Способ определения чистоты поверхности (шероховатости)

Номер патента: 97370

Опубликовано: 01.01.1954

Автор: Саркин

МПК: G01B 11/30, G01B 9/04

Метки: исследуемой, методом, образцом, поверхности, сравнения, чистоты

...не отличит поверхность более низкого класса от поверхноспи более высокого класса.Сущность изобретения состоит в том, что предлагается сопоставлять не сами поверхности, а изображения интерференционных картин сравниваемых поверхностей.На фиг. 1 дана схема прибора для осуществления предлагаемого способа определения чистоты поверхно"ти; на фиг. 2 в по зрения окуляра.Две одинаковые микроинтерференционные системы Линника образуют на поверхностях образца а и контролируемой детали б интерференцианные картины, изображения которых сводятся через систему призм в поде зрения окуляра.Сопоставляемые детали - а - образец чистоты и б - подлежащая кантролю деталь - устанавливаются в приборе, состоящем из источников света в, эталонных зер 1 кал г,...

Номер патента: 299801

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Государственный, Грибко, Научно, Холодный

МПК: G01N 21/01

Метки: бетонного, образца, поверхности, прицельной, реплики

...это тем, что последний перед маркировкой раскалывают, выбирают участок, поверхность излома которого находится к поверхности шлифа под углом )90, и наносят прицельную реплику на этот участок и на граничащую с ним поверхность излома.Сущность способа заключается в следующем,Из исследуемого образца портландцементного клинкера готовят шлиф, полируют его, протр авливают.Затем шлиф раскалывают под любым углом к его полированной поверхности и для исследований выбирают ту часть образца, угол между поверхностью излома и поверхностью шлифа которого равен или больше 90. Под световым микроскопом на участке шлифа, граничащем с поверхностью излома, отмечают анализируемый участок с помощью твердоме ра ПМТ-З, в котором алмазная пирамидка...

Номер патента: 654853

Опубликовано: 30.03.1979

Авторы: Мазуренко, Скрелин, Топорец

МПК: G01B 11/30

Метки: бесконтактный, высоты, непрозрачных, образцов, поверхности, фотометрический, шероховатости

...тем, что с целью повышения точности и упрощения процесса измерения последовательно измеряют сигналы от полного и диффузного отражения от поверхности изделия потоков и среднеквадратическую высоту шероховатости определяют по формуле где Л - длина волны облучающего пучка света;1 дифф, Гало/дн - СООТВЕТСТВЕННО СИГнаЛЫ ОТ диффузного и полного отраженных потоков;а=3,1416 - известная постоянная.На чертеже изображена принципиальная схема установки для реализации и предлагаемого способа.Установка содержит источник света 1(лазер), зеркало 2, экран 3, ловушку света 4, фотометрический шар 5 с отверстиями б - 9 и фотоприемник 10.Осуществляется предлагаемый способ следующим образом. Световой пучок, имеющий малое угловое расхокдение, от источника 1 с...

Номер патента: 1695237

Опубликовано: 30.11.1991

Авторы: Брыкин, Дымшиц, Мицкис, Пчельников, Синютина

МПК: G01R 22/02

Метки: металлической, поверхности, чистоты

...металлической поверхности заключается в том, что контролируемую поверхность помещают в электромагнитное поле, возбужденное в виде гибридной поверхностной волны в отрезке замедляющей системы. Контролируемую поверхность размещают параллельно поверхности замедляющей системы на расстоянии, менее одной шестой длины замедленной волны, Измеряют потери в отрезке замедляющей системы, по величине которых судят о шероховатости контролируемой металлической поверхности, 1 ил,системуволны, прпри устанповерхноР/Р 0 и поляют отлмой поввоз буждевыбираю, и сравнивают ееошедшей замедловке на расстоянсти, и по отношкалибровочномуичие шероховатоерхности от эталния электромагнт из условия1 р / 4 л 210маг где/ю - относительнаямость;Р - удельное...

Номер патента: 872959

Опубликовано: 15.10.1981

Автор: Скрелин

МПК: G01B 11/30

Метки: бесконтактный, высоты, образцов, поверхности, прозрачных, фотометрический, шероховатости

...о определяемые, напр формулами Френеля, воначальном положе разца;Т 1 - коэффициент пропускания4измеряемой поверхности итолщи образца в первоначальном его положении;Т " сигналы от диффузного и1полного потоков, отраженных от поверхностей в первоначальном его положении, , г - коэффициенты зеркальногоотражения измеряемой и противоположной изповерхностей образределяемые, напримформулами френеля,перевернутом положеобразца;У - коэффициент пропуспротивоположной измой поверхности и ний за счет искажений, вносимых слоем при воспроизведении микрорельефа, и в ряде случаев делает непригодными образцы для эксплуатации.Целью изобретения является повышение точности и упрощение процесса измерения.Поставленная цель достигается тем, что после...