Гацкалова
Устройство для измерения погрешности профиля эвольвентной поверхности детали
Номер патента: 518623
Опубликовано: 25.06.1976
Авторы: Гафанович, Гацкалова, Прусихин
МПК: G01B 11/24, G01B 9/02
Метки: детали, поверхности, погрешности, профиля, эвольвентной
...9 жесткозакреплена на сбшей оси с диском 1 преоб- фйразователя перемещений.Свет от источника 7 попадает на светоделитель 4, после чего половина луча, отразившись от эталонного зеркала 5 и отсветоделителя 4, попадает в объектив 6. ВВторая половина луча отклоняется светоделителем 4 в сторону полупрозрачногозеркала 3 и контролируемой детали 9, аотразившись от них и пройдя светоделитель,попадает также в объектив 6. При этом Япервая и вторая половина луча интерферируют, а результат интерференции в видеполос наблюдается визуально.Чтобы отличить одну систему интерференционных полос от другой, их ориентируют по-разному, Необходимую ориентировку полос можно получить юстировочныммикроперемешением полупрозрачного зеркала 3,В начале работы...