1181015

Опубликовано: 23.09.1985

Автор: Назаренко

МПК: H01J 37/20

Метки: атмосферы, вакуум, ввода, образцов

...и торцовая поверхность которого взаимодействует с толкателем 15, связанным 35двумя рычагами 16 и 17 с подпружиненным пружиной 18 сбрасывателем19 образцов объектодержателя 4,предназначенного для хранения образцов, выполненного в виде гильзы 40с выступом 20 и сквозными секторными пазами 21 и 22, в один из которыхвходит сбрасыватель 19, а другойрасположен рядом с магазином-накопителем 23, служащим для хранения про- ф 5анализированных образцов. На другомконце стержня 14 закреплено коническое зубчатое колесо 24, которое образует зубчатую пару с зубчатым колесом 25 привода 26 вращательного движения кулачка 13. Стержни уплотненыв гильзе посредством тороидальныхуплотнителей 27.Устройство работает следующим образом. 55В момент загрузки образцов...

Номер патента: 711922

Опубликовано: 30.09.1985

Авторы: Завилопуло, Запесочный, Метелешко, Шпеник

МПК: H01J 3/18

Метки: пучка, селекции, электронов, энергиям

...127. 2тронов, влияние краевых эффектов, несовершенство катодного узла. Из-за фокусировки только в одном направлении выходной ток монохроматизированных электронов мал.Целью изобретения является увеличение первианса устройства и повышение монокинетичности электронного пучка.Этг цель достигается тем, что обкладки конденсатора выполнены в виде рамок, зашитых со стороны электронного лучка металлической сеткой, а с противоположной - Фольгой с акводажным покрытием.Кроме того, в конденсаторе по обе стороны пучка эквидистантно срединной плоскости пучка установлены электроды, выполненные в виде части колец с центральным углом 127 ю.11 а фиг. 1 приведен общий вид предлагаемой конструкции; на фиг.2 - поперечный разрез конденсатора.Устройство...

Номер патента: 1182452

Опубликовано: 30.09.1985

Авторы: Егоров, Солнышкин

МПК: G01T 1/36, H01J 49/00

Метки: бета-нейтринных, бета-распаде, корреляций, угловых

...частицы. Используя законы сохранения энергии и импульса, а также данные об энергии бета-частицы и скорости частицы отдачи для каждого зарегистрированного события вычисляют угол между направлениями вылета бета- частицы и нейтрино. Длину волны лазерного излучения периодически (плавно или дискретно) меняют в диапазоне, перекрывающем весь скоростной спектр частиц отдачи, и, таким образом, получают информацию о вероятности вылета бета-частицы и нейтрино под различными углами, т.е.1182 10 о бета-нейтринной угловой корреляции еНа чертеже представлена Функциональная схема устройства для осуществления предлагаемого способа.5Устройство содержит источник бета-радиоактивных ядер 1, вакуумную камеру 2, бета-спектрометр 3, импульсный ждущий...

Номер патента: 1182592

Опубликовано: 30.09.1985

Автор: Паразян

МПК: H01J 61/36

Метки: газоразрядный, источник, света

...конструкции и технологии изготовления и повышения надежности, указанная торцовая стенкьвыполнена заодно со стаканом и имеетосевое отверстие, в котором вакуум-ноплотно установлен указанный вывод.та в целом. Составитель В. ГорчаноТехред Ж.Кастелевич Решетник Редактор Ковальчук оррект аказ 6113/5 Тираж 678 ПодпиНИИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и открытий035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 сное Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4 1 11Изобретение относится к электротехнической промышленности и может найти применение в производстве газоразрядных источников света в светопропускающей керамической оболочке с парами щелочных металлов.Целью изобретения является упрощение конструкции и технологии...

Номер патента: 1182629

Опубликовано: 30.09.1985

Авторы: Ануфриев, Бронштейн

МПК: H01J 49/30

Метки: масс-спектрометр

...поля и частоты модулирующего напряжения в соответствии с требуемой для выбранных масс разрешающей способностью. Оператор или автоматическое устройство устанавливает для данной массы такую частоту генератора, которая соот - ветствует номеру гармоники ь необходимому для получения нужной разрешающей способности, и .одновременно переключает бесполевые камерымодулятора так, чтобы общая длина 1 камер ( 1 = 1,2,3) определялась соотношением,(2) 45 Например, для разрешения мультиплетов гелия и водорода (24 а. е.м) требуется небольшая разрешающая способность (до 2000), целесообразен выбор меньшего значения гармоники п 1, а для разрешения дублета Хе"СС 191 гз(129 а.е.м) требуется разрешающая способность 70000, целесообразен выбор большего...