G01B 15/04 — для измерения контуров или кривых

Номер патента: 37017

Опубликовано: 30.06.1934

Автор: Дорш

МПК: E21B 47/022, G01B 15/04

Метки: буровых, кривизны, прибор, скважин

...волны передатчика, с которым она рассчитывается в унисон. Каждая "рама-антенна имеет вывод на поверх. ность земли, Все выводы от антеннподводятся к 36 парным контактам (фиг. 1) сила приема изменяется от максимальной величины до нуля. Зная, какой в данный момент включен ртутным контактом номер вертикальной группы контактов в части А мы бе ем т р разницу между .5, расположенным один под другим,этим номером и номером рамки-антенны, через 10., по окружности двух спаренныхнаиболее громко принимающей сигналы между собою эбонитовых дисков, в цен-(номер виден на диске), Полученная разтре которых ходят спаренные, но изоли-ница показывает, насколько градусов от рованные друг от друга ползуны б, Севера повернулся вокруг своей оси притсфнт. 1). Бсе...

Номер патента: 57772

Опубликовано: 01.01.1940

Автор: Иванов

МПК: G01B 15/04, G01N 23/04

Метки: движущихся, зазоров, изучения, машин, частях

...изнбражение исследуемнй щели о диска 7.Так как, однако, пучок рентгеннз сйих лучей, исходящий от каждой точки катода трубки, проходя через телобарабана 3 и диска 7, падает на слои, расположенные в различных плоскостях, перпендикулярных к пучку рентгеновских лучей, и затем дает на экране изображение в аиде теней, падающих на плосюсть, то в результате изображение получается нечетким, расплывчатым.Во избежание этого, согласно изобретению, прибор для осуществления предлагаемого способа основаи на принципе томографа, позволяющего получать четкое изображение точек, лежащих в какой-либо одной желаемой плоскости на фоне расплывчатого изображения точек, относящихся к другим плоскостям, параллельным выбранной.Для этого рентгеновская трубка 15...

Номер патента: 81572

Опубликовано: 01.01.1949

Автор: Закатов

МПК: G01B 15/04, G01B 3/14

Метки: листового, металла, плазовой, разметки

...и обернутый в черну 0 бумагу 3 является кассетой, которая подклядывяется под стол плаза и пр 1 жи мается и немм пржмами. Сверху ца плаз 4 с нанесенными на него рцсказ 1 н направляют стОчнк рентге овских лучей 5.Рсцтгеновский снимок дает проекцию контура 11 а шаблоне. При этой СХЕМЕ ВОЗ.0)КНЫ ИСКЯРКЕЦРЯ В КОПИИ, ТЯК КЯК МЕЖДУ ЕТЯЛЛОМ ПЛЯЗЯ И металлом шаблона находтся стол плаза.Изображенная ня фиг, 2 схема цс(лючяст Возмои(ность цс:.Яжс.Ий копии и дает большую точность.КаССЕта 6 НаКЛаДЫВаЕтСЯ На ПЛаЗ СВЕГСИ 1 УВСтВтЕЛЬ 1 ЫМ СЛОЕМ В:ШЗ и закрепляется прижимами 7. Источник рснтгсцовскх лучей 8 помещается снизу под плазом, Такое расположене даст точныперевод контура с плаза ца шаблон, так как материал панели плаза прснимке н затемняет...

Номер патента: 108420

Опубликовано: 01.01.1957

Автор: Шнейдер

МПК: G01B 15/04, G01B 3/14

Метки: контуров, материал, переноса, плазовых, шаблона

...с которого изготовляют рабочий шаблон, Описываемый способ переноса плазовых контуров непосредственно на материал шаблона без применения промежуточных негативов ускоряет процесс изготовления шаблонов.Описываемый способ переноса вычерченных на плазе контуров непосредственно на материал для изготовления шаблона заклю п 1 ется в том, что в несмываемую тушь, служащую для вычерчивания на плазе контуров, вводят радиоактивные элементы (изотопы), а материал шаблона покрывают эмульсией, чувствительной к радиоактивному излучению. При переносе контура материал шяолоня при 1(лядьвают ( плазу и затем проявляют изображение контура, по которому и изготовляют шаблон. Способ переноса плазовык контуров на материал для изготовления шаблона, о тл и ч а ю щ...

Номер патента: 111923

Опубликовано: 01.01.1958

Авторы: Дручак, Квачева

МПК: G01B 11/30, G01B 15/04, G01D 5/39 ...

Метки: поверхности, чистоты, шероховатости

...изображения реального профиля поверхности образца; на фиг. 2 - изображение реального профиля части образца; на фиг. 3 и 4 - электронограммы профиля поверхности шара после полировки и доводки; на фиг, 5, б и 7 - электронограммы профиля участка поверхности шарика после длительной эксплуатации.В предлагаемом способе исследования микрогеометрии поверхности образца любой конфигурации разработана схема применения приборас отраженным пучком электронов при включении только одной (второй) электромагнитной линзы.Схема применения прибора состоит из источника электронов 1, первой электромагнитной линзы 2, второй электромагнитной линзы Г, образца 4, пучка электронов б, экрана или фотопластинки б, На фиг. 2 представлено теневое...

Номер патента: 120675

Опубликовано: 01.01.1959

Авторы: Зив, Шестаков

МПК: G01B 15/04, G01N 23/04, G01N 23/12 ...

Метки: межфазового, натяжения, поверхностного, смачивания, угла

...относится к способам определения угл поверхностного или межфазового натяжения непрозр например жидких металлов и других материалов при вь турах,Известные подобные способы, также предусматривающи фирование контура мениска или лежащей капли, отличаются ной сложностью, так как рассчитаны на и"пользование рен аппаратуры. Для устранения этого недостатка предл контура осуществлять в пучке мягких гамма диоактивных изотопов, например иридия - 1 пия 154 или 156. 1.1 а чертеже представлена схема установки для осущс лагаемого способа. Источник 1 гамма-лучей помещают в защитное устро свинца. В тигельную печь 8 с отверстием 4 помещают кварц5 с каплей и:следуемого металла б, Кассета 7 с фотопленко жена у второго отверстия печи. Кварцевый прибор...

Номер патента: 124637

Опубликовано: 01.01.1959

Авторы: Кондашевский, Чертовских

МПК: G01B 15/02, G01B 15/04

Метки: бесконтактного, диаметра, изделия, окончании, процессе, цилиндрического

...также применение рентгеновского излучения, получаемого при торможении бета-частиц радиоизотопов.Приемником б излучения служит счетчик частиц с усилителем и преобразователем импульсов 7, на выходе которого имеется электронный прибор или реле о, записывающее показания прибора 9. Приемник б связан с излучателем 1 скобой 10.Устройство закрепляется на станке ппи помонения 11 и посредством винта 12 настраиваетсяЛо 124637 лию так, чтобы направляемый щелью диафрагмы 2 пучок 3 излучения проходил,г 1 о. хорде окружност;1 поперечного сечения изделия 4, близкой к касательной, частично псрскрываясь краем изделия, а стрелка чрибора 9 устатговилась на определенном делении шкалы, Тогда по мере снятия припуска с контролируемого изделия 4 интенсив...

Номер патента: 137691

Опубликовано: 01.01.1961

Автор: Захарьевский

МПК: G01B 15/04, G01B 9/02

Метки: микропрофилометр

...Оптит ческая ось второго клина перпендикулярна к щели. Для световых колебаний, направленных параллельно или перпендикулярно к щели, такая призма эквивалентна стеклянному отклоняющему клину, Осевой луч, пройдя сквозь призму 5, несколько отклонится от своего направления, оставаясь в плоскости чертежа.Между призмой 5 и объективом 4 установлена пластинка 6 четверть волны, оси которой составляют с осями клиньев призмы 5 углы в 45, При прямом и обратном (после отражения от зеркала 7) прохождении лучей пластинка 6 эквивалентна пластинке пол-волны. Поэтому световые колебания лучей, вступающих в призму 5 на обратном пути (после отражения от зеркала 7), происходят в направлении, пер137691 ИЕНДИКУЛЯРНОМ С НЯИ 1)аВЛС.НИК) КОЛСОаИИЙ, ВЫШЕДШИХ ИЗ...

Номер патента: 258632

Опубликовано: 01.01.1970

Автор: Клебанов

МПК: G01B 15/04

Метки: вала, эксцентриситета

...вала равны, и подсчитывают линейные размеры эксцентриситета по формуле 2 т механические способы измерения итета валов с точностью не выше где е - эксцентриситет, от = 2 л скорость вращения вала, Рр ная скорость вала, равная скорос онного движения поглотителя.На фиг. 1 и 2 представлено попе ние вала, имеющего ось симмет вращения О, эксцентриситет в, текущий радиус-вектор Р,Так как = щ = 2-; = сопз 1 и ей гаемому способу источник 1 у-из закрепляют на поверхности ва), при этом используют поглоиде тонкой железной фольги наи регистрирующий прибор 3 р. При вращении вала счет ча.,Фг. Составитель КенигРедактор Г, К. Гончарова Техред Т. П. Курилко Корректор В, И, Жолудева Заказ 791/5 Тираж 480 Подписное ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и...

Номер патента: 301104

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Афанасьев, Гайдучик, Грузин, Центральный

МПК: G01B 15/04, G01F 23/288

Метки: поверхности, рельефа, уровня

...повысить точность измерения и уменьшить время измерения до минимальной величины. Это обеспечивается тем, что сигнал разУДК 681.123:532,217;531.данное значение динамической попрешности слежения).При сложном рельефе контролируемой поверхности, например поверхности, профиль которой приведен на фиг. 1, и заданной программе перемещения подвижного элемента скорость перемещения границы по профилю облученной зоны существенно,переменна. Она мала на участках типа 4 - 5 и б - 7, многоиратно увеличивается на участке типа 5 - б. Особенно неблагоприятным является участок типа 7 - 8.Подвижный элемент 1 и подвижный коллимированный приемник 2 имеют приводы вращения 11 и 12, соответственно управляемые от своих блоков 13 и 14 управления. Блоки 14 и 18,...

Номер патента: 421882

Опубликовано: 30.03.1974

МПК: G01B 15/04

Метки: 421882

...рафнческог ссст к жащее ченты, скореа так. рностн о дна. УстроСтво для крепления контролируемому трубопров магнитный держатель и пр отличающееся тем, что, ния операций крепления и съ же повышения плотности прилегдння носителя радног Изобретение относится к области приборострония, а именно к устройствам контроля качества изделий, выполненных в виде труб.Известны устройства радиографического анализа на рентгеновскую пленку, с помощьо которых осуществляют проверку как швов сварки труб, так и качество самих труб на наличие или отсутствие раковин в металле и тому подобных дефектов. Но такие устройства, предназначе 11 ные для проверки труо, 1 особенно неудобны в том случас, когда труба имеет большой диаметр. Кроме того, при...

Номер патента: 515029

Опубликовано: 25.05.1976

Авторы: Головченко, Иванов, Халецкий

МПК: G01B 15/04

Метки: поверхности, рельефа, уровня

...измеренных точек поверхности, особенно ьблнзи приемкя, где приемная ээпа имеет малые размеры, всл -. - ,"тане чего увелииввется время 1 эмер:яя.ПО предлагаемо 4 у сносооу для новыцениярввномеростн ргспредел:.:-,11 я иэмеряе- МЬХ ТОЧЕК ПР ОДНОВРЕО 111 ОМ С 11 ЦЯЕ 1 ИН времени измерений зядггную величину сиг(7 й чертеие изобрапенйсхема осуес(В- леийя жедлаГйемОГО спосооа"Контр=.лем-: гоэ(":.-,остт об: "ч- Ют ВЫХОДЧ:.11 М ИЗ ПСточг.СС 2 УЗКИМ КОЛЛ" 1 И"ОВИННЫМ Гу 41(ОМ 1.;"Ч 8(ИЯ. Эу ,181 Ъюн( ,ВО( Р РСИТак ЧТО На П- СО 71 ДС тн Образ;,:ется Облученная попс а, Врад 1 (Ошаяся Ве;,руГ пентра 5 обл 1(-1 еино.:1 зона,(И Она":,Ь 1 Л( 1:РП 8 М(1 Ы;0; (:, В 1(ОТО Х=;. ЛО падает и.л (ен 119 с огрьнпченнои зхРд 1. с П;ЧТООЛ, тетг 1(Е , Ст(.,Р 1...

Номер патента: 621965

Опубликовано: 30.08.1978

Авторы: Гайдучик, Головченко, Иванов, Павленко

МПК: G01B 15/04, G01F 23/288

Метки: поверхности, профиля, сыпучих, уровня

...измерения. Устройство состоит из блока 1 источника гамма-излучения, содержащего источник аннигиляционного гамма-излучения и д; - текторы 5 и 4, блока о приемника, содержащего один детектор, схеьы о распознаВания сигналов детекторов, устроиства задержки импульсов, Олока 8 упраВленн 51 11 ссрвонриводов 9 и 10.Устройство работает следующим образом.Блок 1 источника излучения оолучаег контролируемую поверхность двумя кол,щмированными пучками аннигиляционного гамма-излучения и поворачивается вокруг своей оси так, что облученные зоны перемещаются по контролируемой поверхности В направлении на олок 5 приемника, 11 рп зтом детекторы 3 и 4 регисрируюг соо.- Ветствующие потоки ашигнляционного гав- ма-излусни 51 противопоаОжпого папраВлспи 51....

Номер патента: 621966

Опубликовано: 30.08.1978

Авторы: Гайдучик, Головченко, Иванов, Павленко

МПК: G01B 15/04, G01F 23/288

Метки: поверхности, профиля, сыпучих, уровня

...гамма-излучения и подвижный детектор 3, блока 4 приемника,схемы 5 1 эаспознаванлля сппалов приюНика, схем совпадения 6 и 7, схемы 8 распознавания сигналов, блоков управления 9 и10 и сервоприводов 11 и 12.Устройство работает следующпм образом.Блок 1 облучает контролпруемуло поверхность коллпмпровалвыъ Пучкоъ аннпгпляциоппого гамма-излучения так, что на поверхности образуется узкая неподвижнаяоблученная полоса. Детектор 3 регистрирует часть соответствующего потока аннигиляционного гамма-излучения противоположного направления и перемещается вплоскости коллимации относительно источника,При этом контролируемая часть потокаизлучения, направленного па поверхность,тоже изменяет свое положение в простран621966 15 Составител ноземцева Текред...

Номер патента: 301103

Опубликовано: 30.08.1978

Авторы: Афанасьев, Гайдучик, Грузин

МПК: G01B 15/04, G01F 23/288

Метки: поверхности, рельефа, уровня

...опрецепен авт.св, М йся тек юверхности с цепью аспрецепения Изобретение относитсяатомно-ядерных излученийиспользованию атомно-ядер пя контроля некоторых па ого процесса и может ис Сущность прецпагаемого сп пючается в том, что выхоцяой емника отраженного изпучеяия впении измерения координат ре ности по известному способу ц но поцвергают спектрометриро: сясь " ,й.н 1 ЕИ".рс-ж-й.зупьтатам спектрометрирования опрецепяютроц вещества, пежащего в окрестности точки, в которую в цанный момент времениориентированы источники и приемник нзпучения, что обеспечивает опрецепение ее коорцинат. Результат определений роца вещества сопоставпяют с коорцинатами измеряемой в цанный момент точки поверхности, которые вычиспяют по угпам ориентации...

Номер патента: 678279

Опубликовано: 05.08.1979

Авторы: Воробьев, Голованов, Голованова, Зольников, Лисицын

МПК: G01B 15/04

Метки: геометрических, контактного, параметров, провода

...входомблока 11 коррекции коэффициента передачи,информационный вход которого соединен с1 выходом усилителя-дискриминатора 6, а выходьподключен ко входу регистрирующего блока 12,Устройство работает следующим образом,Источник 1 излучения, например бетатронили микротрон, (энергия 12 + 15 мзв) располагается впереди приемника излучения по ходудвижения вагона 2. Гамма излучения с энерги.ей 11 мэв наводят в меди провода нейтроннуюактивность. Период полураспада изотопа меди .составляет 0,8 мщу. При этом практически все .излучение составляют позитроны, у которыхпробег в меди составляет 2. мм. Вследствиеэтого в проводах диаметром более 5 мм большая часть позитронов ашигилирует, излучаягамма-кванты с энергией 0,511 мэв, которыерегистрируются...

Номер патента: 726432

Опубликовано: 05.04.1980

Авторы: Гайдучик, Головченко, Иванов, Павленко

МПК: G01B 15/04, G01F 23/288

Метки: поверхности, профиля, сыпучих, уровня

...гамма-,излучения 1, содержащегоисточник аннигиляционного гаммаизлу 5чения 2 и детектор 3, блока приемника4, содержащего коллиматор 5 и детекторы 6 и 7, схемы распознавания сигналов 8, схем совпадении 9 и 10, схемыраспознавания сигналов 11, блоков управления 12 и 13 и сервоприводов 14и 15,Устройство работает следующим образом вБлок источника 1 облучает контролируемую поверхность коллимированным пучком гамма-излучени; и поворачиваетсявокруг своей оситак, что облученная эона перемещается по контролируемой поверхности в направлении на блок прием О,ника 4, При этом детектор 3 регистрирует соответствующий поток аннигиляционного излучения противоположного направления, Блок приемника 4 регистрируетотраженное излучение. Сигналы...

Номер патента: 744224

Опубликовано: 30.06.1980

Авторы: Киселева, Турянский

МПК: G01B 15/04

Метки: качества, поверхности

...5. Излучение, отраженное образцом 5, проходит через ограничивающую щель б и регистрируется детектором 7. Дополнительный детектор 8 служит для регистрации расссяшого излучения, Вращение монохроматора 3, образца 5, ограшиивающей щели б и детекторов 7 и 8 осуществляется соответственно вокруг осей О и О. Стрелками показано направление распространения рентгеновского пучка.Способ осуществляется следующим образом.В исходном положении детектор 7 развернут относительно контролируемой поверхности ня заданньш угол из диапазон углов зеркального отржения. Вращением образца 5 вокруг оси О добиваются получения максимального сигнала, регистрируемого детектором 7, что соотвстствуег установке контролируемой поверхности образца 5 иод заданный угол...

Номер патента: 896409

Опубликовано: 07.01.1982

Авторы: Бычкова, Матвеев, Рутковский

МПК: G01B 15/04

Метки: размеров, цилиндрических

...трансляции через контролируемое цилиндрическое изделие 13. Сигнал, четырежды отраженный от контролируемого цилинд 4 О рического изделия 13, с циркулятора 10 поступает в блок 14 сравнения приемника 2, куда также .поступает и опорный сигнал той же частоты со сверхвысокочастотного генератора 1 через направленный ответвитель 12. При оптимальной начальной установке контролируемого цилиндрического изделия 13 с номинальным .значением его диаметра, когда зазоры 1,1,1 и 1,1 между излучателями 3,4,5 и 6 и поверхностью контролируемого цилиндри" ческого изделия 13 равны, производят настройку блока 14 сравнения так, чтобы результирующий сигнал был равен нулю, При отклонении диаметра кон тролируемогб цилиндрического изделия 13 от номинального...

Номер патента: 953459

Опубликовано: 23.08.1982

Авторы: Аршанский, Голубев, Морозов

МПК: G01B 15/04

Метки: кривизны, поверхности

...излучения,которые преобразовывают гамма-квантыв электрические импульсы. Импульсы подаются на интенсиметры 4 и 5. Известно, что интенсивность гамма-квантов,зарегистрированных детектором излучения на некотором расстоянии относительно объекта контроля, изменяется в общемвиде по законуодетгде 3 - интенсивность гамма-квантов,излученных источником 1;. - интенсивность гамма-квантов,зарегистрированных детектором 2 излучения;Д- альбедо отражающей поверхности предмета;расстояние передатчика и детектор;а излучения относительно предмета,Так как детектор 3 излучения разнесен Относительно детектора 2 излученияпо высотена величину Д Ц, то интенсивность гамма-квантов, зарегистрированных этим детектором будет одет.2 г . ог Егде 3- интенсивность...

Номер патента: 977951

Опубликовано: 30.11.1982

Авторы: Касяненко, Конев

МПК: G01B 15/04

Метки: изделия, кривизны, поверхности

...повьпиения точности контроля, периодически модупируют ширину пуча электромагнитной СВЧ волны, выдепяют переменную составляющую отраженного от контропируемой поверхности СЙЧиэпучения на частоте модуляции ширины его пучка и по параметрам этой составпяющей судят о кривизне поверхнос:ти иэделия,1, Кривовяз Л, М Пуряев,П, Т.,Знаменская М, А Практика оптической измерительной лаборатории. М Машиностроение", 1974, с, 140-141, 3 97795ны, принимают отраженное от контропируемой поверхности СВЧ изпучение, попараметрам которого судят о кривизнеповерхности изделия, периодически модулируют ширину луча эпектромагнитнойСВЧ волны, выдепяют переменную составляюшую отраженного от контропируемойповерхности СВЧ излучения на частотемодуляции ширины его пучка и...

Номер патента: 1065686

Опубликовано: 07.01.1984

Авторы: Головченко, Полынкин, Таран, Туктамышев, Халецкий, Цейтлин

МПК: G01B 15/04

Метки: поверхности, рельефа, уровня

...в блоке 11 сравнения, получают сигнал разбаланса. В;соответстувии с величиной и полярностью сигнала разбаланса управляют движением20 блока 2 источника и приемника б спомощью соответствующих блоков 12и 13 управления и сервоприводов 14и 15. При нулевом сигнале раэбаланса блок 2 источника и приемник б25 поворачивают таким образом, чтобыцентр 5 облученной зоны и точка 71приемной эон перемещались в одномнаправлении, например, справа налево. При отставании центра приемной30 зоны возникает положительный сигналразбаланса. В соответствии с этимускоряют движение блока приемника б и одновременно замедляютдвижение блока 2 источника до ис 35 чезновения сигнала разбаланса.При отставании центра облученнойзоны возникает отрицательный...

Номер патента: 1260783

Опубликовано: 30.09.1986

Автор: Турянский

МПК: G01B 15/04, G01N 23/20

Метки: градуировочная, мера, рентгеновских, рефлектометров

...достаточно простыми средствами, и состоящими в нагреве рабочей поверхности потоком ультрафиолетового излучения до температуры 0,15-0,30 Тпл К, где Тпл К - температура плавления ниобата лития. В результате воздействия ультрафиолетового (УФ) излучения на поверхность монокристалла ниобата лития при указанных условиях облучения происходит монотонное снижение коэффициента зеркального отражения рентгеновских ,пучей приблизительно линейно от величины УФ-экспозиции, Наведенные изменения рельефа поверхности и связанные с ними значения коэффициента отражения сохраняются после повторного Нагрева поверхности градуировочной меры (без УФ-облучения) до 450 К, при экспонировании в потоке рентгеновского излучения с энергией 8 экВ7 ги плотностью 10...

Номер патента: 1377577

Опубликовано: 28.02.1988

Авторы: Каткевич, Саулгозис, Силис

МПК: G01B 15/04

Метки: выпуклых, координат, объектов, поверхности, сферических

...перемещения преобразователя 8 по параллели с помощью привода 2 и по меридиану с помощью привода 9. Первое измерение геометрических параметровобъекта 15 происходит в исходном положении, Полученные данные по кабелю13 передаются на экран генератораприемника 12 сигналов или поступаютна ЭВМ для дальнейшей обработки,причем одновременно регистрируютсяэхо-сигналыот передней и задней сте 35 Формула изобретения45 Изобретение относится к измерительной технике, а именно к технике бесконтактных измерений координатных точек внешней и внутренней поверхностей выпуклых объектов.Цель изобретения - повышение быстродействия устройства и достоверности результатов измерений путем нок измеряемого объекта 15, Привод 9 перемещения ультразвукового...

Номер патента: 200862

Опубликовано: 07.01.1990

Автор: Фрагин

МПК: G01B 15/04

Метки: внутренней, зазора, калибра, кольца, между, непрерывного, образующей, поверхностью, поршневого, рабочей

...способы непрерывного измерения зазора между рабочей поверхностью поршневого кольца и внутренней образующей калибра, состоящие впросвечивании изделия рентгеновымилучами одновременно в двух различныхплоскостях, проход,пцих через оси вращения контура изделия,Предлагаемый способ отличается отизвестных тем, что измеряют величинуинтенсивности излучения, прошедшегочерез зазор между кольцом и калибром,сравнивают сигнал, соответствующийэтой интенсивности, с эталонным сигналом, и по разности сигналов определяют отклонение величины контролируемого зазора от номинала. Это позволяет повысить точность измерения. в диске 3, приводимом во вращение при помощи шестерен 4.Излучение от неподвижного источника 5, проходя через зазор между кольцом 1 и...

Номер патента: 1807309

Опубликовано: 07.04.1993

Авторы: Белкин, Головченко, Маулетов, Полынкин, Пухов, Таран, Халецкий, Цейтлин

МПК: G01B 15/04

Метки: поверхности, рельефа, уровня

...и другим способом, например,принимать как наиболее вероятную или постоянную величину.Ординату у вычисляют устройством 17 в общем случае по формуле: 3) де В - расстояние междсточника и приемникадной горизонтальной иап - угол между осьриемника и гори у центрами блоков расположенными в оскости;6 ориентации бло онтальной плоско ка 5 пстью; фп - угол между осью 6 ориентации блока 5 приемника и вертикальной плоскостью, проходящей через центры блоков источника и приемника, т.е, угол между указанной вертикальной плоскостью и плоскостью 7;Р - угол между вертикальной плоскостью 4, в которой ориентируют плоский по форме пучок излучения блока 2 источника, и вертикальнойплоскостью, проходящей через центры блоков источника и приемни(2) принимают ви...

Номер патента: 978672

Опубликовано: 27.09.1996

Авторы: Зиновьев, Капусткин, Мишин, Помазанский, Таран, Цейтлин, Шевченко

МПК: G01B 15/04

Метки: поверхности, рельефа, уровня

Устройство для определения рельефа и уровня поверхности материалов, содержащее два источника ионизирующего излучения, выполненные с щелевыми коллиматорами и механизмами перекрытия потока излучения и неподвижно установленные в одной плоскости и расположенные диаметрально противоположно, коллимированный приемник ионизирующего излучения, установленный с возможностью поворота вокруг двух взаимно перпендикулярных осей, одна из которых лежит в плоскости размещения источников, и снабженный механизмом его поворота вокруг осей, последовательно включенные датчик угловой ориентации приемника ионизирующего излучения, счетно-решающий блок и регистрирующую аппаратуру, отличающееся тем, что, с целью расширения диапазона контролируемых участков рельефа...