Нигаматьянов

Номер патента: 1760313

Опубликовано: 07.09.1992

Авторы: Медовиков, Нигаматьянов

МПК: G01C 1/00

Метки: линии, отвесной, уклонения

...технические решения не обеспечивают определение точных значений уклонений отвесных линий в районах с редкой плотностью гравиметрической съемки, что достигается в заявляемом техническом решении. Это позволяет сделать вывод о его соответствии критерию "существенные отличия",Расщепление излучения источников на два пучка, разнесенных вдоль отвесной линии, ориентирование плоскостей поляризации этих пучков одного вдоль, а другого перпендикулярно направлению отвесной линии, измерение оптической разности хода принимаемых световых пучков, синхронное измерение взаимно обратных зенитных расстояний позволяют определить уклонения отвесной линии на определяемом пункте с ошибкой 0,1 -0,5На фиг.1 показана схема распространения излучения с...

Номер патента: 1411577

Опубликовано: 23.07.1988

Авторы: Медовиков, Нигаматьянов

МПК: G01B 11/26

Метки: интерферометрическое, объекта, перемещений, угловых

...последовательно в потоке от светоделителя 8на диске 6, неподвижную ось 12. Устройство работает следующим образом.Пучок излучения из источника 7 падает на светоделитель 8 ч разделяется 25 на два потока, Один поток после выхода из светоделителя 8 повернут на 90 о и падает на отражательную поверхность отражателя 2 и после отражения от нее проходит через полупрозрачный слой 30 светоделителя 8, затем через линзу 9попадает на фотоприемник 10. Другой поток проходит через полупрозрачный слой, падает на отражательную поверхность светоделителя 8, отражаясь от которой, падает на фотоприемник 10,где образует интерференционную картину совместно с первым потоком. Полученное изображение в виде чередующих-, ся светлых и темных интерференционных...

Номер патента: 1330455

Опубликовано: 15.08.1987

Авторы: Коломейцева, Лопанчук, Медовиков, Нигаматьянов

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, расстояния

...от отражателя 5).Второй пучок излучения, образован- ный при делении амплитуды на левом полупрозрачном краю зеркала 3, падает на отражатель 7, отражается от него, падает на отражатель 7 и после отражения от правого полупрозрачного края зеркала.Э попадает в систему 6 регистрации интерФеренционной картины. Таким образом, в систему 6 регистрации интерференционной картины попадают три пучка: первый - опорный, прошедший между зеркалами 3 и 4, второй - дистанционный, прошедший да отражателя 5 и отраженный в систему 6 регистрации интерференционной картины, и, наконец, третий - дистанционный, прошедший от зеркала 3 до отражателя 7 и после отражения от зеркала 3 направленный в систему 6 регистрации интерференционной картины.Для измерения...

Номер патента: 1213395

Опубликовано: 23.02.1986

Авторы: Виноградов, Медовиков, Нигаматьянов, Прилепин

МПК: G01N 21/45

Метки: влияния, коррекцией, рефракции, углов

...интенсивностям пропорциональныфототоки, амплитуды которых имеютвид По измерениям , получают Ъ , а по измерениям- цп+ 1). Сначала, изменяя Ь , получают максимальное значение фототока 1 = 3 , тогдаах оафах3(2 В ь)ахт.е. выполняют градуировку прибора. Затем при медленном изменении путем увеличения напряжения генератора 6 устанавливают необходимую величину 1 и определяют величину 2 Ъ аппо таблицам функции Бесселя. Аналогичные действия производят для другой интерференции и определяют величину 3=Ь( ). Угол рефракции находят по формуле Г= 3/Ъ - 11,Источник 5 постоянного напряжения служит для выведения разности хода интерферирующих лучей в зону максимальной чувствительности. Формула изобретения Устройство для измерения углов с коррекцией...