Способ определения оптических констант одноосных кристаллов
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Заявка
2064982, 30.09.1974
КИШИНЕВСКИЙ ОРДЕНА ТРУДОВОГО КРАСНОГО ЗНАМЕНИ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ ИМЕНИ В. И. ЛЕНИНА
МУШИНСКИЙ ВАЛЕРИЙ ПЕТРОВИЧ, БРОДИЧКО ДМИТРИЙ ОРЕСТОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01B 9/02
Метки: констант, кристаллов, одноосных, оптических
Опубликовано: 15.12.1975
Код ссылки
<a href="https://patents.su/1-495525-sposob-opredeleniya-opticheskikh-konstant-odnoosnykh-kristallov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения оптических констант одноосных кристаллов</a>
Предыдущий патент: Устройство для измерения линейных размеров
Следующий патент: Зеркальная марка
Случайный патент: Прибор для измерения толщины ткани, высоты и сминаемости ворса