G01B 11/30 — для измерения шероховатости или неровностей поверхностей

Номер патента: 419722

Опубликовано: 15.03.1974

Авторы: Данилевич, Делюнов, Изобретени, Никитин

МПК: G01B 11/30

Метки: неплоскостностиизделий

...направлении, а оси симметрии марок 2 - 4 перпендикулярны друг к другу.Нулевые отсчеты неподвижных и подвижных марок выставлены от опорных плоскостей на одну высоту, Система прозрачных визлрных отсчетпых марок 5 а 1 б выполнена также в виде фигур ромбовидной формы.Визирная марка 3 находится вместе с пентапрцзмой 7 в корпусе 13, и высота ее нулевого деления совпадает с нуляма 1 отсчета по визирным маркам 2 - б. Марка 3 устансвлена в корпусе 13 параллельно входной плоскост 11 пентапрцзмы 7, которая может наклоняться в горизонтальной плоскости в двух взаимно перпендикулярных направлениях. Весь корпус 13 с пентапризмой 7 и визирной маркой 3 перемещается вдоль оптической оси ц в поперечном направлении для выставления в исходцу 1 о...

Номер патента: 422948

Опубликовано: 05.04.1974

Авторы: Изобретени, Михайленков, Полев, Фефер

МПК: G01B 11/30

Метки: 422948

...точности и упрощенияцесса контроля в предлагаемом устройщель расположена в фокальной плоскости линзы и выполнена с возможностью сканирования в этой плоскости,На чертеже изображена принципиальнаясхема предлагаемого устройства.Устройство для контроля чистоты пности содержит оптический квантовый гтор 1, коллиматор 2 с выходным окноформе круга цли квадрата, линзу 4, оскую щель 5, линзу 6 и фотоприемникдексом 8 обозначена контролируемая пность,Устройство работает следующим образом.Коллимировацный пучок света от генератора 1, пройдя через выходное окно 3, попадаетчерез линзу 4, осуществляющую фурье-преобразование, на контролируемую поверхность 8,Отраженный от контролируемой поверхности 8 пучок преобразуется в фокальной плос кости линзы 4 в...

Номер патента: 425043

Опубликовано: 25.04.1974

Авторы: Изобретени, Ларионов, Лукин, Мустафин, Рафиков

МПК: G01B 11/30

Метки: качества, оптических, поверхностей

...восстановленной голограммой 8. Если поверхность 6 не имеет отступлений от заданной формы, то теневая или ин.терференционная картина на экране 11 представляет однородный фон. При наличии отступлений на экране 11 возникают соответствующие перераспределения освещенности, по которым оценивают качество оптической поверхности. Для получения голограммы 8 на место контролируемой поверхности устанав.ливается высококачественное вогнутое сферическое или цилиндрическое зеркало с точно известным радиусом кривизны и с отверстием в середине, соответствующей юстировкой добгваются совмещения его центра кривизны с фокусом Р объектива 4 и их оптических осей путем наблюдения интерференционной картины на экране 11. По получении мини. мального числа...

Номер патента: 426142

Опубликовано: 30.04.1974

Авторы: Ивашевский, Карташев

МПК: G01B 11/24, G01B 11/30, G01D 5/39 ...

Метки: оптико-электронный, профилоскоп

...отклоняющими пластинами, а генера 20 тор 10 - с горизонтально отклоняющимиЭТЛ 1. Для регистрации среднего значениявысот неровностей устройство включает в себя регистратор 11 с показывающим прибором12. С целью визуального контроля формы из 25 меряемой поверхности профилоскоп содержитдополнительную оптическую систему, включающую полупрозрачное зеркало 13, обьектив14, сетку 15 и окуляр 16,Профилоскоп работает следующим образом.30 Источником света является светящийся круг426142 Составитель В. КлимовТехред 3. Тараненко Юрков ректор В, Петрова акто.1551 Тираж 760ственного комитета Совета Министделам изобретений и открытийва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 Заказ 2696/5ЦНИИП ПодписССР суд и МоТипография, пр. Сапунова, 2 на экране ЭТЛ 1....

Номер патента: 427230

Опубликовано: 05.05.1974

Авторы: Зейгман, Леонов

МПК: G01B 11/30

Метки: отклонений, поверхности, прямолинейности, устройстводля, фотоэлектрическое

...раоотает следующим образом.Источник 1 света, например лазер, создает коллимированный световой поток, напоавленный в сторону измерительной каретки 2. В измерительной каретке расположены две сферические линзы 3 и 4, удаленные друг от друга на расстояние, равное сумме фокусных расстояний этих линз. Световой поток проходит через линзы и попадает на двухкоординатный позиционно-чувствительный фотопреобразователь 5. Положение светового пятна на поверх ности фотопреобразователя преобразуется вдва напряжения, характеризующих положение светового пятна относительно координат, заданных этим фотопреобразователем. Напряжения подаются на регистрирующий блок б.10 В процессе измерения каретка 2 движетсяпо поверхности 7 и в местах отклонения...

Номер патента: 432332

Опубликовано: 15.06.1974

Авторы: Изобретен, Соур

МПК: G01B 11/30

Метки: измеренияотклонений, объекта, оптический, прибор, прямолинейностиповерхности

...7, 8, 9 и О крепятся к измеряемому объекту (илп вспомогательному штативу), а ка. ретка 5 с микроскопом 11, штрих-маркой 15, осветителем 16 и щупом 17 перемещается по направляющей 4 вдоль измеряемой поверхности 18. Световой поток от осветителя 16 проходит сквозь штрих-марку 15 и зеркально- линзовые объективы 2 и 3 и образует изображение штриха 15 в плоскости полевой диафрагмы 12 микроскопа 1. Изображение штрих-марки наблюдается через микроскоп 11 одновременно с изображением сетки 14 микроскопа 11. Если установленная параллельно оптимической оси автоколлимационной системы направляющая 4 имеет отклонения от прямолинейности, то при перемещении по ней каретка 5 вместе со штрих-маркой 15 смещается относительно оптической оси...

Номер патента: 436976

Опубликовано: 25.07.1974

Авторы: Атемасов, Каледин, Карпов, Кондратов, Кулябина, Шебалкин

МПК: G01B 11/30

Метки: поверхности, развертки, шара

...зубчатым сектором, установленным на Ленина подшипниковый заво ВЕРТКИ ПОВЕРХНОСТИ этом ролике и входящим стерней и рычагом, пе вдоль оси вращения голо возможностью регулиро плеч, а базирующая голо де трех свободных ролик На фиг. 1 дана кинематическая длагаемого устройства; на фиг. 2ло жение трех свободных опор каче РУющей головки.Контролируемый шар 1 центрируется тремясвободными роликовыми опорами качения 2 в базирующей головке 3 и поджимается веду щей головкой 4, которая снабжена паводковым роликом 5, имеющим зубчатый сектор и находящимся в зацеплении с приводной шестерней 6. Рейка 7 взаимодействует с рычагом 8, связанным с механизмом регулирования 20 хода рейки 9. Ведущая 4 и базирующая 3 головки имеют общий привод 10 синхронного...

Номер патента: 438867

Опубликовано: 05.08.1974

Автор: Шевцов

МПК: G01B 11/30

Метки: поверхностей, прямолинейности

...содсржит оптическую часть 1, фотоприемник 2, преобразователь 3 степени облучен ности фотоприемника в электрический сигнал,преобразователь 4 смещения проекции луча в плоскости фотоприемника в электрический сигнал, фильтр 5 и регистратор 6. Фильтр 5 имеет дополнительный (управляющий) вход, 10 связанный с выходом преобразователя 3.Устройство работает следующим образом.Оптическая часть 1 формирует в плоскостифотоприемника 2 изображение целевого знака. Преобразователь 4 выделяет сигнал, про порциональный перемещению проекции лучав плоскости фотоприемника в электрический сигнал, регистрируемый регистратором 6.Этот сигнал подвержен воздействию оптических помех на трассе источник света - фо топриемник, которое возрастает с...

Номер патента: 450953

Опубликовано: 25.11.1974

Авторы: Бруфман, Рассказова

МПК: G01B 11/30

Метки: анализа, неровноты, продуктов, прядения, спектрального

...управления 6. Эти сигналы предназначены для формирования дейстщтельной и мнимой составляющих (текущие зна- щ чения коэффициентов фурье), Далее сигналы наступают на интеграторы 9, 10, выходные напряжения которых пропорциональны усредненным значениям коэффициентовФурье. Эти напряжения фиксируются индикаторами 13, 14 и поступают в регистратор 3. Управление синхронными детекторами 7 и 8 осуществляется от датчикаскорости 1 через делитель 2. Для перехода с одного диапазона длин волн на дру гой необходимо изменить коэффициент деления делителя частоты 2, Сигналы, поступающие с выхода датчика неровноты 12проходят через дискретные блоки 7-10,полоса пропускания у которых изменяет Ися в зависимости от скорости выпускапродукта на машине. Это...

Номер патента: 468083

Опубликовано: 25.04.1975

Авторы: Бондарь, Тарасов

МПК: G01B 11/30

Метки: визуального, флаконов

...флакона.Цель изобретения - повышени росмотрового стола 1,неподвижно закрепленустройства 3 для подамотровый стон, И касстенок 8 и двух откидных крышек 9 (верхней и нижней). На крышках закрепленышторки 10, перекрываюшие окна 11, когда.крышки закрыты. Внутренние поверхности,стенок 8 и крышки 8 - зеркальные. Высота короба соответствует высоте контролируемых флаконов,Просмотровый стол 1 снабжен рычажнофрикционным механизмом 12, позволяющимустанавливать стол под требуемым углом 10к источнику света 2, Механизм состоит изведущих 13 и ведомых 14 роликов, связанных с ножной педалью 15 при полющирычагов 16. Механизм 12 имеет фрикционный тормоз 17, позволяющий фиксироватьстол в любом положении. Фиксатор 18 служит для установки стола 1 в...

Номер патента: 493626

Опубликовано: 30.11.1975

Автор: Карпова

МПК: G01B 11/30

Метки: автоматический, измеритель, неоднородностей, объекта, поверхности

...расширяет эксплуатационные возможности устройства измерителя, таккак появляется возможность контроля объектов любой формы и габаритов, кроме того,15 устройство может использоваться и вне лабораторий,На чертеже приведена блтического измерителя неоднорности объекта.0 Измеритель содержит освесостоящий из источника 1 свкоторого используется лампатаемая от источника 2 (стабтлитуде генератора синусоидаль5 и конденсора 3. Измерительобъектив 4, диафрагму 5, усвибраторе б с подключеннымром 7 прямоугольного илпнапряжения, диафрагму 8 пол0 лизирующее устройство 9. ПЗаказ 127,16 Изд. 1 о 1993 Т(иоан(5;32Ц 11 ИИПИ Государственного комитета Совета М,шппо делам изобретен(иЙ 5 и открытий113035, Москва, Ж, Раушскап наГЬ, д. 4(5 Подписноеров СССР...

Номер патента: 504081

Опубликовано: 25.02.1976

Авторы: Лившиц, Румянцев, Русинов

МПК: G01B 11/30

Метки: внутренних, дефектов, обнаружения, поверхностях, труб

...поверхности, объектив 5,вращающуюся диафрагму 6, линзовый компонент 7, фотомодели",ый блок Ь, наблюдательный ка.ал, образованный поворотным зеркалом 9, сеткой 10 и окуляром 11, электродвигатель 12 и редуктор 13, Котролиру- Оемый объект (труба) 14 размещают междуосветителем 1 и объективом 2,Осветитель 1 направляет световой поток на внутреннюю поверхность контролируемой трубы 14, первая телескопическая бсистема - оптическая труба Кеплера -формирует промежуточное изображениеучастка освещенной поверхности. Ьагодаря осеволу перемещению микрообъектива 4последовательно фокусируют иэображение 20контролируемой ц,верхности, образованноеобъективом 2 и окуляром 3 первой телескопической систе:,ы, Микрооб". ектив направляет...

Номер патента: 507771

Опубликовано: 25.03.1976

Авторы: Гвоздевский, Иванов, Савлук, Щевелев

МПК: G01B 11/24, G01B 11/30, G01B 9/02 ...

Метки: пластин, полированных

...расположен над полупроэрачным зеркалом так, что его горизонтальная плоскость служит опорой для контролируемой пластины,В предлагаемом устройстве эталонный25 ический клин закреплен постоянно, акбгерентное излучение направлено через него, коллиматор и полупрозрачное зеркало на поверхность контролируемой пласти,ны, вплотную прилегающей к горизонталь ной поверхности клина, Такое взаимное расположение частей устройства, а также расположение контролируемой пластины по отношению к эталонному клину позволяет устранить операцию по выставлению оптического клина в процессе контроля, и, следовательно, повысить производительность контроля., На чертеже изображено описываемое уст; ройство.Оно содержит источник когерентного из 5 лучения-лазер 1,...

Номер патента: 507772

Опубликовано: 25.03.1976

Автор: Черепанов

МПК: G01B 11/30

Метки: непрямолинейности, осей, отверстий, сквозных

...сравнимой по порядку величины с измеряемой не. прямолинейностью.Целью изобретения является повышение а и ордена Трудового Красного Знлмилище имени Н. Э, Баумана гочности измерения непрямолинейности сквозных отверстий возможно малого диаметра,Согласно предлагаемому способу для формирования целевого знака в отверсти помешают каплю прозрачной жидкости, сг Составитель Лобзова Редактор В. Дпбобес Техред Н. Хохоник корректор Л. ЛнджиевскаяЗаказ И 6 И Тираж 864 11 о эпцсиоеШ 111 ИПИ Государственного комитета Совет" Ми.,;.1.ов СССРпо делам изобретений и открытийИИ 3035, Москва, Ж, Раушская наб., 4/5 Филиал ППП "Патент", г, Ужгород, ул. Гагарина, 10 И ее образуюшей порядка 0,02 мм, Толшинги четкость этой линии сравнимы с толшиной и...

Номер патента: 508670

Опубликовано: 30.03.1976

Авторы: Яковлев, Ярцева

МПК: G01B 11/30

Метки: обработкиповерхности, чистоты

...угклона, при которых отраженный светоток будет составлять заданную часть,мер, половину от максимального, и пораической разности этих углов с поградуировочных кривых определяютобработки поверхности.На чертеже доказано устройство, реализующее описываемый способ,Устройство содержит источник,1 слиматор 2 и приемное устройство,из оптической системы 3, фотоэлемента 4 имикроамперметра. 5,Процесс определения чистоты обработки поверхности по данному способу заключается в5 следующем.На контролируемую поверхность 6 направляют световой поток. Поворачивая образец,находят такое его положение, при которомпоказание микроамперметра 5 максимально,О снимают это показание. Наклоняют образецв одну сторону, пока показание микроамперметра 5 не станет...

Номер патента: 508671

Опубликовано: 30.03.1976

Автор: Пуряев

МПК: G01B 11/30

Метки: зеркал, качестваастрономических, компенсатор

...представлена на чертеже.Компенсатор 1 расположен между источником 2 света и центром 3 кривизны коньролируемото зеркала 4. Ои содержит менисковую линзу 5 и двояковыпуклую линзу 6.Источник 2 света установлен в фокусе первой поверхности мениска, благодаря чему обеспечивается параллельный ход лучей между поверхностями мениска. Обе поверхности мениска имеют одинаковые по величине и знаку радиусы кривизны, Вотпутая поверхность мениска обращена к пологой сферической поверхности линзы, а более крутая поверхность линзы 6 - к контролируемому зеркалу,Назначение линзы 6раций нэрмалей кэнтрэ508671 Составитель Л. Ковринаова Техред И. Асталош Коррект кучк Редактор Подписноета Совета Министрови открытийушская наб., д, 4/5 4 ом ен 5,л,...

Номер патента: 513245

Опубликовано: 05.05.1976

Авторы: Зейгман, Кокин, Леонов

МПК: G01B 11/30

Метки: отклонений, поверхности, прямолинейности

...в ячейку 6. Световой поток, прошедший модулятор, собирается линзойнафотоприемняк 4, сигнал с фотоприемникапопадает в электронный блок обработки сигнала с фотоприемника, гдв он усиливаетсяусилителем 12 и детектируется фаэовымдетектором 13. Напряжение с фазового детектора поступает на генераторы высоковольтныхимпульсов 14 и 15, вырабатывающих поочередно однополярные импульсыодиаковой длиельности, причем амплитуда их управляется. напряжением с фазовогодетекторе таким образом, что если амплитуда импульса с одного генератора уменьшается, то амплитуда импульса с другогогенератора возрастает на такую же величину,Устрой гво работает следующим образом.Вследствие нвпрямолинвйности измеряемой поверхности 16, измерительная карет1ка 2 перемещается...

Номер патента: 527591

Опубликовано: 05.09.1976

Автор: Кузьмин

МПК: G01B 11/30

Метки: движущегося, качества, поверхности, проката

...ка работа которо женного от исска лучей 11. едостат ся сравнительн руемых классов показаний от о пов иент равления ш Наиболее б хо зки жен нию к предл ется устройсных дефектов для выявлен поверхн содержащее лдвухконусный сэлектронный бл зер, сканируюветовод, фоток и нумеращее зеркало,умножитель,тор, указываю шии сортност2. л мого проката леди тносится к определению хности и может быть испольления поверхностных дефекдстве листовых материалов, оэлектрическое устройство ства плоской поверхности,основана на анализе отраедуемой поверхности пучго устройства являетий диапазон контролирхностей и зависимост ировки устройства от и способа обработки, по техническому реому изобретению являОднако такое устроиство невозможно использовать для...

Номер патента: 529362

Опубликовано: 25.09.1976

Авторы: Астахова, Духопел, Федина

МПК: G01B 11/24, G01B 11/30, G01B 9/02 ...

Метки: аберраций, интеферометр, исследования, качества, крупногабаритных, неоднород, ностей, оптических, поверхностей, прозрачных, элементов

...в в-.оо,л 1 г, апионпой схеме сов. 1 стн с исслецус п зеркалом 7 н устанавливается, в .;а: и:сстот контролируемого объекта,;,.цоо; цг",та.-.кривизны сферического зеркала, либо в фо -кусе исследуемого объектива,Работает интерферометр слецуюшим образом.25Параллельный световой пучок монохроматического света направляется на объектив 1, фокус которого совмещен с отражающей поверхностью зеркала 5. После выхода из объектива пучок света светопелителем 2 део ЭО лится на два пучка - рабочии и опорныи. Рабочий пучок, пройдя светопелитель 2, с помощью зеркала 3 и светоделителя 4 направляется на исследуемое сферическое зеркало 7. Опорный пучок после отражения от светоделителя 2 попадает на линзу 6, а,затемЗВ зеркалом 5 направляется на зеркало...

Номер патента: 532005

Опубликовано: 15.10.1976

Авторы: Майраков, Парняков

МПК: G01B 11/30

Метки: визуального, дефектов

...участ(а можег Оыть лОоой, наи 1)имер, В виде квадрата, круга или перекртия.1 ри проектирОВанпи шаолона В плосОость30 предмсг 1 1: ирп иаолюдстПи изоб;)ажени 5 спомощью устройства светлые зоны А поля зрения соответствуют прозрачным участкам шаблона 6, темная зона Б - непрозрачному участку шаблона (см. фиг. 2), Одновременно световой поток, прошедший через полупрозрачное зеркало 8, формирователем 9 концентрируется в плоскость предмета. Таким образом создастся освещение по мстодутемного поля. Изображение обьекта, создаваемое с помощью объектива 1 и ахрол 1 атичсской линзы 2, рассматривается через окуляр 3. На поверхность объекта, расположсйну 1 О перпендикулярно оптической оси объектива, падают лучи через обьектив 1 (освещение...

Номер патента: 557263

Опубликовано: 05.05.1977

Авторы: Левин, Серегин

МПК: G01B 11/30

Метки: оптический, плоскомер

...снизить требования к изготовлению пентапризмы, Напоимер, ес".и раньше в известных устройствах для контроля неплоскостности для получения погрешности измерения неплоскостности в 15 +в ; 2 требовалось изготовить пентапризму с допуском в 1 , что находится в пределетехнологических возможностей, то прц реализации предлагаемого устройства доускна пентапризму составит 10, т,е, на порядок будет отличаться от требования к пентапризме в известных устройствах. из-за децентрировки пентапрцзмы относительно объективов,Главным же недостатком этого усгройства является невысокая"точность измерения,которая ограничивается погрешностью, связанной с неточным изготовлением пентапризмы. Погрешности изготовления углов пентапризмы, непосредственно входящие в...

Номер патента: 557264

Опубликовано: 05.05.1977

Авторы: Носов, Паско, Полянский

МПК: G01B 11/30

Метки: объекта, поверхности, шероховатости

...коллиматора 2, зонда 3, выходной головки в виде аксиально симметричного оптического клина 4, выполненного в виде усеО ченного конуса, меньшее основание которого непрозрачно. Для снижения количества рассеянного света предназначена диафрагма 5 с круглым отверстием, диаметр которого меньше малого основания усеченного конуса. 15 Светоприемник состоит из зонда 6, диафрагмы 7, аналогичной диафрагме 5, оптического клина 8 аналогичного элементу 4 и расположенного зеркально симметрично ему. Далее располагаются фокусируюшая система - щ собирающий объектив 9, фотоприемник 10, регистрирующий блок 1 1, Оптические оси узлов осветителя и светоприемника совмещены с осью контролируемого объекта 12.Устройство работает следующим образом. 5 Объект 12 с...

Номер патента: 577399

Опубликовано: 25.10.1977

Авторы: Голубев, Сушко

МПК: G01B 11/30

Метки: качества, отверстий

...перемещения каретки, съемную кольцевую диафрагму 9 и корпус 10, на которомустановлен наконечник 11 с зеркалом 12 ввиде конуса и жестко связанный с ним фотоприемник 13.Предлагаемое устройство работает следующим образом,577399 оставитель Л, ЛобзоваТехред Н. Андрейчук Корректор С. Ямапова дактор Тираж 907 Государственного комитет по делам изобретени 3035, Москва, Ж, РаушЗаказ 3672/3БНИИПИ ПодпиСоветаи открыткая наб СССР Министр ий де иал ППП фПатент", г, Ужгород, ул, Проектная,Параллельный луч света, излучаемый источником 2, расширяется коллиматором 3 до необходимого диаметра и, пройдя через кольцевую диафрагму 4, превращается в луч, имеющий форму кольца в сечении, и направляется на зеркало 12 в виде конуса. Отра женный конусом световой...

Номер патента: 587326

Опубликовано: 05.01.1978

Автор: Долгошеин

МПК: G01B 11/30

Метки: волнистости, образец, оценки, покрытий

...чивается.Установлено, что субъективное тие человека и минимальный разм различимого отраженного изображ мета находятся в логарифмическо мостигде К - оценка субьективного восприятиявопннстости поверхности;х - минимальный размер четко различи1 мого предмета;С - постояййые, зависящие от условийпроведения опыта.На основании вышесказанного, с цельюлннеаризации шкалы оценок, толщина каждойпоносы выпсанена измениющейсявла аритмической зависимости от ее длины.Устройство работает спбцуощим .образомПучок света, создаваемый осветителем 4,проходит через образец, попадает под угломна контролируемое покрытие 3 и, отразившисьот него, создает оптическую копию стандартного образца на экране 6,ИВшнистость (шагрень) покрытия приводитк тому, что часть...

Номер патента: 587327

Опубликовано: 05.01.1978

Авторы: Абакумов, Веселовский, Колесниченко

МПК: G01B 11/30

Метки: объектов, поверхности, трехмерных, формы

...на электронно-оптический усилитель3, катод 4 при помощи входных объективов1 и 2. Основными управляющими элементами 5задерживающими или пропускающими поток1электронов с катода являются мелкоструктурные сеточные затворы 6 и 7, При отрицательном напряжении между левым затвором6 и катодом фотоэпектроны не достигаютэкрана 5 (затвор закрыт), в то же время кправому затвору 7 приложен положительныйимпульс с амплитудой, достаточной для отпирания прибора, электроны проходят сквозьсетку и попадают в области фокусирующего 15эпектрическоге пщщ, образованного фЬку-,сируюшей системой 8 и анодом 9. Под действием этого поля в девой части плоскости.люминисцируюшегоэкрана образуется электрронное изображение, соответствующее по 20структуре...

Номер патента: 593070

Опубликовано: 15.02.1978

Авторы: Голиков, Гурари

МПК: G01B 11/24, G01B 11/255, G01B 11/30, G01B 9/021 ...

Метки: геометрических, зеркальных, оптических, параметров, элементов

...Схема устройства по 25 строена таким образом, что рассеиватель бустановлен, перед отражателем б на расстоянии , меньшем фокусного расстояния отражателя.Устройство работает следующим образом.З 0 Поток излучения от источника 1 когерентно.го излучения через светоделитель 2, блок 4 освещения и рассеиватель б подается на отражатель 5, на место которого в процессе измерения устанавливают исследуемый зеркальный оптический элемент. Отраженный зер кальным элементом поток через рассеяватель б подается на регистратор 7 излучения одновременно с опорным пучком излучения, поступающим через систему 8 формирования опорного пучка излучения. После получения 10 на регистраторе 7 голограммы исследуемый зеркальный оптический элемент сдвигают механизмом 8...

Номер патента: 413374

Опубликовано: 25.02.1978

Авторы: Карлин, Лукин, Мустафин, Рафиков

МПК: G01B 11/30

Метки: голографический, оптичеких, поверхностей

...ц = -д-", Л, и Льлсвета при голографированииновлении .соответственно; веотносится к мнимому, а нижнствительному иэображению.Коэффициент сферическойпри этом имеет вид1 1 1 11 Лругие аберрации не рассмтак как исключается случай квещения.Иэ Формул 1 и 2 видно, чт.а 1 = 1 и РЬ: Йдля мнимогония имеем + + и диТаким образом, для мнимогжения сферическая аберрациялю. В случае использованиярядка дифракции вместо формуимеем1 1 1Кэа Я- : - т р --- 1 Ъ413374 Формула изобретения Составитель, Н.ЛобэоваРедакто О.Ю кова Тех ед Ь,Андрейчук Корректор Е.Папп Заказ 640/2 Тираж 702 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и сткрытий 113035 Москва ЖРа ская наб. , 4 5Филиал ППП Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4...

Номер патента: 616532

Опубликовано: 25.07.1978

Авторы: Левин, Леонтьева, Пинаев

МПК: G01B 11/30

Метки: отклонений, поверхности, прямолинейности

...чувствительности измерений с,увеличением расстояния от трубы до марЛки.Наиболее близким устройством посвоей технической сушности и решаемойзадаче является устрой:тво для контроляотклонений поверхности от прямолинейности, содержащее корпус с афокальнойоптической системой, измерительную каретку, состоящую яз осветителя, визирной марки, расположенной на оси афокальн ой с нс те мы р и ми крообъектива с сетф Однако наличие отсчетного блом в перемешаюшейся каретке не позволяет применить устройство для контроля прямолинейности образуюших отВерстий.Предлагаемое устройство отличается тем, что, с целью контроля отклонений образующих отверстий, оно снабжено зрительной трубой с сеткой и отсчетным блоком, неподвижно установленной на...

Номер патента: 619792

Опубликовано: 15.08.1978

Авторы: Полторацкий, Сачков

МПК: G01B 11/30

Метки: дисперсных, параметров, систем

...гистрируют излуоно оляет опре" рации иающем объеделит прочи Известен также способ определе ния размеров рассеивающих частиц п интегральным значениям индикатрисы рассеяния света в области малых углов2,Этот способ заключается в том., что исследуемый объем с рассеивающими частицами облучают пучком света, фиксируют путем сканировани в плоскости наблюдения среднюю интенсивность рассеянного излучения как функцию угла рассеяния, Далее выполняют интегральное преобразо" вание,фурье полученной функции, ко ета, сканируют приемньъ плоскости наблюдения, р интенсизность рассеянно3.619792 формула изобретения Составитель Б. КомраковРедактор Л. Жаворонкова Техред Э.Чужик Корректор С, ГарасинякЗаказ 4491/37 . Тираж.872 ПодписноеЦНИИПИ Государственного...

Номер патента: 629447

Опубликовано: 25.10.1978

Авторы: Голиков, Гурари, Прытков

МПК: G01B 11/30

Метки: кривизны, местных, оптических, ошибок, поверхностей, радиусов

...схема предла 1 аемого устройства. 20Оно содержит источник 1 излучения,осветительную систему 2 юстируемуюплатформу 3 для крепления контролируемой детали, эталонное зеркало 4, рассеивающую пластину 5, светоделнтель 6, пространственный модулятор 7 излучения,наблюдательную систему 8. Индексом 9обозначена контролируемая деталь,Х У,- оси координат, где ось У перпендикулярна к плоскос 1 и чертежа. 30Устройство работает следующим обИзлучение от источника 1 излучениячерез осветительную систему 2 светоделитель 6 и рассеивающую пластину 5 одновременно освещает эталонное зеркало4 и контролируемую деталь 9.Предварительно получают пространственный модулятор 7 излучения путем регистрации через рассеивающую пластину5 голограммы...