H01J 49/00 — Спектрометры элементарных частиц или разделительные трубки

Номер патента: 127061

Опубликовано: 01.01.1960

Автор: Исаев

МПК: G01N 27/62, H01J 49/00

Метки: перенесения, подставной, пробы, электрод

...соприкосновение образца и электрода должно происходить строго теми же точками, что и при первом соприкосновении,Для обеспечения локальности действия электрического разряда прконтактировании образца с подставным электродом должны быть пра Л27116 15 ИЛЬНО БЫОрс НЫ Н) Пря,сСРН)СРХ)КОСТЬ СС 53 ЕНС 1 С)1, ИС С ЬЗ Р)сСС 1 стбипа 1 шем устро 1 стВР. Ирпчсм нзп 1 яжРнис и смк(нть дс,1)кны бьт:ТНОСИТРСЬНЦНЕВСЛИК.На, ЧВРТЧжг. ИСКс)ЗБНс СХЕМ ВКЛЮЧЕНИЯ КЦНДЕНСтЦР.1 схю 1 Бхцд 1 т ц 1 лифовсЛы)ЫЙ Обрс 1 зец.4, эсРктрод Ь, есн.снсзтс И с хкость)т с)то до 20 кс/), пстс)чпик тока 1 напряжением 20- М) с 5, ключ цепи зарядки К и ксммутирунщий ключ К 2 для и:5 мснения пс- ЛЯРнцсти РазРЯДа. с.)бРс):5 РЦ сцпРи)сасаетсЯ с электРоДом по линии сс- - б....

Номер патента: 166533

Опубликовано: 01.01.1964

Автор: Шабад

МПК: G01N 27/70, H01J 49/00

Метки: высокочастотный, спектрометр

...с целью раздельнойселекции положительно и отрицательно заряженных частиц, камера спектрометра снабже.на дополнительной парой пластин, на которыеподается переменное напряжение, сдвинутое25по фазе на втак, что внутри камеры пер 2пендикулярно магнитному полю создаетсявращающееся электрическое поле, направление вращения которого определяет знак резо 30 нансных ионов,вую вижению агнитнодписная группа50 Известен высокочастотный масс-спектрометр, так называемый омеготрон, состоящийиз камеры, помещенной в постоянное магнитное поле, источника электронов, двух пластин,к которым приложено переменное высокочастотное электростатическое поле, и коллектора ионов. Применение омеготрона ограничивает возможность раздельного измерения концентраций...

Номер патента: 241792

Опубликовано: 01.01.1969

Автор: Бутырина

МПК: G02F 2/00, H01J 49/00

Метки: оптико-акустический, приемник

...оптической про. зрачности материала, из которого изготовлено первое окно.Это позволяет расширить спектральный диапазон приемника, при этом отпадает необходимость в использовании нескольких приемников с входными окнами.На чертеже изображена приемная камера оптико-акустического приемника.Она включает в себя входные окна 1 и 2, рабочий объем с поглотительной пленкой 3, защитный колпачок 4, отражающю мембрану 5, которая является частью оптического микрофона.При измерении в широком диволн падающая радиация попад тительную пленку со стороны того входного окна, которое является для данной области прозрачным. При переходе с одного спектрального диапазона на другой, достаточно повер нуть приемную камеру или весь приемник на180 относительно...

Номер патента: 272445

Опубликовано: 01.01.1970

МПК: H01J 49/00

Метки: 272445

...управляющего импульса меняется скачкообразно. В открытом состоянии оно составляет десятки олтв закрытом - несколько мегаам. Электронный ключ управляется схемой 3, которая, в свою очередь, запускается сигналом, снимаемым с нагрузки в цепи последнего диода. Практически импульс тока появляется одновременно на последнем диоде и на аноде фотоумножителя вследствие регистрации частицы (см, фиг. 2, эпюры г, д в момент 1,). За время 1 - 1 о (эпюра е, см. фиг,2) импульс анодного тока заряжает паразитную емкость С. Электронный ключ закрыт, ега сопротивление составляет мегаомы. Постоянная анодной цепи272445 Предмет изобретения Кл рулра 8 чюиусггнм юароююндюча г.1 Составитель Г. Петроваактор Б, Б. федотов Техред Т, П. Курилко Корректор Л. А....

Номер патента: 275459

Опубликовано: 01.01.1970

МПК: H01J 49/00

Метки: 275459

...генератором импульсов эталонные импульсы, амплитуда которых может регулироваться в небольших пределах с помощью напряжения, подаваемого па управляющий вход генератора, так же, как ч импульсы от детектора, проходят через измерительный тракт, кодируются с помощьюаказ 2896,8 Тираж 480НИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при СовеМосква, Ж, Раугиская иаб., д. 4(5 ПодписноеМинистров СССР Типография, пр. Сапунова,аналого-цифрового преобразователя 9 и создают дополнительный пик в измерительном распределении,Измерительное устройство 2 определяет смещение центра тяжести пика от эталонного ге. нератора относительно заданной величины. Сигнал ошибки, вырабатываемый измеритель. ным устройством 2, поступает на интегратор 4, на выходе которого...

Номер патента: 335741

Опубликовано: 01.01.1972

МПК: H01J 49/00

Метки: отклоняющая, телескопическаясистема, электростатическая

...мере из трех пар параллельных пластин (форма пластин показана на фиг. 2). Каждая пара пластин, симметрично расположенных относитель35 40 но средней плоскости, находится под общим потенциалом и представляет собой один из электродов системы. Электрод 1 находится под потенциалом Ф электрод 2 - под потенциалом Фг, электрод 3 - под потенциалом Фз. Электроды 1 и 2 образуют электростатическую цилиндрическую линзу, а электроды 2 и 3 - электростатическое цилиндрическое зеркало. Потенциалы на электроды поданы так, что выполняются неравенства: еФО; е(Фг - Ф з 1 пгО) О; е(Фг - Ф 81 пгОц,) )О;где е - заряд частицы. Принято, что потенциал равен нулю там, где скорость частицы равиа нулю, т. е. еФ равна энергии падающих частиц, Размеры электродов в...

Номер патента: 356605

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Егиазаров, Шамов

МПК: G01T 1/36, H01J 49/00

Метки: aiiьиьлио-ена, шсг-союзяаяfrwrho-rxhh4eck

...усилитель 7, пороговые каскады верхнего 8 и нижнего 9 уровней относительно среднего уровня сигнала отклонения.Схема записи информации и нормированияпо времени содержит счетный регистр числа5 10 с,потенциальночимпульсным ключом 11,счетный регистр времени 12 с потенциальноимпульсным ключом 13 и кварцевым генератором 14, триггер записи 15.Спектрометр работает следующим обра 10 зом.Сигналы с выходов генератора б и датчика 2 поступают на вход суммирующего усилителя в противофазе. Если вибратор движется с заданной скоростью, то сигналы с15 датчика 2 и с генератора б полностью скомпенсируются и на выходе суммирующего усилителя 7 сигнал отклонения равен нулю.В этом случае спектрометр работает вобычном временном режиме.20 Если же скорость...

Номер патента: 399920

Опубликовано: 01.01.1973

Автор: Авторы

МПК: G21K 1/093, H01J 49/00

Метки: двумерныл, магнитная, полем, призма

...пластины изготавливают из дорогостоящихжелезо-никелевых сплавов с высокой магнитной проннцаемостью) .Целью изобретения является улучшениекомпенсации поля рассеяния призмы в окру жающем пространстве. Для этого призма выполнена в в ложенных один цад другиат н имею ярмо электромагнитов: среднего 25 двух вспомогательных, у котор ампервитков вспомогательных эле тов равно между собой ц в сумме р ампервитков рабочего электромап мотки вспомогательных элект 30 включены навстречу обмоткам ср.г Изобретение поясцецо чертежами.На фиг. 1 приведена схема конструкции призмы; на фиг. 2 - разрез Б - Б.Магнитная призма с двумерным полем содержит полюспые наконечники 1, две одинаковых основных 2 и четырех одинаковых вспомогательных 3 катушки возбуждения и...

Номер патента: 368564

Опубликовано: 01.01.1973

МПК: G01T 1/142, H01J 47/02, H01J 49/00

Метки: библкютенл

...2, гальванические элементы высоковольтного электрода 8, ионный фильтр 4, регистрирующее устройство 5. Е 6 (ьф - а) 1 и б/и К х) , (1)Хя, 2 х+ (бф - а)1 и б/а (х) - распределение предельных подвижностей ионов вдоль собирающих электродов, набранных пзизолированных друг от друга цот корпуса колец;х - текущая координата вдоль собирающих электродов, начиная отвходного электрода;0 - скорость потока воздуха;1 т - внутренний радиус внешнегоэлектрода;а - вцешний радиус центрэлектрода;Хес - суммарный потенциал гаческих элементов.368564 Составитель Ю. НагорныхТехред Т. Курилко Корректоры; С. Сатагуловаи Е Талалаева Редактор Т. Орловская Заказ 622/10 Изд. Ма 172 Тираж 755 ПодписноеЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете...

Номер патента: 436306

Опубликовано: 15.07.1974

Авторы: Завадский, Институт, Калашников, Карпова, Корнилов, Электроники

МПК: G01T 1/24, H01J 49/00

Метки: детектора, материал, полупроводниковый, частиц

...т - времена жизни соотвепственно долгоживущих и короткоживущих носителей. Кроме того, дрейфовая длинна неосновных носителей должны быть больше их диффузионной длины.Примером такого материала может служить кремний а-типа приводимости, компенсированный циником таким образом, что между концентрациями цинка (Уу) и фосфора (Лгр) сущеспвует соотношениеМ 7 п (Жр ( 2 МкпВ таком материале вследствие сильной асимметрии сечений захвата. дырки и электрона на верхний уровень цинка (Е, - 0,51 эв) усР пловие - ) 1 выполняется. Величинаи -.рудельного сопротивления в таком материале должна быть, как это можно показать, больше, чем (1 - 2) 104 ом см. Если образец из такого материала включить в цепь постоянного тока и приложить к,нему поле, превосходящее...

Номер патента: 253945

Опубликовано: 25.10.1974

Авторы: Поленов, Хазанов

МПК: H01J 49/00

Метки: 253945

...частиц примерно в 100 раз; он имеет меньший вес,габариты и потребление примерно в полтора раза.Спектрометр отличается от известных тем,что,с целью уменьшения времени измерения спектра,увеличения точности измерения пространственного распределения потоков частиц и уменьшения веса, габаритов и потребления, отклоняющая система выполнена в вйде набора и электростатических анализаторов, электроды которых образованы металлизированными покрытиями,нанесенными на пластины из элейтроизоляционного материала. Каждый анализатор настроен на определенную область спектра с заданным разрешением, и в детекторов непрерывно регистрируют поток частиц,прошедших через3отклоняющую систему и соответствующих различным областям спектра.На чертеже изображено...

Номер патента: 750613

Опубликовано: 23.07.1980

Автор: Тарантин

МПК: H01J 49/00

Метки: магнитный, сепаратор

...преобразование типа телескоп с увеличением площади поперечного 1 осечения пучка частиц.Мишень 2 содержит несколько миллиграммов на квадратный сантиметр вещества и не задерживает продукты ядерных реакций, обладающие значительной кинетичес 15кой энергией,Мишень 2 расположена в передней фокальной плоскости дипольного магнита 3.Дипольный магнит 3 отделяет вылетевшие из мишени продукты ядерных реакцийот прошедших через мишень бомбардируюших частиц, магнитная жесткость которыхотличается от жесткости продуктов реакций.Продукты ядерных реакций имеют болееширокое угловое распределение по сравнению с бомбардируюшими частицами и регулярное отклонение от направления первичных частиц. Дипольный магнит 3 преобразует пучок расходящихся из...

Номер патента: 788226

Опубликовано: 15.12.1980

Автор: Пакулин

МПК: H01J 49/00

Метки: магниторазрядный, масс-спектрометр

...постоянного тока другая клемма которого заземлена через измерительный прибор 9,М агниторазрядный масс-спектрометр работает следующим образом.При подаче на катоды 3 и 4 постоянного отрицательного напряжения от источника 8 между цилиндрами 1 и 2 возникает разряд, ток которого пропорционален давлению газа. При низких давлениях (менее 10мм рт.ст.) разряд локализуется в узких прианодных слоях, в которых падает почти все анодное напряжение. Электроны, дрейфующие вокруг оси и колеблющиеся вдоль магнитного поля, продвигаются к анодам лищь в результате редких неупругих столкновений с атомами газа. Ионы двигаются иэ слоев почти радиально и, попадая в электростатическую ловушку, многократно осциллируют между анодами, медленно, с тепловой...

Номер патента: 683516

Опубликовано: 23.12.1980

Автор: Меньшиков

МПК: H01J 49/00

Метки: анализатор, заряженных, частиц, электростатический

...дополнительного цилиндрического элЖтрода 6 должен быть меньше, чем минимальный радиус траектории заряженных частиц, иначе они будут попадать на поверхность дополнительного цилиндрического электрода. Его минимальный радиус определяется лишь конструктивными соображениями, поэтомуудобно изготовить электрод 6 в видеотрезка металлической проволоки, лежащего на оси двух других цилиндрических электродов.Предлагаемый анализатор работаетследующим образом.Источник ионизирующего излучениядает пучок, попадающий на мишень. Измишени вылетают вторичные заряженныечастицы, часть из которых пролетаетчерез ближайшую к мишени щель в электроде 5 и попадает в отклоняющее по 3 ле, создаваемое внешним цилиндрическим электродом 4 и регулируемое источником...

Номер патента: 801137

Опубликовано: 30.01.1981

Авторы: Ганзбург-Преснов, Соколов

МПК: H01J 49/00

Метки: масс-спектрометр

...отсекаются крайние лучи ионного пучка, имеющие максимальные координаты и углы расходимости и, как правило, малую 40 интенсивность. Однако указанная коллимация невыполнима, если вертикальный кроссовер пучка, формируемого источником ионов, расположен в труднодоступном месте и является мнимым. Поэтому в предлагаемом массспектрометре при помощи собирающей линзы искусственно создают действительный вертикальный кроссовер в легкОдОступном месте прОизвОдят в 50 нем коллимацию пучка, а затем сформированный пучок транспортируют через масс-анализатор. Транспортировка ионного пучка осуществляется другой собирающей линзой. Коллиматор вертикального размера пучка устанавливается между этими линзами в месте кроссовера ионного пучка, а второй...

Номер патента: 801138

Опубликовано: 30.01.1981

Авторы: Галль, Гришин, Кириллова, Павленко, Рафальсон, Смирнова, Тальрозе, Цымберов

МПК: H01J 49/00

Метки: хромато-эффузиометр

...5 имеетручную регулировку, Игла уплотняется в канале,с помощью тефлоновыхпрокладок. В рабочем режиме игла невходит в соприкосновение с седлом,поэтому стабильность первоначально установленного потока обеспечивается антоматически. Общий объемдополнительной камеры не долженпревышать 2 объема эффузионной камеры (0,060 см ). Газовая схема хромато-эффузиометра должна удовлетворять следующим требованиям: объем дополнительной камеры не должен вмещать больше одного хроматографического пика во избежание перемешивания компонент, разделенных хроматографом; дополнительное количество газа, заключенное в объеме соединительного капилляра,обращенного к эффузионной камере впроцессе эффузии, должно составлятьне более нескольких процентов от...

Номер патента: 828262

Опубликовано: 07.05.1981

Автор: Белиовский

МПК: H01J 49/00

Метки: анализатор, электростатический

...основного внутреннего электрода против выходной апертурной щели соосно этому электроду, а кольцевые дополнительные электроды - между внутренним основным и дополнительным сетчатым электродами по разные стороны от вы 828262ходной апертурной щели соосно внутреннему основному электроду.Сущность изобретения поясняется чертежом, на котором представлена схема устройства,Устройство состоит из внутреннего основного электрода 1 с входной апертурной щелью, затянутой сеткой 2 и выходной апертурной щелью, затянутой сеткой 3, наружного цилиндрического электрода 4, торцовых систем защиты 5, диафрагмы 6 и приемника-детектора 7 заряженных частиц. Кроме того, в устройство входят дополнительный сетчатый электрод 8 и дополнительные кольцевые электроды...

Номер патента: 695444

Опубликовано: 15.06.1981

Авторы: Афросимов, Овсянникова, Петров, Явор

МПК: H01J 49/00

Метки: анализатор, атомных, многоканальный, частиц

...ок- ра. Меняя разность потенциалов в ружностей, проекцчия- центра кривизйы: криволинейном зазоре между пласти, которых на плоскость дисперсйи смещена нами, можно управлять величиной относительно центра отклонения дис-дисперсии. Поле В зазоре между пласпергирующего элемента на величину, тинами дополнительно фокусирует заопределйемую величиной дисперсии по ряженные частицы в направлении, пер "зачданйому алгоритму, - пендикулярном плоскости дисперсии, При выполнении дисперчгирующе-фоку- благодаря чему достигается увеличе 55 сирущцего элемента в виде двух пластин ние чувствительности анализатора проекция центра кривизнй краев плас- Алгоритм расчета величин смещений тин смещена относительно центра от- проекций центров кривизны...

Номер патента: 702985

Опубликовано: 30.06.1981

Авторы: Подкатов, Рябчиков, Чистяков, Яловец

МПК: H01J 49/00

Метки: пучказаряженных, сильноточного, спектрометр, частиц

...во внимание при экспертизе1, Герасимов А. И, ПТЭ, М 3, 1971,с. 31.2, Дер 1 обузов К, А. и др, ПТЭ, Мо 1,1975, с, 25 (прототип) агсь 1 и - (8 с - "2 дЬл10При таком, расположении пластин пучокзаряженных частиц падает на пластиныодного из блоков под углом к их поверх-,ности, что приводит, во-первых, к возрастанию ( в сравнении с нормальнымпадением пучка) доли частиц, отраженных вследствие процессов многократногорассеивания, во-вторых, к уменьшениюплотности падающего на поверхностьпластин потока. частиц. Увеличение долиотраженных частиц при падении частиц .под углом к поверхности пластины и уменьшение плотности падающего тока за .счет геометрического фактора приводитк уменьшению плотности поглощаемой в 25пластинах энергии, Наличие...

Номер патента: 671582

Опубликовано: 30.09.1982

Автор: Спивак-Лавров

МПК: H01J 49/00

Метки: масс-спектрометр, призменный

...- - электродов лежат па координатных поверхностяха их границы совпадают с полуплоскостямигде у, д, ф - сферическая система координат, связанная с изображенной на рисунке декартовой системой координат х, у, г соотношениями х = г з 1 п д сов ф, у = г з 1 п д з 1 п ф, г = г сов О. Плоскость хг является плоскостью симметрии призмы и всего прибора в целом,В конусовидной призме создаются совмещенные электрическое и магнитное поля, скалярные потенциалы которых зависят только от угловых переменных О и ф. В таком поле все траектории ионов, движущихся в средней плоскости ху с одинаковыми энергиями и образующих на входе в призму параллельный пучок, будут подобны, что и обеспечивает их параллельность на выходе из призмы. При этом вовсе не...

Номер патента: 997136

Опубликовано: 15.02.1983

Авторы: Биршерт, Вислобокова, Карпов, Смирнов

МПК: H01J 49/00

Метки: анализа, масс-спектрометрического

...входная щель коллектрра 11 25ионов расположены в зазоре между полюсными наконечниками б и 7 диаметрально противоположно друг другу. Темсамым угол поворота ионов в предлагаемом приборе соответствует 180 С. ЗОДля увеличения напряженности поля вобласти магнитного масс-анализатора12 часть внешних краев полюсных наконечников 6 и 7 в нерабочей зонеприбора в принципе может быть срезана. Центры выходной щели источника 10ионов и входной щели коллектора 11ионов расположены на одинаковом расстоянии от оси симметрии масс-спектрометра 12 на середине ширины внешнихкраев полюсных наконечников б и 7,Масс-спектрометр имеет электрические вводы 13 и 14, смонтированные нафланце 3. Эти вводы предназначены дляподвода питающих напряжений к источнику 10 ионов...

Номер патента: 745294

Опубликовано: 07.04.1983

Авторы: Горн, Хазанов

МПК: H01J 49/00

Метки: заряженных, спектрометр, угловой, частиц

...с одной из п пар выходов коммутатора напряжения питания элект 50 ростатического анализатора. Этот коммутатор поочередно передает на одну из пар отклоняющих элементов равные по значению, но противоположные по знаку напряжения, и следовательно, 55 на детектор попадают частицы, проходящие через эту пару отклоняющих элементов, идущие на устройство под определенным углом относительно базовой плоскости. Недостаток такого устройства его сложность. Для измерения распределений заряженных частиц разных энергий на отклоняющие элементы подают равные парафазовые напряжения,изменяемые в пределах от нескольких вольт до нескольких сот вольт, коммутатор не должен вносить дополнительных погрешностей, соизмеримых с минимальными значениями этого...

Номер патента: 791107

Опубликовано: 30.09.1983

Авторы: Борнгардт, Кузьмин, Ланин, Павленко, Раков, Яковлев

МПК: H01J 49/00

Метки: исследования, молекулярных, пучков

...цифровым генератором напряжения и формирователем сигналов, содержащим переключатель каналов, формирователи стробов, узел сравнения, узеп программного управления, узел коммутации и делитель частоты, причем переключатель каналов подключен к прерывателю и генератору импульсов, связанному через депитель частоты и узлы коммутации с аналого-цифровым 55 преобразователем, и соединен через формирователи стробов с узлом сравнения, который связан с узлом прерывания ЭВМ 07 4и через узел коммутации с цифровым генератором напряжения и подключен к узлу программного управпения, соединенно, му с депитепем частоты,уэпом коммутации и интерфейсным . бпоком ЭВМ,который подкпючен к масо-спектрометру через цифровой генератор напряжения,Аналого-цифровой...

Номер патента: 623436

Опубликовано: 15.01.1984

Авторы: Громов, Сливков

МПК: H01J 49/00

Метки: заряженных, пучков, спектра, частиц, энергетического

...электронов. - фПриборы и техника экспериментаф, 1971, Р 3, с. 31-34.2. Крастелев Е.Г. и др. Измерениеэнергетического спектра сильноточныхэлектронных пучков.1- Приборы итехника эксперимента", 1976, 9 3,(54)(57) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯЭНЕРГЕТИЧЕСКОГО СПЕКТРА ПУЧКОВ ЗАРЯЖЕННЫХ ЧАСТИЦ, содержащее системупространственного разделения частиц.по импульсам, ффпф токоприемников,ых ячеек памяти и рег р стройства, о. т л и ч а ю щ е е с я тем; что, с целью измерения зависимости средней энер.гии спектра импульсных пучков заряженных частиц от времени , в устройство введен последовательный оми ческий делитель, имеющий один зазем ленный конец и не менее фи. выводов, выводы делителя подключены через емкости ячеек памяти к соответствующим токоприемникам,...

Номер патента: 1115135

Опубликовано: 23.09.1984

Автор: Ронкин

МПК: H01J 49/00

Метки: коэффициента, умножителя, усиления, фотоэлектронного

...- повышение точности и пом е хоза щи щен ности измерени й.Указанная цель достигается тем, что при способе определения коэффициента регулирования усиления фотоэлектронного умножителя, включающем измерение анодного тока при напряжении питания на фотоэлектронном умножителе, соответствующем заданнои аноднои чувствительности, регулирование коэффициента усиления умножителя и последующее вычисления коэффициента регулирования, после подачи напряжений питания с помощью импульсного источника света устанавливают анодный ток, соответствующий такому его значению на нелинейном участке световой характеристики фотоэлектронного умножителя, которое обеспечивает при введении максимального регулирования усиления значение анодного тока, находящееся на...

Номер патента: 1182452

Опубликовано: 30.09.1985

Авторы: Егоров, Солнышкин

МПК: G01T 1/36, H01J 49/00

Метки: бета-нейтринных, бета-распаде, корреляций, угловых

...частицы. Используя законы сохранения энергии и импульса, а также данные об энергии бета-частицы и скорости частицы отдачи для каждого зарегистрированного события вычисляют угол между направлениями вылета бета- частицы и нейтрино. Длину волны лазерного излучения периодически (плавно или дискретно) меняют в диапазоне, перекрывающем весь скоростной спектр частиц отдачи, и, таким образом, получают информацию о вероятности вылета бета-частицы и нейтрино под различными углами, т.е.1182 10 о бета-нейтринной угловой корреляции еНа чертеже представлена Функциональная схема устройства для осуществления предлагаемого способа.5Устройство содержит источник бета-радиоактивных ядер 1, вакуумную камеру 2, бета-спектрометр 3, импульсный ждущий...

Номер патента: 1557603

Опубликовано: 15.04.1990

Авторы: Мосеев, Овсянникова, Фишкова

МПК: H01J 49/00

Метки: отклоняющая, электростатическая

...чувствительности плоского конденсатора при ,= 1 и при больТ,шой ширине пластин, Так для " = 3йК, .= 0,9998; К= 2,65 1 О, для-д- = 5 Ку, = 1,0000, К = 1;14101,Таким образом, начиная с = 3,составляющая поля Епрактически постоянна. Поэтому поДача потенциалов+Ч на каждую пару противолежащихэлектродов обеспечивает высокую однородность поля в перпендикулярномэлектродам направлении,Рассмотрим отклонение в направлении, параллельном электродам. Для простейшей конструкции и питания, т.е. для случая двух пар электродов, имеем: Ч = +Ч- Ух - на противолежащих электродах слева от вертикальной плоскости симметрии и Ч+Ч+ + Ч - справа, эта означает, что , = = 1. При этом Кк = 0996," К, = =-0,413 р К= 0,254, Введение дополнительных пар...

Номер патента: 1619357

Опубликовано: 07.01.1991

Авторы: Баранов, Беляев, Ловцюс, Обнорский, Скородумов, Цепелевич, Эйсмонт

МПК: G01T 1/36, H01J 49/00

Метки: актинидов, изотопного, состава

...проб, но в обычном (крупнозернистом) состоянии. Это иллюстрируется двумя масс-спектрами положительных ионов Ю измеренными на 20 масс-спектрометре МИ. Пик 2 О (238 00 ) получен при распылении ос 2колками деления пробы в виде УДС (шкала справа), а пик 20 (точки) - при распылении того же слоя Осколками в тех же условиях, но после того, как УДС был прокален при Т = 550 С, и этот слой превратился из УДС в обычный крупнозернистый слой ПО (шкала слева), Выход положительных ионов уменьшается в 400 раз.На чертеже приведен также пик 1 а (235 О) (шкала слева) при распылении УДС осколками деления. Повышение процента распыленного вещества в положи-. тельно заряженном состоянии, в свою очередь, повьппает эффективность использования пробы, уменьшает...

Номер патента: 1478908

Опубликовано: 15.02.1991

Авторы: Войнов, Втюрин

МПК: H01J 49/00

Метки: заряженных, продуктов, реакций, спектрометр, частиц, ядерных

...и углавылета частицы 6 относительно ра- .диуса, проходящего через точку выпета. Источник высокого напряжения 11подключен к электродам через дели"тель 12-17. Конденсаторы 18 служатдля фильтрации пульсаций напряжения,конденсатор 19 служит для разделенияпеременной и постоянной составляющихна входе канала усиления 8,Постоянная времени цепи формирования сигналов много больше временидрейфа электронови много меньшевремени дрейфа ионов. В случае точечной ионизации амплитуда сигналас катода сферической камеры с сет"кой определяется выражениемоЯК(г -г)Сг (К-г)где К - радиус внешнего электрода(радиус мишени);г - радиус внутреннего электрода (сетки);г - расстояние от центра сфер9до места образования ионизации;Я - суммарный заряд...

Номер патента: 1675968

Опубликовано: 07.09.1991

Автор: Пенский

МПК: H01J 49/00

Метки: ионной, оже-спетрометрах, пушек, совместной, электронной, юстировки

...штоке образца. Образец экспонируют втечение 40 мин под ионным пучком аргона(Аг ), при этом режим работы ионной пушкиследующий; энергия пучка Ч = 4 кэВ, ток 50эмиссии 10 мкА, диаметр пучка 35 мм, а вкачестве газа используют спектрально чистый аргон.Затем образец в течение 6 мин обрабатывают в смеси метилэтилпенкетона и изопропанола (3:1), в результате чего наповерхности образуется рельефный следпучка ионной пушки (фиг, 2).На образец наносят сцинтиллирующийслой окиси цинка (фиг, 3) и последующей обработкой в указанной выше смеси в течение 7 минут добиваются локализации сцинтиллиоующего слоя окиси цинка только на месте следа ионной пушки. Далее образец вводят повторно в камеру анализа на то же место, что и в первый раз с...