Способ определения чистоты поверхности методом сравнения исследуемой поверхности с образцом
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 97370
Автор: Саркин
Текст
ссссо.Аю 47 а 41 Г .ф" " О Эй 7370 Класс 42 Ь, 12 с 5СССР ПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ Я, АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВаркин СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ЧИСТОТЫ ПОВЕРХНОСТИ МЕТОДОМ СРАВНЕНИЯ ИССЛЕДУЕМОЙ ПОВЕРХНОСТИ С ОБРАЗЦОМ явлено 22 мая 1952 г. за ЪЪ 47/243/447013 в Комитет по делаьмер и измерительных приборов при Совете Министров ССССуществующие приборы, слуиащие для опре 1 деления чистоты поверхности методом визуального сраанения с образцами, чистота поверхности которых аттестована, основаны на приленении оптических систем, с помощью которых наблюдатель может расаматривать однавременно, путем яаблюдения в эдирн окуляр, увеличенные изображения сравниваемых поверхностей. Но с помощью таких приборов невозможно осуществить сравнение весьма чистых поверхностей, поскольку глаз наблюдателя, даже с помощью такого прибора, не отличит поверхность более низкого класса от поверхноспи более высокого класса.Сущность изобретения состоит в том, что предлагается сопоставлять не сами поверхности, а изображения интерференционных картин сравниваемых поверхностей.На фиг. 1 дана схема прибора для осуществления предлагаемого способа определения чистоты поверхно"ти; на фиг. 2 в по зрения окуляра.Две одинаковые микроинтерференционные системы Линника образуют на поверхностях образца а и контролируемой детали б интерференцианные картины, изображения которых сводятся через систему призм в поде зрения окуляра.Сопоставляемые детали - а - образец чистоты и б - подлежащая кантролю деталь - устанавливаются в приборе, состоящем из источников света в, эталонных зер 1 кал г, кубиков с полусеребряной гранью д, объективов е, ромбоидальных призм ж, окулярной призмы з и окуляра и,Предмет изобретения1, Способ определенная чистоты поверхноспи методом сравненмя исследуемой поверхности с образцом, отличающийся тем, что, с цельюУр 973 О сравнения поверхностей более высоких классов, одновременно сопоставляют изобраиония интерференционных картин сравниваемых поверхностей.2. Для,осуществления способа по п, 1 применение двух микроинтерференционных систем Линника и оптической системы, сводящей изображения в один окуляр,григ. 2 иг. 1 етсний и открытий прн Совете Министров СССР комитет лам па Редактор Е. Г. Гоич Поди. к пеи, 20/Х 11-958 граж 360. Цена 25 коп,АСС формациоино-издательскии отдел ъем 0,17 и. л. Заказ 243 Л. атырь, типография .4 2 Л 1 инистсрстиа культуры Чунашскои
СмотретьЗаявка
447013, 22.05.1952
Саркин В. И
МПК / Метки
МПК: G01B 11/30, G01B 9/04
Метки: исследуемой, методом, образцом, поверхности, сравнения, чистоты
Опубликовано: 01.01.1954
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-97370-sposob-opredeleniya-chistoty-poverkhnosti-metodom-sravneniya-issleduemojj-poverkhnosti-s-obrazcom.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения чистоты поверхности методом сравнения исследуемой поверхности с образцом</a>
Предыдущий патент: Маневровая лебедка
Следующий патент: Механизм подачи поворотного стола круговой делительной машины
Случайный патент: Устройство для регулирования давления газа в ресивере компрессора