G01B 11/30 — для измерения шероховатости или неровностей поверхностей

Номер патента: 1073573

Опубликовано: 15.02.1984

Автор: Александров

МПК: G01B 11/30

Метки: александрова, качества, металлизации, отверстий, печатных, плат

...поверхности отверстий, однако требует значительного времени, так как наблюдение внутренней поверхности от верстий должно производиться сбоку 25 под острым углом и, как минимум, счетырех сторон. Цель изобретения - упрощение конзЯюля.поставленная цель достигается тем, что согласно способу контроля качества металлизации отверстий печатных плат путем наблюдения стенок отверстия с помощью оптическим средств Отверстие предварительно заполн т 35жидкостью, смачивакпцей его стенки.При этом упрощение контроля качества металлиэации всей внутренней поверхности отверстий обеспечивается за счет того, что с помощью образо вавшейся в отверстии линзы из жидкости внутренняя цилиндрическая. поверхность отверстия разворачивается в хорошо обозреваемый...

Номер патента: 1073574

Опубликовано: 15.02.1984

Авторы: Волков, Герасимов, Ларионов

МПК: G01B 11/30

Метки: глубины, микрорельефа, подложках, полупроводниковых, преимущественно, слоях, тонких

...к плоскости подложки, изменяют в этой плоскости угол падения пучка света наподложку, регистрируют те углы, прикоторых достигаются экстремальныезначения интенсивностей света вдифракционном спектре, и по этимуглам определяют глубину микрорельефа по формуламЪпЬф дпя минимальных значений интенсивностей света,Ь, для максимальныхзначенийЪ(Л+ Офсое Ч интенсивностей света,. где и - глубина микрорельефа;р -. Угол падения кучка света иа подложку,П - целое число;3 - длина волны падающегоизлучения.На фиг.1 и 2 изображены схемы реализации способаизмерения глубинымикрорельефа, преимущественно в тонких слоях на попупроводниковых подложках; иа фиг.З - диаграмма изменения интенсивности света в дифракционном спектре в зависимости от угла падения...

Номер патента: 1073575

Опубликовано: 15.02.1984

Автор: Пономарев

МПК: G01B 11/30

Метки: плоскостности, прозрачных

...которой привеательно расположенные дена. в оптический контакт с веконтрония зеркало, коллиматор лируемой поверхностью 16 ЯетаЯЯ 11 конфокально расноло- с помощью тонкого слоя иммерсиониой ва, клиновидную пласти- жидкости 9. Поскольку грейь 12 йризнижней поверхностью мы 7 Расположена нОД углом Врюстера блюдения интерференцион- относитеяьно падающих на Нее лучей, оптический элемент, а лазерное излучение Полярйзовацо лнен в виде трех- в плоскости, перпеидккуяярной пдосустановленной так, 55 кости их падения, то эти лучи 14 граней предназначенаполностью выводятся из ириэмы 7, а о контакта с неконтро- следовательно, и из контролируемой хностью детали, а дру+ детали 11 и ие .попадают на экран б положена под углом Брюс-, наблюдения. паразитиые...

Номер патента: 1040895

Опубликовано: 28.02.1984

Авторы: Зайченкова, Катомин, Суминов

МПК: G01B 11/30

Метки: шероховатости

...падения лучалазера, фиксируют изменение интенсив"ности света единичного элемента заопределенный промежуток времени, покоторому судят о шероховатости по"верхности изделия.Недостатком известного способаявляется недостаточно высокая точность измерения, поскольку при егоприменении не учитывается материалповерхности, ее форма и способ ееотработки. Поэтому поверхностям, име.ющим одинаковую величину шероховатости, но изготовленным из различных материалов, будут соответство"вать различные значения изменения интенсивности света единичного элемента. Цель изобретения - повышение точности измерения.Это достигается тем, что в известном способе измерения шероховатости поверхности иэделия. выделяют на дифрационной картине в диффузной зоне участок,...

Номер патента: 1080009

Опубликовано: 15.03.1984

Авторы: Герасимов, Очин, Пивоваров, Скопин

МПК: G01B 11/30

Метки: бумажного, качества, полотна

...и, следовательно, высокую точность контроля,Отсутствие статического режимаявляется главным недостатком су ществующих устройств, так как недает воэможности провести измерение на неподвижном бумажном полотне, что снижает производительностьконтроляЦель изобретения - повышение точности и производительности контроляПоставленная цель достигаетсятем, что устройство для кэнтролякачества бумажного полотна, содержащее источник света, собирающуюлинзу, Фотоприемный блок и электронную систему обработки информации, снабжено последовательно расположенными по ходу светового потоказа собирающей линзой пространственно-временным модулятором света и светоделительным кубиком с установленной на его катетной грани прямоугольной призмой, первым объективом,...

Номер патента: 1095036

Опубликовано: 30.05.1984

Авторы: Кучин, Малышев

МПК: G01B 11/30

Метки: микроскоп, однообъективный, поверхности, растровый, шероховатости

...образом,Свет от источника 1 света с помощьюконденсора 2 попадает на исходныйрастр 3, штрихи которого находятся вфокальной плоскости линзы 4, и,отразившись от зеркала 5, попадает на децентрированную диафрагму 6, расположенную вблизи зрачка объектива 7. С помощью одной из половин объектива 7штрихи исходного растра 3 проектируются на исследуемую поверхность 14.Исследуемая поверхность 14 вместе соспроектированными на нее штрихамиисходного растра 3 второй половинойобъектива 7 и линзой 8 изображаются вплоскости растра 9 сравнения. При этомсвет проходит через второе отверстиев диафрагме 6. Образовавшаяся в плоскости растра 9 сравнения картина муаровых полос рассматривается с помощьюсистемы отсчета.Известно, что цена С муаровой полосы связана с...

Номер патента: 1100498

Опубликовано: 30.06.1984

Авторы: Хорошилов, Ямбаев

МПК: G01B 11/30

Метки: прямолинейности, соосности

...измерения. 35Указанная цель достигается тем, что в устройстве для контроля прямолинейности и соосности, содержащем последовательно установленные источник излучения, зонную марку, установО ленную неподвижно, и регистрирующее устройство, зонная марка выполнена в виде двух равных .симметричных частей, одна из которых установлена с возможностью поворота относительно дру" 45 гой части вокруг оси, совпадающей с направлением зон зонной марки.На фиг. 1 представлена принципиальная схема устройства, на фиг, 2- внешний вид зонной марки,Устройство содержит источник излучения 1, например лазер, зонную марку 2, выполненную в виде двух равных частей 3 и 4, одна иэ которых, например 4, установлена с возможностьюповорота вокруг оси, совпадающей с...

Номер патента: 1100499

Опубликовано: 30.06.1984

Авторы: Булатов, Грицун, Маслов, Протасевич, Шайхутдинов

МПК: G01B 11/24, G01B 11/30, G01N 35/00 ...

Метки: неразрушающего, ротор, технологический

...транспортного диска, излучатель 99 ьи фотогриемник, установленные надтранспортным диском, снабжен двумязеркалами, установленными над транспортным диском у его центра, и зеркалами, закрепленными на роторе попарносимметрично относительного каждогоиз узлов базирования, рабочие поверхности всех зеркал выполнены в видеэллиптических цилиндров и ориентированы так, что их образующие параллельные оси вращения транспортногодиска, первые фокусы всех зеркалсовмещены с осью вращения транспортного диска, во вторых фокусах зеркал,установленных над транспортным дискомрасположены соответственно излучательи фотоприемник, а вторые Фокусы каждого из зеркал, закрепленных относительно узлов базирования, расположены вобласти размещения на соответствующемузле...

Номер патента: 1125470

Опубликовано: 23.11.1984

Авторы: Витман, Гребенюк, Гребнев, Кречман, Наумов, Суминов, Фигурин

МПК: G01B 11/30

Метки: качества, отверстий, поверхности, цилиндрических

...надежности контроляУказанная цель достигается тем,что в устройстве для контроля качества поверхности цилиндрических отверстий отражающая поверхность аксикона ЗОвыполнена в виде тороида.На Фиг. 1 изооражена схема устройства для контроля дефектов цилиндрических отверстий; на Фиг, 2 - разрез А-А на Фиг, 1 на Фиг. 3 - разрезВ-Б на Фиг. 1,Устройство (Фиг. 1) содержит лазер 1, Фокусирующую линзу 2, Фокускоторой расположен на поверхностиконтролируемой детали 3, аксикон 4с отражающей поверхностью, выполнен.ной в виде тороида, световод 5 кольцевого сечения с секциями 6.1-6.П,приемники 7.1-7.11 излучения.470 2Устройство работает следующим образом,.Луч лазера 1 фокусируется фокусирующей линзой 2 на контролируемую поверхность детали 3. На пути...

Номер патента: 1155847

Опубликовано: 15.05.1985

Авторы: Голянская, Пронкин, Халевский, Чеканова, Яковлева

МПК: G01B 11/30

Метки: объекта, отклонений, поверхности, прямолинейности, фотоэлектрическое

...цель достигаетсятем, что фотоэлектрическое устройство для контроля отклонений от прямолинейности поверхности объекта,содержащее последовательно расположенные лазер, каретку, выполненнуюс возможностью перемещения по контролируемой поверхности, и позиционно-чувствительный фотоприемник,электронную схему обработки сигнала,снабжено оптическим преобразователем, расположенным на каретке ивыполненным в виде призменной оборачивающей системы типа Порро второгорода, а входная призма этой системывыполнена в виде светоделительногокубика.На Фиг,изображена принципиальная схема устройства для контроля отклонений от прямолинейностиобъекта; на фиг. 2 - оптический преобразователь; на Фиг. 3 - светочувствительная площадка Фотоприемника в начальном...

Номер патента: 1155848

Опубликовано: 15.05.1985

Авторы: Архипов, Бердиков, Леонидов, Назаренко, Пушкарев

МПК: G01B 11/30

Метки: объектов, поверхностей, полированных, шероховатости

...потока, расположенный вфотометрическом шаре, защитный узел 20 установлен в формирователе световогопотока и выполнен в виде ступенчатого цилиндра с каналом по оси, навнутренней поверхности канала нанесены кольцевые канавки, а по пери ферии. ступени с большим диаметромвыполнен сквозной круговой паз, навнутренней поверхности которого нанесены кольцевые канавки.Кроме того, защитный узел выполнен из светопоглощающего материала.На чертеже изображена принципиальная схема устройства для измере-.ния шероховатости полированных поверхностей.Устройство содержит источник 1 35света, объектив 2, гибкий световолоконный световод 3, соединенный сформирователем 4 светового потока,установленным в фотометрнческом шаре 5. В фотометрическом шаре 5...

Номер патента: 1165882

Опубликовано: 07.07.1985

Авторы: Левин, Серегин

МПК: G01B 11/30

Метки: прямолинейности

...с возможностью наклона и скрепленной с отсчетным барабаном (непоказан), объектив .2, линзовый элемент 3,установленный с возможностью перемещения вдоль оптической оси устройства, сетку4, окуляр 5, механизм 6 фокусировки и соединенный с линзовым элементом 3, источник7 света, конденсатор 8, точечную диафрагму 9, аксикон 10, дающий резкое изображение диафрагмы на сетке 4, отражающий элемент 11, установленный на оптической оси инаправляющий излучение источника света7 на сетку 4, механизм 12 перемещениясетки 4,Отражающий элемент 11 частично экранирует только центральную часть объектива.5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 2На фиг. 2 показано изображение 13 точечной диафрагмы на сетке 4, перекрестие 14 сетки, изображение 15 марки на сетке.Устройство...

Номер патента: 1165883

Опубликовано: 07.07.1985

Авторы: Клиентов, Поклад, Шестов

МПК: G01B 11/30

Метки: поверхности, шероховатости

...отражателей.Целью изобретения является повьг шение чувствительности устройства.Поставленная цель, достигается тем, что в устройстве для контроля шероховатости поверхности, содержащем источник излучения, коллнмирующую линзу, цилиндрический отражатель, установленный осесимметрично оптической оси коллимирующей линзы, фотоприемники для регистрации .зеркально и диффузно отраженного излучения, расположенные на оси перпендикулярной оптической оси коллимирующей линзы, полупрозрачную пластину, установленную в точке пересечения оптической оси коллимирующей линзы с осью расположения фотоприемников, приемник сравнения и блок обработки сигналов, Фотоприемники расположены концентричноих фотокатоды установлены в Фокальной плоскости колли. мирующей...

Номер патента: 1167424

Опубликовано: 15.07.1985

Авторы: Керцман, Кречман, Уваров

МПК: G01B 11/30

Метки: волоконно-оптический, глухих, датчик, дефектов, отверстиях, поверхности

...приемного световода 4 пересекаются, образуя центр зоны обзора пакета, приэтом ось выхода подводящего световода установлена под углом к нормали,проведенной из центра эоны обзорапакета к поверхности корпуса 1 вплоскости, проходящей через оськорпуса 1. 20Входные торцы подводящих световодов 3 оптически связаны с источником5 света (например, лазером, светодиодом или лампой накаливания), а вкаждый из выходных торцов приемных 25световодов 4 - с соответствующимфотоприемником 6. На наружную поверхность корпуса 1 нанесено светопоглощающее покрытие 7,Каждый пакет 2 световодов через З 0соответствующее отверстие в корпусе 1обращен к контролируемой поверхностиизделия 8.Угол ч между осью выхода каждогоподводящего световода 3 к нормали,проведенной из...

Номер патента: 1179105

Опубликовано: 15.09.1985

Авторы: Веснина, Коломийцов, Мясников, Пивоварова

МПК: G01B 11/30

Метки: поверхности, полированной, шероховатости

...попадаетна контролируемую поверхность 5, В .тонком плоскопараллельном воздушномслое между поверхностями 4 и 5 происходит многократное отражение пучковлучей, Отраженные пучки интерферируют и направляются пластиной 2 на фотоприемник 11. С фотоприемника усилен"50ный усилителем 12 сигнал подается наблок 13.В результате многолучевой интерференции в отраженном свете освещенность 1 наблюдаемого участка поверх.ности определяется из зависимости4 К зп (2 Т/й/Л)( - К )2+ 4 В,81 п 2(27 с 1/д) ф где О - толщина воздушного промежутка между контролируемой поверхностью 5 и полупрозрачным отражающим покрытием 4;К - коэффициент отражения поверхностей;3 - длина волны используемогоизлучения.Зависимость 1 от величины воздушного промежутка о приведена на...

Номер патента: 1196688

Опубликовано: 07.12.1985

Авторы: Менсов, Хилько

МПК: G01B 11/30

Метки: качества, оптических, поверхностей

...в параллельный поперечного сечения РМаксгде Рма(с максимальный размер окна динамической апертурной диафрагмы 5.Иодулируют этот пучок по амплитуде и фазе с помощью поверхности контролируемой детали 4. Изменяют во времени поперечное сечение первого светового пучка с помощью динамической апертурной диафрагмы 5, Временное распределение комплексной амплитуды ЛР(г.)1 поля первого светового пучка в фокальной точке контролируемой детали определяется следующим образом 0 Е)А ГО(С -) ехрх Ох+2(О)Р )акс.(+ и 1 Б(х)ехрче (х)1 х,и) - глубина модуляции случайных изменений фазы сигнала, обусловленных шероховатостью контролируемойповерхностиА - амплитуда первого пучка;)Рмакс, - максимальный размер окнадинамической апертурнойдиафрагмы 5;х)- распределение...

Номер патента: 1200118

Опубликовано: 23.12.1985

Авторы: Бачелис, Токарев, Ястребов

МПК: G01B 11/30

Метки: имеющих, полостей, стержень, центральный

...системы 1, например, приработах в жидких средах, она можетбыть выполнена с защитным стеклом 8,25 ЗО Изобретение относится к измерйтельной технике и может использоваться для контроля полостей,Цель изобретения - расширениефункциональных возможностей устройства.На чертеже представлена схемапредлагаемого устройства,Устройство для контроля полостей,имеющих центральный стержень,содержнт 10наблюдательную оптическую систему 1 сокуляром 2 и объективом 3 и расположенное соосно с наблюдательной оптическойсистемой 1 вогнутое зеркало 4,имеющеецентральное отверстие и отражающую поверхность, выполненную в виде поверхности вращения второго порядка иобращенную в направлении пространства предметов наблюдательной оптической системы 1, выпуклое...

Номер патента: 1226051

Опубликовано: 23.04.1986

Авторы: Пронкин, Яковлева

МПК: G01B 11/30

Метки: объекта, отклонений, поверхности, прямолинейности, фотоэлектрическое

...содержит (фиг. 1) последовательно расположенные лазер 1, каретку 2, выполненную с возможностью перемещения по направляющей 3, расположенный на каретке 2 оптический преобразователь 4 и позиционно- чувствительный фотоприемник 5. Позиционно-чувствительный фотоприемник 5 имеет светочувствительную площадку 6 и соединен с электронной схемой 7 обработки сигнала.Контролируемый объект представляет собой направляющую 3 с рабочими поверхностями 8 и 9.Оптический преобразователь состоит из оборачивающей призменной системы 10 и совмещающей призменной системы 11 (фиг. 2).Оборачивающая призменная система 10 содержит светоделительный кубик, ,12, опорную призму 13 с двумя отражающими катетными гранями 14 и 15 и выходную призму 16 с гипотенузной...

Номер патента: 1244482

Опубликовано: 15.07.1986

Авторы: Генфан, Григорьев, Салтыков

МПК: G01B 11/30

Метки: марка, прямолинейности

...1, предназначенное для установки на контролируемом об ьекте, целевой знак 2 и полупрозрачный экран 3, целевой знак выполнен в виде усеченного конуса, на боковой поверхности которого нанесены круговые риски 4. В центре конуса выполнено сквозное отверстие 5,На чертеже фиг. 1 показаны источник 6 коллимированного излучения и контролируемый объект 7.На фиг. 2 показаны а - угол при вершине конуса; 1. - высота конуса; д - диаметр отверстия; г - радиус светового пучка.Контроль объекта предлагаемой маркой осуществляют следующим образом.Устанавливают марку на контролируемом объекте 7 вершиной конуса целевого знака 2 в сторону источника 6 измерения. Вводят целевой знак 2 в коллимированный пучок источника излучения, установленного неподвижно и...

Номер патента: 1249324

Опубликовано: 07.08.1986

Авторы: Двинянинов, Литвинова

МПК: G01B 11/30

Метки: поверхности, шероховатости

...170.В качестве устройства направленного излучения могут быть использованы газовый лазер, полупроводниковый лазер, светодиоды. Пучок источника 1 с помощью линзы 4 фокусируется в отверстии зеркала 5 и падает по нормали на контролируемую поверхность 3. Зеркально-отраженный от контролируемой поверхности пучок отражается зеркалом 5 на фотоприемник 6, а диффузно рассеянный световой поток попадает непосредственно на фотоприемники 7 и 8. С помощью электронной схемы (не показана) измеряется отношение диффузно рассеян ного и зеркально отраженного потоков излучения, характеризующее шероховатость поверхности.Разворот фотоприемников 7 и 8 вокруг оси, перпендикулярной относительно нормалей к чувствительным плошадкам второго и третьего...

Номер патента: 1249325

Опубликовано: 07.08.1986

Авторы: Мельник, Михеенко, Свительская

МПК: G01B 11/30

Метки: поверхности, прибор, шероховатости

...Линза 4 может быть плоско-вогнутой, двояковогнутой либо отрицательным мениском. В качестве источника 1 излученияможет использоваться миниатюрная лампанакаливания, но лучшие результаты даетприменение светодиодов с узкой индикатрисой излучения. Регистрирующим устройством 2 может быть фотоприемник, позволяющий регистрировать и оценивать величинуотраженной от контролируемой поверхности 5 рассеянной составляющей лучистогопотока, либо обычный микроскоп, если целесообразно определение величины шароховатости по геометрическим характеристикамвизуально наблюдаемых микродефектовконтролируемой характеристикам визуальнонаблюдаемых микродефектов контролируемой поверхности.Для обеспечения минимальных потерьэнергии и максимального контраста изображения...

Номер патента: 1252666

Опубликовано: 23.08.1986

Авторы: Бачелис, Петина, Токарев, Ястребов

МПК: G01B 11/30

Метки: имеющих, полостей, стержень, центральный

...в виде оборачивающей системы, и окуляра 9.Для возвратно-поступательного движения направляющих стоек 5 относительно наблюдательной оптической сис 52666 2темы они соединены с винтом 10, образуя передающую пару винт-гайка. Винтв свою очередь соединен с осью вращения реверсивного двигателя 11. Для ос вещения осматриваемой поверхности на направляющих стойках 5 установлены светильники 12.Сегменты 7 подвижно соединены в вершине кольцевого пирамидального зеркала 6 между собой с помощью кольцевой оси 13 и в пары посредством,например, петель 14, надетых на кольцевую ось, образуя внутреннюю и внешнюю кольцевые отражающие поверхностипирамидального зеркала 6,Для изменения угла наклона междуотражающими гранями каждой пары сегментов 7 может быть...

Номер патента: 1260678

Опубликовано: 30.09.1986

Автор: Седов

МПК: G01B 11/30

Метки: пластин, плоскостности, поверхности, полупроводниковых, преимущественно

...лазера 1 посредством расширителя 2 формируется в малорасходящийся световой пучок, поступающий насветоделитель 3, который расщепляет 55 его на два световых пучка: опорный А и измерительный Б: С помощью призм 6 и 7 полного внутреннего отражения световые пучки А и Б направляются на соответствующие фокусирующие объективы 8 и 9, посредством которых эти пучки фокусируются: опорный А - в плоскости эталонного зеркала 10, а измерительный Б - в плоскости предметного столика 4.При вращении четырехгранной призмы 5 осуществляется сканирование поверхности контролируемой пластины 12 и эталонного зеркала 10 посредством измерительного и опорного пучков соответственно. При этом четырехгранная призма 5 отклоняет (смещает) эти пучки от...

Номер патента: 1260679

Опубликовано: 30.09.1986

Авторы: Калинин, Потапова

МПК: G01B 11/30

Метки: поверхности, шероховатости

...для контролируемого 35 изделия на корпусе 10 до общей оптической оси источника 1 коллимированного монохроматического излучения иблока 3 регистрации зеркально отраженного излучения;- угол клина для соответствующей пары клиньев; .и; - показатель преломления материала клиньев для соответст-, 45 вующей длины волны света Э .При выполнении этого соотношенияобеспечивается контроль шероховатости поверхности изделия в фиксированной точке.50 Блок 3 регистрации зеркальногоотраженного излучения состоит из фокусирующей линзы 11 и расположенногов ее фокусе фотоприемника 12. В качестве фотоприемника 12 используется 55 фотодиодЭлектронный блок 4 обработки сигналов включает усилитель 13, вход которого связан с выходом фотоприемника 12, з 1260пороговое...

Номер патента: 1262280

Опубликовано: 07.10.1986

Авторы: Обрадович, Попов, Солодухо

МПК: G01B 11/30

Метки: параметров, поверхностей, сверхгладких, шероховатости

...а также ловушку 13 зеркально отраженного от изделия излучения.Способ измерения осуществляется следующим образом. Монохроматический параллельный пучок от источника 1 излучения, пройдя через модулятор 2, поляризатор 3, ослабители 4 интенсивности, диафрагму 5 и бленду 8, падает на поверхность измеряемого изделия 6, установленного на вращающемся столике 7. Поворотом столика 7 устанавливается угол ф падения излучения. Приемник 10 излучения имеет возможность поворачиваться в плоскости падения так, чтобы измерять отраженный поток излучения 1(0) под различными углами отражения Й, отличными от зеркального, так как при этом имеется возможность измерять индикатрису рассеяния в плоскости падения.При отражении от шероховатой поверхности изделия 6,...

Номер патента: 1265473

Опубликовано: 23.10.1986

Авторы: Кайнер, Пучкова, Щербатых

МПК: G01B 11/30, G01B 9/02

Метки: визуальный, высот, диапазоне, заданном, микронеровностей, оценки, плоской, поверхности, шероховатости

...4 Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано, в частности, для оценки шероховатости плоской поверхности в задан ном диапазоне высот микронеровнос. тей,Цель изобретения - повышение точности оценки и оценки не только плоских, а также и криволинейных поверхностей, путем повышения объективности оценки, поскольку оценивается наличие или отсутствие интерференционной картины, а также за счет использования жидкости в качестве элемента, предназначенного для получения интерференционной картины.Визуальный способ оценки шероховатости поверхности осуществляется: следующим образом.Предварительно подбирают ряд жидкостей, составляя его последовательно от жидкости, дающей интерференционную картину при наименьших...

Номер патента: 1272108

Опубликовано: 23.11.1986

Авторы: Витенберг, Терехов, Торчинский

МПК: G01B 11/30

Метки: анизотропных, металлических, параметра, поверхностей, рефлектометрический, тел, шероховатости

...корреляции, среднего угла наклона боковых сторон неров"ностей, среднего шага неровностей,а также за счет исключения при измерении эталонных образцов.На чертеже изображена принципиальная схема устройства, реализующегопредлагаемый рефлектометрическийспособ,Устройство содержит источник 1 монохроматического света, поляризатор2, приемник 3 зеркально отраженногосвета, регистрирующую аппаратуру 4,угловую шкалу 5.Рефлектометрический способ измерения шероховатости анизотропных поверхностей металлических тел осуществляют следующим образом, 30На контролируемую шероховатую поверхность б из источника 1 монохроматического света через поляризатор2, поляризующий свет в вертикальнойплоскости, направляют световойоток 35с длиной волны известной...

Номер патента: 1283525

Опубликовано: 15.01.1987

Автор: Певзнер

МПК: G01B 11/30

Метки: неплоскостности, оптико-электронное

...10 от плоскости приводит к смещению платформы 5, а,следовательно, и координатно-чувствительного фотоприемника 4 относительно двух пучков лучей на выходе системы 3 отражателей, Электронный блок б обработки сигнала, вход которого подключен к координатно-чувствительному фотоприемнику 4, фиксирует разность фототоков с двух площадок фотоприемника 4, пропорциональную величине смещения платформы 5, т,е. величине неплоскостности поверхности контролируемого объекта 10.Для уменьшения влияния нагрева источника 1 коллимированного излучения на систему 3 отражателей между источником 1 коллимированного излучения и корпусом 2 установлен тормоизолирующий слой 7.Нагрев источника 1 коллимированного излучения может привести к параллельному смещению...

Номер патента: 1295215

Опубликовано: 07.03.1987

Авторы: Ивановский, Попов, Симакина, Скакун, Слепцов

МПК: G01B 11/30

Метки: поверхности, шероховатости

...излучения, выходящил из источника 1 монохроматического излучения, модулируется модулятором 2, проходит диафрагму 3 и направляется на измеряемую поверхность изделия 7. Зеркально отраженное излучение, пройдя линзу 13 иослабляющий светофильтр 18, собирается линзой 13 на поверхности матового 5стекла 23 перед входным окном Фотоприемника 6. Два диффузно отраженныхпотока, рассеянных в различных на.правлениях по отношению к зеркально 15 2отраженному пучку, собираются линзами 11 и 12 иа поверхности матовых стекол 21 и 22 перед фотоприемниками 4 и 5, Светофильтры 16 и 17 служат для выравнивания сигналов. Фотоприемники 4 - 6 соединены с электронным блоком 26 обработки сигнаЛов, Используя результаты измерения трех потоков излучения, определяют...

Номер патента: 1298535

Опубликовано: 23.03.1987

Авторы: Клиентов, Лазарева, Поклад, Шестов

МПК: G01B 11/30

Метки: поверхности, шероховатости

...контролируемого образца в положение измерения,В случае значительных размеровобразца его устанавливают неподвижно, а с трехкоординатным механизмом12 перемещения связывают стойку систочником 1 излучения, оптическойсистемой 2 и фотоприемником 3.Излучение, посылаемое источником1, проходит формирующие линзы 13 и14, отражается от полупрозрачнойпластины 15 и объективом 16 направляется на контролируемый образец.Отраженный от образца поток собирается объективом 16, проходит полупрозрачную пластину 15, линзы 17 и18 и разделяется светоделительнойпризмой 19 на два пучка, Один пучоклинзой 20 проецируется на фотоприемник 3, а другой линзой 21 направляется в окуляр 22 визуального канала.Визуальный канал служит для выбора начальной точки...