G01B 11/30 — для измерения шероховатости или неровностей поверхностей

Номер патента: 632899

Опубликовано: 15.11.1978

Авторы: Левин, Леонтьева

МПК: G01B 11/30

Метки: линейка, оптическая, отклонения, поверхности, прямолинейности

...ширина которой составляет 6 - 7 мм, образует заслон для прохождения лучей от одного зеркально-линзового объектива к другому, что дает энергетические потери порядка 9/О даже при расположении каретки в центре афокальной системы.С целью повышения точности и расширения пределов измерения на корпусе каретки выполнено сквозное отверстие, ось которого совпадает с осью афокальной системы, а размер соответствует диаметру объективов афокальной системы и превышает размеры призменного блоха с маркой,. установленного в центре этого отверстия,632899 тн Л.Лобзуговая ова Корректо Подписно Министров С тий д. 4/5 Проектная, Составита Текред О. ЛТираж 830ственного комитетделам изобретенийосква, Ж 35, РауП г тент, г. Уж г П. Неопл Редактор...

Номер патента: 637704

Опубликовано: 15.12.1978

Авторы: Гарнов, Ерофеев, Либин, Певзнер

МПК: G01B 11/24, G01B 11/30

Метки: диффузноотражающих, поверхностей

...фэтонриемника.Такое выполнение устройства обеспечивает попадание луча от осветителя на профиль измеряемой поверхности при любых сложных поверхностях.На чертеже представлена схема предложенного устройства.Устрэйствэ имеет корпус 1, измерительный блок 2, в котором установлены узел 3 осветителя, фотоприемник 4 с вертикальной осью визирования и узел б сканирования светового луча в плоскости измерения, проходящей через ось визирования фотоприемника. Вал 6, находящийся на оси визирования фотоприемника., жестко соединен с корпусом 1 устройства и установлен в подшипнике 7, закрепленном на каретке 8. Направляющая 9 каретки соединена с каретками 10 продольного перемещения корпуса по направляющим 11, соединенным с камерой моделирования...

Номер патента: 637705

Опубликовано: 15.12.1978

Авторы: Голубев, Сушко

МПК: G01B 11/30

Метки: качества, отверстий

...находится фотоприемник 14, на корпусе расположен наконечник 15 с зеркалом16, представляющим собой конус с зеркальной наружной поверхностью,Е 7 .05 Ш-(ИИПЕИ ЗаТираж 83 З СЕЕОфт"ЕПодгги ЕЕОР т 6 Па НЯКОНЕПЕИКЕ 15 уСТЯНОВЛЕНЯ СЬЕМ- ная кодт девая диафрагма 17. Коеуса 5 и Х 3, дополнительтто введенные, соосць,Предлагаемое устройство работает следуюгцим образом. Параллельный луч све- % тат ЦЗЛУЧааг,ЕЫЙ ИСТОЧНИКОМ 2 ПаРаЛЛЕЛЬного пучка света (лазером), расширяется ко;11 Явором 3 до необходимого пиаметря и с цо.ошью кольцевой диафрагмы 12 Пт)ЭВрагЯЕТСя Б дуЧ, ИМЕЮШИй фОрчу КОЛЬ- Щ ЦЯ В СЕЕЦИИ, КОТОРЬтттт ПРОЙДЯ ЧЕРЕЗ ЦЯРУ конусов 13 и 5, преобразуется в диамет- рЕ ц 1 СС)П)дяЕТСя На ЗЕрКадО 3 6 В ВидЕ конуса, Отряжеетньте этим конусом...

Номер патента: 641274

Опубликовано: 05.01.1979

Авторы: Зейгман, Леонов

МПК: G01B 11/30

Метки: прямолинейности, фотоэлектрическое

...3035 Москва, Ж 35, Рау песка я иаб., д. 4/5Филиал ППП аПатеита. г. Ужгород, ул. Проектная, 4 5 облученности фотоприемника 2 в электрический сигнал, фильтр 6, постоянная времейй которого находится в функциональнойзависимости от текущей дальности междуисточником 1 света и фотоприемником 2,регистрирующий прибор 7, фотоприемник 8,установленный на фиксированном расстоянии от источника 1 света (в частном случае - в конце контролируемой поверхности),Устройство работает саедующнм образом,Источник 1 света, например ОКГ (опти Оческий квантовый генератор), формирует узкий пучок лучей, направленный в сторонукаретки Зперемещающейся вдоль повернности, прямолинейность которой необходимоизмерить,1Предварительно каретка устанавливается около...

Номер патента: 641275

Опубликовано: 05.01.1979

Авторы: Маркарян, Мартиросян

МПК: G01B 11/30

Метки: обработке, поверхности, станке, шероховатости

...резрохогами учас- дено Составитель П, К)Текред О. ДуговаяТираж в 6ИПИ Государственного коинтво делам изобретений н о5, Москва, ЖРзушскаяППП Патентэ, г. Ужгород,ровКорректор Л.Подписноеета СССРткрьпийнаб., д. 4/5ул. Проектная,Редактор А, МурадянЗаказ 7494/35ЦНИ еселовская 3Фнл над дикулярной следам от токарной, фрезерной, строгальной или шлифовальной обработки, Глаз 5 наблюдателя и лампу 2 накаливания располагают в той же плоскости на нормали к исследуемому участку обработанной поверхносги 3. Затем одновременно переме. щают относительно закрепленной на столе 6 станка детали 4 до появления интерференционной картины в блике на исследуемом участке поверхности 3. Определяют длину волны 1, соответствующую цвету интерферен 1 О ционной...

Номер патента: 654852

Опубликовано: 30.03.1979

Авторы: Бахманов, Савиковский, Хомутов, Чухлиб

МПК: G01B 11/30, G01N 21/88, G02B 21/26 ...

Метки: качества, пластин, поверхности

...образом, показание счетчика однозначно соответствует радиусу сканирования,В дальнейшем происходит последовательный просмотр колец одинаковой ширины, например колец 28, с соответствующим уменьшением радиуса сканирования,После окончания просмотра центрального круга 29 (см. фиг. 2) цикл контроля оканчивается, и блок управления 23 выдает команду на остановку держателя 5. Подсчет количества дефектов и дефектных зон происходит в ходе просмотра колец сканирования.На фиг. 3 в качестве примера в зоне кольца сканирования 27 изображены три дефекта: два в виде близко расположенных точек 30 и 31 и один в виде царапины 32. Сигналы 33 от них и на выходе фотоприемника 11 (см. фиг. 1) изображены на фиг. 4. На выходе амплитудного дискриминатора 12...

Номер патента: 654853

Опубликовано: 30.03.1979

Авторы: Мазуренко, Скрелин, Топорец

МПК: G01B 11/30

Метки: бесконтактный, высоты, непрозрачных, образцов, поверхности, фотометрический, шероховатости

...тем, что с целью повышения точности и упрощения процесса измерения последовательно измеряют сигналы от полного и диффузного отражения от поверхности изделия потоков и среднеквадратическую высоту шероховатости определяют по формуле где Л - длина волны облучающего пучка света;1 дифф, Гало/дн - СООТВЕТСТВЕННО СИГнаЛЫ ОТ диффузного и полного отраженных потоков;а=3,1416 - известная постоянная.На чертеже изображена принципиальная схема установки для реализации и предлагаемого способа.Установка содержит источник света 1(лазер), зеркало 2, экран 3, ловушку света 4, фотометрический шар 5 с отверстиями б - 9 и фотоприемник 10.Осуществляется предлагаемый способ следующим образом. Световой пучок, имеющий малое угловое расхокдение, от источника 1 с...

Номер патента: 667795

Опубликовано: 15.06.1979

Авторы: Борисенко, Давыдушкин, Неретин

МПК: G01B 11/30, G01B 5/24

Метки: аппаратах, аппаратов, колонного, монтажа, положения, разметки, типа, узлов, этих

...опору к поверхности размечаемого объекта, и уровнем 8, С кронштейном скреплен держатель 9 основания репера. Основания 10 и 11 соединены с держателями резьбовыми заглушками 12.В комплект устройства входит подвижная каретка 13 с отражающей поворотной призмой (на чертеже не показана), а также реперы 14, 15, которые устанавливают в основаниях 10 и 11 перед монтажом устройства, Реперы выполнены в виде стержней заданной длины с присоединительными поверхностями (резьбой и торцом) на одном конце и сферической на другом. Сферическая поверхность является визирной маркой при монтаже аппарата. Устройство работает следующим обра зом,6677953 4ливают на заданном расстоянии от торца и,вращая отражающую призму, размечаюткольцевое сечение,...

Номер патента: 669184

Опубликовано: 25.06.1979

Авторы: Отменников, Реутова, Харитонов, Юров

МПК: G01B 11/30

Метки: волнового, светового, формы, фронта

...картины, расположенный в пространстве изображения, и привод 9 вращения светофильтра. Исследуемый объект 10 помещается между объективом 5 коллимато669184 4ний в различных точках волновогофронта,Таким образом, устройство позволяет определять с достаточно высокойточностью как величину, так и направление деформаций волнового фронта,гс-о что повышает точность контроля формыволнового фронта. Изменения формы волнового фронта, вызванные оптическойнеоднородностью ,объекта, находятся:из однозначной зависимости между угло 10 вой величиной, направлением отклоненый световых пучков лучей и цветомтеневой картины. Составитель А. ФомичевРедакто Е, Полионова Те хлеп М. Келемеш Ко ектоМ, Пожо раж 86твенно ретени Ж3645/31 ЦНИИПИ Го по дела 113035...

Номер патента: 678276

Опубликовано: 05.08.1979

Авторы: Дерюгин, Осовицкий, Сотин, Цветаев, Цеснек, Челяев

МПК: G01B 11/30

Метки: оценки, поверхности, шероховатости

...кривым, находятфункцию спектральной плотности шерохова.тостей поверхностей,Сущность способа заключается в том, чтосвет от когерентного источника 1 многократно678276 ЩфЯПИ Заказ 4542/27 866 Подписио Филиал ППП "Патент", г, Ужгород, ул, Проектная, 4 3рассеивается на шероховатостях исследуемой поверхности, являющейся частью оптического волновода, и излучается в виде узкой дуги. Оптический волновод может быть образован с нанесенным на ее основание закритическим шоем связи, диэлектрической пленкой на исследуемой поверхности и самой поверхностью, Диэлектрической пленкой на исследуемой по верхности может служить жидкость с большим показателем преломления (например, нитробен. 10 , эол), или легко смываемая органическая плен. ка...

Номер патента: 679792

Опубликовано: 15.08.1979

Авторы: Левин, Леонтьева, Серегин

МПК: G01B 11/30

Метки: бесконтактного, поверхностей, прямолинейности

...со стороны контролируемой поверхности 20, выполнено с возможностью поворота относительно оси 21, перпендикулярной оси 00 афокальной оборачиваюцей системз (т,е, выполнено откидным).Устройство работает следующим образом.Перед началом измерений производится настойка устройства, Для этого необходимо проверить качество изображения измерительной марки. 6 и его положение относительно оси афокальной системы по дополнительной марке 12 в двух крайних положениях подвижной каретки 4, В этом случае откидное зеркало 10 введено в ход лучей, как это изображено на чертеже. Световые пучки от о"ветителя 5 освещают измерительную марку 6. Ветвь 7 проекционной оптической системы через зеркало 10 формирует изображение измерительной марки 6 на зеркале 9,...

Номер патента: 693104

Опубликовано: 25.10.1979

Авторы: Курбатов, Мартынов

МПК: G01B 11/30, G01B 5/24

Метки: заточки, инструмента, концевого, углов

...и наблюдательным микроскопами составляет 90, наблюдательный микроскоп 10перпендикулярен к оси поворота стола, а осьповорота стола проходит через точку пересечения оптических осей осветительного и наблюда.тельного микроскопов,На чертеже изображено устройство для из.мерения углов заточки концевого инструмента,Оно содержит основание 1, поворотныйстол 2 с базирующим приспособлением 3, выполненным в виде призмы, осветительный 4 и наблюдательный 5 микроскопы, а также механизмы подъема 6 и поворота 7 стола, Плоскостьосветительного и наблюдательного микроскоповнаклонена под углом 45 к оси поворота стола,угол между осями осветительного и наблюдательного микроскопов составляет 90, причем 25ось поворота стола проходит через точку...

Номер патента: 696286

Опубликовано: 05.11.1979

Автор: Левин

МПК: G01B 11/30

Метки: линейка, оптическая, поверхности, прямолинейности

...призм 1 ц 12 ца уровне (;)гги кской с)с и О-О афокальной системы 1 и Выпосц 1 еццьс В ВР)- де штрихов, отсчето-цаблюдат льное устройство, включа)ощее оптический комиссатор 17 (плоскопараллельная пластина), оптическии блок, состо 5 цций из склееной ц)измы-ромоа8 и пр 5)мОТГО.)ьцОЙ ц изм.1 19 с полупрозрачной ИГОскст).10 сксивация, мик 1)оооьсктив 20, цроекционныи Обьсктив 21, экран 22, мцкроницт 23.стрОЙство р 5100 тас) слс ) к)1 им ООРР) ЗОМ.11 ри идеально ровной контролируемой поверхности свет от Осветительного устройства, вклочающего элементы 5 -9, надает на призмы 11 ц 12 цризмеццого блока 10 и, отразившись от их гицотенузных граней, лучи освегцактг соответственно марки 5 и 16.Затем, пройдя афокальцую систему 1, образованную...

Номер патента: 706695

Опубликовано: 30.12.1979

Авторы: Бобонич, Дворак, Фольовчук

МПК: G01B 11/30

Метки: объекта, поверхности, шероховатости

...шероховатости поверхности объекта,Устройство содержит последовательно расположенные источник 1 света, световод 2, светоделительный элемент 3, закрепленный в корпусе 4, в котором имеются пазы 5, фотоприемник 6 и регистрирующую систему, выполненную ввиде усилителя 7, амплитудно-частотного преобразователя 8, задающего генератора 9, блока 10 сравнения и регистратора 11.Работает описываемое устройство следующим образом.Корпус 4 вставляется в контролируемый цилиндрический объект 12. Монохроматический источник 1 света (например, гелий-неоновый лазер) через световод 2 и пазы 5 светоделитель. ного элемента 3, освещает исследуемую поверхность объекта 12, свет от которой отражается и регистрируется в фотоприемнике 6. Сигнал от фотонрнемника 6...

Номер патента: 712659

Опубликовано: 30.01.1980

Автор: Цуккерман

МПК: G01B 11/30

Метки: луча, оптического, поверхности, помощью, приемник, прямолинейности, устройства

...проекционный объектив 4, апертурную диафрагму 5 и фотоприемник 6. На фцг. 2 проекционный объектив 7 выполнен зеркальцым.Работает описываемый приемник следующим образом.Приходящее слева излучение диаметром Ипроходит галцлеевскую систему 2, имеющую увеличение Г больше единицы, затем светоделительный элемент 1, поверхность 7 которого отражает примерно 30 - 40 излучения, в проекционный объектив 4, после чего поступает во вторую аналогичную галцлеевскую систему 3 и тем же диаметром направляется в последующий приемник (це712659 Составитель М. Лобзова Редактор Г. УлыбинаТехред А. КамышниковаКорректоры; А. Галахови Л, Орлова ипография, пр, Сапунова,показан), Отраженная часть излучения направляется проекцллонным объективом через...

Номер патента: 714145

Опубликовано: 05.02.1980

Авторы: Казак, Нагибина

МПК: G01B 11/30

Метки: объекта, параметров

...голограммы равноТ:ту, (11) где 3 - коэффициент контрастности фотоматериала.При последовательном экспонирова- нии двух голограмм на одной фотопластинке ее пропускание по интенсивности будетТ= (.1 +Х ) (12) Следовательно. Формула изобретения(б)Способ контроля параметров объекта,аем заключающийся в том, что получают40 голограммы контролируемого объектаи образуют из них муаровые картины,о т л и ч а ю щ и й с я тем, что,с целью определения шероховатостиповерхности объекта, измеряют конт;раст муаровых полос и по номограммам судят об измеряемоц параметре,Источники информации,принятые во внимание при экспертизее. Заявка Франции Р 2247699,кл. С 01 В 11/30, 1975.2. Оптика и спектроскопия,Т. 32, Вып. 2, 1972, с. 400 40310) (прототип) . Составитель...

Номер патента: 727987

Опубликовано: 15.04.1980

Авторы: Васильев, Грачев, Кобяков, Майоров

МПК: G01B 11/30

Метки: качества, поверхности, цилиндрических

...иэделий.Устройство для контроля качества наружной.поверхности цилиндрических изделий содержитосветитель 1, источник 2 света, конденсор 3и плоское зеркало 4, Отражатель 5, имеющийформу параболоМда вращения, ось которогоуда-"лена от осей каждой из ветвей параболы на рас.стояние, равное радиусу контролируемого цнлинд.рнческого изделия 6, направляющие трубки 7и 8, установленные на оптическок оси устрой.ства с зазором 9 для создания кольцевой осве.ираж 801 Подписное аз 1120/4 ЦНИИ ал ППП "Патент", г. Ужг ул. Проектн 37279 щенной зоны иа поверхйости контролируемого цилиндрического изделия 6. Анализатор 10 изображения, состоящий из плоского отклоняющего зеркала 11, объектива 12 и фотоумножителя 13,Устройство работает следующим...

Номер патента: 741044

Опубликовано: 15.06.1980

Авторы: Денель, Кеткович, Рупакова

МПК: G01B 11/30

Метки: выявления, движущейся, дефектов, поверхности, прибор

...объектив 2 с каналом из разветвленных световодов 3 и 4, которые у поверхности сходятся так, что один из них является освещающим, а другой - принимающим отраженный свет, соответственно световод 3 связан с источником 5 ультрафиолетового света, а световод 4 - с электронно- исполнительным устройством, состоящим из узлов 6-9: узел 6 - передающая телевизионная трубка, фотокатодом которой являются светочувствительные элементы, сгруппированные соответствующим образом, или светочувствительная пластина, эквивалентная множеству светочувствительных элементов, на которые поступает поток света со световода 4, узел 7 - блок формирования и обработки видеосигналов, узел 8 - видео- контрольное устройство, узел 9 - блок питания.741044 Составитель А....

Номер патента: 741045

Опубликовано: 15.06.1980

Авторы: Делюнов, Леонтьева, Мясников

МПК: G01B 11/30

Метки: плоскостности, поверхностей

...предметной плоскости микроскопа создаются с помощью афокальной системы изображения С, и С марки 5 и с помощью аксикона 17 изображение визирной марки 19.Оптическая ось 20 аксикона параллельна ребру 3 прямого угла призменного отражателя 2, а следовательно, параллельна плоскости, проходящей через ребра отражателей обоих блоков, которая в устройстве является плоскостью сравнения.На фиг. 2 представлен вид поля зрения микроскопа, где указаны изображение визирной марки 19, изображение марки 5 и вид окулярной сетки 14, на которой нанесены перекрестие и фигура треугольника, В данном случае марка 5 и визирная марка 19 представляют собой светящиеся точечные диа- Ифрагмы.Устройство работает следующим образом,Блоки 1 и 11 устройства ставятся на...

Номер патента: 750273

Опубликовано: 23.07.1980

Авторы: Веснина, Кучин, Литвинова

МПК: G01B 11/30

Метки: микроинтерферометр, поверхностей, шероховатости

...один иэ которых проходит через светоделитель 5, другой отражается от него, Пучок лучей, прошедший через светоделитель 5, собирается объективом 9 в его фокусе на элементе 11 с поверхностью сравнения, Пучок лучей, отраженный от светоделителя 5, собирается в фокусе обьектива 6 на контролируемой поверхности 15. Пучки, отраженные от исследуемой поверхности 15 и поверхности сравнения элемента 11 идут обратно по тем же направлениям и, соединяясь насветоделителе 5, интерферируют, образую изображение интерференционных полос в бесконечности. для получения интерференционных полос конечной ширины выходные зрачки 7 и 10 обеих ветвей интерферометра должны быть разведены друг относительно друга, и тогда интерференционные полосы, возникающие в...

Номер патента: 765652

Опубликовано: 23.09.1980

Авторы: Елисеев, Контиевский

МПК: G01B 11/30

Метки: биссекториального, знак, типа, целевой

...значениядуг, ограничивающих светлые полукольца 2, расположенные по одну сторонуот оси асимметрии ХХ, равны среднимарифметическим значениям радиусовдуг, ограничивающих темные полукольца 3, расположенные по другую сторонуэтой оси, При визировании операторвыбирает наиболее благоприятный длянаблюдения размер полуколец 2, 3,Целевой знак предназначен для использования в визирных марках с автоколлимационными зрительными трубами 40 и зрительными трубами двойного изображения, Оператор в поле зрения этихприборов видит не одно изображениезнака, а комбинацию из самого знакаи его изображения или двух изображе ний знака, При этом одно изображениеповернуто относительно самого знака или другого изображения на 180овокруг оптической оси...

Номер патента: 769323

Опубликовано: 07.10.1980

Авторы: Козырев, Лавров, Луценко, Мгеладзе, Петров

МПК: G01B 11/30

Метки: изделия, класса, металлических, поверхностей, полированных, шероховатости

...О 3Устройство содержит фотометрический шар 1 с внутренней белой поверхностью и тремя отверстиями, осветитель 2 и опти чсскую систему 3, последовательно установленные в одном из отверстий, узел 4 установки изделия, расположенный в дру- ом отверстии, фотоприемник 5, установленный в третьем отверстии, узел 6, защищающий фотоприемник 5 от прямого по падания испускаемого от осветителя 2 и зсркально отраженного от испытуемой поверхности света, выполненный в виде трубки, расположенной между оптической системой 3 и узлом 4 установки изделия и компенсирующий потенциометр 7, введенпын в цепь фотоприемника 5 и служащий для нейтрализации засветки фотоприем. ника 5, незначительной частью зеркально отраженного света, индикатор 8,...

Номер патента: 794369

Опубликовано: 07.01.1981

Авторы: Корниенко, Михальчук

МПК: G01B 11/30

Метки: поверхности, чистотыобработки

...обработки поверхности.На фиг. 1 изображена структурная схе,ма устройства (вариант, выполнения), реализующего предлагаемый способ; на фиг.2 - схема, поясняющая способ.Устройство содержит узел 1 источников световых потоков, электромеханический узел 2 привода, блок д фотоприемников, блок 4 считывания, обработки сигналов фотоприемников и индикации результатов олределения чистоты обработки поверхности и контролируемую поверхность 5.На фиг. 2 имеются следующие обозначения: Уь У, - положения источников световых потоков при лервом изменении интенсивности отраженных потоков; Уь l - новое,положение источииков при,втором изменении интенсивности каждого из отраженных потоков; . ь 1- расстояния, пройденные каждым источником от первого изменения...

Номер патента: 796661

Опубликовано: 15.01.1981

Авторы: Гаркуша, Кузнецов

МПК: G01B 11/30

Метки: качестваобработки, отверстий

...каретки 8, съемную кольцевую диафрагму 11 и корпус 12, на котором устинов. леи наконечник 13 с зеркалом 14 в виде конуса и жестко соединенный с ним фотоприемник 15.ВНИИПО Заказ 9757/5Тираж 651 Подписное 3 796661Устройство работает следующим образом.Параллельный пучок света, излучаемый источником 2 света, расширяется коллиматором 3 до необходимого диаметра н, пройдя через диа. фрагму 4, направляется на зеркало 14 в виде конуса. Диафрагма 4 свободно укреплена на оси привода 5; осуществляющего ее вращение. Отраженный зеркалом 14 световой поток направляется под некоторым углом на контро. лируемую. внутреннюю цилиндрическую поверхность детали 9, и, отражаясь на этой поверхнос. ти, поступает на фотоприемник 15. Вращением диафрагмы 4...

Номер патента: 815492

Опубликовано: 23.03.1981

Авторы: Орадович, Солодухо

МПК: G01B 11/30

Метки: поверхностей, шероховатостисверхгладких

...поток и состоящий иэ источника 1 излучения - лазера, объектива 2, зеркал 3 и 4, поворотного зеркала 5 и ослабителя 6 интенсивности, изделие 7 и узел приемного устройства, состоящий из объектива 8, диаграмы 9, фотодиодов 10 и 11, 25 усилителя 12, устройства 13 для полу- чения отношения сигналов и вычислительного устройства 14.Предлагаемый способ осуществляется следующим образом. 30С помощью монохроматического источ. ника 1 изЛучения, объектива 2, зеркала 3, поворотного зеркала 5, установленного в положение А, и ослабителя б интенсивности освещают поверх ность изделия 7 под углом падения Ол и регистрируют фотодиодом 10 интенсивность излучения, отраженного в малом телесном угле Ь(Ю фотодиода в направлении Вг= Вл зеркального от"...

Номер патента: 815493

Опубликовано: 23.03.1981

Авторы: Атаманенко, Гавинский, Зозуля, Кожемякин, Лисица, Цебуля

МПК: G01B 11/30

Метки: алмаза, гранейтвердого, например, плоскостности, тела

...осуществляется следующим образом. В начале получают интерференцион ные полосы, создаваемые пучком моно- хроматических лучей с длиной волныСветовой поток от источника 1 света проходит через дифрагму 2, фокусируется конденсором 3 на точечную диафрагму 5 через плоское зеркало 4. Затем световой поток монохроматизируется интерференционным светофильтром б и имеет длину волны Л.После прохождения через линзу 7 параллельный пучок лучей под действием одной наклонной плоскости зеркала 8 меняет свое направление и попадает на горизонтально расположенную эталонную пластину 9, где помещается контролируемое тело 11.Интерференцианные полосы, созда" ваемые лучами с длиной волны , возникающие в воздушном зазоре, контролируемым телом 11 и эталонной...

Номер патента: 821914

Опубликовано: 15.04.1981

Автор: Неретин

МПК: G01B 11/30

Метки: действительногоположения, плоскости

...проецирования.За образцовую плоскость условно принимают плоскость, проходящую через центр светового знака 11 при исходном положении линии проецирования перпендикулярно базовой линии 12.Установив проверяемый прибор в стакан 13 обоймы 2, выверяют опорную плоскость 5 перпендикулярно визирной линии с помощью отражающей по-5 верхности 14 оптического узла прибора, который состоит из пента-призмы 15 (фиг. 2) клина 16, задняя поверхность которого покрыта зеркальным слоем и параллельна передней 20 грани пентапризмы,. и проецируемого знака 17. Выверка производится по следу отраженного пучка 18 на экране 19. При повороте обоймы след отраженного светового пучка на экране 25 дожен описывать концентрическую окружность относительно визирной...

Номер патента: 823855

Опубликовано: 23.04.1981

Авторы: Левин, Пищиков, Равин, Серегин

МПК: G01B 11/30

Метки: визирная, контролянепрямолинейности, марка

...бис"сек"оров 7, расположенных по двумвзаимно перпендикулярным направлениям,40Периферийная зона 8 целевого знака2 состоит из четырех одинаковых мдтированных секторов 9, расположенныхна непрозрачном фоне по двум взаимно перпендикуляоным направлениям симметрично центра 0 целевого зна" 45ка, т.е. образующих продолжение соответствующих рядов биссекторов 7. Свнутренней стороны сектора 9 ограничены дугами окружности 10, представляющей собой границу центральной . 50прозрачной зоны б и периферийнойнепрозрачной зоны 8 целевого знака2.Для обеспечения высокой точности наведения на больших дистанциях 55(100-150 м) угловой размер секторовцелесообразно выбрать в пределах7-18 о, например, равным 12 О. Матирование поверхностей. секторов 9...

Номер патента: 834392

Опубликовано: 30.05.1981

Авторы: Отменников, Реутова, Харитонов, Юров

МПК: G01B 11/30

Метки: объектов, оптическихсвойств, прозрачных

...и точности измерений приконтроле формы светового фронта,Поставленная цель достигается тем,что в способе определения оптическихсвойств прозрачных объектов цветнымтеневым методом, перед регистрацией теневой картины изменяют взаимноеположение объекта и теневого прибора,вращая один из них вокруг оптическойоси до получения максимального цветового контраста теневой картины.Вращение теневого прибора относительно объекта (или наоборот) приводитк изменению ориентации пучков светаразличного спектрального состава относительно исследуемого объекта и к одновременному изменению цвета во всехточках цветной теневой каотины, Приэтом изменяется цветовой контрасттеневой картины объекта с достижениемего максимального значения, что обусловлено...

Номер патента: 838331

Опубликовано: 15.06.1981

Авторы: Белый, Говорун, Кошеленко, Охрименко

МПК: G01B 11/30

Метки: неровности, поверхности

...исследуемой поверхности порядка длины волны света и совершенно непригодны для измерения среднеквадратичных размеров макронеровностей, которые видны невооруженным глазом.Наиболее близким к предлагаемому, является способ контроля неровности поверхсударственный университет .Шевченко ности, заключающийся в том, что контролируемую поверхность облучают световым потоком, измеряют величину отраженного потока и определяют неровность поверхносг.а Недостатком данного способа являетсянеприменимость его в случае контроля поверхностей с макронеровностями.Цель изобретения - расширение виконтролируемых поверхностей.Поставленная цель достигается тем, чтомодулируют во времени облучающий поток, последовательно измеряют амплитуду переменной составляющей...