Патенты с меткой «одноосных»

Номер патента: 47905

Опубликовано: 31.07.1936

Автор: Фишман

МПК: B63C 3/12

Метки: глубины, мелких, носовой, одноосных, перевозки, погружения, прицепок, судов, части

...шарнирно с нею связанных.Система рычагов состоит из рычага 10, соединенного при помощи шарнирного валика 71 с проушинами 12 опорной доски 8, По верхнему строганому одно- тавровому профилю рычага 10 движется как по направляющей башмак 13, шарнирно связанный валиком 14 с проушиной нижнего конца рычага 15, Верхний конец рычага 15, снабженный ползуном 5, движущимся в прорезе 4 основной плиты, имеет пружинную рукоятку 7 со стопором 20. При перемещении верхнего конца рычага 15 при помощи рукоятки рычаг вращается вокруг шарнирной оси 1 б, соединяющей его с рычагами 17 и 17 а, верхний конец которых закреплен на шарнире 18 к основной плите 3, а нижний при помощи замка и шарнира 19 соединен с верхним концом рычага 1 О.При перемещении ползуна 5...

Номер патента: 78221

Опубликовано: 01.01.1949

Автор: Пехов

МПК: G01L 1/04, G01N 3/08

Метки: бетоне, напряжений, одноосных

...перфорирозаны по всей поверхности.Нижний торец образца 4, непосоедственно примыкает к общей массе бетона 3, верхний торец прикрыт штампом б, нагружаемым при помощи пневматической или гидра 1 О Сао,т Выпуск 1, часть 11, 1 ЫО г. влической коробки 7, закрепленной в торцевой части кожуха и связан. ной соединительной трубкой 8 с на. гружающим устройством, давление в котором измеряется манометром.Давление на торце образца под держивается таким, чтобы деформации, регистрируемые заложенным в образец тензометром 2 были все время одинаковыми с деформациями, показываемь 1 ми рабочим тензометром 1. Тогда замеренноедавление на образец будет равно напряжению в бетоне в данной измерительной точке в направлении оси прибора.Предмет изобретения 1....

Номер патента: 456612

Опубликовано: 15.01.1975

Автор: Оганесян

МПК: A61B 5/10

Метки: одноосных, суставов, центроискатель

...сустава, например, посредством ремней.На чертеже показан предлагаемый центро- искатель для одноосных суставов, общий вид, 20Центроискатель содержит опознавательные метки, выполненные в виде двух сетчатых металлических пластинок 1 и 2, закрепленных с латеральной и медиальной сторон сустава посредством ремней 3 и 4. Пластинка 1 имеег 25 квадратные ячейки 5, а пластинка 2 - круглые ячейки б.Центроискатель перед рентгеновским снимком надевают и закрепляют на область конечности, через которую проходит ось вращения 30 сустава, например на плечо в области нижней трети, так, чтобы пластинки 1 и 2 находились на уровне мыщелков плечевой кости параллельно одна другой. В таком положении производится рентгенограмма в строго боковой проекции, а...

Номер патента: 495525

Опубликовано: 15.12.1975

Авторы: Бродичко, Мушинский

МПК: G01B 9/02

Метки: констант, кристаллов, одноосных, оптических

Номер патента: 502433

Опубликовано: 05.02.1976

Авторы: Войтович, Метельский, Прокопов

МПК: H01S 3/12

Метки: кристаллов, направления, одноосных, оптической, оси

...излучение, прошедшее черезанализатор, регистрируют фотоприемником,15 сигнал с которого подают на регистрирующийприбор, Вращая анализатор, определяют направление колебаний электрического векторагенерируемой волны, Если в качестве отражателя используют одноосный кристалл, ко 20 торый имеет в области частот генерации ОКГкоэффициент отражения для обыкновенноголуча больший, чем для необыкновенного, тонаправление колебаний электрического вектора генерируемого излучения всегда будет пер 25 пендикулярно плоскости, в которой лежит оптическая ось кристалла,Если же используют кристалл, для которого коэффициент отражения для обыкновенного луча меньше коэффициента отражения30 для необыкновенного луча, то колебания562433 Формула...

Номер патента: 989403

Опубликовано: 15.01.1983

Авторы: Молочников, Морозов

МПК: G01N 21/41

Метки: главных, кристаллов, одноосных, показателей, преломления

...на поверхность кристал-ла, выделяют два луча, идущих подразличными углами, после отраженияот кристалла лучи разводят по двумканалам, измеряют коэффициент отражения кристалла в каждом канале и поизмеренным коэффициентам отражениявычисляют искомые покаэател и преломления исследуемых кристаллов,после разведения по двум каналам отраженные лучи одновременно поляризуютв ортогональных направлениях.На фиг, 1 показана принципиальнаясхема устройства, реалиэуюцего данный способ; на фиг. 2 - зависимостьзначений коэффициентов отражения(К) от показателя преломления (и) дляразличных значений угла падения 8.Оптическая схема устройства содержит осветительную систему 1, диафрагму с двумя щелями 2, снабженнымимеханизмом изменения расстояния...

Номер патента: 1019380

Опубликовано: 23.05.1983

Авторы: Епанчинцев, Нюнько, Силантьев, Шелухин

МПК: G01R 33/05

Метки: дефектов, магнитных, одноосных, пленок, плотности, ферромагнитных

...работает следующим образом.Метод измерения основан на движении изолированной доменной стенки образца материала в градиенте поля подмагничивания. Наблюдение страйп-доменной структуры проводится с помощьюмагнитооптического эффекта фарадея.С помощью блока 1 формированияградиентного магнитного поля на образце 2 создается изолированная доменнаястенка, Пучок света с источника света3 проходит через поляризатор 4, образец 2, анализатор 5 и попадает на фотокатод передающей телевизионной камеры 6, С выхода камеры 6 видеосигнал от гребенки страйп-доменов образца 2 усиливается и формируется усилителем-формирователем 9. Усилитедьформирователь 9, синхронизируемый импульсами с синхрогенератора 11, устраняет неравномерность фона видеосигнала,...

Номер патента: 1310706

Опубликовано: 15.05.1987

Авторы: Железнов, Журавский, Кузнецова, Левитанский, Федоров

МПК: G01N 27/72

Метки: изделиях, напряжений, одноосных, стальных

...а второй магнитопровод - измерительную катушку 5 индуктивности.Способ осуществляют следующим 35образом.При подаче напряжения на намагничивающую катушку 4 возникает магнитный поток, который, проходя черезвоздушный зазор, замыкается по трем 40направлениям: часть потока проходитчерез намагничивающий магнитопроводои металл Р 45 , а магнитные потокиР и Д проходят через намагничивающий магнитопровод, зазор, металл и 45измерительный магнитопровод, Приэтом Р - магнитный поток, направленный вдоль приложенного к двутавруусилия, Ф - магнитный поток, направленный перпендикулярно к приложенному усилию,Магнитный поток Р 45 не замыкается через измерительный магнитопровод, а магнитные потоки Уи Р протекают через измерительный магнитопровод...

Номер патента: 1401295

Опубликовано: 07.06.1988

Автор: Макаров

МПК: G01L 1/12

Метки: конструкций, напряжений, одноосных, ферромагнитных, элементах

...элемента создают дополнительные напряжен н Г например, путем местного изгиба), соос. н 11 е с искомыми, уровень которых контролйруют по величине относительных деформ ций поверхности элемента, измеряемых те зопреобразователем. Измеряют соответст ующее изменение сигнала на выходе электр 1 омагнитного преобразователя,По результатам измерений рассчитывают з ачение магнитоупругой чувствительности.3 тем оба преобразователя поворачивают в круг своей оси на 45 и создают в исследуем й области дополнительные напряжения, с сные с линией, ориентированной под угл м 45 к линии действия искомых напряжений (например, с помощью кручения).По результатам измерений соответствующих изменений сигналов на выходах преобразователей рассчитывают второе...

Номер патента: 1414683

Опубликовано: 07.08.1988

Авторы: Исаев, Коваль, Лапковский, Ласикова, Протасов

МПК: B60P 3/07

Метки: крепления, одноосных, прицепов, средстве, транспортном

...О ва открыта; на фиг.2 - вид А на фиг.1.Устройство содержит замки 1 для охватывания элементов задних частей прицепов, жестко закрепленные на платформе 2 транспортного средства, ,кронштейны 3, присоединенные шарнир;но на оси 4 к раме 5 транспортного средства. К кронштейну 3 жестко присоединен шаровой палец 6, а упомянутый кронштейн снабжен фиксатором 7 положения. Закрепляемый прицеп 8 имеет сцепное устройство 9 и задние дуги 10, Пунктиром показано положение кронштейнов 3, в которое они ус танавливаются при погрузке на транспортное средство других грузов и обеспечения удобства погрузки прицепов.Устройство работает следующим образом. ЗОПрицеп 8 закатывают на транспортное средство. Приподнимая сцепное устройство 9 вверх, заводят заднюю...

Номер патента: 1469398

Опубликовано: 30.03.1989

Авторы: Кириченко, Смирнова, Харьковский, Черпак

МПК: G01N 22/00

Метки: диэлектрических, кристаллах, одноосных, оптической, ориентации, оси

...волновода или металлического волновода с продольной щелью), источ ника 2 СВЧ, соединенного с волноводом 1 через блок 3 развязки, выход волновода 1 соединен через последовательно включенные волновод 4 и детектор 5 с индикатором б, Цилиндри ческий образец 7, вырезанный из исследуемого одноосного диэлектрического кристалла, установлен около волновода 1 с возможностью вращения вокруг своей геометрической оси 8 и оси 9, перпендикулярной оси 8 и продольной оси волновода 1, причем расстояние между боковой поверхностью цилиндрического образца 7 и волновода 1 меньше длины волны в свободном пространстве.Устройство для определения ориентации оптической оси в одноосных диэлектрических кристаллах основано на том, что резонаторы в виде...

Номер патента: 1562955

Опубликовано: 07.05.1990

Авторы: Линник, Прудников

МПК: G11C 11/14

Метки: границ, доменных, насыщения, одноосных, пленках, скорости, ферритов-гранатов

...больше поля зрения микроскопа. Заштрихованный круг радиуса К отображает контрастное круговое пятно, возникающее в поле зрения при воздействии на пленку заданных магнитных полей,О Устройство работает следующим образом.Исследуемую пленку 5 (Фиг.1) осве щают поляризованным светом, и ее доменную сруктуру наблюдают в микроскопе 8. Током в катушке 6 создают перпендикулярное плоскости пленки постоянное магнитное поле смещения 25 Н , напряженность которого находится в области существования ЦИД для данной пленки (между полем коллапса ЦМД и полем эллиптической неустойс чивости). Током в кольцевой аппли кации(Фиг.1 и 2) периодически создают импульсыстирающего поля смещения Н 1 , направленного вдоль постоянного магнитного поля смещения Н сй,...

Номер патента: 1587363

Опубликовано: 23.08.1990

Авторы: Ковицкий, Осиповский

МПК: G01M 7/00

Метки: испытаний, колесных, одноосных, прицепов, стенд

...- то же, 10 вид сверху.На опорной плите 1 стенда установлены гидропульсаторы 2 и 3, штоки которых через шарниры соединены с опорными площадками 4 и 5 колес прицепа 6. На оси 7, 15 укрепленной на станине 1 стенда через подшипники траверс 8 и 9, нижние концы траверс соединены с опорными площадками 4 и 5, Дышло прицепа 6 через шарнирное устройство 10 прицепа соединено со стой кой 11 стенда. Подшипники 12-21 имеют одну степень свободы,Стенд работает следующим образом.На основании результатов количественной оценки дорожных условий эксплуа тации прицепов определяют следующие параметры программы нагружения дышла и колес прицепа. Определяют средний коэффициент сопротивления движению. на различных типах покрытий 1 с учетом спусков и ЗО подъемов,...

Номер патента: 1624544

Опубликовано: 30.01.1991

Авторы: Ваньков, Зюзин

МПК: H01F 10/24

Метки: анизотропии, одноосных, поля, ферромагнетиках, эффективного

...пленки, то1 г К (у(св)ра = К- ",Р) 20М 1- Нфф/Нпа 22 1-юфан,.1Пленка как в первом, так и во втором случае остается параллельной внешнему квазистатическому полю.Сопоставляя (21 и (3), можно полунить 25 выражение для НН ьф к = -2 - ф. (4)Таким образом, регистрируя интенсивность линии ферромагнитного резонанса ЭО (ФМР) при двух различных ориентациях, но при прочих идентичных экспериментальных условиях, можно по полученным интенсивностям и резонансному полю при параллельной ориентации определить значение З 5 эффективного поля одноосной анизотропии, Зная Нфк и Нр, легко рассчитать значение гиромагнитного отношения у.П р и м е р. Испытания проводились на семи образцах. 40Измерения интенсивностей линии ФМР при перпендикулярной и параллельной...

Номер патента: 1712212

Опубликовано: 15.02.1992

Авторы: Андреев, Крашенинников

МПК: B60P 3/07

Метки: вагоне, железнодорожном, одноосных, пакетирования, прицепов, транспортирования

...является полное использование обьемажелезнодорожного вагона.На фиг; 1 изображен штабель прицепов, общий вид; на фиг. 2 - то же, вид сбоку; на фиг, 3 - узелна фиг, 2Способ пакетирования одноосных прицепов для транспортирования в железнодорожном вагоне реализован следующим образом.На нижний прицеп 1, расположенный ходовой частью вниз. устанавливают в перевернутом положении ходовой частью вверх средний прицеп 2 таким образом, чтобы он был уложен на кузов нижнего прицепа 1, а тягово-сцепное приспособление было направлено в протйвоположную сторону, При этом их взаимное положение фиксируют посредством фиксатора З,.который через прокладки 4 устанавливают в отверстия кронштейнов 5, расположенных в совмещаемых прицепах 1 и 2. На второй...

Номер патента: 1741035

Опубликовано: 15.06.1992

Авторы: Алексеев, Гайфуллин, Сизова, Тихонов

МПК: G01N 24/10

Метки: кристаллов, кристаллографической, направления, одноосных, оси, парамагнитных

...Затем поворачивают кристалл вокруг оси, параллельной вектору индукции СВЧ-поля Щс), одновременно детектируют сигнал ЭПР и фиксируют положение кристалла, при котором интенсивность этого сигнала минимальна. В последнем положении реализуется одна из двух возможных ориентаций кристаллографической оси; параллельно или перпендикулярно вектору индукции Во (т,е. параллельно или перпендикулярно к плоскостям полюсных наконечников магнита спектрометра (ЭПР).Для уточнения направления кристаллографической оси необходимо, не нарушая достигнутой таким образом ориентации кристалла, ориентировать вектор индукции модулирующего низкочастотного поля параллельно вектору индукции статического магнитного поля, т.е. создать новую супер; позицию магнитных...

Номер патента: 1770849

Опубликовано: 23.10.1992

Авторы: Войтукевич, Лапицкий, Лившиц

МПК: G01N 21/45, G03H 1/00

Метки: кристаллов, одноосных, оптически, ориентации, прозрачных

...монохроматическим когерентным излучением. обеспечивающее достижение положительного эффекта - повышение точности определения ориентации оптической оси кристалла, Следовательно, заявляемыйспособ ориентации одноосных оптическипрозрачных кристаллов представляет собой новую совокупность признаков как сочетание известных признаков и нового технического свойства, что позволяет признать его соответствующим критерию "существенныеотличия",На чертеже представлена оптическая схема устройства, реализующего предлагаемый способ,Схема устройства содержит источник 1монохроматического плоскополяризованного когерентного излучения, двухосевой20 гониометр 2, исследуемый кристалл 3, систему 4 сбора оптической информации и оптический регистратор 5.Процесс...

Номер патента: 1292464

Опубликовано: 20.12.2005

Авторы: Вавуленко, Лифшиц

МПК: G01R 33/05

Метки: дефектов, магнитных, одноосных, пленок, плотности, ферромагнитных

Устройство для измерения плотности магнитных дефектов одноосных ферромагнитных пленок, содержащее оптически последовательно расположенные источник света и поляризатор, оптически последовательно расположенные анализатор и передающую телевизионную камеру, усилитель-формирователь, видеоусилитель, синхрогенератор и видеоконтрольное устройство, вход которого через видеоусилитель подключен к выходу усилителя-формирователя, первый и второй входы которого соединены соответственно с передающей телевизионной камерой и первым выходом синхрогенератора, а также блоки перемещения X и Y, графопостроитель, первый одновибратор, счетчик и блок индикации, вход которого через счетчик соединен с выходом...