Патенты с меткой «децентрировки»

Оптический прибор для определения величины децентрировки круговых шкал

Загрузка...

Номер патента: 111263

Опубликовано: 01.01.1957

Авторы: Ряполов, Финкельштейн

МПК: G01B 11/275

Метки: величины, децентрировки, круговых, оптический, прибор, шкал

...ГВО- дятся изображеция дву; диаметряльцо противоположцык п(триксв ц 1 кяы, сов 5 спсеццы.: при 1 Зч(ле работы. При цяличии децецтрировкц все Остальные пары диаметрально расположенных штри:сов поворачиваемой икалы совме(ца)отся у дру; оп точк 1 ливии раздела. Име(оц(ийся в поле зреция микроскоца подвижной биссектор позволяет определить расстояние между крайними ЦО,1 ОЖ.Ц 51:)И СОВМЕЬЦЕННЬ. В ЦО.)с ;)ециЯ (цт 1) и ;ОВ, кото)ое Р)внс дВОЙ- Ному ксцецтриситету шкалыЪ строЙСТВО описываемого присора показно и; чертеже.Прибор состо(п цз лимба 1, цснтрируемого с осНо, источник осве(цени 51 2, светофильтра 3, п,)измы 4 с полупрозрачным слоем в гипотенузной плоскости, призм 5 и 6, линзы 7 проектиру)оц 1 ей, призмьразделцте;1 ной, 11 икроскопа 9,...

Интерферометр для измерения децентрировки оптических систем

Загрузка...

Номер патента: 1062513

Опубликовано: 23.12.1983

Авторы: Иванова, Кирилловский, Маларев

МПК: G01B 9/02

Метки: децентрировки, интерферометр, оптических, систем

...- в виде осветителя и щелевой диафрагмы, ориентированной параллельно.штрихам решетки.На чертеже показана принципиальная схема интерферометра для измерения децентрировки оптических систем,Интерферометр содержит источник 1 излучения, держатель 2, расщепитель 3 излучения, регистратор 4 интерференционной картины и привод 5. Измеряемая оптическая система б закрепляется в держателе 2, Источник 1 излучения может быть выполнен, например, в виде осветителей и целевой диафрагмы, а расцепитель 3 излучения - в виде дифракционнорешетки. Привод 5 механически связан с держателем 2 и предназначен дляпроворота держателя 2 вокруг оптической оси интерферометра.Устройство работает следующим образом.Излучение от источника 1 проходит измеряемую оптическую...

Фотоэлектрическое устройство для контроля децентрировки линз и объективов

Загрузка...

Номер патента: 1254335

Опубликовано: 30.08.1986

Авторы: Айсин, Заболотский, Подобрянский, Хлебников

МПК: G01M 11/00

Метки: децентрировки, линз, объективов, фотоэлектрическое

...пятно на экрано-чувствительного фотоприемника 8 ции 14 будет неподвпоступают в блок 9 выделения инфор координат,мационных сигналов, в котором формн- Если ось круговоруются сигналы каналов Х и У, пропор- смещена из центра кциональные разности электрических рической поверхностсигналов с 1-111 и 11-1 Ч квадрантов выходов дифференциалкоординатно-чувствительного фото 2010 и 11 каналов Х иприемника 8, и сигнал канала фоку- блок индикации 14, исировки, пропорциональный сумме сиг- на экране блока индиналов с четырех квадрантов. на расстояние пропо 25 Спектр сигнала на выходе координатно-чувствительного фотоприемника 8 имеет два вида составляющих: низкочастотные составляющие, обусловленные круговым сканированием изображения точечной...

Способ контроля децентрировки элемента оптической системы

Загрузка...

Номер патента: 1290122

Опубликовано: 15.02.1987

Авторы: Айсин, Заболотский, Подобрянский, Федчук, Хлебников

МПК: G01B 11/26, G01M 11/00

Метки: децентрировки, оптической, системы, элемента

...пучки лучей в обратном ходе с помощью фокусирующего объектива 6, коллимирующего объектива 5, светоделительного элемента 4 строят изображение точечной диафрагмы 2 в плоскости диафрагмы 7 фотоприемника, за которой установлен координатно-чувствительный фото- приемник 8. Апертурная диафрагма 3 ограничивает пучки лучей, проходящие в коллимирующий объектив 5. Узловая точка фокусирующего объектива 6 смещена относительно его оси вращения и оптической оси коллимирующего объектива 5. При вращении фокусирующего объектива 6 приводом 13 расфокусированное изображение точечной диафрагмы 2 описывает по поверхности координатно-чувствительного фотоприемника 8 окружность.На выходе блока 9 выделения информационных сигналов формируются два 1 сигнала, каждый...

Интерференционное устройство для контроля децентрировки линзы

Загрузка...

Номер патента: 1345054

Опубликовано: 15.10.1987

Авторы: Елисеев, Контиевский

МПК: G01B 9/02

Метки: децентрировки, интерференционное, линзы

...90, Призменный блок 8, 9 установлен одной из свободных граней кубпризмы 8 параллельно маске 7, причем ребра прямь.х углов призм 9 пересекают соответственно оптическую ось объектива б и ее зеркальное изображение, образуемое светоделительной граньюкуб-призмы под углами 90". Окуляр 10расположен на пути пучка, выходящегоиз куб-призмы 8 со стороны его второй свободной грани, таким образом,1что передняя фокальная плоскость окуляра посредством призменного блокаоптически сопрягается с плоскостьюмаски 7.Устройство работает следующим образом.При включении лазера 1 световойпучок через светоделительное зеркало2 направляется на поверхности центрируемой линзы 4. Отраженные от поверхностей линзы 4 два когерентныхволновых фронта разной кривизны...

Интерференционное устройство для контроля децентрировки линзы

Загрузка...

Номер патента: 1497450

Опубликовано: 30.07.1989

Авторы: Елисеев, Ларионов

МПК: G01B 9/02

Метки: децентрировки, интерференционное, линзы

...контролируемой линзы 14 и, отразившись от светоделителя 2, попадают в объектив 4 . После объектива 4 пучки лучей делятся светоделительным кубиком 5 на два пучка лучей, один из которых проходит через светоделительный кубик 5, маску 6, светоделительный кубик 7 и собираются окуляром 8 наэкране 13. Второй пучок лучей отражается от светоделительной граниИнтерференционное устройства дляконтроля децентрировки линзы, са держащее лазер и последовательно установленные по ходу пучка лазера светоделитель и узел крепления контролируемой линзы, наблюдательную оптическую систему, оптическая ось кото О рой сопряжена через светоделительс осью пучка лучей лазера, включающую последовательно установленныепервый объектив, первую маску, установленную...

Коллимационный способ контроля децентрировки оптических деталей

Загрузка...

Номер патента: 1620830

Опубликовано: 15.01.1991

Авторы: Водотыка, Троицкий, Тюкова

МПК: G01B 11/27

Метки: децентрировки, коллимационный, оптических

...линзу 10 устанавливают в базировочный узел 5, Базировочный узел 5 устанавливают с возможностью смещения вдоль оптической оси устройства, Пучки лучей источника 1 света проходят через марку 2, объектив 3, отражаются от зер кала 4, проходят через контролируемую линзу 10, отражаются от зеркала бпроходят через объектив 7 и поле отражения от зеркала 8 попадают на экран 9.Контролируемая линза 10 формирует в 30 своем заднем фокусе изображение А точки А марки 2. Базировочный узел 5 смещают вдоль оптической оси устройства в положение, при котором на экране 9 получают увеличенное изображение самой контроли руемой линзы 10. Затем контролируемую линзу 10 смещают в плоскости, перпендикулярной оптической оси уСтройства, в положение, при котором...

Способ контроля децентрировки оптических поверхностей и устройство для его осуществления

Загрузка...

Номер патента: 1643973

Опубликовано: 23.04.1991

Авторы: Кисляков, Метелкин, Носов, Якимов, Янковский

МПК: G01M 11/00

Метки: децентрировки, оптических, поверхностей

...приобретает фазовый сдвиг, который определяется как конструктивными параметрами контролируемой оптической поверхности, так и величиной ее децентрировки. Отраженное излучение вновь проходит через объектив, который по частотному спектру восстанавливает изображение тест-объекта.Вышедшее из оптической системы излучение отражается от светоделителя 4 и формирует изображение тест-объекта в плоскости анализа фазового оптико-электронн а го и реаб разо вателя б. Если контролируемая поверхность центрирована, та ее оптическая ась совмещена с базо 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 вой осью и при вращении поверхности относительно базовой оси изображение тест- объекта в плоскости анализа остается неподвижным.При наличии децентрировки контролируемой...

Способ измерения децентрировки оптических деталей и устройство для его осуществления

Загрузка...

Номер патента: 1672206

Опубликовано: 23.08.1991

Автор: Бакеркин

МПК: G01B 11/27

Метки: децентрировки, оптических

...о положении детали 8 и объектива 2, Затем выбирают необходимую величину смещения Я плоскости фокусировки относительно вершины поверхности детали, исходя из радиусов В 1, И поверхностей оптической детали и требуемой точности измерения величины децентрирования Ь, Смещение 5 плоскости фокусировки излучения производят смещением детали 8 и объектива 2 на 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 величины Д и П, Если измерение Лпроизводить в центрах кривизны детали, то В 1+ В В 1 - В22где Д - величина смещения детали; П - величина смещения объектива; Я 1, Вг - радиусы кривизны оптической детали.С помощью экранов 6 и 7 перекрывают излучение в одном из каналов и выводят из хода излучения экран 13. На экране 11 наблюдают интерференционную картину,...

Способ измерения децентрировки асферической оптической поверхности

Загрузка...

Номер патента: 1688109

Опубликовано: 30.10.1991

Автор: Семин

МПК: G01B 11/27

Метки: асферической, децентрировки, оптической, поверхности

...оси 1-1 необходимо определение координат еще одной точки оси симметрии асфериче. ской поверхности 5,С этой целью помещают измерительный датчик в положение, при котором тест- объект 2 фокусируется в точку асферической поверхности 5, имеющую наибольшее по модулю значение аберрации нормали, и асферическая поверхность 5 достаточно точно аппроксимируется сферой радиусом, равным сагиттальному радиусу Б асферической поверхности в указанной точке, Узел 4 регистрации измерительного датчика разворачивают в плоскости, образованной осью 1-1 вращения контролируемой поверхности и оптической осью оптической системы 3, При этом значение угла 3 между осью Н и нормалью к плоскости узла 4 регистрации устанавливают из соотношенияхсов/3 = (1 - 2; )...

Устройство для контроля децентрировки линз и объективов

Загрузка...

Номер патента: 1698639

Опубликовано: 15.12.1991

Авторы: Курибко, Селезнев, Спивак

МПК: G01B 11/27

Метки: децентрировки, линз, объективов

...следующим образом, Пучки лучей осветителя 1, пройдя черезмарку 3, попадают в проекционный обьектив 4, который формирует в автоколлимационной точке контролируемой поверхностилинзы 10 изображениемарки 3, Пучки лучей,отразившись от контролируемой поверхности линзы 10, проходят через проекционныйобъектив 4, отражаются от отражателя 2, про. ходят через обьектив 5, поляризаторы 6 ипопадают на вход блока 7 регистрации, гдепроекционный обьектив 4 и обьектив 5 формируют увеличенное изображение марки 3,На выходе блока 7 регистрации (на экране монитора 9) будет увеличенное изображение марки 3. Децентрлровкаконтролируемой поверхности линзы 10(смещение центра кривизны контролируемой поверхности линзы 10 с оси ее базовойповерхности) приведет к...

Способ определения децентрировки квазиконцентрических менисков

Загрузка...

Номер патента: 1746239

Опубликовано: 07.07.1992

Авторы: Вереникина, Зубков, Мядель, Рожков

МПК: G01M 11/00

Метки: децентрировки, квазиконцентрических, менисков

...преломления мениска; У - смещение автоколлимационного изображения тест-объекта с оси оптической системы.При использовании для центрирования менисков третьего порядка (Е = 3) создают изображение точки А тест-объекта в плоскости изображения центра С 1 кривизны первой поверхности мениска= 1), Фрагмент установки, содержащей подвижный компонент объектива 4, при базировании контролируемого мениска по второй поверхности с помощью приспособления 6, 7 для случая М = 3 изображен на чертеже, где В - автоколлимационное изображение точки А 1, полученное с помощью рефлекса 3-го порядка от поверхностей мениска; С 1 - изображение центра кривизны С 1 первой поверхности через оптическую систему, состоящую иэ отражающей второй и преломляющей первой...

Устройство для контроля величины децентрировки линз

Загрузка...

Номер патента: 1779916

Опубликовано: 07.12.1992

Авторы: Васютин, Проскурякова

МПК: G01B 11/27

Метки: величины, децентрировки, линз

...8 от 5 контролируемой линзы, Отразившись отплоского зеркала, пучок лучей снова проходит через децентрированную линзу, в результате чего испытывает дополнительное отклонение а. Величина отклонения эави сит от расстояния Я между плоским зеркалом и линзой, а также от фокусного расстояния линзы 1. При расстоянии 3, меньшем 1/2 фокусного расстояния линзы, дополнительное отклонение а складывает ся из двух составляющих. Первая составляющая а 1 (фиг.1) является результатом отклонения пучка лучей, падающего на линзу под углом у на высоте ОИ от вершины линзы, и определяется по формуле20а 1=у(, +1),При любых значениях Я и 1 а 1 у,25 Вторая. составляющая а 2 является результатом отклонения пучка лучей за счетклиновидности децентрированной...

Устройство для контроля децентрировки

Загрузка...

Номер патента: 1789901

Опубликовано: 23.01.1993

Авторы: Заболотский, Земсков, Подобрянский, Сыревич

МПК: G01M 11/00

Метки: децентрировки

...- хранения. формирователь 26 короткого импульса, вход которого подключен к выходу компаратора 25, а управляющие входы интегратора22 и схемы 24 выборки - хранения подключены к выходу формирователя 10 сигналов управления,Устройство работает следующим образом.1789901 50 55 Пучки лучей от осветителя 2 собираются конденсатором 3 на диафрагме 4, которая может быть выполнена, например, в виде отверстия прямоугольной формы в непрозрачном экране, Объектив 6 формирует изображение диафрагмы 4 в автоколлимационной точке контролируемой линзы 21. Отразившись от контролируемой поверхности контролируемой линзы 18 пучки лучей проходят через объектив 6, отражаются от светоделителя 5 и пройдя через микрообьектив 7 формируют на чувствительной площадке...

Устройство для контроля децентрировки линз

Загрузка...

Номер патента: 1817843

Опубликовано: 23.05.1993

Авторы: Верещагин, Каряки, Колядинцев, Лапсарь, Мазяркин, Остапчук, Попов, Савич, Федоров

МПК: G01M 11/02

Метки: децентрировки, линз

...на фиг,За,Сигналы, снимаемые с выходов компараторов 33 и 34, соответствуют условию АВ, где А и В - числа, подаваемые соответственно на первый и второй входы, На фиг,Зв и Зс показаны сигналы на выходах компараторов ЗЗ и 34 соответственно, Логическое умножение этих сигналов на элементе И 37 дает сигнал окна по координате Х (фиг.ЗО),Таким образом, как видно из фиг,З, формируемый сигйал окна центрирован относительно наблюдаемого изображения точечного источника, Аналогично происходит формирование окна по кадру (координате У), которое обеспечивается блоками 30, 31, 35, 36 и 38.Работа точного измерителя 5 координат основана на измерении методом взвешенного суммирования координат центра тяжести наблюдаемого пятна, которое выполняет измеритель...