Патенты с меткой «плоскопараллельности»

Устройство для контроля плоскопараллельности непрозрачных деталей

Загрузка...

Номер патента: 451904

Опубликовано: 30.11.1974

Авторы: Дзюбенко, Паранюк, Шевцов

МПК: G01B 11/24

Метки: непрозрачных, плоскопараллельности

...позиционнофщчувствительный фотопрйемник 11, точечную диафрагму 12 источника,: конденсор 13,источник 14 света, электронную схему 15 измерений и блок 16 документирования результатов измерений.Фотоприемник 1 1 и Фочечная диафрагма 12 установлены в фокальных плоскос . тях объектива .9.Диски 4, 5 механизма модуляции имеют различное количество прозрачных щелей, поэтому при одинаковой угловой скорости вращения они модулируют свето. вые потоки с различными частотами КИспытуемая деталь 1 крепится в узле 2 между дисками 4, 5 механизма модуляции таким образом, что нормали кконтролируемым поверкностям А и Бприблизительно параллельны оптической оси б,объектива 9 фотоэлектрического угломераСветовой поток источника 14 светапри помощи конденсора 13...

Устройство для контроля толщины и плоскопараллельности кристаллических пластин

Загрузка...

Номер патента: 500466

Опубликовано: 25.01.1976

Авторы: Домышев, Садохин, Скоморовский

МПК: G01B 11/06, G01B 11/24, G02B 27/28 ...

Метки: кристаллических, пластин, плоскопараллельности, толщины

...непосредственно технике, предназначено для контроля толщи на полироввпьнике, ны 0 плоскопвраллельности кристаллических Для этого предлагаемое устройство снабь. пластин и,может использоваться в проиэводст жено кристаллическим клином, установленньм ве, занятом Изготовлением интерференпионно 5 зв объективом коллиматора перед лолирова ,поляриэационных фильтров.ником, и нлоским зеркалом, закрепленнымИзвестно устройство для контроля нлосв иолироввльнике так, что плоскость зе квла наклонена к оптической оси объектива Копарвллельных пластин, содержащее источ, коллиматорв на угол, обеспечивающий ник монохроматического света, точечную диафр у, обеспечивающий рвзвФ- ,рагму, объектив коллимвтора; пробное стек,6 дение иэображений точечкой див вгмы...

Интерференционный способ контроля плоскопараллельности концевых мер длины

Загрузка...

Номер патента: 545854

Опубликовано: 05.02.1977

Авторы: Гиржман, Густырь

МПК: G01B 9/02

Метки: длины, интерференционный, концевых, мер, плоскопараллельности

...меры 8, а с помощью блока зеркал 9 и 10 правую поверхность меры. После отражения все пучки света поступают в объектив 4 и полупроз 1 рачной пластиной б направляются в наблюдательную систему 11, состоящую из откидывающейся отрицательной линзы и зрительной трубы небольшого увеличения. Интерференцпонные зеркала б и7 со светоделительными покрытиями, нанесенными по всей площади пластин, смещены относит;льно оптической оси интерферометра. Это позволяет осветить обе измерительные поверхности меры и получить три интерференционные картины; две - в зазорах междуповерхностями мер и отражающими поверхностями интерференпионных зеркал,и одну - в промежутке между интерференционными зеркалами,Контро.ь плоокогара;лельносги производится следующим...

Способ получения плоскопараллельности рабочей поверхности кольца торцового уплотнения

Загрузка...

Номер патента: 811932

Опубликовано: 10.11.2005

Авторы: Коротов, Франк

МПК: F16J 15/34

Метки: кольца, плоскопараллельности, поверхности, рабочей, торцового, уплотнения

Способ получения плоскопараллельности рабочей поверхности кольца торцового уплотнения, включающий монтаж кольца в приспособление, нагружение усилием с предварительной деформацией, обработку и контроль, отличающийся тем, что, с целью упрощения процесса, монтаж кольца производят в имитатор уплотнительного узла, а нагружения производят изгибающим моментом, соответствующим рабочему.