Патенты с меткой «асферической»

Номер патента: 147937

Опубликовано: 01.01.1962

Авторы: Карлин, Липовецкий, Сюткин

МПК: B24B 13/02

Метки: асферической, поверхности, полировальном, станке, шлифовально

...шлифовки и полировки асферической поверх. ности осуществляется путем обработки сферической заготовки 1 сферическим инструментом 2, имеющим отличный от заготовки радиус кривизны за счет распределения работьг по зонам при помощи специально рассчитанного кулачка 3 и кинематической схемы, предусматривающей вращение верхнего звена 4 и инструмента 2 с сохранением постоянства параллельности осей,Верхнее звено 4 связано с поступательно движущимся штоком 5, На звено 4 наклеивается заготовка 1 при обработке выпуклых поверхностей или крепится сферический инструмент 2 при обработке вогнутых поверхностей.Форма кулачка 3 должна обеспечить такое распределение работы по зонам, чтобы к концу процесса снимался слой стекла, заключенный,о 147931 между...

Номер патента: 151580

Опубликовано: 01.01.1962

Авторы: Израилев, Самойлов

МПК: B24B 13/02

Метки: асферической, детали, оптической, поверхности, полирования, шлифования

...абатываемой поверхпост аптной ей поверхностью на, отдача ющееся тем, чт ения образования волн аемой внутренней (вогну оверхности, на неподвин оис чес Кнусу 3.пленных на к , на одну из ная провол сти) или ка поверхности танавливаетс подоб онусе, котоока 7 проно). Обя на дист абло вращ тыв ой п Устроиства для шлифования и полирования асферической поверхности оптической детали путем подачи абразивного вещества в зазор между обрабатываемой поверхностью детали и эквидистантной ей поверхностью неподвижного шаблона известны.Предлагаемое устройство отличается от известных тем, что па неподвижный шаблон, введенный в полость детали, натянута калиброванная проволока или капроновая нить. В процессе обработки проволока или нить совершает...

Номер патента: 219793

Опубликовано: 01.01.1968

Автор: Пур

МПК: G01B 11/24

Метки: асферической, линзы, поверхности, полированной, положительной, формы

...положительных линз, которая совместно с контролируемой асферической поверхностью дает безаберрационное изображение источника света, установленного на конечном расстоянии или в бесконечности.Предлагаемый способ отличается от известных тем, что, с целью повышения точности контроля, на сферическую поверхность линзы па время контроля наносят зеркально отражавший слой.На чертеже дана схема устройства для осуществления описываемого способа.На сферическую или плоскую поверхность 1 линзы 2 наносят зеркально отражающий слой и устанавливают точечный источник 3 света на заданном расстоянии от линзы. Оценку качества поверхности производят при помощи микроскопа 4 теневого или интерференционного устройства, При этом, если первая поверхность линзы...

Номер патента: 659366

Опубликовано: 30.04.1979

Авторы: Баранов, Горбунков, Дубин, Качанов, Лернер, Перлин, Сафонов, Щербина

МПК: B24B 13/00

Метки: асферической, поверхности

...профиль нерабочей поверхности заготовки и усилие рассчитывают таким образом, чтобы после механической обработки и снятия усилия профиль рабочей поверхности детали соответствовал заданному.На фиг. 1 изображена схема нагружения заготовки расчетным усилием; на фиг. 2 - вид рабочей поверхности после снятия этого усилия.Заготовка 1 (см. фиг. 1), на которой с нерабочей стороны выполнен специальный профиль а с низкой точностью изготовления (десятые доли миллиметра), устанавливается на эластичные прокладки 2, через которые деталь 1 соприкасается с опорой 3. Статическое усилие Р передается через эластичные прокладки 4. Эластичные прокладки предназначены для равномерного распределения усилия по контактной поверхности детали.На фиг. 2 изображена...

Номер патента: 1377252

Опубликовано: 28.02.1988

Авторы: Вишневская, Дмитриев, Первеев

МПК: C03C 23/00

Метки: асферической, поверхности

...ее воздействию на проходящую световую волну, произвольной формы, работающую в монохроматическом свете, можно адекватно заменить ее киноформом, т.е. ступенчатой структурой, которая обеспечивает скачкообразное изменение фазы проходящей волны на 2 п при переходе между зонами, и непрерывное изменение фазы в пределах каждой зоны, определяемое изменением оптической толщины материала киноформа,Однако киноформ представляет собой структуру высокой частоты и ее изготовление представляет сложную технологическую задачу (ширина зон киноформа может составлять величину в несколько мкм, на которой необходимо сформировать непрерывный профиль заданной формы).С учетом этого способ получения асферических поверхностей путем изготовления структуры,...

Номер патента: 1397723

Опубликовано: 23.05.1988

Авторы: Королев, Сенаторов

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: асферической, кривизны, поверхности

...на фиг. 3 -наблюдаемая интерференционная картина.Схема контроля содержит высокоточное плоскопараллельное эталонноепробное стекло 1, проверяемую цилиндрическую деталь 2, оптически койтактирующую со стеклом 1 по линиям 3и 4 и так дальше в процессе обкатывания по стеклу 1, и регистрирующийпРибор 5,Способ осуществляют следующим образом,Приводят контролируемую деталь 2в оптический контакт с пробным стеклом 1 и наблюдают интерференционнуюкартину между ними, по которой судят 30о кривизне контролируемой поверхности.Затем обкатывают контролируемую цилиндрическую поверхность детали 2 попроЬному стеклу 1, сохраняя оптический контакт вдоль образующей цилинд 35рической поверхности, При оЬкатке науголлиния контакта перемещаетсяиз положения 3 в...

Номер патента: 1421991

Опубликовано: 07.09.1988

Авторы: Комраков, Лазарева, Пуряев

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: асферической, линзы, поверхности, формы

...блок 1 формируетпучок лазерного излучения требуемой конфигурации, который после отражения от светоделителя 2 разделяется образцовой поверхностью пластины 3 на два пучка - объектный, который проходит через поверхность пластины 3, и опорный, который отражается от нее. Первоначально компенсатор 4 отсутствует и объектный пучок,проходит через иммерсионную жидкость 5,:контролируемую асферическую99 35 д 0 лируемой поверхностью линзы компен 45 где Ь - длина волны излучения;Х - допустимая погрешность формыконтролируемой поверхностилинзы50 вновь освещают контролируемую поверхность объектным световым пучком и регистрируют вторую интерферограмму , а корректировку интерферограммы выполняют вычитанием первой интерферо...

Номер патента: 1465266

Опубликовано: 15.03.1989

Авторы: Андронов, Каширин

МПК: B24B 1/00

Метки: асферической, детали, оптической, поверхностью

...относится к логии изготовления асферичес нии качества.Круглую заготовку оптич тали постоянной толщины ук на шаблон с обратной асфер Постепенно откачивают возд зора между шаблоном и загс деформируя таким образом з В процессе деформирования вляют шлифовку заготовки с инструментом. При этом соб венство между величиной съ ала по толщине, измеряемо заготовки, и величиной про тре заготовки, При полном тики. Цель изобретения - расширениетехнологических возможностей за счетобеспечения изготовления деталей сповьппенной асферичностью при обеспечении качества. 1)1 пифование деталипроизводят в процессе постепенногодеформирования ее по шаблону обратной асферичности с обеспечением равенства величины сьема материала потолщине, измеряемой по краю...

Номер патента: 1661603

Опубликовано: 07.07.1991

Авторы: Ермилов, Полетаев, Пуряев, Турчков

МПК: G01M 11/00

Метки: асферической, линзы, поверхности, процессе, формы

...обработанной сферической поверхностью, по.которой осуществлено ее базирование, В полой части патрона установлены источник 4 излучения, точечная диафрагма 5 и линзы б компенсатора так, чтобы в полвливается н оиэводится е окончания к я инструмент поверхности л ится микроско чку А, и на ис я питание, При рхности расчет зображения т тана ипр а обраба- обработоторой отсо стороинзы 3 к, сфокуочник 4 оотве ному знаочеч ной ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОбРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИПРИ ГКНТ СССР(56) Технология оптическихМ. Н, Семибратов М,; 1085, с,Авторское свидетельствоМ 1569639, кл, 6 01 М 11/00,ученной оптическокомпенсатора и асла исправлены сУстройство содермикроскоп 7,Устройство разомУстройство устывающем станкека заготовки, послзаготовки...

Номер патента: 1661604

Опубликовано: 07.07.1991

Авторы: Ермилов, Полетаев, Пуряев, Турчков

МПК: G01M 11/00

Метки: асферической, линзы, поверхности, процессе, формы

...процессе обработки в серийном производстве,На чертеже представлена принципиальная схема устройства, которое содержит патрон 1 с закрепленным на нем гильзой 2 с прикрепленной на смоле обрабатываемой асферической линзой 3, которая обращена к гильзе предварительно обработанной асферической поверхностью, являющейся ее базой, Линзы 4 компенсатора закреплены в полой части патрона так, чтобы в полученной оптической системе была исправлена волновая аберрация, а также обеспечивался Оно уст щем станке ботка асфе обработки о румент и со ности линз анализатор 5 зуется осеет регистрирую тические эл патроне, явл ного интерф на. Сравнивнавливается на обрабать на котором производится обраической поверхности, После т нее отводится режущий инстстороны...

Номер патента: 1688109

Опубликовано: 30.10.1991

Автор: Семин

МПК: G01B 11/27

Метки: асферической, децентрировки, оптической, поверхности

...оси 1-1 необходимо определение координат еще одной точки оси симметрии асфериче. ской поверхности 5,С этой целью помещают измерительный датчик в положение, при котором тест- объект 2 фокусируется в точку асферической поверхности 5, имеющую наибольшее по модулю значение аберрации нормали, и асферическая поверхность 5 достаточно точно аппроксимируется сферой радиусом, равным сагиттальному радиусу Б асферической поверхности в указанной точке, Узел 4 регистрации измерительного датчика разворачивают в плоскости, образованной осью 1-1 вращения контролируемой поверхности и оптической осью оптической системы 3, При этом значение угла 3 между осью Н и нормалью к плоскости узла 4 регистрации устанавливают из соотношенияхсов/3 = (1 - 2; )...