Патенты с меткой «редукции»
Линейка для вычисления редукции гравиметрических наблюдений за топографическим рельефом дневной поверхности
Номер патента: 73021
Опубликовано: 01.01.1948
Автор: Уманцев
Метки: вычисления, гравиметрических, дневной, линейка, наблюдений, поверхности, редукции, рельефом, топографическим
...служат для перехода от плотности наносов 2,0 к плотности наносов, соответствую.цсй точке наблюдения.Если желают прц помощи линейки получать только суммы по отдельным лучам, то поступают следующим образом: вначале дв 1 жок стацавлизается на О, затем югзпр бегунка совмещают ца шкале радиуса 1,2. Функции Л (цли В) с тем делением, которое соотвггствусг превы нению для этого радиуса цач точкой стояния цнструмецга, получспцоа 1, резлдт;:.те лгевого.).ВИКК 1 С)ВМС 2)ОТ С ВИЗИО(и ОСГ". К 2 ТЕМ НО;32 ПСПС;33:и г) ОС" НОК СТДВ 51 1 и 1,и 3 И НДСИг( соответству)ощес превьпнсниО д,я радиуса 2,0, и вновь перемсцдн)т ДО ТЕХ Г 10 Р, НОКа СГ) НО;Ь Нс СОВПДсВИЗИроМ бсгупка. ЭТИ ОПСр;1;Иг повторя)от псследовдтеляо л; 1.радиусов. Совмести 3 низ(р бегун...
Устройство для автоматической компенсации неременной оптической редукции клиновыхмеханизмов
Номер патента: 318910
Опубликовано: 01.01.1971
Автор: Пзобрете
МПК: G05B 11/32
Метки: автоматической, клиновыхмеханизмов, компенсации, неременной, оптической, редукции
...установлен датчик системы фото- гида 21, подключенный к усилителю-преобразователю 15 этой системы.При использовании двухкоординатного управления в устройстве используются соответственно два разомкнутых контура скоростной следящей системы и два замкнутых контура позиционной системы фотогида.Слежение за световым объектом (удержание изображения движущегося объекта на оптической оси) осуществляется посредством комбинированной фотоэлектрической системы, воздействующей на клиновой механизм 18 и состоящей из скоростной системы(система грубого сопровождения), задающей скорость вращения клина в соответствии со скоростью движения объекта 19, и позиционной системы фотогида 1 б, более точно удерживающей изображение объекта на оптической оси...
Способ редукции результатов измерениясилы тяжести k заданной точке
Номер патента: 800937
Опубликовано: 30.01.1981
Автор: Хейфец
МПК: G01V 7/14
Метки: заданной, измерениясилы, редукции, результатов, точке, тяжести
...прибора для абсолютных измерений (падающего пробного тела или оборотного маятника и т.д.)," толщина стенок достаточна для установки на его верхнем основании комплекса приборов для относительных измерений (гравиметров или маятниковых приборов) симметрично относительно вертикальной оси фундамента. Прибор снабжен приспособлением, позволяющим перемещать его по высоте.При проведении измерений целесооб- разно первоначально сделать определение при самом высоком и самом низком положениях эффективной точки и в зависимости от определенной таким образом нелинейности градиента рассчитать количество и положение других, промежуточных точек, обеспечивающих необходимую точность результатов,Предлагаемый способ позволяет раС- пространить систему...
Способ определения коэффициента редукции плазменной частоты в приборах свч
Номер патента: 1077501
Опубликовано: 23.08.1985
Авторы: Воробьев, Кириченко, Цвык, Шестопалов
МПК: H01J 9/42
Метки: коэффициента, плазменной, приборах, редукции, свч, частоты
...поток возбуждает однолепестковую диаграмму направленности излучения.Следовательно, устанавливая плот-,55 ность тока (2), всегда получают од-нолепестковую диаграмму 3 направления излучения (фиг. 1) с максимальной ин+ с 2 ус црсс 05 Г = - . -(бб 1 +я ч. ыЕ ыч-О Ю .-1 Я в + о ов и 2) при измерении угла Г = Г + о(-15 ЗИ -1 бв.оЙ=6 8 (О (У лсов Г -совГ ) (4 а. Формулами (4), (4 а) удобно пользоваться, если одна из диаграмм 4 или 5 близко ирилегает к поверхности дифракцИОННОй рЕШЕтКИ (фИГ, 3; бв(- ) Г,огде 29 - ширина диаграммы направленности дифракционного излучения),Следует отметить, что если один из углов с( (фиг,3,4) или оба эти угла одновременно (фиг.5,6) пунктирными диаграммами 4,5 близко прилегают к поверхности дифракционной решетки,...