G01B 9/04 — измерительные микроскопы

Устройство для измерения перемещений поверхностей по нормали

Загрузка...

Номер патента: 25271

Опубликовано: 29.02.1932

Автор: Линник

МПК: G01B 11/14, G01B 9/04, G02B 21/02 ...

Метки: нормали, перемещений, поверхностей

...микроскопов, из коих один микроскоп вместо окуляра снабжен освещаемой щелью, а другой - окулярной сеткой.Изображенное.,схематически на чертеже предлагаемое устройство состоит :из двух микроскопов Х и Яоси кото-рых составляют некоторый угол а и пе-ресекаются в точке 5. С этой же точкойсовпадают и предметные точки объективов О и О Микроскоп А., вместооку,ляра снабжен освещаемой щелью 5, расположенной перпендикулярно к плоскости, содержащей оси обоих микроскопов, микроскоп же А снабжен окулярной сеткой К Если поверхность У, перемещение которой измеряется, проходит через точку з, то изображение щели 5 появится на окулярной сетке Иг в месте К.При перемещении поверхности У по.нормали в положение , изображение щели из места К перейдет в место...

Передвижной столик к микроскопу

Загрузка...

Номер патента: 39404

Опубликовано: 31.10.1934

Автор: Моршанский

МПК: G01B 11/00, G01B 9/04

Метки: микроскопу, передвижной, столик

...формы выполнения сверху; фиг. 3 - то же сбоку; фиг. 4 - вид сбоку центровых бабок, устанавливаемых на столике.На обычном столике микроскопа для обмера резьбы устанавливается у края неподвижный упор 1. Каретка 2 столика освобождается от стопоров и может свободно перемещаться по столику. Между упором 1 и столиком 2 устанавливаются калиброванные плитки 3. Размер плиток подбирается таким образом, чтобы вместе с размером хода столика при помощи микрометренного винта получить размер, превышающий диаметр обмеряемого винта. Для плотного прижимания каретки 2 к плиткам 3 и к упору 1 применены пружинь 4.Вместо того, чтобы упор 1 прикреплять к столику микроскопа, можно применить накладку 5 (фиг, 2) с бортиком 1 для упора калиброванных плиток.В...

Приспособление для нанесения риски на нож для проверки резьбовых калибров к микроскопу

Загрузка...

Номер патента: 41192

Опубликовано: 31.01.1935

Автор: Мерзляков

МПК: G01B 3/36, G01B 9/04

Метки: калибров, микроскопу, нанесения, нож, проверки, резьбовых, риски

...и прямолинейности движения.В основу решения этих конструктивных требований положена возможность использования микроскопа для измерения резьбовых калибров путем применения приспособления к нему для установки и регулировки режущего инструмента, )ЩфНа чертеже фиг. 1 и 2 изображают общий вид приспособления в двух проекциях; фиг, 3 - разрез его,гц 3 иг 5 СРигЛ Предлагаемое приспособление состоит из хомутика 5, надеваемого на объектив микроскопа. Хомутик удерживается на объективе микроскопа зажим ным винтом 6 и несет на противопо ложной стороне в приливе укрепленную гай:кой 4 колонку 2, По этой колонке 2 может вертикально перемещаться кронштейн 1, укрепляемый в любом положении двумя стопорными винтами, Кронштейн 1 имеет два...

Прибор для нанесения сетки для оптических приборов

Загрузка...

Номер патента: 44047

Опубликовано: 31.08.1935

Авторы: Борисов, Муратов

МПК: B23Q 16/12, G01B 9/04

Метки: нанесения, оптических, прибор, приборов, сетки

...10 со шкалой угловых отклонений.Шкала клинового компенсатора мо.жет быть и неравномерной. Это устройство позволяет наносить шкалы для таких приборов, у которых сетка помещается в фокусе сложной оптическойсистемы, например, объектива и оборачивающей системы.В этом случае перед призмой 3 (фиг. 1)за объективом коллиматора на местелинзы 1 помещается уже собранная пред.варительно вся система, в фокусе кото,рой ставится сетка (в приборе).В рассматриваемом устройстве погрешность фокусной длины не имеет значения для изготовления сетки.Факторами, вызывающими погрешность, здесь будут:а) неточность наводки микроскопом,б) погрешность рейссерверка.Погрешность от фактора а) будет неболее 0,005 лм. Ту же погрешность сле.дует ожидать и от...

Прибор для намерения рисок на ножи к универсальному измерительному микроскопу

Загрузка...

Номер патента: 49262

Опубликовано: 31.08.1936

Авторы: Дворецкий, Камышев, Овечкин

МПК: G01B 3/36, G01B 9/04

Метки: измерительному, микроскопу, намерения, ножи, прибор, рисок, универсальному

...цена деления на нониусном барабане микрометра будетсоответствовать перемещению державкис алмазом на 0,1 РУстройство для достижения парал.дельности рисок состоит из свободноперемещающегося на шариках 7 супорта 2, на котором закрепляется обрабатываемый нож 3 так, чтобы его кромниупирались без просвета в направляющую линейку 4.Супорт 2 снабжен подпружиненнымипальцами б, 7, которыми он совместнос регулируемым винтом 5 прижимаетсяк двум направляющим линейки 4.Соответствующий регулировке поворот столика достигается вращением регулирующего винта 5. Контроль на просвет производится микроскбпом, настолик которого устанавливается прибор.При непосредственном нанесениириски су порт с закрепленным ножомдвижется, прижимаясь к опорной...

Способ и приспособление в радиально-упорных подшипниках угла наклона к оси вращения нагрузки, воспринимаемой шариками

Загрузка...

Номер патента: 49275

Опубликовано: 31.08.1936

Автор: Нефедов

МПК: F16C 17/10, G01B 11/26, G01B 9/04 ...

Метки: воспринимаемой, вращения, нагрузки, наклона, оси, подшипниках, радиально-упорных, угла, шариками

...и с нажимом повертывается несколько раз; затем шарики вынимаются и наружное кольцо с полученной риской устанавливается под объектив микроскопа на подвижную площадку 5 (фиг, 1, пунктир) таким образом, чтобы исследуемый элемент 11 поверхности дорожки катания находился внизу, как раз на оси вращения.Приспособление для измерения угла наклона к оси вращения нагрузки, воспринимаемой шариками, состоит из укрепленного на плите 1 диска 2 и соединенного с ним поворотного диска 3 с делениями на торцевой поверхности на 360; на диске 3 находится подвижная площадка 4, перпендикулярно к которой укреплена вторая подвижная площадка 5 с Ч-образным выступом, по диагонали которого расположен вырез 13, сделанный в площадке 5; на стойке б укреплена труба...

Штриховой нож для микроскопа

Загрузка...

Номер патента: 50451

Опубликовано: 01.01.1937

Автор: Уверский

МПК: G01B 9/04, G02B 21/36

Метки: микроскопа, нож, штриховой

...вои нож ийся т изнаши о более расстоян ен пере величени Штрихо отличающ меньшего и возможн точности вия, введ за счет у Измерение элементов резьбы резьбовых калибров - пробок посредством универсальных микроскопов и резьбовых компараторов с соответствующей точностью возможно только при наличии доброкачественных штриховых ножей.Обычно употребляемые при этом штриховые ножи (конструкции Цейсс) чрезвычайно быстро теряют остроту лезвия и, вследствие этого, точность расстояния штриха до лезвия также теряется быстро и нож становится непригодным к употреблению.В предлагаемом штриховом ноже, с целью устранения указанных недостатков, введен передний угол заточки за счет увеличения толщины ножа.На чертеже фиг. 1 изображает вертикальный разрез...

Оптический микросферометр для измерения радиуса закругления подпятников

Загрузка...

Номер патента: 50886

Опубликовано: 01.01.1937

Автор: Кульбуш

МПК: G01B 11/255, G01B 9/04

Метки: закругления, микросферометр, оптический, подпятников, радиуса

...объектд и у в величи его действительного изображения.В п редлагаемом микросферометре осветительная лампа 7 (фиг. 2), расположенная под объективным столиком 2, служит для яркого освещения тонкого кольца 3 с полированной закругленной кромкой; кольцо 3 образовано краем металлического колпачка 4, укрепленного на объективе 5 микроскопа, Освещаемому краю кольца 3 придают малый радиус кривизны (порядка 0,5,ял) для того, чтобы размер отражающегося светлого кольца не зависел от изменения положения осветительной нити, что может иметь место, например, при замене одной лампы другою.., Освещенное кольцо 3 отражается от измеряемой сферы подпятникд б, установленного на предметном столике 2, и величина действительного изображения этого кольца...

Компаратор для промера рентгенограмм и кривых

Загрузка...

Номер патента: 51937

Опубликовано: 01.01.1937

Автор: Евсеев

МПК: G01B 9/04

Метки: компаратор, кривых, промера, рентгенограмм

...предлагаемого компаратора сверху; фиг. 2 - вид его сбоку; фиг.З - вид его спереди,Компаратор состоит из стола 1 (фиг. 1 и 2), по которому в вертикальном и горизонтальном направлениях может передвигаться рамка, несущая помещенную в нее промеряемую рентгенограмму; рамка укрепляется при помощи винта 3 к рейке 4 со шкалой. Передвижение рейки 4 в вертикальном направлении производится вращением шестеренки 5, которая своими зубьями соединяется с зубьями рей. ки 4. Шестеренка насажена на ось головки б. Рейка 4 пропущена сквозь направляюшую обойму 7, прикрепленную к перпендикулярной к ней зубчатой рейке 8 со шкалой 9. Рейка 8 сцеплена с шестеоней 10, насаженной на ось головки 11 и служащей для перемещения рейки.Для более медленного и плавного...

Прибор для измерения элементов внутренних резьб и других фасонных профилей

Загрузка...

Номер патента: 60900

Опубликовано: 01.01.1942

Автор: Омельченко

МПК: G01B 11/25, G01B 11/26, G01B 9/04 ...

Метки: внутренних, других, прибор, профилей, резьб, фасонных, элементов

...гд 8, Г 1 Эбс 11, рдздегснОГО нд Градусы, и Оку(ярнОГО кр(с 2 (сстки птсй), связанпого с лимбом. Окулярпьй крест может ВрацТься вмсс с си)100 м и п(эеЛВг 1 ться НО Ли 2 сру по 151 зреп 15 микэоскОП 2.Отсст уГла 1 ОБОэота Окуг 151 рпОГО кэсстс ОсущестВГястс 51 Окугяро) 1 Б ОКУСЕ КОТОЭОГО ПО)1 СШЕП НОПИС С 01 СЧСТО)1 В ОДНУ ЪИНУТУ.х микроскопу п)игОжсн 2 фотокаэ(с 1) (фиГ, 3) с Окмг 15 р 1 ыэ ко - лспо) 4 дл 5 Ндбл 0. пи 1 за ТОЧНОЙ фокусп;,окой на Об,скт. П)и фотсгрдфировдlии окулярпую часть 8 с лимбом 11 снп)яаюг и в тубус ЬЗ,П;иБ;1.ОТ (60 токаСЭ 1 1) С ГОМОщ 11;)ОГОрОЙ )0 К 10 ЗсиессТГСТЬ ВИ.(Нмый профиль резьбыПриоор можно приспосооиь к: гювао) пзСрителы 10,у Гстроиств,КТОРОГО СТОЛИК ИМСЕТ ДВс 1 ВЗДИ.НО-СРПСЛПКУЛЯРПЬХ,ВИЖЕП.1 Цель 2...

Приспособление для исследования цилиндрических и конических поверхностей

Загрузка...

Номер патента: 61540

Опубликовано: 01.01.1942

Автор: Беркович

МПК: G01B 9/04, G02B 5/04

Метки: исследования, конических, поверхностей, цилиндрических

...металлографического микроскопа, о т л и ч а ющ е е с я тем, что вторая катетная грань призмы посеребрена. 18 х По известному способу микроскопического исследования цилиндрических и конических поверхностей объект, поверхность которого желательно исследовать, накладывается под некоторым давлением на гипотенузную грань призмы полного внутреннего отражения, катетная грань которой помещена на столике металлографического микроскопа.Предметом изобретения является приспособление для аналогичной цели, выполненное в виде призмы полного внутреннего отражения, устанавливаемой катетной гранью на столике микроскопа, у которой вторая катетная грань посеребрена.Примерная форма выполнения изобретения представлена на фигуре.Свет от лампы 1 через...

Оптический штихмасс

Загрузка...

Номер патента: 61932

Опубликовано: 01.01.1942

Авторы: Линник, Поляков

МПК: G01B 13/12, G01B 9/04

Метки: оптический, штихмасс

...О 1 и О., С, и О., составляюг равцыс угг ы с иовсрхцостя.;ли Р, и Рч в частном случае углы в 45 .ПО свойствам двойцого микроскопа смец 1 сцис каждой из поверхцостей Р и Р вызывает гсрсме 1 цецис изображения 1 ш ли Я передокуляром Ок. Это смец 1 ец; е может быть измерецо по сетке. При ука.заццой схеме Одинаковое псремещеги 1 е В одцу и ту жс сторону повс 1 хцостсй Р, и Р, соответствующее цеизмеццости рдсстояция между нимив изВестцых п 1)сделах, не смецает изобрдение, так и 1 к смс 1 ценце поверхности Р, компенсирует перемещение изображения Я вызвднцоссмешсцисм поверхности Рь Наоборот, измецсцие 1 ассовин .,СкдВе 1)хиостя 11 и Р и Р 2 ср азу дает с 1 ммар Нос смеьцсние из 001 ажсция ъ;, В1 ь которос можО измерить по седоке.Опти 1...

Прибор для проверки резьбы

Загрузка...

Номер патента: 63706

Опубликовано: 01.01.1944

Авторы: Кореневский, Эрвайс

МПК: G01B 11/24, G01B 9/04, G01D 5/04 ...

Метки: прибор, проверки, резьбы

...столик имеет съемную часть, на которой смонтированы бабки с точными центрами. Эта съемная часть может быть заменена другим накладным столиком для производства измерений, не требующих горизонтальных центров.Микроскоп состоит из объектива 5, диафрагмы 6, шкалы с сеткой 7 и окуляра 8, помещенного в тубусе. Шкала помещена в оправу 9 (фиг. 3), которая может свободно вращаться в тубусе. К оправе 9 шкалы присоединен рычаг 10, который, находясь вне тубуса микроскопа, позволяет вращать шкалу,Микроскоп устанавливается на стойку 11 при помощи цанги и закрепляется кольцом 12, служащим также и щитком.На стойке 11 микроскопа смонтирован индикатор 15 и подающий винт 13, служащий для перемещения рычага 10 шкалы микроскопа и производства...

Приспособление для центрировки пары линз при склейке

Загрузка...

Номер патента: 69200

Опубликовано: 01.01.1947

Автор: Лебедев

МПК: G01B 11/27, G01B 9/04, G02B 21/00 ...

Метки: линз, пары, склейке, центрировки

...слоем; изображения бликов наблюдаются через окуляр 77. Вместо изображенного на схеме окуляра Гаусса может быть также применен автоколлимационный окуляр Аббе.Задача центрировки пары линз сводится к установке на одну прямую - в данном случае ось прибора - трех26369200 2 б 4 центров сферических поверхностей, причем поверхность склейки принимается за одну.Нижняя поверхность пары линз центрируется автоматически при укладке на кольцо б. Смещением вдоль направляющей кольцо б устанавливается так, чтобы точка 72 попала в центр кривизны поверхности склейки. После этого вогнутое зеркало 10 передвигается вдоль направляющей так, чтобы его центр кривизны совместился с изображением точки 72 через склеиваемую пару линз. Если пара линз центрирована...

Способ компарирования со шкалой

Загрузка...

Номер патента: 76929

Опубликовано: 01.01.1949

Автор: Бурмистров

МПК: G01B 9/04, G01D 13/00

Метки: компарирования, шкалой

...кон микроскопе пластинку и шкалу с н ванными ш рядка 0,15 -ют совместн;21 Предметом изобретения является способ компарирования со шкалой.При изготовлении шкал сравнения встречаются с трудностями нанесения штрихов на шкалу. Известные способы нанесения делений дают возможность получать штрихи боль щего контраста путем подбора краски и увеличения толщины штриха, вместе с которой увеличивается и ширина штриха, что понижает точность наведения на штрих при компарировании.В предлагаемом способе для увеличения точности компарирсвания применены фазовые шкалы, и микроскоп компаратора снабжен приспособлениями для наблюдения при помощи фазовых контрастовЭтот способ заключается во введении фазовой пластинки в отсчетный микроскоп компаратора и...

Оптический толщемер

Загрузка...

Номер патента: 78579

Опубликовано: 01.01.1949

Автор: Шахвердов

МПК: G01B 11/06, G01B 9/04

Метки: оптический, толщемер

...трубки. От тубуса микроскопа 8 под углом 90 отведена дополнительная трубка (опак), несущая марку (диафрагму, щель) и осветительную систему (конденсатор и лампочку от карманного фонарика).Полупосеребренный кубик, помещенный в тубусе против дополнительной трубки, позволяет получить изображение марки в предметной точке микрообъектква микроскопаЮстировка прибора выполняется при постройке и заключается в том,861что микроскопы должны иметь общую оптическую ось, совпадающую с центром отверстия столика,Марки должны быть установлены с таким расчетом, чтобы их изображения точно совпадали с аредметными точками микрообъективов, Для периодического контроля юсти. ровки необходимо микрообъективу одного из микроекопов обеспечить движение,...

Оптический сферометр

Загрузка...

Номер патента: 79150

Опубликовано: 01.01.1949

Автор: Иконников

МПК: G01B 11/255, G01B 9/04

Метки: оптический, сферометр

...А; и Аа.ВО изое)канне няесения специяльцоц икяль) в Оксляре мик)0- скопа на предметном столике крепится устройство, позволяю)цее перемещать испытуемый объект в цяправ,Сццц прямой А,А. отцс)сительно тубуса микроскопа.При отсутствии в окуляре специальной шкалы аожцо пользоваться микрометром, яющим отсчет с точностьк) до сотых долей миллимет. ра. КакСць в этом случае перемещают, чтосн,) добиться подведения под середину окуляра сначала одного изображения, я затем второго.Рязшашу показаний микрометра отмечают и, располагая шкалу подМ 79150соответствующим масштабом, получают величину радиуса. Для удобства наблюдения в окуляре помещается линза с двумя линиями, пересекающимися под углом 90, из которых одна совпадает с направлением АА...

Прибор для измерения угла заострения режущих кромок различных инструментов

Загрузка...

Номер патента: 79970

Опубликовано: 01.01.1949

Автор: Винокурский

МПК: G01B 9/04

Метки: заострения, инструментов, кромок, прибор, различных, режущих, угла

...одну из линий, нанесенных на вращающейся пласгинке оптической головки, с одной из сторон угла, фиксируют показания отсчетной шкалы в окуляре, Затем совмещают эту линию с другой стороной угла. Разность показаний счетной шкалы дает величину наблюдаемого угла. Так как верц 1 ину наолюдасмого угла иногда трудно совместить с центром перекрещивания нитей вращающейся пластинки, то измерения целесообразно производить из указанного центра при любом его положении. Совмещение ливин со стороной угла осуществляется посредством поворота вращающейся пластинки79970 оптической головки и перемещения стола прибора при помощи микрометрнчсского винта. Наблюдасмый в окуляре универсальной онтичской головки угол представляет собой угол заострения режущей кром....

Микроскоп с оптическим микрометром

Загрузка...

Номер патента: 89423

Опубликовано: 01.01.1950

Автор: Грейм

МПК: G01B 11/26, G01B 9/04, G01B 9/10 ...

Метки: микрометром, микроскоп, оптическим

...части которго иа резьое укрег(л(и оп,ектиц ц о)грац, я к )ерки и части тякске иякритс)г ог,;5(р 3. 1)ггутргг г)ор)г)(") ря ил)кеиа цо;(и по(- Рпвац)(с(55 ЦТУ.а (, СИЯОКЕН)а 5 )ОРТИОГ )0,(ЬКй 5.)1 иутр)г корпуса мик 1 нн кона, с )илью ицы)и(иг и точии ти отсч, рясиол(и)ичгь,и)е с(тк)г фггг. 21. ,(Тка 6 жестко скрч(лепя с ,и)-кярсллельно) яклогипнг и;гастинкои (. ткрлеииои цо итоги ")ИРИ :ВГЕР ИИГГ УГЛЯ НО)И)РаЧИВасте)Г )ОКРУГ ГИ(ЗИР(й ОСИ )КРСК)с. ;еткс 8 жестко укрплена ц корпусе.55;ДЯТЕЛЬ. )Рап(аГ )ТУЯГС 4 ЗЯ )И(.)ЬК)с А Заг)ОДт и)ТРИОя цли;кяйги)(йи(с(ктор сетки 8.,им рязд(леи на гр),;(ус,е;егге)пиг, (1 тс)гет угла оеретссг по градуи)ому ипригу:)им, зяте) )о)- сектору, с которым сюге)г(етг пгтр)г.с,.иога. тг, няко)и и, (о сетке 6,...

Способ измерения микроскопических объектов и отсчетный осветитель для осуществления этого способа

Загрузка...

Номер патента: 85117

Опубликовано: 01.01.1950

Авторы: Гуревич, Трухманова

МПК: G01B 9/04, G01N 21/01, G02B 21/00 ...

Метки: микроскопических, объектов, осветитель, отсчетный, способа, этого

...стандартного типа. Вблизи ее нижнегоконца имеется стопорное гриспособление 2 для фиксации положениявторой трубки 3, в верхнем конце которой неподвижно закрепленашкала, выполненная на прозрачном фоне 4 с прилегающим к пей молочгым стеклом б. На противоположном конце трубки 3 имеется осветительная лампочка б.Верхний конец трубки 1 с помощью двух эксцентр улок 7крепится в кольце 8, предназначенном в микроскопе щенияконденсора,Расстояние между опорной плоскостью, микрообъектива и шксоставляет около 75 млт. Уменьшенное изображение шкалы праеется микрообъективом в плоскость, где на предметном столике лпрепарат, Оно фокусируется с помощью кремальеры конденсора и центрируется на оптической оси микроскопа при помощи двух эксцентричных...

Способ контроля криволинейных поверхностей

Загрузка...

Номер патента: 87675

Опубликовано: 01.01.1950

Автор: Омельченко

МПК: G01B 11/30, G01B 9/04

Метки: криволинейных, поверхностей

...закрепленноГО неподвижно, В резу;ьтате этОГО н 1 фотоплСтинке воспроизводится кривая линия, соотвстствмющая п)офплю Сследхе)01 повеРхности. Возможность фотозаппс ПРОч)1 ЛЯ повеРхнОстсп, име 1 ощих сложну 10 конф 5 Гурацию, Обеспечиваетсч переменение) Издег 11 я и экран В направ,ении, перпРндпкулярном к и;Оско ти пдс 1 я и Отракени 51 луча.На фиГ. 1 схематически изО,)1)аКено строство, Обеспечиза 0 нее применение нового спос ба контроля 1:;)1;волс 1 ых поверхностей; на фиг. 2 - полученная кривая.На подвижном столе 1 закреплена контролируемая деталь 2, имеющая поверхность сложной конфигурации. На стойке 3 стола 1 смонтирована фотопластинка, служащая экраном 4. При помощи источника 5 света на контролируемую поверхность детали 2...

Прибор для измерения и нанесения лунок или отпечатков на поверхности цилиндров двигателей

Загрузка...

Номер патента: 88221

Опубликовано: 01.01.1950

Авторы: Беркович, Хрущев

МПК: G01B 9/04, G01N 3/56

Метки: двигателей, лунок, нанесения, отпечатков, поверхности, прибор, цилиндров

...внутренней гильзе 6 укрепл- ны с помощью втулки 1 О приспособление для выдавливания отпечатков и микроскоп 1, оптическая ось объектива 11 которого направлена горизонтально.Алмазная пирамида 12собления для выдавливанчатков и объектив 11 мирасположены под углом 90 один к другому в одной горизонтальной плоскости. Для подвода объектива 11, микроскопа и пирамиды 12 к поверхности цилиндра промежуточная гильза -1 и внутренняя гильза б имеют окна И. Внсцшяя гильза 3 по всей окружности также имсст окна 14, позволяющис подводить объектив 11 или пирамиду 12 к поверхности цилиндра в нескольких точках.Для определения вертикального перемещения микроскопа 1 приме. иена шкала, обеспечивающая точную установку объектива 11 при повторных...

Проволочки для измерения малых отверстий диаметром от 0, 3 до 1 мм

Загрузка...

Номер патента: 93551

Опубликовано: 01.01.1952

Авторы: Григорьев, Речицкий

МПК: G01B 11/12, G01B 9/04

Метки: диаметром, малых, отверстий, проволочки

...и микроскопа со спиральным онусом позволяет из- бежРТь Основых недостатков дру х контактных етодов и разрешить задачу измерения отверстий диаметром от 0,3 до 1 1Предлагаемые проволочки выполняются с полусферическими головками и имеют доведенные торцы с ЯРесеными на нпх риской илп точкой, которые могут рассматриваться в микроскоп со спиральням ониусом.На фиг. 1 показан прибор, с помощью которого оя измерения; на фиг. 2 и 3 - конечные положения проволо существляютс чки в процесс93551измерения; на фиг. 4 - поле зрения Отсчетного устройства микроскопа; на фиг. 5 - два положения проволочки в процессе измерения,На колонке приоора (фиг. 1) кроме микроскопа крепятс 51 два столика. На нижнем столике закрепляется проволочка, которая с...

Способ установки измерительных микроскопов в вертикальное положение

Загрузка...

Номер патента: 97185

Опубликовано: 01.01.1954

Автор: Назаров

МПК: G01B 9/04, G05D 3/00

Метки: вертикальное, измерительных, микроскопов, положение, установки

...положение с больп;ец топ 10 стью, Суцность способа заключается в том, что на объектив микроскопа в его Оптическом центре наносят метку (крест), изображенце которой, отраженное от искусственного горизонта на плоскость сетки микроскопа, созмещают с центром- сетки (центром- поля зрения),Для установки микроскопа в вертикально.; положсцц: перед ним устанавливается искусственньш горизон г тяк, чтобы его Отражающая поверхность находилясь на половине поедметного расстояния микроскопа, В этом случае отражение креста на объективе будет видно в плоскости сетки микроскопа. Из 1 рилагаемого чертежа видно, что если визирная ось, проходящая через середину сетки О (центр поля зрения) и центр объектива О, не бу97185 дет Вертикальп 1 )О из 001 ажение...

Способ определения чистоты поверхности методом сравнения исследуемой поверхности с образцом

Загрузка...

Номер патента: 97370

Опубликовано: 01.01.1954

Автор: Саркин

МПК: G01B 11/30, G01B 9/04

Метки: исследуемой, методом, образцом, поверхности, сравнения, чистоты

...не отличит поверхность более низкого класса от поверхноспи более высокого класса.Сущность изобретения состоит в том, что предлагается сопоставлять не сами поверхности, а изображения интерференционных картин сравниваемых поверхностей.На фиг. 1 дана схема прибора для осуществления предлагаемого способа определения чистоты поверхно"ти; на фиг. 2 в по зрения окуляра.Две одинаковые микроинтерференционные системы Линника образуют на поверхностях образца а и контролируемой детали б интерференцианные картины, изображения которых сводятся через систему призм в поде зрения окуляра.Сопоставляемые детали - а - образец чистоты и б - подлежащая кантролю деталь - устанавливаются в приборе, состоящем из источников света в, эталонных зер 1 кал г,...

Измерительный микроскоп для измерения линейных и угловых величин

Загрузка...

Номер патента: 97452

Опубликовано: 01.01.1954

Автор: Мартынов

МПК: G01B 11/26, G01B 9/04

Метки: величин, измерительный, линейных, микроскоп, угловых

...помощью стрелки 3 по градусгой шкале 4.,для верхнего Освегценпя проВеряемоГО инструмента служят электричсск 11 е,ямпы, крепаР 1 ные на державке д. В пазу стола 6 микроскОПЯ устанОВ,1 ена От ражяте:п:ня 5 приза 7, измеюща при 1 эмерении торцовык поверхностей контролируемых изделий гаправление кода световык лучей в микроскопе и 90-гой призмой 8 для установки проверяемых из;1 елнй. ,ля сстяновк В призме пзде,11 й с коничеок 11 м квоГтол 1 с,1 мк 11 т сменная Втулка 9.;4 97452Стол установлен таким образом, что ось призмы 8 проходит через оптическую ось микроскопа.Для нижнего освещекия поверяемого инструмента служит электрическая лампа, помещенная в люк, закрытый прозрачной пластинкой 10.При проверке угла наклона, эксцентриситета, ширины...

Прибор для определения предела упругости и упругого последействия листовых материалов

Загрузка...

Номер патента: 100415

Опубликовано: 01.01.1955

Автор: Цобкалло

МПК: G01B 9/04, G01N 3/28

Метки: листовых, последействия, предела, прибор, упругого, упругости

...5 СтЕННЯ 51 Ци ИНДРПЧЕСКЯ 51 оправка 6 1 диатетр от 7 до 1 т)0.1 т). Образец 6 испытуемого листового ма терцяля имеет вид полоски прямоугольного сечения длиной 110 51,5. Концы образца 6 и ленты 7 ила- Ни ) ттрцжц)тяОтс 51 и плястцн 1 сс 3,1 полке 9, укрепленной на стойках 2 ц 10, смонтирован отсчетцый микроскоп 11. Тубус микроскопа моио псрсмсцтять перпендикулярно ц. и)скости,яжимя образца.1)янря)кснц 5 в образце 6 задаются счо огцояцисм вместе с лентой 7 вокруг оправки 6. С этой целью свобо;.иый ксцсц ленты вставляют в,тяжи)1 12 винта 13, лсжятцеГО в прорези стойки 10. Пере:т испытгишсм винт ЗМССТС С 1 СНТОй ООВОД 51 Т ВОКРУГ ОП- равкц ц вводят и прорезь вилки 14. Зятем врятцятот мттховцчок 15, который цсрсмс:цяет вицт, обеспечиьая...

Прибор для исследования и контроля чистоты поверхности древесины

Загрузка...

Номер патента: 101037

Опубликовано: 01.01.1955

Авторы: Бессонова, Буглай

МПК: G01B 11/30, G01B 9/04, G01D 5/04 ...

Метки: древесины, исследования, поверхности, прибор, чистоты

...6 осветителя с лампочкой 7, конденсатором 8 и об ьективом 9.Карета 4 в нижней своей части скреплена жестко с коробкои 10, имеющей две боковые стенки и дна с прорезью, через которую рассматривают исследуемого пс верхность. Внутри коробки 10 помещен механиз.1 для регмлир)в 11 ния положения ножа 11 (при приведенш. его в поле зрения микроскопа) при настройке прибора.Нож 11 (фиг. 2) шарнирно скреплен с качающейся на оси 12 рамой 13. Регулирование положения ножа при рассмотрещш профиля его тени на исследуемой поверхности осуществляется поворотом рукоятки 14, закрепленной на концс оси ), С осью 1 д жестко скреплена скоба 16, подведенная нижнси своей частью под фигмрные скооы 1/, м 13 еплен ые на пл;сости ножа 11.При повороте рукоятки 14 по...

Способ оптического определения толщины пленок лакокрасочных покрытий с помощью двойного микроскопа

Загрузка...

Номер патента: 102090

Опубликовано: 01.01.1955

Авторы: Каск, Ландра

МПК: G01B 11/06, G01B 9/04

Метки: двойного, лакокрасочных, микроскопа, оптического, пленок, покрытий, помощью, толщины

...01 Т 0,1 п 1ну пленки ланнй плоц)л)1 ст,ьгл)йции г 15 я и)н ( т 1)ут)П 3 гтя)и и 3)знигйо Ними отгв)ла нсчн)г 3 ми о, р, л;МГЧСНТй И)П)КОС.ОВСИИЯ И),Ы Г П, СП; Г) Ь. О Г 1 ованн,с и злсктричсскик)ойстй.и зц)исящик от состояния пленки и г 1)ель, мйу 1 лйть ОН 1 ио)3, ги)у г,цвлс н указнно)1 зявисимоетьв),Г 3 "); ЗГК ТСЛОП ЕЛ;йгйе)1 з 1 ПОСО) Л)1 ИС) ЗТ СГОТКОВ, й 1 ъ КК И)3 с)С)3 С Я 10 ВТО)ГУ СПцсябу нс Вьз 1)вйст никк)1 к Лс)1 ор)йп 01 лсн -; Ви;ит от состояния пленки, и оирслеление мопкст оыть нрослепо г л," точке повсрлнсти пленки.,1" ЛИС, уст)павлийОт л 3 его тубуса в вертикальной плоскости полуглл 31" яру к Тругу н ИОЛ углом в 1 а к горизонтальной и)Вор),нести пленки. 1 ри 10)10)ЦИ одного туоуса на место изме )И 1 Я ) Н(, т это)...