Патенты с меткой «масс-спектрометрического»

Номер патента: 123754

Опубликовано: 01.01.1959

Авторы: Арцимович, Малов, Панин, Щепкин

МПК: G01N 27/60, H01J 49/26

Метки: анализа, масс-спектрометр, масс-спектрометрического, способа, этого

...и каскада-анализатора,Использоваш 1 е ионного источника, описанного в статье Арцимови)а и др. (журнал Ато)Ная энергия, М 12) за 1957 г.) позволяет увеличить светосилу прибора, оперировать с малыми навесками анализируемого и реперцого веществ, которые при этом могут вводиться в источник в любом агрегатном со,тояц)1 И и любом тсяическом виде, и су. шественно облегчает труд экспериментатора прц наладке системь 1.ЛНР 1;Р 3 руюцР 51 С 11 сека )11 сс-спекрО.1 ет 1 э)1, 130 бра)кенна 51 ца черте)ке, содержит сскторцый магнит 1 с углом сектора, равным 180, создающий аксиальцо-симметричное поле, фокусирующее пучки ионов по двум взаимно-перпендикулярным направлениям. В качестве второго каскада испо,;ьз 5 ется сеето 1 эныР маг.пт 2 с...

Номер патента: 247597

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Карпов, Левина, Пименов, Сьхч

МПК: G01M 3/40, G01N 27/62

Метки: анализа, газовых, гелия, масс-спектрометрического, смесей, содержание

...а также от загрязнений, поступающих из проверяемых объектов, при испытаниях сильно загрязненных объектов, обьектов с большим газоотделением или натеканием.Кроме того, сокращается длительность определения содержания гелия в газовых пробах, обладающих большим разбросом по концентрации гелия, и уменьшаются габариты и вес насосов, применяемых в масс-спектрометрических гелиевых течеискателях и газоанализаторах,Сущность изобретения поясняется чертежом, на котором изображена вакуумная схема масс-спектрометрического газоанализатора (течеискателя) для определения содержания гелия в газовых смесях (или обнаружения течей) по предлагаемому способу.Масс-спектрометрическая камера гелиевого газоанализатора 1 трубопроводом 2 присоединена ко входу...

Номер патента: 295572

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Кузьмин, Мельничук, Миртов, Павленко, Рафальсон, Холин, Цигельман, Ширшов, Шутов

МПК: B01D 59/44

Метки: анализа, грунта, масс-спектрометрического, планетвсесоюзнаяnatehtho-texkiflechaflбиблиотека

...что за время действия импульса испаряемый участок нагревают до температуры, соответствующей интенсивному испарению, в то время как выбор значительной скважности импульсов дает возможность снизить среднюю потребляемую мощность при сохранении концентрации продуктов испарения в источнике массспектрометра, достаточной для проведения масс-спектрометрического анализа,В качестве устройства для модуляции пучка может быть применен специальный электрод (в случае применения источника высокоэнергетических заряженных частиц), запирающий поток частиц при подаче на него импульсного напряжения определенной полярности и амплитуды, либо устройство в системе питания (в случае применения источника электромагнитного излучения), обеспечивающее импульсный...

Номер патента: 346655

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Агафонов, Дев, Ларин, Рачков

МПК: B01D 59/44, G01N 27/62

Метки: масс-спектрометрического

...чески инертным к анализируемому веществу 20 и примеси, сравнительно легко очищаться и основные линии его в масс-спектре не должны мешать проведецио анализа,По данным анализа вещества строятся калибровочные кривые, которые описываются 25 уравнением А=1 в", где А - отношение ионного тока характеристической лицин примеси к сумме тех же величин для основного компонента и примеси, в - отношение парциального давления пара примеси к общему дав и и - постоянные. оизводится опредеализа по формуле г гУг наименьшее определимое ое давление паров при де Р 2 -парциаеси;ров осн парццальное давленого компонента;средняя квадратичлинии фона;наибольший ток,измерен выходныеельное увеличениеможно объяснитьявления наиболеемасс-спектрах добачичаются от...

Номер патента: 356547

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Кузьмин, Специальное

МПК: B01D 59/44, G01N 27/62

Метки: анализа, масс-спектрометрического

...пучка представлены кривыми 7 и 8, а точки 9 и 10 - ,первые пересечения с осью ОХ. Вследствие ,воздействия объемного заряда частицы внешней траектории пересекают ось ОХ на более 20 далеком, а частицы внутренней траектории - на более близком расстоянни от точки входа, чем,в отсутствии объемного заряда, Анализ ,показывает, что величина н направление .скорости возмущенных частиц в точках 9 и 10 блнзкн к величине и направлению скоро,сти частиц в точках 11 и 12, если бы возму. ,щение отсутствовало. предположим сначала, что после пересе"чения оси ОХ, объемный заряд пучка на частицы больше не действует. Тогда частица изтомии 9 пойдет по траекторин И,в точку 14,из точками 10 - по траектории 15 в точку 1 б,так что отрезок 11 - 9 окажется равным...

Номер патента: 488132

Опубликовано: 15.10.1975

Авторы: Озеров, Павленко, Пушкина, Слуцкий

МПК: G01N 27/62

Метки: анализа, дуплетов, масс, масс-спектрометрического, мультиплетов

...для анализируемых компонентов путем усиления или ослабления известных факторов откачки.В магниторазрядном насосе откачка осуществляется вследствие нескольких различных по своей природе процессов.Инертные газы откачиваются, в488132 Составитель Н. АлимоваРедактор И, Шубина Техред М. Левицкая Корректор Н. Лебедева Заказ 3117/16 Изд. Хе 1869 Тираж 902 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5Типография, пр. Сапунова, 2 замуровыванием при распылении реактивного металла катодов. Активные газы откачиваются за счет образования химических соединений с распыленными реактивными металлами.Скорость откачки малоактивных газов определяется обоими факторами....

Номер патента: 530690

Опубликовано: 05.10.1976

Авторы: Агафонов, Девятых, Фаерман

МПК: B01D 59/44

Метки: анализа, газов, масс-спектрометрического, паров, смесей

...анализируемой смеси. К таким веществам относятся ароматические углеводороды, в частности бензол, который существенно увеличивает интенсивность линий масс 20спектров анализируемых веществ, Кроме того, добавление бензола в разной степениувеличивает интенсивность линий масс-спектров веществ различных классов, что позволяет получать дополнительную инфоомацию опринадлежности компонентов смеси к тому2или иному классу веществ путем сравнениямасс-спектров чистой смеси и смеси с ак -тивирующими веществами. Так, например,при добавлении бензола к смеси, содержащейЗОпредельный углеводород - гептан и хлорзамешенный углеводород - хлороформ, интенсивность линий их масс-спектров увеличивается соответственно в 2 и 1 1 раз, Оптимальное количество...

Номер патента: 544900

Опубликовано: 30.01.1977

Авторы: Дмитриевский, Зельвенский, Катальников, Соколов

МПК: G01N 27/62

Метки: изотопного, масс-спектрометрического, никеля, состава

...ктрометрического опредестава никеля с использоо тетракарбонпла никеля, тем, что, с целью увелпчеся форвакуум5) 10 - еммр Изобретение отн го анализа элеме м ким методом,В современных работах рическому определению никеля используется или хлорид никеля.Практически единстве соединением никеля, кот пользовано для целей м кого анализа, является т %(СО) 4Известны попытки исп бонила никеля для масс- измерения его изотопног билизации его добавками нашедшие применения из ного разложения % (СО) н апуска масс-спектрометрЦелью изобретения яв стабилизация интенсивно также увеличение произ ст. Затем к системе напуска присоединяют ампулу с элементарным хлором, содержащую 10 см С 1 при давлении 100 мм. рт. ст, или больше. Хлор пропускается через...

Номер патента: 556375

Опубликовано: 30.04.1977

Автор: Шадский

МПК: G01N 27/62

Метки: анализа, карбонилов, масс-спектрометрического, металлов

...памяти до допустимого уровня при пре цизион;о Масс-спект 1)омет 1)11 еском измерении устойпого состаВ 2 жсле 32 на Основе пентокарбопнла железа, ребуется производить прогрев с параллельным вакуумированием в теченпе приблизительно 20 час. 20Известсп также способ масс-спектрометрического анализа, включающий предварительную обработку системы нагуска и камеры анализатора газом при нагреве. Способ является наиболее близким к изобретеш ю по технпче ской сущности и достигаемому результату.Этот способ также приведет к полному устранснпю памяти, так как г 1 рименяемые инертные газы не обладают достаточной реакционной способностью. 30 Цель изобретения - увеличение точности и производительности анализа за счет уменьшения эффекта памяти без...

Номер патента: 673903

Опубликовано: 15.07.1979

Авторы: Власов, Кудрявцев

МПК: G01N 27/62

Метки: диэлектрических, искрового, масс-спектрометрического, материалах, порошкообразных, примесей

...и образцом.Исследовано влияние добавки окиси висмута к исследуемому порошку на интенсивность ионного тока в диапазоне концентрацией окиси висмута в смеси 1 О в 1 5 вес.7 О. Оптимальное количество висмута в смеси составило 15 - 20 вес.% для всех исспедуемых окислов.Влияние количества окиси висмута. лобавленного к пробе, на интенсивность ионного тока и на время горения стабильного разряда показано в таблице. ю2 101,5 101,5 101,5 108 10673903 Составитель Н. Алимова Редактор И. Шубина Техред О. Луговая Корректор О. Билак Заказ 4063/39 Тираж 1089 Подписное ЦН И И П И Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж - 35, Раушская наб., д. 4/5 филиал ППП Патент, г, Ужгород, ул. Проектная, 4Влияние...

Номер патента: 693220

Опубликовано: 25.10.1979

Авторы: Васюков, Гречнев, Истомин, Кочнев

МПК: G01N 27/62

Метки: анализа, газов, газовой, инертных, масс-спектрометрического, метана, микроколичеств, смеси

...путем снижения уровня фомасс-спектра,6932 Формула изобретения 3Это достигается тем, что предварительно вводят в магниторазрядный насос тяжелый-аинертный газ до давления 10 - 10 мм. рт. ст и поддерживают разряд при токах в 105 -:104 раз превышающих токи разряда в режиме анализа, а также тем, что производят дозированный напуск анализируемой смеси в камеру анализатора при выключенном магниторазрядном насосе.Тренировка магниторазрядного насоса может быть выполнена, например путем напуска ксенона, если предстоит анализиро вать смесь, в которую ксенон не входит, Время тренировки - до 30 мин при токах разряда до 3 - 5 м А (для прибора, который был использован в экспериментах). После проведения режима тренировки, например с напуском ксенона,...

Номер патента: 715474

Опубликовано: 15.02.1980

Авторы: Кузанян, Попонова, Потапов, Чупахин

МПК: C01G 3/00

Метки: масс-спектрометрического, меди

...сц,"40Для"расчетов выбраны пйкимолеку";лярных-ионов, поскольку они-имеют.высокие значения молекулярной массы(М.М) (566, для М 3. и 571 для Сц) инаходятся в области спектра, где отсутствуют фоновые линии. Значейиея 1/Р и М.М.приводится для соединений,.содержащих:первый изотопопределяемого элемента. Их ийтенсивности -Максимальные в сйектре. Небольшое 50число осколочныхтоков, связанных."о отрывом только -пропильных радикаловпозволяет анализировать" смесй с высокой чувствительностью,3 где Х - искомое количество атомов металла г;у - количество введенногойэотопа элемента, г;Ь - отношение интенсивностейсравниваемых изотопныхпиков в молекулярномионе хелата;Ь; .- изотопное отношение вовнутреннем стандарте;Ио; И; - молекулярные веса образца и...

Номер патента: 715484

Опубликовано: 15.02.1980

Авторы: Кузанян, Попонова, Стопникова, Чупахин

МПК: C01G 53/00

Метки: масс-спектрометрического, переходных, элементов

...Способ определения никеля и меди основывается на измерении интенсивностей изотопных пиков ш/е 58 б( И 1) и ш/е 588( боы 1) щ/е 591( 63 Са)а/е 593(Са) в молекулярных ионах йолученныххелатов после введения известного количества стабильных изоТоповИ 1 и 60 Са, Определениеьдкобальта проводится путем использования никеля в качестве внутреннего стандарта.Количественное определение йроводится по формуле (1), применяемой в изотопном разбавлении:)о+Иоу, , , (1)Ьо-Ьт И;+1 Игде х - количество определяемогоэлемента , г;у - количество введенного изотопа, г;Ь , - отношение интенсивностейсравниваемых изотопных пиковв молекулярном ионе хелата;Ь, - изотопное отношение во внутреннем стандарте;й 0 - изотопное отношениеби Са/6 Са (или бо Ы 3./ 5 в 1 ЯЦ4,"...

Номер патента: 834493

Опубликовано: 30.05.1981

Авторы: Куприянов, Перов

МПК: G01N 27/62

Метки: анализавеществ, масс-спектрометрического

...используют атомы онизкими потенциалами ионизации, например атомы щелочных и щелочнозеуельных металлов,Для получения ионов, характеризующих исходное анализируемое вещество, используют процесс ассоциативной ионизации, в результате которого образуются комплексные ионы, представ ля 1 ощие собой ионизированные соединения атомов, имеющих низкие потенциалы ионизации, с атомами или молекулами анализируемого вещества. О наличии и количестве анализируемого ве щества судят по интенсивности таких комплексных ионов. Реакции ассоциативной,ионизации протекают между высоковозбужденными атомами А какого-либо известного элемента периодической системы .Менделеева, с потен 45 циалон мриизации ниже, чем потенциал" ионизащрг анализируемого вещества М, по...

Номер патента: 858147

Опубликовано: 23.08.1981

Авторы: Агафонов, Капульский, Фаерман

МПК: H01J 49/26

Метки: анализа, газов, масс-спектрометрического, накопительная, паров, ячейка

...тока, их температура Т в течениевремени т достигала величины, при которой адсорбированные вещества испарилисьбы полностью, Величина температуры Топределяется адсорбционными свойствами 55концентрируемого вещества, а времяхарактеристиками применяемого масс-анализатора, Для приборов с магнитным массанализатором Т может быть в пределахот 0,01 до 0,1 сек, а с динамическим10 5-10 сек.Параметры одной из испытанных накопительнык ячеек, давшей наилучший эффект, следующие.Плошадь покрытая микровыступами,600 мм; плотность расположения микро".с,выступов 110 см; расстояние между 6пластинами 1 мм; средняя длина микровыступов 60 мкм; напряжение между пластинами при напуске гелия при давлении-510 мм рт.ст, при разрядном токе 1 мА 4,5 кВ;...

Номер патента: 881604

Опубликовано: 15.11.1981

Авторы: Веселова, Дергачев, Якимова

МПК: G01N 27/62

Метки: анализа, вещество, изотопного, масс-спектрометрического, серы, состава

...ускорения и упро.щения процесса анализа и сокращениярасхода анлизируемого вещества, оносостоит из сульфида меди и окисиртути в следующих количествах вес.ЕСульфида меди 75-80Окиси ртути 20-25Источники информации,принятые во внимание при экспертизе35 чительные трудности, а получениесернистого газа в отдельной отмасс-спектрометра аппаратуре обычными химическими методами трудоемко,длительно и требует значительныхколичеств анализируемого дорогостоящего элемента,Цель изобретения - уменьшениерасхода анализируемого элемента,упрощение и ускорение анализа, ОПоставленная цель достигаетсятем, что вещество для масс-спектрометрического. анализа изотопного состава серы путем ионизации электронным ударом, содержащее сульфид металла и окись металла, в...

Номер патента: 983829

Опубликовано: 23.12.1982

Авторы: Поволоцкая, Танцырев

МПК: H01J 49/26

Метки: анализа, веществ, масс-спектрометрического, молекулярных, нелетучих

...молекулярными ионами ъ -аланина, Н + ИН (СН )2 СО 2 Н 3, цифрой Й пик протонированных молекулярных ионов глицерина Н + СНОН(СН ОН)2 3+, цифрой 5 - пик протонировайных молекулярных ионов валина 1 Н + (СН З) к фСН СНИН 2 . СО 2 Н 3+, цифрой 6 - пик протонированных молекулярных ионов 0 - лизинаН + ИН (СН),СНЙ Нх х СОН 3 и цифрой 7 - пик протонированных молекулярных ионов- аргинина Н + МНС(МН) . МН(СН 2) х х СН(НН)СО Й 3. П р и м е р 1, Иишень приготавливают следующим образом. Навеску сухого валина растворяют в глицерине.Концентрация валина в глицерине составляет 0,75 вес.Ф. Полученный раствор наносят на никелевую подложку слоем, 0,3 мм. Подложку с раствором вводят в масс-спектрометр. Записьмасс-спектра производят при следующих условиях:...

Номер патента: 983830

Опубликовано: 23.12.1982

Авторы: Агафонов, Бессмертная, Фаерман

МПК: H01J 49/26

Метки: анализа, веществ, летучих, масс-спектрометрического, накопительная, ячейка

...4 ионного источника. Внутри ее коаксиально укреплена спомощью изолятора с отверстиями 5 стеклянная трубка 6, покрытая проводящимслоем 7, на поверхности которого выращены иглообразные полупроводниковые45монокристаллы 8, длина которых в 210 раз меньше зазора между трубками 1и 6, Исследуемый газ пропускают череззазор между трубками 1 и 6,; при этомна поверхности полупроводниковых микро Овыступов 8 происходит сорбция менее.летучих компонентов смеси. Периодическиосуществляют электрический разряд между усами и электродом (трубкой 1); подавая на них по токовводам 9 разностьпотенциалов в несколько киловольт. Приэтом под действием электрического разряда за время Т полупроводниковые усы 0нагреваются, а накопленные на них вещества испаряются,...

Номер патента: 989337

Опубликовано: 15.01.1983

Авторы: Березин, Казин, Рагулин, Терешкин, Юсупов

МПК: G01M 3/02

Метки: герметичности, карусельный, масс-спектрометрического, обечаек, полуавтомат

...в себя ресивер 16,клапан 17 и канал 18 с регулируемымпроходным сечением.Кроме того, полуавтомат содержиттечеискатель, пульт управления с запоминающим устройством и связанныйа ним датчик давления (не показан).1На верхнем диске 4 золотниковогораспределителя выполнены по числу камер 6 откачные каналы 19, сообщенные,с соответствующими отверстиями 11 воснованиях 10 камер 6 и выходящиена рабочую поверхность (не обозначена)диска 4 на одинаковом расстоянии отоси 2, и опрессовочные каналы 20, сообщенные с соответствующими отверстиями 12 в основаниях 10 камер 6 и выходящими на рабочую поверхность диска 4 на одном расстоянии от оси 2.На нижнем диске 5 золотникового распределителя выполнены с возможностьюсообщения с выходами 21 откачных...

Номер патента: 997136

Опубликовано: 15.02.1983

Авторы: Биршерт, Вислобокова, Карпов, Смирнов

МПК: H01J 49/00

Метки: анализа, масс-спектрометрического

...входная щель коллектрра 11 25ионов расположены в зазоре между полюсными наконечниками б и 7 диаметрально противоположно друг другу. Темсамым угол поворота ионов в предлагаемом приборе соответствует 180 С. ЗОДля увеличения напряженности поля вобласти магнитного масс-анализатора12 часть внешних краев полюсных наконечников 6 и 7 в нерабочей зонеприбора в принципе может быть срезана. Центры выходной щели источника 10ионов и входной щели коллектора 11ионов расположены на одинаковом расстоянии от оси симметрии масс-спектрометра 12 на середине ширины внешнихкраев полюсных наконечников б и 7,Масс-спектрометр имеет электрические вводы 13 и 14, смонтированные нафланце 3. Эти вводы предназначены дляподвода питающих напряжений к источнику 10 ионов...

Номер патента: 1120224

Опубликовано: 23.10.1984

Авторы: Бегак, Коробов, Федоров

МПК: G01N 23/00

Метки: анализа, изотопного, масс-спектрометрического, металлах, подготовки, примесей, проб

...ЕО или Я с по" следующим изотопным уравновешиванием в газовой фазе при температуре,близкой к точке,лавления металла. Относительную концентрацию изотопов измеряют спектральныметодом З .Существенным недостатком известного способа является невозможность использования его для определения других элементов, кроме газообразую" щих примесей. Причина этого заключается в отсутствии газообразующих меток-носитс".лей изотопа, которые были бы пригодны для других элементов.Цель изобретения - повышение точ" ности анализа и расширение номенклатуры анализируемых элементов при масс-спектрометрическом, изотопном анализе.Указанная цель достигается тем, что согласно способу подготовки проб для масс-спектрометрического, изотопного анализа примесей в метал"...

Номер патента: 1134905

Опубликовано: 15.01.1985

Авторы: Вахтберг, Чикишев

МПК: G01N 1/38

Метки: анализа, масс-спектрометрического, образцов, подготовки

...ввода в масс-спектро метр и производят съемку масс-спектров при повышении температуры образца от 20 до 150 С со скоростьюо10 С/мин.В табл, 1 сопоставлены масс-спектры образцов, полученных при непосред- ственном вводе с наполнителем - стекловатой (А) и в смеси с натуральным каучуком (Б).1134905 5 10 Та блица 2 Интенсивность, .% ш/е А Б 27 60 18 100 30 44 100 81 Отсутствует 46 51 43 ВНИЕПИ Заказ 10085/40 Т аж 898 сное Филиаа ППП Патент, г.уагброд, уп.Проентная, 4 . В обоих случаях испарение образца сопровождаетсяего термическим распадомс образованием морфолинаи серы. Дейст-:вительно,в полученных масс-спектрах зарегистрированы пики молекулярных иосколочных ионов образца 6 п/е 300,236, 150, 118, 116, 86 и 56), серы(щ/е 256,...

Номер патента: 1138855

Опубликовано: 07.02.1985

Авторы: Васильев, Дубинский, Костюченко, Косячков, Макеева, Ченакин, Черепин

МПК: H01J 49/26

Метки: анализа, масс-спектрометрического, послойного, твердых, тел

...концентрацией С данного эле мента в анализируемом слое Сев= щ,д /Ч а " К йе (2) гдето;- минимальный регистрируемыйток вторичных ионов,- степень ионизации (отношение числа вторичных ионовк общему числу распыленныхчастиц)- коэффициент пропускания прибора.Известен способ послойного анализа, заключающиися в распылении поверхности пучком ускоренных ионов споследующим масс-спектрометрическиманализом выбитых вторичных ионов ЯОднако этот способ не позволяетполучать высокое послойное разрешение при высокой концентрационнойчувствительности и локальности.55Наиболее близким к изобретениюявляется способ послойного анализа,заключающийся в расфокусировке первичного пучка ионов аргона, при этомскорость расопыпения объекта уменьшается до 0,5 А/с, в...

Номер патента: 1171870

Опубликовано: 07.08.1985

Авторы: Чупахин, Этингер

МПК: H01J 49/26

Метки: анализа, воды, масс-спектрометрического, особой, степени, чистоты

...примесей, перераспределение примесей между поверхностью и объемом пробы; при низних температурах менее вероятно испарение легколетучих примесей. Следовательно, после сублимации на поверхности оставшейся части пробы сконцентрируются примеси из всего сублимированного объема,Коэффициент, концентрирования равен отношению сублимированного объема к объему, используемому при масс-спектрометрическом анализе. Искровая масс-спектрометрия позволяет при анализе снимать слой пробы толщиной до 10 мкм. Сублимируя часть пробы толщиной 1 см, можно получить коэффициент концентрирования более 1000. Концентрация примесей в объеме пробы всегда в 100 - 1000 раз меньше поверхностной концентрации по всем элементам. Так как подложкой для концентрата примесей...

Номер патента: 1177719

Опубликовано: 07.09.1985

Авторы: Рамендик, Файнберг

МПК: G01N 1/44

Метки: анализа, масс-спектрометрического, подготовки, проб, твердых

...1 ОНа чертеже представлена схема устройства, осуществляющего способ,Устройство содержит пробоотбирающую подложку 1, заостренный электрод 2, подведенный к образцу 3 через 15 ось симметрии кольцевого электрода 4; образец 3 установлен на держателе 5, электрически соединенным с кольцевым электродом 4, заостренный электрод 2 соединен с вакуумным сильфо О ном 6 для механического перемещения его внутри вакуумированной камеры 7, имеющей вводы 9 для подведения высоковольтного напряжения к электродам 2 и 4. Перемещение электрода 2 внут ри камеры 7 осуществляется с помощью штанги 9, соединенной с электродом 2 через изолятор 10.Устройство работает следующим образом, ЗООбразец 3 помещают между электрически соединенными кольцевыми электродом Ь и...

Номер патента: 1159412

Опубликовано: 23.12.1985

Авторы: Вознесенский, Костяновский, Курочкин, Ревельский, Яшин

МПК: G01N 27/64

Метки: анализа, газовой, масс-спектрометрического, смеси

...реаген 35 тов, которая ограничена активностью ф-излучателя и зависит от чистоты излучателя и содержания примесей в газе-носителе. 30 40 Образующиеся молекулярные ионыстабилизируются при соударении с молекулами газа-носителя. При атмосферном и близком к нему давлении, какпоказалэксперимент, числа столкновений достаточно для полного тушения возбуждения молекулярного иона 50и исключения его диссоциации. Образование кластерных ионов типа еМ.М(где 3 =1,21), возможное в результате вторичных ион-молекулярных реакций, исключается за счетвыбора парциального давления ана лизируемого вещества (его концентрации) в газе-носителе.Выбор парциального давления позволяет исключить вторичные ион-моСпособ практически не нашел применения, так как при...

Номер патента: 1226554

Опубликовано: 23.04.1986

Авторы: Васильев, Коляда, Черепин, Швецов

МПК: G01N 27/62, H01J 49/26

Метки: анализа, веществ, масс-спектрометрического, твердых

...меньшечем знаменатель зависит от состоянияповерхности в связи с чем 1 характеризует состояние поверхности, аизменение его - изменение состояния поверхности, чтс учитывают при получении и обработке результатов анализа и что является технической сущностью изобретения,В масс-спектрометрии вторичныхионов, ионном легировании, катодномраспылении материалов и других областях техники широко применяют пучки ионов различной массы и энергии,Изменяя последнюю достигают различных глубин проникновения ионов, скоростей распыления, выходов ионов илиизлучений из мишеней и т.д. Предлагаемый способ существенно отличается отизвестных тем, что позволяет контролировать состояние поверхности твердого вещества путем учета специфических особенностей...

Номер патента: 1257726

Опубликовано: 15.09.1986

Авторы: Герасимов, Гершаник, Есипов, Ляликова

МПК: H01J 49/26

Метки: анализа, водорода, газах, гелия, масс-спектрометрического, микропримесей, тяжелых

...может быть на несколько порядков вьппе. Действительно, в первые моменты времени после подачи анализируемого газа в ионный источник попадают молекулы только легкого компонента газовой смеси. Молекулы тяже; 30 35 40 45 лых компонентов при этом еще находятся в объеме пористой перегородки.Основное условие практического осуществления предлагаемого способа состоит в достаточно большом времени прохождения газа через пористую перегородку с тем, чтобы успеть до появления в ионном источнике тяжелолетучего компонента определить содержащая легколетучего компонента и перекрыть затем поток анализируемой смеси вприбор. Если расход основного компонента газовой смеси через пористую перегородку в 100 раэ превышает пропускную способность...

Номер патента: 1265889

Опубликовано: 23.10.1986

Авторы: Миркаримов, Пашкин, Пожаров, Хабибуллаев

МПК: G01N 27/62, H01J 49/26

Метки: анализа, газах, масс-спектрометрического, микропримесей

...и температура ней трального газа, электронная температура, концентрация заряженных частиц). Верхний предел ограничен искажениями измеряемых ионных токов,возникающими при столкновении между 15 ионами и нейтральными частицами впотоке газа через отверстие в выходной диафрагме масс-спектрометра.Конкретное значение давления внутри указанного интервала выбирается 20 исходя из того, что наибольшую точность дают измерения при Лл ре-рогде Л - характерный размер ЭРК (сточностью до постоянногокоэффициента, определяемогогеометрией ЭРК);Э - коэффициент диффузии йоново50при.единице давления.В этом случае оптимальное давлениеанализируемой смеси равно Э с Л хгде=1/1 сх- характерное времяреакциииона-реа-.гента с микропри-месью, с;к - константа...

Номер патента: 1270814

Опубликовано: 15.11.1986

Авторы: Александров, Галль, Краснов, Куснер, Николаев, Шкуров

МПК: H01J 49/26

Метки: анализа, масс-спектрометрического, соединений, химических

...органических .молекул, содержащие наряду с осколочными, молекулярные и квазимолекулярные ионы. Недостатками всех лере". численных методов-аналогов являются сложность обязательной стадии подготовки образца, низкая чувствитель:ность используемой аппаратуры, исключительная трудоемкость расшифровки масс-спектров, невозможность упНедостатки данного способа - невозможность получения масс-спектра молекулы, необходимого для установления ее структуры, а также низкая чувствительность метода, приводящая к необходимости использования больших количеств раствора аналивируе мых веществ ( 1 мл и более). Цель изобретения - повьппение точ. ности идентификации, расширение аналитических возможностей и увеличение чувствительности,Поставленная цель...