Шмальгаузен

Номер патента: 1793274

Опубликовано: 07.02.1993

Авторы: Аврамов, Корябин, Кузьминский, Шмальгаузен

МПК: G01J 9/02, G02B 26/00

Метки: волнового, датчик, локальных, наклонов, фронта

...возможнолишь при использованйи решетки с меньшйм периодом; что приводит к уменьшениюдиайазОна,Целью изобретения является расшире-нйе диапазонаизмеряемых локальных наклонов волнового фронта при одновременном 0сохранении точности измерений,С этой целью в датчике локальных наклонов волнового фронта, содержащим двесоосные линзы, установленную в их общейфокальной плоскости дифракционную ре- З 5шетку с периодом д и скважностью 1/2,матрицу фотоприемников, установленную взадней фокальной плоскости второй линзы,резонансные усилйтели, фазовые детекторы, опорный источник света и фотоприемник опорного сигнала; использованадвухчастотная дифракционная решетка спериодом О = М б, где й1- целое число,причем одна половина периода решеткипромодулирована...

Номер патента: 1768964

Опубликовано: 15.10.1992

Авторы: Кузьминский, Тихонов, Шмальгаузен

МПК: G01B 11/24

Метки: морской, параметров, поверхности

...изобретения является увеличение информативности путем расширения числа определяемых параметров (скорость перемещения зеркальной площадки),Это достигается тем, что морская поверхность зондируется узким, сканируемым по кругулучом, и размер области сканирования выбирается достаточно малым, чтобы в пределах ее могла присутствовать лишь одна зеркальная площадка, далее из всех наблюдаемых бликов выбираются лишь те ситуации, когда блик пересекал границы сканируемой области дважды и при этом энергетический центр светового рассеянного поля был совмещен с приемной апертурой, далее измеряют среднее число бликов и интенсивность рассеянного бликом светового поля на оси диаграммы направленности для каждого такого блика при сканировании угла...

Номер патента: 1702175

Опубликовано: 30.12.1991

Авторы: Кузьминский, Шмальгаузен

МПК: G01B 11/24

Метки: морской, параметров, поверхности

...энергетический центр каждого отражен ного блика с оптическим центром приемной оптической системы, измеряют распределение интенсивности светового поля блика и по статическим характеристикам измеряемой интенсивности восстанавливают статистические параметры морской поверхности. мого пучка зондирования. При этом алгоритм работы следящей системы обеспечивает наведение энергетического центра рассеянного светового поля на центр приемного объектива, если требуемая коррекция соответствует динамическому диапазону устройства. В тех случаях, когда последнее не выполняется, экспериментальный отсчет не производится (критерием такой ошибки является достижение максимально возможного коррекционного сигнала в канале адаптивного уравнения). По...

Номер патента: 1518664

Опубликовано: 30.10.1989

Авторы: Кудряшов, Лакота, Тихонов, Шмальгаузен

МПК: G01B 9/02

Метки: диагностический, интерферометр, стабилизированный

...выполнен в виде одночастот 1ного полупроводникового лазера, управляемого по частоте, с блоком питания, фотоприемник выполнен в виде двух фотодиодов, расположенных на одной подложке и разделенных промежутком, величина которого не более 1/8 ширины интерференционной полосы, ыход блока управления через блок пигания подключен к лазеруИзобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля профиля поверхностиоптических деталей,Цель изобретения - повышение точности измерений за счет стабилизацииинтер,:,еренционной картины с помощьюотрицательной обратной связи с большим частотным диапазоном и амплитудой 10коррек ии,На -)ертеже приведена блок-схемасдиагностического...

Номер патента: 1404811

Опубликовано: 23.06.1988

Авторы: Воронцов, Думаревский, Колобков, Малов, Наумов, Шмальгаузен

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, стабилизированный

...5. По ходу предметного пучка последовательно расположены коллимирующая линза 6 и исследуемый объект 7. По ходу опорного пучка расположено сферическое зеркало 8. По ходу совмещенных после интерференции на кубике 4 пучков размещена диафрагма 9 и фотоэлектронный умножитель 10. Выход фотоэлектронного умножителя 10 соединен с входом резонансного усилителя 11, выход которого соединен с входом фазового детектора 12. Генератор 13 через фазовращатель 14 связан с вторым входом детектора 12, Фазовый детектор 12 через интегратор 15 соединен с блоком 16 управления жидкокристаллической ячейкой 5, Выход генератора 13 связан с вторым входом блока 16, выход которого соединен с ячейкой 5.Интерферометр работает следующим образом.Световой пучок лазера 1...

Номер патента: 939934

Опубликовано: 30.06.1982

Авторы: Анчуткин, Шмальгаузен

МПК: G01B 11/00

Метки: вибраций

...пластины 3 выходят два луча, поляризованные во взаимно ортогональных плоскостях, которые коллимируются линзой 4. Таким образом, на дифракционную решетку 5 падают две плоские волны разной поляризации под некоторым углом друг к другу, На поверхности исследуемого объектива 7, рас" положенного в задней фокальной плос" кости объектива 6, реализуется распределение освещенности, представляющее собой спектры Фурье решетки 5, смещенные относительно друг друга на величину, зависящую от толщины плас 2 зо З 5 о5 5 О 55 чем излучение в каждой из укаэанных областей характеризуется разным направлением вектора поляризации,В случае объекта с шероховатой поверхностью рассеянный свет образует в плоскости решетки 5 картину, являющуюся результатом...

Номер патента: 811072

Опубликовано: 07.03.1981

Авторы: Анчуткин, Шмальгаузен

МПК: G01B 11/00

Метки: вибраций

...как известно, имеет три составляющие 0 и +1 дифракционные порядки. Для прямоугольной решетки спектр Фурье имеет много порядков. В этом случае высшие дифракциснные максимумы могут быть перекрыты с помощью диафрагмы, расположенной вблизи исследуемого объекта (на чертеже не показано). Таким образом, на рассеивающей поверхности удается реализовать распределение освещенности в виде трех световых пятен (трехлучевое освещенне), размеры и расстояние между центрами которых можно изменять, варьируя фокуснос расстояние объектива, ширину входного пучка света и период решетки. (Мокно применять также двухлучевое освещение, перекрыв диафрагмой один из 1-ых дифракционных порядков). Для рассматриваемой геометрии устройства при регистрации вибраций...