Способ контроля криволинейных поверхностей
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 87675
Автор: Омельченко
Текст
Класс 42), 12,.Я 37675 . СССР САНИЕ ИЗОБРЕТ ТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬ А, И, ОмельченкоОСОБ КОНТРОЛЯ КРИВОЛИНЕЙНЫХ ПОВЕРХНОСТЕЙ техВаку СС 949 г. за М 408724 аавлево 12 дека т дмет изобретени иволпнейных поверхностей с использование) л и ч а о щи й с я тем, что, с целью контроля Способ контролядвойного микроскопа. Предхетом изобретения яв;ястся способ контро,.я криволпнепых поверхностей с использова;ием двойного микроскопа.Известны способы контроля крив. лине."пых повс )хнэстей с и:пользованием двойного микроскопа, однако они не обеспечивают возможноти изерепия поверх 5 Осте сложной КО.фГураци вследстзе .,:ОдВпжности экрана.Предлагаемыи спосоо Олаес От звестных подобных способов ем, что В качестВе экрана прихенспа фотопластинка, укроп.яем 351 па подвижном столе микроскопа, Исследуемое изделие устанавливается па подВикном столе и переещается Вместе с фото;ластгпко 1 В на:рав,енин, перпендикулярном к плоскоеи располокс 1 шя ОбьсктпВоз Икрсскопа, закрепленноГО неподвижно, В резу;ьтате этОГО н 1 фотоплСтинке воспроизводится кривая линия, соотвстствмющая п)офплю Сследхе)01 повеРхности. Возможность фотозаппс ПРОч)1 ЛЯ повеРхнОстсп, име 1 ощих сложну 10 конф 5 Гурацию, Обеспечиваетсч переменение) Издег 11 я и экран В направ,ении, перпРндпкулярном к и;Оско ти пдс 1 я и Отракени 51 луча.На фиГ. 1 схематически изО,)1)аКено строство, Обеспечиза 0 нее применение нового спос ба контроля 1:;)1;волс 1 ых поверхностей; на фиг. 2 - полученная кривая.На подвижном столе 1 закреплена контролируемая деталь 2, имеющая поверхность сложной конфигурации. На стойке 3 стола 1 смонтирована фотопластинка, служащая экраном 4. При помощи источника 5 света на контролируемую поверхность детали 2 проектируют малое круглое отверстие б двойного микроскопа, установленного неподвижно по отношению к столу 1. После этого деталь 2 перемещают вместе с установленным на столе 1 экраном 4 и проектируют на экран полученное изображение через второе отверстие 7 микроскопа. Деталь с экраном перемещают в направлении, перпендикулярном к плоскости падения и отражения луча,67675 Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССРРедактор Л. М, Струве Подл. к печ. 23 ХП.59 г.Тираж 360 Цена 25 коп. Инфс рмациоино-издательский отдел. Объем 0,17 и. л. Зак. 5312 Типография Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР Москва, Петровка, 14, поверхностей со сложной конфигурацией, на контролируемую поверхность детали, закрепленной на подвихкном столе, проектируют малое круглое отверстие и перемещают деталь вместе с установленным на столе экраном в направлении, перпендикулярном к плоскости падения и отражения луча.
СмотретьЗаявка
408724, 12.12.1949
Омельченко А. И
МПК / Метки
МПК: G01B 11/30, G01B 9/04
Метки: криволинейных, поверхностей
Опубликовано: 01.01.1950
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-87675-sposob-kontrolya-krivolinejjnykh-poverkhnostejj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ контроля криволинейных поверхностей</a>
Предыдущий патент: Пантограф для граверных работ
Следующий патент: Способ изготовления полупрозрачных серебряных слоев на оптических деталях
Случайный патент: Способ получения ялрл-замещенных феноксифенилхлорсиланов