Способ определения качества обработки стеклянной шлифованной поверхности

Номер патента: 256440

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Геллер, Захаров, Кочин, Кроль, Ленинградский, Маслеников, Сучков

МПК: B08B 9/023, G01B 11/30

Метки: качества, количественной, металлических, оценки, поверхности, труб

...ц0,58о Известен способ очистки и количественнои оценки качества поверхности металлических труб от ржавчины и окалины с помощью вращающегося вокруг трубопровода рабочего органа с рабочими инструментами,Цель изобретения - обеспечить объективную оценку качества очистки.Достигается это тем, что качество очистки оценивают по величине фототока, возникающего при отражении светового потока от очищаемой поверхно"ти, определяя содержание ржавчины и окалины на поверхности по фор- муле тде В - весовой показатель коррозии;- сила тока в измерительной цепи; К - коэффициент пропорциональности,зависящий от характеристик осветителя, датчика и стрелочного прибора,Изобретение поясняется чертежом.На исследуемую поверхность трубы 1 направляется луч света...

Номер патента: 1744455

Опубликовано: 30.06.1992

Авторы: Дорожкина, Рогов

МПК: G01B 11/30

Метки: качества, отверстий, поверхности, цилиндрических

...в исследуемом отверстии, и следовательно нельзя контролировать отверстия диаметром от 0,3 мм,Целью изобретения является обеспечение возможности контроля качества поверхности цилиндрических отверстий диаметром 0,3 мм и более,Цель достигается тем, что в способе контроля качества поверхности цилиндрических отверстий, заключающемся в том, что освещают контролируемую поверхность световым потоком, формируют с помощью оптической системы изображения контролируемой поверхности на фотоприемнике и по току с фотоприемника судят о качестве поверхности, освещение контролируемой поверхности производят расходящимся световым потоком от точного источника света, расположенного перед контролируемым отверстием, подвергают пространственной фильтрации свет,...

Номер патента: 1765803

Опубликовано: 30.09.1992

Авторы: Гвоздев, Кирилловский, Петрученко, Прохоренко

МПК: G01B 11/24, G04B 9/02

Метки: интерферометр, качества, оптических, поверхностей, систем

...которогоэлектрически связан с выходом фотоэле,рической матрицы, а выход- с механизмами 15подвижек, обеспечивает воэможность автоматизации настройки интерферометра засчет обработки сигнала, полученного на фотоэлектрической матрице при попадании нанее отраженного испытуемой системой в 20режиме автоколлимации изображения точечного источника света, блоком управления, который вырабатывает управляющиесигналы для приводов в зависимости от отклонения изображения точечного источника света от центра матрицы, что ведет такжек повышению производительности и достоверности контроля за счет ликвидации недетерминированных ручных операций, икроме того, обеспечивает повышение производительности при любой случайнойразъюстировке схемы контроля,На фиг, 1...

Номер патента: 1778522

Опубликовано: 30.11.1992

Авторы: Виноградов, Дивильковский, Зорев, Кожевников, Сагитов, Субботин, Турянский

МПК: G01B 11/30

Метки: изделия, качества, поверхности

...14 и компаратора 9. При включении электропривода 16 начинается развертка оптического пучка с постоянной линейной скоростью, Отраженное и диффузно рассеянное излучение от поверхности образца 18 непрерывно регистрируется фотоприемным блоком 2, Сигнал фотодиода фотоприемного блока 2 поступает на входы операционных усилителей 4, 5; сигнал ПЗС-структуры - на вход операционного усилителя 5. Выходной сигнал операционного усилителя 5 поступает на входы компаратора 9, дифференциатора 7 и интегратора 8. Каналы сравнения по амплитуде и производной открыты в течение всего цикла измерений, интегратор 8 открывается в момент превышения выходным сигналом операционного усилителя 4 заданного порогового уровня, Логическая схема 13 И срабатывает при условии...

Номер патента: 149910

Опубликовано: 01.01.1962

Авторы: Кривовяз, Пуряев

МПК: G01B 11/30, G01B 9/02

Метки: вращения, второго, интерферометр, качества, поверхностей, порядка

...Оба пучка встречаются на разделительной грани кубика б и интерферируют между собой. По возникающей интерферекциопной картине делают заключение о качестве контролируемой поверхности.Путь лучей в воздухе в обеих ветвях интерферометра уравнивается путем перемещения объектива 7 совместно с эталонным зеркалом 8 (эталонный блок), при этом несколько нарушается условие яркости интерференционной картины и выдерживается условие контрастности. Чтобы одновременно выдерживать условия яркости и контрастности, необходимо, чтобы радиус эталонного зеркала 8 был равен длине хода луча от фокуса обектива 9 до поверхности автоколлимационного зеркала 10.Автоколлимационное зеркало совместно с контролируемой поверхностью 11 составляет контрольный...