Патенты с меткой «интереферометр»

Номер патента: 1370453

Опубликовано: 30.01.1988

Авторы: Гусев, Комраков

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: вогнутых, интереферометр, поверхностей, формы, эллиптических

...отражается и частично проходит через выходную грань. Отраженный пучок используется в качестве эталонного пучка сравнения. Вышедший иэ кубика 6 световой пучок отражается от контролируемой поверхности 12, выпуклой зеркальной поверхности концентрической линзы 10 и повторно от контролируемой поверхности 12. Этот световой пучок несет в себе информацию об ошибках Формы контролируемой поверхности 12 и образует с эталонным пучком сравнения интерференционную картину в виде концентрических колец. Так как световые лучи дважды отражают. ся от контролируемой поверхности 12 в точках, симметричных относительно ее вершины, то одно интерференционное кольцо соответствует симметричной ошибке, равной/4. При визуальной оценке кольцевои интерференционнои...