Комраков

Интерферометр для контроля формы асферических поверхностей составных зеркал

Загрузка...

Номер патента: 1812421

Опубликовано: 30.04.1993

Авторы: Гусаров, Комраков, Лазарева, Пуряев

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: асферических, зеркал, интерферометр, поверхностей, составных, формы

...в рабочую ветвь"интерферометра,Падающий на плоскопараллельную пластину 4 пучок белого светаделится эталоннойсветоразделительной поверхностью на два:отраженный и проходящий. Отраженныйпучок проходит эеркальну 1 о призму 1,3 Даве,светоделитель 12 и дифрагирует на щеляхШ 1 и Ш 2 двойной щели 16, В фокальнойплоскости блока 19 формируется интерференцибнная картина; котораярегистрируется с помощью матрицы ПЭС или наблюдается в окуляр. Проходящий пучокнаправляется через зеркальный компенса.тор 6 нэ контролируемую поверхность.На практике наиболее распространены5 составные зеркала с сотовой структурой,при которой элементы зеркала имеют видмногоугольников и юстируются относительно центрального элемента (фиг, 2), Поэтомунаиболее целесообразным...

Устройство для вычислений в поле галуа gf (2 )

Загрузка...

Номер патента: 1753470

Опубликовано: 07.08.1992

Авторы: Басманова, Залялов, Комраков, Савельев, Толов

МПК: G06F 15/31, G06F 7/49

Метки: вычислений, галуа, поле

...корректора.В блоке памяти таблицы логарифмов иантилогарифмов замены на таблицу логарифма Зеча.На фиг. 1 представлена структурная схема предлагаемого устройства для вычислений в поле Галуа ОР(2") с использованиемлогарифма Зеча; на фиг. 2 - один из вариантов функциональной схемы устройства,Устройство (фиг, 1) содержит схему 1определения нуля, вход которой является .входом устройства, последовательно соединенные сумматор-вычитатель 2 и модульный корректор 3, блок 4 постоянной памяти .логарифма Зеча, схему 5 выдачи результата,выход которой является выходом устройства, а управляющий вход подключен к первому выходу схемы 1 определения нуля, икоммутатор 6, вход блока 4 памяти объединен с входом схемы 5 результата выдачи ивыходом модульного...

Интерферометр для контроля вогнутых асферических поверхностей

Загрузка...

Номер патента: 1753258

Опубликовано: 07.08.1992

Авторы: Бодров, Комраков, Чудакова

МПК: G01B 9/02

Метки: асферических, вогнутых, интерферометр, поверхностей

...изобретение предпочтительнее применять для контроля поверхностей, технологический процесс изготовления которых не приводит к появлению несимметричных ошибок, Это условие выполняется, например, при изготовлении асферических поверхностей методом вакуумной асферизации, где возможно лишь появление зональных осесимметричных ошибок.5 10 На чертеже изображена оптическая схема интерферометра.Интерферометр содержит источник 1 монохроматического излучения, микрообьектив 2, светоделитель 3, объектив 4, плоскопараллельную пластину 5 с эталонной светоделительной поверхностью 6, оптический компенсатор 7, на центральный участок поверхности которого, противолежащей плоскопараллельной пластине 5, нанесено зеркальное отражающее, покрытие 8 диаметром 01...

Привязь для животных

Загрузка...

Номер патента: 1738178

Опубликовано: 07.06.1992

Авторы: Андреев, Комраков

МПК: A01K 1/06

Метки: животных, привязь

...примененатормоз-. ная подставка для фиксирующего стержня, исключающая самоотвяэывание животных при закрытом положении фиксатора.На фиг. 1 представлена привязь для животных, общий вид; на фи, 2 - то же, вид сбоку,Привязь для животных содержит стойки1 с горизонтальным поворотным валом 2, наконце которого закреплена рукоятка 3 управления со стопорным стержнем 4, к поворотному валу 2 прикреплены рычаги 5, в которых установлена ось 6, на которой находится втулка 7 с приваренным к ней фиксирующим стержнем 8, К правой стойке 1 прикреплено вертикальное решетчатое ограждение 9 с вертикальным упором 10. Поворотный вал 2 установлен во втулках 11 отсмещения в сторону и удерживается кольцами 12. На упорах 10 закреплены тормозные подставки 13. Привязь...

Интерферометр для контроля вогнутых асферических поверхностей

Загрузка...

Номер патента: 1728650

Опубликовано: 23.04.1992

Авторы: Бодров, Васильев, Комраков

МПК: G01B 11/24

Метки: асферических, вогнутых, интерферометр, поверхностей

...и для любой поверхности, эквидистантной идеальной.Контроль общей погрешности контролируемой поверхности осуществляется следующим образом.Схема интерферометра включает плоское зеркало с центральным отверстием, ориентированное таким образом, что его от-. ражающая поверхность пересекает оптическую ось интерферометра под прямым углом в точке заднего фокуса первого компенсатора, а также второй компенсатор, расположенный между задним фокусом первого компенсатора и контролируемой поверхностью. Центральная часть светового пучка, сформированного после прохождения через первый компенсатор, падает на второй компенсатор. Расчет второго компенсатора выполняется таким образом, что, если контролируемая поверхность не имеет погрешностей, то прошедшие...

Автоматический фотометр

Загрузка...

Номер патента: 1703992

Опубликовано: 07.01.1992

Авторы: Карабегов, Комраков, Локоть, Погосов, Хуршудян

МПК: G01J 1/44

Метки: автоматический, фотометр

...". о Г 7е ч Оогр, Рыше О Г "его ц; гу " ьсы д1 эчке л усинддютс , д и;кг:гс - с 1 еддютс, Тдкм обрдэом, д г,.: о ст -ордел форми,елиулсь да Л 1, А 2 - ;цлпгуды злеритсльоо и гдлте .о сигалов соответственно:К - код. 1 циет усиления црадварись.го усилителя Р;К 2 - коэффициент усиления усилителя- ограитея 11 усиления,Импульсы А и Л 2 поступают на вход ы г:.ющего устзпйстгд 12, в котором с и омо ьо синхронизатора 13 происходит о нхроцое детектровдние импульсов и ,ганне их амплитудных значений, На,р;спе нд выходе вычитающего устрой- стол О; пр.горциондльно лоарифму отоеид амплитуд измерительного и с 1,дтельноголцульсов; О О =Л - Лг = 11 и -О 2Нд регис рруоцй прибор 14 поступае цдцряжецеОе 4 х гоопорцонапьное концентрации иэлеряемого...

Способ моделирования инфекционного процесса после трансплантации

Загрузка...

Номер патента: 1642499

Опубликовано: 15.04.1991

Авторы: Говорунов, Добронравов, Затевахин, Комраков, Махмудов

МПК: G09B 23/28

Метки: инфекционного, моделирования, после, процесса, трансплантации

...синтетическим гофрированным протезом длиной 3 см, заранее инфицированным золотистым стэфилококком со степенью 10 клеток. Диаметры аорты и протеза одинаковы - 1 см. До протезирования аорты и начала манипулирования в брюшной полости инфицированным протезом обкладывали стерильными пеленками свободную брюшную полость и забрюшинную клетчатку, отграничив их тем самым от возможного инфицирования во время операции. После окончания протезирования снимали дистальный, а затем проксимальный зажимы и восстанавливали кроваток, Время пережатия аорты составило 24 мин, кровопотеря - около 60 мл. После тщательного гемостаза протез реперитонизировали, ушив брюшину непрерывным кетгутовым швом. Рану передней брюшной стенки ушили послойно наглухо...

Способ электрохимических исследований и устройство для его осуществления

Загрузка...

Номер патента: 1589189

Опубликовано: 30.08.1990

Авторы: Колодин, Комраков, Прокичев, Самарин

МПК: G01N 27/416

Метки: исследований, электрохимических

...являет- да коммутационного выброса при подклюся эквипотенциальным,15 чении электрохимической ячейки по изСледующая команда с блокад с лока 12 при вестному способу достигала 50 В длипомощи ключа 13 отключает выход потец- тельностьюдо 5 10- э с, При осуществлециостата 1 от первого выво а еР да Регули- нии предлагаемого способа амплитудаал та 1 О ячейки, На ге- выброса не превышает 1 В при длительруемого эквивалента 1 О ячнератор 4 эталонных напряжений подаетности не более 10 с.ся команда начала наложения заданной Предлагаемый способ отличается.программы эталонного напряжения. программируемой длительностью и посПосле выполнения заданной п о амац Р грам- ледовательностью коммутаций блоковмы измерений через интерфейс 20 межеж устройства, в...

Резьбонарезной патрон

Загрузка...

Номер патента: 1563875

Опубликовано: 15.05.1990

Авторы: Гусев, Комраков, Шаров

МПК: B23G 5/00

Метки: патрон, резьбонарезной

...отклоняться в обе стороны Изобретение относится к металлообаботке и может быть использовано втанках при нарезаити мелких резьб.Цель изобретения - упрощение конструкции резьбонарезного патрона при 15арезании резьб мелкого диаметра пуем уменьшения числа деталей.На чертеже схематически изображенпредлагаемый патрон, разрез.Резьбонарезной патрон содержит кор пус 1,на котором установлен стакан 2,ф котором во втулках 3 расположенметчикодержатель 4. Между втулками 3установлена предохранительная пружинакоторая разжимает втулки 3 и ониСвоими конусными поверхностями центриРуют метчикодержатель 4 при его средем положении. Между втулкой 3 и кор -1, усом 1 в осевом направленииимеетсязазор "а" от 0,3 до 0,5 шага нарезаемой резьбы....

Тензометр для измерения деформаций цилиндрических валов

Загрузка...

Номер патента: 1557448

Опубликовано: 15.04.1990

Авторы: Иванов, Комраков, Чистяков

МПК: G01B 5/30

Метки: валов, деформаций, тензометр, цилиндрических

...измерения тензометра, а указатели 18 и 19 на" ходились на середине этого расстояния. Совмещают линию, соединяющую указатели 18 и 19, с меткой на валу, а плоскость, в которой лежат мерные съемные планки 16 и 7; - с горизон-, нальной плоскостью, и контролируют положение планок 16 и 17 по уровню 20. Затем охватывают по окружности вал гибкими тросами 6 и 7 и закреп" ляют один конец каждого иэ тросов 6 и 7 на барабане 6 или 7, а другой - на самой опоре 1 или 2, С помощью храповых механизмов 1 О и 11 натягивают тросы 6 и 7, При этом " зубчатые гребенки инденторов 3 врезаются в поверхность вала, обеспечивая жесткое крепление каждой иэ опор. По размерной шкале одной из мерных съемных планок 16 и 17 устанавливают требуемую для данной базы...

Автоматический рефрактометр

Загрузка...

Номер патента: 1497519

Опубликовано: 30.07.1989

Авторы: Кантере, Карабегов, Комраков, Кузнецова, Погосов, Хуршудян

МПК: G01N 21/41

Метки: автоматический, рефрактометр

...может быть использован фотодиод фЛ 24 и др.При введении в световой пучок полукруга большего радиуса модулятора 5, часть пучка, например половина, перекрывается и фотоприемное устройство 7 регистрирует сигналС=К (- а+х) Ь Е 0 КФ,1где 5 х = 1 Ц; Ы. (и- и,) - смещениепучка на поверхности фотоприемного устройства 7;1 - расстояние от кюветы до фотоприемного устройства;0 - преломляющий угол кюветы,Сигналы Ци Б по соответствующимсинхроимпульсам от устройства 6 синхронизации запоминаются в устройствах 8 и 9 выборки и хранения, С поступлением сигнала Б дается разрешение на операцию деления в делительном устройстве 10, на выходе которого формируется сигнал1 1 Ц = = ( а + Ьх) Ц, а 2 Этот сигнал поступает в регистрирующее устройство 11, где...

Логарифмирующий фотометр

Загрузка...

Номер патента: 1497462

Опубликовано: 30.07.1989

Авторы: Абзианидзе, Комраков, Локоть, Погосов, Хуршудян

МПК: G01J 1/44

Метки: логарифмирующий, фотометр

...первый 9, 40второй 10 и третий 11 ключи. К выходулогарифматора 12 последовательновключены вычитающий усилитель 14,второе 16 и третье 17 устройства выборки и хранения, делительное устрой ство 19, регистратор 20. Вычитающийусилитель 14 охвачен обратной связьючерез дифференциальный усилитель 18и первое устройство 15 выборки и хранения. Соответствующие выходы устройства 13 синхронизации подключенык управляющим входам первого 9, второго 10, третьего 11 ключей и первого 15, второго 16, третьего 17 устройств выборки и хранения.Устройство работает следующим образом.Свет источника 2 излучения формируется оптической системой 3, проходит через кюветы 4 и 5 и попадает на ротоприемные устройства б и 7 сравнительного и измерительного каналов...

Компенсатор для контроля качества плоскопараболических линз

Загрузка...

Номер патента: 1493903

Опубликовано: 15.07.1989

Авторы: Комраков, Лазарева, Полетаев, Пуряев, Хованский, Цедилина

МПК: G01M 11/00

Метки: качества, компенсатор, линз, плоскопараболических

...линзы 3.фокус линзы 2 совмещен с передним 35фокусом контролируемой линзы 3. Радиус г второй поверхности двояковогнутой линзы 2 связан с параметром г, контролируемой параболической поверхности, угломнаклона край- щней нормали параболической поверхностии расстоянием 1 между компенсатором иконтролируемой линзой соотношением4 о4г у г (1+-) + 26.45Мениск 1 может быть выполнен подвижным вдоль оси с возможностью отсчета перемещения, а между линзами2 и 3 может быть помещена иммерсионная жидкость 4.50В схеме контроля имеется такжеинтерферометр 5.Предложенный компенсатор позволяет контролировать параболические поверхности, угол наклона крайних норомалей которых достигает 45 , а допуск на отклонение нормали от ее теоретического расположения...

Оптический анализатор

Загрузка...

Номер патента: 1481650

Опубликовано: 23.05.1989

Авторы: Карабегов, Комраков, Кузнецова, Погосов, Хуршудян

МПК: G01N 21/33

Метки: анализатор, оптический

...верхнему логическому уровню, которое подается на входы расширителей. 17 и 18 импульсов. На выходах расширителей импульсов формируются сигналы, соответствующие верхнему логическому уровню, которые поступают на управлякщие входы ключей, установленных на выходах второго 10 и третьего 19 источников накального тока. Ключи замыкаются и через катод протекает суммарный ток 1 от трех источников 9, 10 и 19 накального тока1 =1 и +1 н+1 нэьгде 1 н 1 н, 1 н - токи первого 9,второго 10 и третьего 19 источниковнакального тока, соответственно(практически величины токов равны1 н 1 2 Аф 1 н=1 А 1 нэ=05 А)Нагрев катода проходящим током1, происходит до тех пор, пока невозникнет дуговой разряд в дейтерии.При возникновении разряда (поджигалампы)...

Фотометрический концентратомер нефти

Загрузка...

Номер патента: 1453184

Опубликовано: 23.01.1989

Авторы: Комраков, Кузнецова, Погосов, Хуршудян

МПК: G01J 1/44

Метки: концентратомер, нефти, фотометрический

...15 питания. При этом включается второй источник излучения 2 и замыкается электронный ключ 12. Коэффициент усиления усилителя 9 регулируется с помощью дифференциального усилителя 13 в соответствии с условием(5) К,А = К А где АА- сигналы второго и третьего фотоприемниковпри включении второгоисточника излучения. где К, К- коэффициенты преобразования второго и третьегофотоприемников соответственно, - коэффициенты пропусканияокон кюветы на входах ивторого и третьего фотоприемников11 4 интенсивности излученийрассеянных под углами30 и 45Сигнал А, усиливается усилителем 7, а сигнал А, - усилителем 8 и усилителем 9 с регулируемым коэффициентом усиления.Усиленные сигналы подаются на входы вычислительного устройства 14, где обрабатываются в...

Компенсатор для контроля формы параболических поверхностей вращения

Загрузка...

Номер патента: 1434305

Опубликовано: 30.10.1988

Авторы: Комраков, Лазарева, Пуряев

МПК: G01M 11/02

Метки: вращения, компенсатор, параболических, поверхностей, формы

...1 в негомоцентрический,лучи которого являются нормалями кпараболической контролируемой поверхности 2, Отразившись от контролируемой поверхности, лучи вновь про-ходят через компенсатор, формируягомоцентрический пучок с центром вточке А. Таким образом, назначениекомпенсатора заключается в формировании волнового фронта, форма которого совпадает с теоретической формой контролируемой поверхности. Этообеспечивается за счет определеннойконструкции компенсатора и его установки относительно контролируемойповерхности и точечного источникаизлучения, При использовании компенсатора в системе лазерного инфро" метра процесс исследования сводится к анализу формы волнового фронта, вышедшего из компенсатора. Если форма контролируемой поверхности не...

Рефрактометр

Загрузка...

Номер патента: 1430838

Опубликовано: 15.10.1988

Авторы: Кантере, Комраков, Кузнецова, Погосов, Хуршудян

МПК: G01N 21/41

Метки: рефрактометр

...выборки и хранения поступают на входы второго устройства 14 деления, Результат этого деления 5 регистрируется регистрирующим устройством 17;(8)-- -=К, Ьх,где К - коэффициент усиления второго делительного устройства 16,Учитывая (1), получим(9),Генератор-синхронизатор 3 такто,вых импульсов генерирует прямоугольные импульсы с частотой 150-200 Гц. При появлении логической единицы на управляющем входе двухпозиционного ключа 2 блок 1 питания подключается к источнику 4 излучения, при этом источник 5 излучения отключен-. На первом и втором фотоприемных устройствах появляются сигналы Бц и П соответственно, делятся на первом делительном устройстве, и результат П, поступает на вход первого устройства 15 выборки и хранения. На вход второго...

Способ измерения массы

Загрузка...

Номер патента: 1422015

Опубликовано: 07.09.1988

Авторы: Битков, Бугаков, Комраков, Терехов, Умников

МПК: G01G 9/00

Метки: массы

...пружины 2, значение ускорения свободного падения и величина заданного временного интервала.Г,Посредством решения системы уравс (Х, -2 Х сов +Х.,) 2 71-соягде ш - измеряемая масса;Х .ХХ, - координаты геремещенияподвижной системы весов н/Л Гмоменты с,с - жесткость измерительной сгС. ге Формула изо брет ения Способ измерения массы,включающий з себя измерение ускорения свободного падения жесткости измегительной пружины весов и координат перемещения связанной с измеряемой массой подвижной системы пружинных весов о т ;.: и ч аю щ и й с я тем, что с пельш меньшения времени измерения, пои измерении координат перемещения,Х, - координаты перемещения подвижной системь. весов в моГ , Г. менты с 1:гсь 1- жесткость измерительной пру где ш...

Способ контроля формы асферической поверхности линзы

Загрузка...

Номер патента: 1421991

Опубликовано: 07.09.1988

Авторы: Комраков, Лазарева, Пуряев

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: асферической, линзы, поверхности, формы

...блок 1 формируетпучок лазерного излучения требуемой конфигурации, который после отражения от светоделителя 2 разделяется образцовой поверхностью пластины 3 на два пучка - объектный, который проходит через поверхность пластины 3, и опорный, который отражается от нее. Первоначально компенсатор 4 отсутствует и объектный пучок,проходит через иммерсионную жидкость 5,:контролируемую асферическую99 35 д 0 лируемой поверхностью линзы компен 45 где Ь - длина волны излучения;Х - допустимая погрешность формыконтролируемой поверхностилинзы50 вновь освещают контролируемую поверхность объектным световым пучком и регистрируют вторую интерферограмму , а корректировку интерферограммы выполняют вычитанием первой интерферо...

Рефрактометр

Загрузка...

Номер патента: 1402859

Опубликовано: 15.06.1988

Авторы: Кантере, Комраков, Кузнецова, Погосов, Хуршудян

МПК: G01N 21/41

Метки: рефрактометр

...системой 3 параллельным пучком направляется на дифференциальную кювету 4. За кюветой установлено оборачивающее на 270 излучение устройство 5, которое пов 35 торно направляет световой пучок на дифференциальную кювету 4. Повторно пучок проходит кювету в перпендикулярном направлении относительно первого прохождения. После повторного прохождения световой пучок выходит из кюветы и отклонение пучка отпервоначального положения фиксируется дифференциальным фотоприемником 6Сигнал с фотоприемника 6 поступает визмерительную систему 7, а результатизмерения выводится на регистрирующее устройство 8.Дифференциальная кювета 4 содержит две полости, одна из которых за 50полнена измеряемой жидкостью, а вторая - сравнительной. Отклонение пучка...

Способ измерения длины трещин при усталостных испытаниях деталей

Загрузка...

Номер патента: 1376039

Опубликовано: 23.02.1988

Авторы: Комраков, Рыбник

МПК: G01N 29/04

Метки: длины, испытаниях, трещин, усталостных

...Й размещают вблизи концентратора 2 радиуса К искусственно изготовленного в детали 3 с координатами у и х. Нагружают деталь 3 на испытательной машине (не показана) с растягивающей максимальной нагрузкой и регистрируют сигнал преобразователя 1, нагружают деталь 3 с растягивающей минимальной нагрузкой и регистрируют сигнал преобразователя 1 и т.д. Строят зависимости (фиг. 2) сигналов преобразователя от числа циклов нагружения при максимальной 4 и минимальной 5 нагрузках, определяют разность градиентов этих зависимостей и о моменте зарождения трещины судят по моменту отклонения кривой б от нуля (точка 7, фиг. 2). Построенный с помощью микроскопа график роста трещины показывает, что до обнаруркения трещины (длиной - 0,1-0,2 мм)...

Способ измерения параметров трещин в ферромагнитных объекта при усталостных испытаниях

Загрузка...

Номер патента: 1370538

Опубликовано: 30.01.1988

Авторы: Комраков, Рыбник

МПК: G01N 27/82

Метки: испытаниях, объекта, параметров, трещин, усталостных, ферромагнитных

...состояния материала. Нагружают образец циклической нагрузкой, измеряют максимальные значения сигнала вихретокового преобразователя 25 при максимальнрй и минимальной циклических нагрузках, определяют их разность и по знаку разности - тот или иной критерий оценки длины трещины, 30П р и м е р. Два образца испытывают на пульсаторе "Амслер" по схеме чистого изгиба при асимметричном цикле нагружения. Разрушение образцов контролируют оптической приставкой.В процессе испытаний получена за" висимость изменения относительной величины сигнала (отношение текущего значения сигнала к его максимальному 40 значению в процессе циклического наг. ружения) от числа И циклов нагрузки для максимального и минимального значений нагрузки. Эта зависимость...

Интереферометр для контроля формы вогнутых эллиптических поверхностей

Загрузка...

Номер патента: 1370453

Опубликовано: 30.01.1988

Авторы: Гусев, Комраков

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: вогнутых, интереферометр, поверхностей, формы, эллиптических

...отражается и частично проходит через выходную грань. Отраженный пучок используется в качестве эталонного пучка сравнения. Вышедший иэ кубика 6 световой пучок отражается от контролируемой поверхности 12, выпуклой зеркальной поверхности концентрической линзы 10 и повторно от контролируемой поверхности 12. Этот световой пучок несет в себе информацию об ошибках Формы контролируемой поверхности 12 и образует с эталонным пучком сравнения интерференционную картину в виде концентрических колец. Так как световые лучи дважды отражают. ся от контролируемой поверхности 12 в точках, симметричных относительно ее вершины, то одно интерференционное кольцо соответствует симметричной ошибке, равной/4. При визуальной оценке кольцевои интерференционнои...

Логарифмирующий фотометр

Загрузка...

Номер патента: 1362947

Опубликовано: 30.12.1987

Авторы: Комраков, Кузнецова, Локоть, Погосов, Хуршудян

МПК: G01J 1/44

Метки: логарифмирующий, фотометр

...направляется на фотоприемник 7, Электрический импульсный сигнал с Фотоприемника 7 усиливается с помощью предварительного . усилителя 8 и логарифмируется логарифматором 9. Прологарифмированный сигнал поступает на синхронные детекторы. Если свет проходит через измерительную кювету,. то измерительный сигнал поступает на первый синхрон 2947 2ный детектор 10, на управляющий входкоторого в этот момент поступает сиг"нал синхронизации. Оптический коммутатор 2 перекрывает световой поток ипропускает его через сравнительнуюкювету 5 и сигнал поступает на второйсинхронный детектор 11, При этом навыходе первого вычитающего устройст ва 13 формируется информационный сигнал; Цо П, = А (Т) К 1 я -х1 г гдеА(Т) - температурный коэфФициентлогарифматора;К -...

Функциональный усилитель

Загрузка...

Номер патента: 1356195

Опубликовано: 30.11.1987

Авторы: Данилов, Комраков, Черняк, Чистяков

МПК: H03F 1/32

Метки: усилитель, функциональный

...на "идеальных диодах" 5.Функциональный усилитель работаетследующим образом.20Сигнал промежуточной частоты поступает на вход устройства и усиливается в усилителях 1, имеющих уровеньограничения выходного сигнала равный,например, 10 В. Коэффициент передачи 251 масштабного делителя выбран равным1,2 масштабного делителя - 0,1,3 масштабного делителя - 0,01 и т,д,При минимальном входном сигналевыходное напряжение Н-го усилителя 1выбрано равным 1 В, что обеспечиваетполучение на выходе устройства при0=4 постоянного напряжения, равного1 мВ, так как коэффициент передачиБ-го диода 5 равен 1.35По мере увеличения сигнала промежуточной частоты выходное напряжениеустройства увеличивается. Когда выходное напряжение Б-го усилителя достигает 10 В, этот...

Интерферометр для контроля формы сферических поверхностей

Загрузка...

Номер патента: 1343242

Опубликовано: 07.10.1987

Авторы: Волков, Комраков, Савельев

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02, G01B 9/08 ...

Метки: интерферометр, поверхностей, сферических, формы

...в точку Р задний фокус эонной пластины, который совмещен с передним фокусом Р, первого объектива 7. На второй объектив 8 падает плоская волна 0-го порядка от зонной пластины 6 (рабочая волна) и плоская волна, выходящая из первого объектива 7, используемая как опорная волна сравнения. Объектив 8 фокусирует обе волны в1свой задний фокус Г 1, который совмещен с центром С, кривизны контролируемой сферической поверхности 10 детали 11, и поэтому на контролируемую поверхность 10 обеспечивается падение световых лучей вдоль нормалей.55 менять одну контролируемую деталь надругую. Небольшие смещения вдольустановленной детали не вносят заметных искажений в интерференционнуюкартину. Это позволяет применять инАпертура объектива 8...

Фотометрический анализатор

Загрузка...

Номер патента: 1332153

Опубликовано: 23.08.1987

Авторы: Карабегов, Комраков, Кузнецова, Погосов, Хуршудян

МПК: G01J 1/10

Метки: анализатор, фотометрический

...ключ 26 и токовый импульс питания поступает на первый источник 3 света. При втором импульсе регистр 30 размыкает ключ 26 и замыкает второй ключ 27, что 55 подключает второй источник 4 света кблоку 1 питания. Аналогичным образомьосуществляется подключение третьего8 и четвертого 9 источников светачерез соответствующие ключи 28 и 291.3коммутатора 2. Далее цикл повторяется.Первый импульс от устройства 25, поступив на сдвиговый регистр 35, замыкает первый ключ 31 коммутатора 19, что подключает первое запоминающее устройство 20 к выходу делктельного устройства 18. Последующие импульсы через ключи 32 - 34 соответственно подключают запоминающие устройства 21 - 23, после чего цикл повторяется.Собственно измерения осуществляются следующим...

Устройство для приема информации с рассредоточенных объектов

Загрузка...

Номер патента: 1290391

Опубликовано: 15.02.1987

Авторы: Комраков, Морин, Хлобыстов

МПК: G08C 19/28

Метки: информации, объектов, приема, рассредоточенных

...относится к омеханики и может найти прим леметрических системах, автоматизированных системах управления и в аппаратуре передачи данных. Цель изобретения - упрощение устройства. Для достижения поставленной цели выходы генератора 1 тактовых импульсов высокой частоты соединены с входами распределителя 2, блока 5 памяти заявок и блока 6 памяти, выходы блоков 9 приема и контроля подключены к первому входу блока 6 памяти. В устройстве в А раз сокращается количество блоков 6 памяти и отпадает необходимость в делителе частоты. 1 ил., (.ТРИИСТБИ СИ,РРЖНТ СНСРЯТОРГ(КТ);БЫ.( ПМ ХХЗЬСИБ, РсС;РЕЛЕЛИтГЛЬ 2)СПифРЯтио чь игок 4 ит 00031 ксния и 1ИР)1110,1;)1 с 5 и;)мЯР зЯЯВОК, б.ок Р) 1:см 1 и 11 1,КЯЖЯИ) ИнфО 1 МЯ ПИОН НИМ Кс 1 пс 1 С )1нсйпыи блок...

Фотометрический анализатор состава гальванических ванн

Загрузка...

Номер патента: 1276961

Опубликовано: 15.12.1986

Авторы: Карабегов, Комраков, Кузнецова, Погосов, Хуршудян

МПК: G01N 21/31

Метки: анализатор, ванн, гальванических, состава, фотометрический

...жидкость,50Свет при прохождении через измеряемую жидкость поглощается в соответствии с законом Бугера-Ламберта-Бэра. Линза Фокусирует световой пучокна вход световода 10, который подает его на первый фотоприемник 7,Часть пучка попадает на второй. Фотоприемник 8. На выходах фотоприемников 7 и 8 возникают сигналы, которые поступают на измерительное устройство 14.Значение концентрации (уровня сигнала) запоминается в измеритель" ном устройстве 14. Устройство управления 15 дает следующий сигнал, который переводит устройство переключателей в такое состояние, что источник излучения 1 отключается от блока питания 13, а второй источник излучения 2 подключается. Второй интерференционный фильтр 6 выбирается таким образом, что длина волныне...

Фотометр

Загрузка...

Номер патента: 1236323

Опубликовано: 07.06.1986

Авторы: Карабегов, Комраков, Кузнецова, Погосов, Хуршудян

МПК: G01J 1/04

Метки: фотометр

...малую камеру сравнительнойкюветы 8. Растворитель, параметрыкоторого могут меняться в процессеизмерения, через большую камеру кюветы 8 поступает в малую камеру кюветы . Излучение от источникачерез оптическую систему 3 направляется на интерференционный фильтр 5 и далее проходит рабочую кювету 7, с выхода которой излучение по свето- воду 9 проходит через первый коллектор и попадает на первый фотоприемник 12. Аналогично излучение от источника 2 проходит оптическую систему 4, интерференционный фильтр 5, сравнительную кювету 8, второй световод 10, общую часть первого коллектора и попадает на первый фотоприемник 12. Излучение первого 1 и второго 2 источников излучения последовательно прерываются модулятором 6.Синхронирующее устройство 17 и...