Патенты с меткой «чистоты»

Номер патента: 18620

Опубликовано: 30.11.1930

Автор: Ристлакки

МПК: B63B 49/00

Метки: глубины, дна, проверки, промера, реки, чистоты

...к концам бруса 1, а другим скользящих в направляющих 5, поворотных около своей горизонтальной оси, С брусом 1 скреплены легко разь. единяемыми соединениями зубчатые рейки 3, снабженные шкалами и приводимые в движение шестернями, насаженными на вал, которыи снабжен рукоятками.На середину фарватера реки с носа судна отдается якорь, а канат его (шейма) вытравливается по длине наполовину ширины фарватера и при перекладывании руля в ту или другую сторону, под напором течения, судно передвигается поперек реки так, что его брусчатая рама 1, 2 - 2 доходит до береговых отмелей. Когда рама пройдет первую поперечную полосу, канат стравливают на длину судна и проходят вторую полосу и т. д каждый раз немного перекрывая предыдущую, во избежание...

Номер патента: 29875

Опубликовано: 30.04.1933

Автор: Лосев

МПК: H03B 19/14

Метки: трансформации, чистоты

...для осуществления способа трансформации частоты, Колебательный контур Е, С настраивают на частоту, меньшую частотЪ генератора. Детектор должен обладать возможно лучшим выпрямительным действием, при чем характеристика его должна иметь положительную производную напряжения по току.Используя явление трансгенерации возможно регенерировать одним первичным регенератором 6 несколько колебательных контуров, настроенных на различные частоты. Например, в схеме фиг. 2 может произойти регенерация не только контуров высокой частоты, но и контура й С, включенного за выпрямителем Ы и настроенного на пониженную частоту.При соответствующем режиме контуров высокой частоты возможна транс- регенерация" любого контура пониженной частоты, в частности...

Номер патента: 30093

Опубликовано: 30.04.1933

Автор: Ручкин

МПК: B63B 49/00

Метки: проверки, фарватера, чистоты

...место блоками 9 кладутся вдоль палубы ноками на корму судна с расчетом, чтобы их пятки приходились к рамам 2, и обух в пятке штанги соединяется с рымом цепным замком, а малые блоки,70 крепятся на свои места.Брасы 7 обносятся по борту на нос судна и пропускаются через кипы 22 и крепятся за носовые ушки 23, Бурундуки 8 крепятся на кормовые ушки 24, Тали 72 закладываются в коуши 17 шпрюйтов. б и слабина шпрюйтов выбирается ими, после чего ходовые лопаря талей крепятся за ванты (или где удобнее),Лот-лини соединяются с пот-рыбами и в коуши 75 а ввязываются концытральной полосы 77. На один из концов трапьной полосы надевается кольцо малой кошки 79 и оба конца соединяются разрывной частью 78. Потом лот-рыбы кладутся в гнезда 25 около вьюшек,...

Номер патента: 70288

Опубликовано: 01.01.1948

Автор: Попильский

МПК: C22B 1/16, C22B 34/36, C22B 5/10 ...

Метки: вольфрама, высокой, извлечения, концентратов, чистоты, шеелитовых

...примесей мышьяка и молибдена, что крайне затрудняет получение чистого вольфрамового ангидрида, необходимого в производстве твердых сплавов.Предлагаемый метод извлечения вольфрама предусматривает спекание шеелитового концентрата с содой и кремнеземом не в окислительной атмосфере, как это практикуется, а в восстановительной атмосфере, для чего в шихту вводят углерод.Установлено, что для удержания молибдена в нерастворимом остатке спекание следует производить прп температуре не ниже 900, при этом достигаются оптимальные результат ку, Кре обычног СаЯО быткомУголь в колич лита, С ся в по гребани перераб по обы мам. ы и поотн мнезем в о расчета а соду с (200 в 4 добавляю естве окол пекание м довых печа ем. Выщел отка раст чным техн ошению к...

Номер патента: 77531

Опубликовано: 01.01.1949

Автор: Каменцев

МПК: C01F 7/38

Метки: высокой, глинозема, кристаллического, чистоты

...плавки глиноземсодержащего сырья в присутствии сульфидов тяжелых металлов или алюминия. По предлагаемому способу для достижения достаточной и устойчивой чистоты продукта необходимо проводить дополнительную очистку путем вторичной переплавки глинозема при восстановительной плавке в присутствии сульфида тяжелого металла и углерода с последующей вторичной обработкой получаемого оксисульфидного шлака для выделения из него кристаллического глинозема и очистки последнего кислотной и водной промывкой для удаления поверхностно расположенных примесей.Наилучшие результаты получаются в том случае, ссли при вторичной переплавке применяют добавку сульфида алюминия, предварительно полученного известными способами (например, сплавлением...

Номер патента: 79985

Опубликовано: 01.01.1949

Автор: Полянский

МПК: G01B 13/22, G01D 5/42

Метки: измерительный, пневматический, поверхности, прибор, чистоты

...положения и получения, возможности измерения малых расходов воздуха при незначительных величинах измеряемого зазора.Устройство прибора изображено на схематическом чертеже.Компрессоры 1 подают воздух к ресиверу 2. Постоянство давления воздуха осуществляется при помощи двух клапанных пружинных редукторов 3 и 4, а очистка воздуха - фильтрами 5 и б. Манометры 7 и 8 фиксируют предварительное давление и давление после редукции. Дополнительный узел с калиброванным соплом 9 включен в воздушную цепь, соединяющую измерительную головку 10 с ротаметром 11, создавая некоторый дополнительный расход воздуха через ротаметр в атмосферу При этом изменение положения поплавка 12 в ротаметре 11 происходит вследствие изменения величины поперечного сечения...

Номер патента: 81593

Опубликовано: 01.01.1949

Автор: Полянский

МПК: G01B 13/22, G01D 5/42

Метки: головка, пневматическая, поверхностей, чистоты

...2 установП Для ко 1 трсля чистоты поверхностей.В 1;Ор с 1 ГО:ОВи Г)иг. 1) Запрсссовз:1 оронзовая Втул,а ,сзинова 1 хс.,орана ) прижата опорной гайксй -. к карлусу оливки. Сталыос подпруж 1 егное сопло ) при Мощи гайи 6 и шаЙОы 7 зак 1)СГлеио на мемораие. которая под действс) ПЗме 1)игельнОГО давления сриепирует сопло на контролируемой поверхности, Сопло прижи М 81593мается пружицой (5. На штуцер 9 надевается рсзицовый шланг, соединяющий гсловку с ицсвматическим прибором, Шайбы 10 и 11 служат для уплотисиия.Торец сопла 5 выполиен Б виде прямоугольника, две противоположиьс стси(и которого вь;ПО,цепь г виде рс.)ПГОвых пластиок 13 и 11 1(риг,), прижатых к соплу 5 ободком 15.Головка 6 (фиг. 3), укреплсццая в кронштейне уциверсальцои стойки...

Номер патента: 85045

Опубликовано: 01.01.1950

Автор: Богуславский

МПК: C25D 1/10

Метки: гальваническим, методом, образцов, поверхности, чистоты

...из нержавеюше 11 стали,Из отдельных образцов этого набора снима 1 отся негативы гальваническим путем. Образец покрывается слоем никеля толщиной 0,02 - 0,1 лл. На слой никеля накладывается слой меди толщиной ,5 - 2 лл. Затем эта пленка покрытия сни.дается с образца, лицевая сторона которой представляет собой точную негативную копию поверхности образца. Из этой пленки - негатива таким же путем снимаются копии, которые и являются образцами чистоты поверхности. Толщина покрытия на негатив делается, приблизительно, 0,5 - 0,8 лл. Затем пленку, снятую с негатива, наклеивают на металлическую пластинку толщиной 2 - 3 лл.Изготовленные гальваническим методом образцы чистоты поверхности имеют ряд существенных преимушеств: азцов чисМ 85045 Предмет...

Номер патента: 85112

Опубликовано: 01.01.1950

Автор: Полянский

МПК: G01B 13/22, G01D 5/42

Метки: головка, пневматическая, поверхностей, чистоты

...шайбе 3, опирающейся на запрессованную в корпус бронзовую втулку 4. Под прямым углом к оси корпуса укреплена втулка б, в которой посредством гайки б закреплено на упругой мембране 7 сопло 8; сама мембрана прижата к втулке опорнои гайкой 9. Прямоугольная торцовая поверхность сопла о снабжена по двум граням резиновыми пластинками 10, предназначенными для обеспечения истечения воздуха под двумя рабочими гранями, устанавливаемыми параллельно образующим контролируемого цилиндра. Опорная гайка своими срезами устанавливается также параллельно образующим контролируемого цилиндра. Прижатие сопла к контролируемой поверхности осуществляется пружиной 11. С противоположной стороны от сопла, на одной оси с ним, на корпусе головки укреплен сменный...

Номер патента: 91859

Опубликовано: 01.01.1951

Авторы: Калинина, Курицкий

МПК: G01B 11/30, G01D 5/34

Метки: пластин, поверхности, полированных, стеклянных, чистоты

...тем, что пучок света направлен на контролируемую повсркность под углом, больППИ 5 1 Гла ПОЛНО 0 ВНТРЕННЕГО ОТДЯЖЕИ 51, ВС ЕДСТВЕ ЧСГО ООЛЬПЯ 51 ЧЯСТЬ света зеркально отражается и поглощается, я диффузно рассеиваемая часть улавливается фотоэлс 5 енто 1, помсп 1 енным за:роверяс:,ой пластиной.На сртеке изооря)епя скемя, и, лост 1) и) ощая предлягяс.;ы способ контроля чистоты повер.;ности стол 5 ппык пластин.Пчок сВстя От источника ), прокодя через кя ли)ятор 2 и кювст 5 с Иммет,)сОННО 1 Ткьдкость 0 ), па 1 ает под улом, Оольп 1 м уля поли)- Г 0 внутреннего отракени 51, на п 1)ове 1)яе.;110текл 5 пп,10 пластпн, -5.Зе)калыО Отрйткенпыи 01 и)ОВс 05 сОЙ ПОЯС)ост спет ПО;10- щается ловушкой 5., ,иффузно рассея)пгый свет улавлпвается...

Номер патента: 94112

Опубликовано: 01.01.1952

Автор: Чаман

МПК: G01B 7/34, G01D 5/20

Метки: поверхности, прибор, чистоты

...малоустойчивые многокаскадные усилительные схемы с большими коэффициентами усиления.Для контроля чистоты поверхности изделий предлагается применять индукционное устройство с неподвижной катушкой и движушимся ферромагнитным якорем, в котором жестко закреплена ощупывающая игла, по типу электродинамических звукосиимателей, для воспроизведения механической записи звука. В таком устройстве неподвижная катушка имеет большое число витков, вследствие чего в ней возбуждает. ся большая э. д. с., чем в индукционных устройствах с подвижной катушкой. Поэтому предлагаемое устройство исключает необходимость применения в профилометрах указанных входных трансформаторов и многокаскадных усилительных схем с большим коэффициентом усиления.Постоянный магнит...

Номер патента: 95463

Опубликовано: 01.01.1953

Авторы: Дунин-Барковский, Журавлев, Иванов, Карташева

МПК: B06B 1/06, G01B 7/34

Метки: поверхностей, профилометр, чистоты

...6, которые могут перемещаться в продольном направлении относительно корпуса 7 и опорных башмаков 4. Корпус для предотвращения влияния влажности атмосферного воздуха ца точность показаний ц поглощения собственных колебаций пьезоэлемента заполнен влагонепронцпаемой массой, например Вазелином или ланолицом.Датчик профилометра соединяется с механическим приводом посредством тяги. Удли 11 итель 8 тяги одним концом ввернут в датчик.Я 95463 Другим концом он с помощью винта 9 прикреплен к тяге 1 О, шарнирно соединениетй. с наконечником 11, который, в свою очередь, через рессор" 2 и наконечник муфты 13 связан с ее корпусом 14. В корпус запрессовано упругое звено 15, через которое тяга 10 соединяется с механическим приводом. Упругое звено...

Номер патента: 97370

Опубликовано: 01.01.1954

Автор: Саркин

МПК: G01B 11/30, G01B 9/04

Метки: исследуемой, методом, образцом, поверхности, сравнения, чистоты

...не отличит поверхность более низкого класса от поверхноспи более высокого класса.Сущность изобретения состоит в том, что предлагается сопоставлять не сами поверхности, а изображения интерференционных картин сравниваемых поверхностей.На фиг. 1 дана схема прибора для осуществления предлагаемого способа определения чистоты поверхно"ти; на фиг. 2 в по зрения окуляра.Две одинаковые микроинтерференционные системы Линника образуют на поверхностях образца а и контролируемой детали б интерференцианные картины, изображения которых сводятся через систему призм в поде зрения окуляра.Сопоставляемые детали - а - образец чистоты и б - подлежащая кантролю деталь - устанавливаются в приборе, состоящем из источников света в, эталонных зер 1 кал г,...

Номер патента: 98018

Опубликовано: 01.01.1954

Авторы: Любимова, Попов

МПК: G01N 33/50

Метки: бескорневищного, исследования, лабораторного, них, ползучего, примеси, пырея, семян, чистоты

...138(.Т. 01 С)СГГ)0-Я)РНЧ)ГБО О;и) почти черного Оттс 1 кя. И НГСПСН БНОСП 5 П)1 с 1 Р НО-Ж(. ) Овс) ОЙ ОК,)сНКП ССЪ 5 П) ПЬ 1 РГ 51 ЙС(КОРИ(1)Н 1(. Н ОГО, Н с) П О ) П Н)с) Н) Н Н. И О К Р с) С( э 3 Г ) Н Я т)3 ср,30 и нннпи 381, ЙОГ(. с. Ябяя, 3 ССМЕНЯ ИМСК)Т 53 РКО 1381 Рс)ЖСН 3 Н СТГ)С 03 П ЛНОС 11 э.с);3 ЛИИ( 15 ПН(.НСИВНО(ТИ ОК - Рс)СКИ 00 э(Н 35) И)3 сп.)С 51 ГЕ 1, ТО 1300- Г) (. К 1 1 1 1 51(. 1и 1 1 1 )Г 03 1 Я 51 ( ) с )( ) 3 ( )1 К с( (С(101 Н П)РС 51 ЙС С НОГ)П(1)И)НО)О С Гс 1. 10 (и ПР(ЗРс)ЧПОЙ И ПРННН эс)С Г 118( . )1 СС)О 1 РЖс)130 П С О 10 ээ. ЧСР(.30, )Ос ээ ГН)СО ПР(КМ с) ТР )Н)с)ГТ. С 5 ЗГНС) .,1)С 1 О 331351 ЖС 0(К) НКс) ССМ(П 1 ПЬ 1 РГ 5( ПО,);)С 1(Ч О НОС )С КНЯ 1(НИ 51 ОГс)(ТС 51 1 с 1 Г)0 ПРОЗРс)101, )Н) (С. ЖС...

Номер патента: 101037

Опубликовано: 01.01.1955

Авторы: Бессонова, Буглай

МПК: G01B 11/30, G01B 9/04, G01D 5/04 ...

Метки: древесины, исследования, поверхности, прибор, чистоты

...6 осветителя с лампочкой 7, конденсатором 8 и об ьективом 9.Карета 4 в нижней своей части скреплена жестко с коробкои 10, имеющей две боковые стенки и дна с прорезью, через которую рассматривают исследуемого пс верхность. Внутри коробки 10 помещен механиз.1 для регмлир)в 11 ния положения ножа 11 (при приведенш. его в поле зрения микроскопа) при настройке прибора.Нож 11 (фиг. 2) шарнирно скреплен с качающейся на оси 12 рамой 13. Регулирование положения ножа при рассмотрещш профиля его тени на исследуемой поверхности осуществляется поворотом рукоятки 14, закрепленной на концс оси ), С осью 1 д жестко скреплена скоба 16, подведенная нижнси своей частью под фигмрные скооы 1/, м 13 еплен ые на пл;сости ножа 11.При повороте рукоятки 14 по...

Номер патента: 111923

Опубликовано: 01.01.1958

Авторы: Дручак, Квачева

МПК: G01B 11/30, G01B 15/04, G01D 5/39 ...

Метки: поверхности, чистоты, шероховатости

...изображения реального профиля поверхности образца; на фиг. 2 - изображение реального профиля части образца; на фиг. 3 и 4 - электронограммы профиля поверхности шара после полировки и доводки; на фиг, 5, б и 7 - электронограммы профиля участка поверхности шарика после длительной эксплуатации.В предлагаемом способе исследования микрогеометрии поверхности образца любой конфигурации разработана схема применения приборас отраженным пучком электронов при включении только одной (второй) электромагнитной линзы.Схема применения прибора состоит из источника электронов 1, первой электромагнитной линзы 2, второй электромагнитной линзы Г, образца 4, пучка электронов б, экрана или фотопластинки б, На фиг. 2 представлено теневое...

Номер патента: 113395

Опубликовано: 01.01.1958

Автор: Вохрин

МПК: C25C 3/24

Метки: алюминия, анодного, высокой, перемешивания, сплава, чистоты, электролизере

...ния-сырца производ дом. ен механический пе воздуха, с помощь ния анодного сплава рмана для заливк мешиваю которого в электро- и алюмизобретении предлож д действием сжатог ция перемешив прочисткой книза иной еремешиватель состоит из золотника 1 и раб м 3, передвигающим шток 4, к концу которого 5, совершающая возвратно-поступательное дв го и- еПредмет изо б ретени Способ перемешивани чения алюминия высокой для заливки алюминия-сь устранения ручного труда осуществляют механическ или незначительно наклон тельное движение и прив цилиндра,който,стку верт атно евма В описываемом тель, работающий п осуществляется мех лизере с одновреме ния-сырца. Механический цилиндра 2 с поршн соединяется мешалкя анодного спл чистоты с одно 1 рца,...

Номер патента: 115098

Опубликовано: 01.01.1958

Автор: Коломийцов

МПК: G01B 11/30, G01B 9/02

Метки: исследования, микропрофилометр, оценки, поверхности, чистоты

...системы с наклонными плоскими зеркалами достигается высокая точность измерения глубины узких следов обработки. Предмет изобретения/ Ь7 Комитет но делам нзооретенп 11 н открытп 11 н 1 и Сонете Министров СССР Репактоп Л. П. Ситников Подп. к печ. 2411 П 1 9 г.тираж 1675, Цена 25 коп,Иа/формаинонпо-издательский отдел,О /ь;Г 17, л. Зак. З 1/. Гор. Алатырь типография М 2 Ыпппстерстаа культуры Чупашской АССР,Микропрофилометр для оценки и йсследования чистоты обработки поверхности, снабженный оптической системой для наблюдения в поле зрения окуляра интерференционных полос, отличающийся тем, что, с целью повыгдепия точности измерения глубины узких следов обработки, он снабжен установленной перед зрительной трубой дополнительной...

Номер патента: 118968

Опубликовано: 01.01.1959

Авторы: Городецкий, Драновский

МПК: G01B 13/22

Метки: дифференциального, пневматический, поверхности, прибор, типа, чистоты

...регулирования зазора 15.Действие прибора состоит в следующем.Поступивший через входное сопло 3 в прибор сжатый воздух проходит (наружу), через зазор между измерительным соплом 10 и неровностями проверяемой поверхности. На мембрану б снизу действует давление воздуха, заключенного в нижней камере, и стремится сместить заслонку вверх, а на мембрану 5 сверху действует противодавление воздуха, поступившего через сопло 2, регулируемое путем изменения зазора 15 у выходного сопла 13 с помощью микрометрического винта. При неравенстве давлений заслонка будет перемещаться в сторону меньшего давления и закроет отверстие трубки Поступление г свисток воздуха из этого отверстия прекратится - свисток замолкнет. Регулируя зазор118968 Предмет изобретения...

Номер патента: 118988

Опубликовано: 01.01.1959

Авторы: Круглов, Тудоровский

МПК: G01B 5/14, G01D 13/12, H02M 5/02 ...

Метки: градуировки, поверхности, профиллометров, чистоты, эквивалент

...конце. Собственная частота колебаний молоточка много меньше колебаний якоря вибратора, т, е. частоты тока, питающего вибратор, и составляет не более 5 гц. Полурама закреплена в двух подшипниках 13 и может в них поворачиваться на некоторый угол а относительно оси, совпадающей с осью натянутой проволоки. Поворот полурамы производится с помощью микрометрического винта 10, имеющего с ней постоянное соприкосновение под воздействием двух пружин 14, Цифрой 15 на фиг, 1 отмечено усилительно-измерительное устройство градуируемого профилометра.Вращая микрометрический винт, можно добиться такого положения, когда контакт молоточка соединится с контактом якоря вибратора, Для установления наличия соединения или разрыва контактов молоточка и якоря...

Номер патента: 120006

Опубликовано: 01.01.1959

Автор: Большаков

МПК: G01B 15/02, G01N 9/24

Метки: обработанной, поверхности, чистоты

...чистоты, тем выше гребешки и тембольшее количество р-частиц поглотится ими и, следовательно, темменьшим будет отраженный пучок - лучей, фиксируемый счетчиком.Таким образом, чем выше класс чистоты обработанной поверхности, тем интенсивнее отраженный пучок о-лучей, и наоборот.Предлагаемый способ может быть осуществлен, например, в приборе, показанном на фиг. 1 и 2. Основание башмака 1 выполнено так,чтобы можно было центрировать прибор на цилиндрических поверхностях вдоль оси последних. Центровка легко осуществляется при контроле как внутренней, так и наружной поверхностей цилиндров. На плоскойповерхности установка прибора производится с таким расчетом, чтобы12000 б острые кромки лап башмака располагались перпендикулярно фронту резанья...

Номер патента: 134434

Опубликовано: 01.01.1960

Автор: Левин

МПК: G01B 11/24, G01B 11/30

Метки: контактным, оптический, поверхности, профилограф, способом, чистоты

...с оптической осью телеобъектива.Зеркало выполняет роль коллектора.Параллельные пучки света, выходящие из телеобъектива, падают на колеблющееся зеркало Б, после двойного отражения от которого поступают вновь в телеобъектив, Этот телеобъектив посредством зеркала 3 и цилиндрической линзы б формирует изображение нити в виде точки на фотослой 7.134434 Установка контролируемого образца 8 параллельно плоскости перемещения измерительной головки осуществляется вспомогательным плоскопараллельным зеркалом 9, устанавливаемым на контролируемой поверхности образца, и призмой 10, включаемой по ходу лучей перед телеобъективом.Вращением регулировочных винтов стола или прибора приводят автоколимационное изображение нити до совмещения с нулевым...

Номер патента: 134435

Опубликовано: 01.01.1960

Автор: Щукин

МПК: G01B 7/34, H01G 13/00

Метки: конденсаторного, поверхности, прибор, типа, чистоты

...металлический лист, выполняющий роль вторых пластин для конденсаторов. Чувствительность такого прибора увеличивается за счет того, что контролируемая величина а учитывается дважды (обоими конденсаторами),При контроле криволинейных поверхностей аналогичную кривизну придают конденсаторным пластинам.Обычно прибор для контроля металлических поверхностей и пластины 1 и 2 устанавливают на диэлектрике 4, по краям которого смонтированы стальные шарики 5, опирающиеся на исследуемую поверхность 3.Контроль емкости щупа осуществляется по интерференционному методу электронным прибором. Триод Л является генератором колебаний высокой частоты, В сеточную цепь триода включен резонансный контур, состоящий из постоянной индуктивности 1, и...

Номер патента: 131539

Опубликовано: 01.01.1960

Автор: Шварц

МПК: C01G 53/00, G01J 3/40

Метки: анализа, высшей, никеле, примесей, спектрального, чистоты

Номер патента: 134728

Опубликовано: 01.01.1961

Авторы: Ржевкин, Швейкин

МПК: G01R 31/26

Метки: времени, жизни, коэффициента, критической, неосновных, носителей, полупроводниковых, току, триодов, усиления, чистоты, эффективного

...базы диод 3 открыт, а диод 4 закрыт. Измерительный прибор б, например микроамперметр с малым внутренним сопротивлением, включается последовательно с диодом 4. Источник постоянного тока 7 и сопротивление 8 введены для компенсации обратного тока Уколлекторного перехода при отсутствнч входного сигнала.134728После прекращения входного импульса дырки, составляющие заряд неосновных носителей в базе за время переходного процесса, вытекают из базы через коллекторный переход. Равное количество электронов, нейтрализующее объемный заряд базы, за то же время вытекает из базы через последовательно включенные диод 4 и измерительный прибор б,Показания прибора б градуированы в единицах заряда;арРгде Р - частота повторения входного сигнала на зажимах...

Номер патента: 143593

Опубликовано: 01.01.1961

Авторы: Зильберман, Калугин, Переплетчикова

МПК: G01N 27/48

Метки: гексаметилендиамина, полярографический, степени, чистоты

...так называемых шиффовых оснований.Наличие в гексаметилендиамин шиффовых оснований в виде примесей показано впервые,Авторами установлено, что чем меньше выход ге 1 етилендиамина,получаемого гидрнрованием адипонитрила, тем бол он содержитшиффовых оснований, и тем менее устойчив при х нии и быстрееокрашивается.Предлагается полярографический способ контроля степени чистотыгексаметилендиамина, заключающийся в определении содержания шифЖ 143593 Предмет изобретения Полярографический способ контроля степени чистоты гексаметилепдиамина, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что в нем определяют содержание шиффовых оснований по волне с потенциалом полуволны около 1,6 - 1,7 вольта (относительно насыщенного каломельного электрода) . Составитель С, В....

Номер патента: 168936

Опубликовано: 01.01.1965

Авторы: Алиев, Мамедова, Уан

МПК: G01N 25/04

Метки: дифенила, чистоты

...щелочью до получения пикратов дифенила. Пикраты разделяют путем последовательной перегонки при различных температурах с добавлением различных растворителей. Каждую отогнанную фракцию раздельно высушивают и по отдельности определяют на температуру плавления, По полученным данным судят о чистоте исследуемого дифе нила,Определение чистоты по этому способу длится до 25 час, требует предосторожности со взрывоопасным соединением пикриновой кис. лоты с дифенилом и не позволяет точно определять чистоту исследуемого дифенила.Предлагается способ, упрощающий определение чистоты дифенила и позволяющий получать более точные результаты.Способ заключается в следующем. Подписная групгга17 З Берут навеску чистого дифенила и нагревают до температуры...

Номер патента: 168944

Опубликовано: 01.01.1965

Автор: Бешелев

МПК: G01N 23/10

Метки: чистоты

...экран или фотографирования его в нескольких плоскостях на пленку можно выявить наличие за грязнений на внутренних, це доступных длявизуального осмотра поверхностях.Этот способ позволяет проверять чистотуповерхностей, не доступных для визуального осмотра.5 Контроль проводят следующим образом.Готовят специальный состав из жидкости, хорошо смачивающей стенки емкости, и мелко- раздробленных частичек какого-либо твердого контрастного для рентгеновских лучей 0 вещества. Например, в качестве жидкой фазы состава был применен раствор ОП(ГОСТ 8433 - 57), обладающий высокой поверхностной активностью, а в качестве контрастной твердой фазы - порошок свинцово го глета (ГОСТ 5539 - 50), дающий хорошеерентгеновское изображение.Эти вещества...

Номер патента: 176453

Опубликовано: 01.01.1965

Авторы: Сигарев, Солодопченко

МПК: G01N 27/00

Метки: анализа, время, жидкостей, контроль, криоскопия, методов, настоящее, органических, органическихжидкостейв, осуществляется, полярных, помощью, спектрос, таких, физико-химических, чистоты

...подъема жидкости вдоль электро дов, находящихся в жидкости под высоким напряжением, - параметр, на который влияют примеси.При наложении электрического поля в жидкости возникают электрические процессы, в 2 результате которых образуются ионы, обеспечивающие появление у центрального электрода-катода пространственного заряда, вызывающего асимметрию в распределении потенциала, В случае гетерогенного заряда у 2 центрального электрода возникает сильный градиент напряжения электрического поля, который обусловливает появление диэлектрофаротических сил. Кроме того, наличие объемного заряда приведет к торможению 3 соответствующих ионов, вследствие чего происходит передача количества движения, т. е. ПОЛЯРНЪХ ОРГАНИЧЕСКИХСТЕЙ возникает...

Номер патента: 176454

Опубликовано: 01.01.1965

Авторы: Сигарев, Солодовниченко

МПК: G01N 27/00

Метки: степени, чистоты

...мм. Кольцевой электрод с внутренним ц наружным диаметрами 30 ц 33 мм имеет высоту 1 О мм и изготовлен из нержавеющей стали. Вся система закрывается колпаком 13, в который впаян пружинный контакт 14. Все стеклянные части прибора выполнены из стекла46 (молцодецовое).Методика подготовки и эксплуатации прибора заключается в следующем. Перед началом измерений всю систему тщательно обрабатывают. Сосуд обрабатывают растворами кальцицированцой соды и хромовой смеси с последующей промывкой бцдистиллятом воды, после чего выдерживают в сушильном шкафу в течение 2 - 3 час при температуре 110 - 120 С, Электроды шлифуются мелкой наждачной шкуркой и промываются спиртом. Когда вся система собрана, сосуд прополаскивают небольшим количеством...