Сравнительный микроскоп

Номер патента: 102349

Автор: Егудкин

ZIP архив

Текст

А. С. Егуакин СРАВНИТЕЛЬНЫЙ МИНРОСИОП Заявлено 4 апреля 1951 г, за Ю 05796/451467В известных сравнительных микроскопах для определения чистоты поверхности применяются наборы эталонных поверхностей. Применение отдельных эталонных поверхностей неудобно потому, что пх рабочие поверхности, подвергаясь механическим и атмосФсрным воздействиям, с течением времени приходят в негодность, а их установка в микроскоп отнимает много времени; кроме того, отдельные эталоны легко можно потерять.Предметом изобретения является сравннгельный микроскоп для определения качества оорабоганных металлических поверхностей с вмонтированным в его корпусе кольцом илн диском, составленным из секторообразных эталонных поверхностей. Такое раоположенпе эталонных поверхностей непосредственно в корпусе микроскопа позволяет защит 1 ггь эти поверхности от повреждений.Па Фиг. 1 представлена схема сравнительного микроскопа; на Фиг, 2 диск с эталонными поверхностями.Свет от электрической лампочки (1) разделяется полуссребряной пластинкой (2) на два потока. Один световой поток, .отражаясь от пластинки (2), падает на исследуемую поверхность, второй пр 9 ходггг сквозь пластинку (2) и освещает эталонную поверхность.Эталонная и исследуемая поверхности находятся в предметной плосгостп микроскопа, состоящего из обьектива (3) и окуляра (4); в этой же плоскости находятся диаФрагмы (5), которые позволяют видеть обе поверхности, разделенные в середине поля зрения окуляра. Эталонные поверхности выполнены в виде секгорообразных пластин, о 5 рззуюн 9 тх кольцо илп диск, который молтироэан в корпусе микроскопа. Изготовляются эталонные поверхности гальванопластическим путем с матрицы, которая таким же способом может быть изготовлена с наоора образцов эталонных поверхчостей, имеющих вид секторов и собранных в кольцо. Предмет изобрстенвяСравнительный микроскоп для определения качества обработанных металлических поверхностей путем сравнения с напором эталонов, вводимых поочередно и поле зрения микроскопа совместно с контролируемой поверхностью, о т л и ч а ющ п й с я тем, что, с целью предохранвия эталонов от повреждений, в корпусе микроскопа монтнровано кольцо (диск), составленное мз этих эталонов.

Смотреть

Заявка

451467, 04.04.1951

Егудкин А. С

МПК / Метки

МПК: G01B 11/30, G02B 21/18

Метки: микроскоп, сравнительный

Опубликовано: 01.01.1956

Код ссылки

<a href="https://patents.su/3-102349-sravnitelnyjj-mikroskop.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Сравнительный микроскоп</a>

Похожие патенты