G01B 11/30 — для измерения шероховатости или неровностей поверхностей
Способ определения функции распределения углов наклона микронеровностей шероховатой поверхности
Номер патента: 1635000
Опубликовано: 15.03.1991
МПК: G01B 11/30
Метки: микронеровностей, наклона, поверхности, распределения, углов, функции, шероховатой
...4 состообьективов и диафрагмы междужит для расширения пучка и форволны с плоским волновым фростинка 2 ориентируется таким обее ось наибольшей скорости сост45 с плоскостью поляризациипучка, что позволяет получить циркулярную поляризацию освещающего пучка. Поляризатор 6 вращается с помощью шагового двигателя (не показан), что обеспечивает вращение плоскости колебаний световой волны относительно плоскости падения, Объект 12 осуществляет поляризационнофазовую модуляцию лазерного пучка, Объектив 5 проецирует изображение исследуемой шероховатой поверхности объекта 12 сквозь поляризатор 3 в плоскость полевой диафрагмы 7, за которой расположены магнитооптический модулятор 8 и фотоэлектрический блок 9 регистрации, Размер полевой диафрагмы 7...
Способ определения оптической анизотропии прозрачных образцов
Номер патента: 1640542
Опубликовано: 07.04.1991
Авторы: Недужко, Стринадко, Ушенко
МПК: G01B 11/30
Метки: анизотропии, образцов, оптической, прозрачных
...регистрации, измеряют распределение интенсивности и азимутов поляризации в нулевой полосе, по которым определяют оптическую анизотропию и высоту миронеровностей поверхности образца. 1 ил. деления оптичес ых образцов.йство содержит источник 1 иэлучещий высококогерентное излучение волновым фронтом, светоделитель ные зеркала 3 и 4, оптический смемагнитооптический модулятор б, р 7 и фотоэлектронный умножиПредлагаемый способ одующим образом, Полупрозрачная пластин учение,от источника 1 из ка; объектный, который наказ 1012 Тираж 393 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ ССС 113035; Москва, Ж, Раушская нэб 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г Ужгород, ул,Гагарина, 101 исследуемому...
Способ определения распределения крутизны микронеровностей шероховатых поверхностей
Номер патента: 1645811
Опубликовано: 30.04.1991
Авторы: Недужко, Стринадко, Ушенко
МПК: G01B 11/30
Метки: крутизны, микронеровностей, поверхностей, распределения, шероховатых
...комитета по113035, Москва, Жа,1 изводственно-издательский комбина На вход устройства поступает излучение от источника 1 излучения - однородового лазера ЛГ.Пластину 2 ориентируют так, чтобы ее ось наибольшей скорости составляла угол 45 относительно плоскости колебаний вектора электрической напряженности лазерной волны, что обеспечивает формирование циркулярно поляризованной волны, Поляризатор 3 устанавливают под произвольным углом 0 р ( 90 относительно плоскости падения, Коллиматор 4, состоящий из двух обьективов и диафрагмы между ними /на чертеже не показаны/, служит для расширения пучка и формирования волны с плоским волновым фронтом. Исследуемый обьект 13 осуществляет поляризационнофазовую модуляцию освещающего пучка....
Бесконтактный оптический способ определения среднеквадратичной высоты шероховатости поверхности
Номер патента: 1647242
Опубликовано: 07.05.1991
МПК: G01B 11/30
Метки: бесконтактный, высоты, оптический, поверхности, среднеквадратичной, шероховатости
...1 монотического света, поляризационный затор 2 и фоторегистратор 3. Плоско- опускания анализатора 2 совпадает с остью, включающей линию визироваперпендикуляр к контролируемой прости 4. На чертеже указан диапазон углов отражения О, равный 55 - 90, в котором производится измерение интенсивности параллельно поляризованной компоненты1647242 Составитель Л. ЛобзоваРедактор В. Данко Техред М.Моргентал Коррек Шаро аказ 1388 Тираж 393 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по.изобретениям и открытиям при ГКНТ СС 113035, Москва, Ж, Раушская нэб 4/5 кий.комбинат "Пате оизводственно-изда жгород, ул.Гагарина,отраженного излучения, Направление отражения, соответствующее О, = 55, называется направлением зеркального отражения (угол обозначен О...
Устройство для бесконтактного контроля качества обработки поверхности плоских деталей
Номер патента: 1649263
Опубликовано: 15.05.1991
Авторы: Дрозд, Поперенко, Шайкевич
МПК: G01B 11/30
Метки: бесконтактного, качества, плоских, поверхности
...между собой, установлены между модулятором 1 и поляризатором 4 с Возможностью поворотаВокруг оси первого гониометра и кинематически связаны со столиками 5 и Ьобоих гониометров, а гониометры установлены так, что их оси взаимно перпендикулярны, 1 ил. столик 5, а второй - столик Ь, анализатор 7 и Зотопр)1 ел)ник 8.Устройство работает следующим образом.Излучение от источИка излучения(направлено по оси 0 01. После прохождения через модулятор 1 и отражения от плоского зеркала 2, а затеми плоского зеркала 3 излучение проходит (ереэ поляризатор -1 и попадаетна эталонную деталь 10, закрепленную на столике 5 первого гониометра,ПО)151 рпэато 1) 4 устЯНОВлен с Возможпостыл вращения вокруг направленияпроходящего через пего пучка излу 1 ен 11 яПОВО...
Бесконтактный способ определения высоты шероховатости поверхности
Номер патента: 1649264
Опубликовано: 15.05.1991
Автор: Кизеветтер
МПК: G01B 11/30
Метки: бесконтактный, высоты, поверхности, шероховатости
...с угловой скоростьюи перемегде 0И формула изобретения Бесконтактный способ определения высоты шероховатости поверхности, заключающийся в том, что направляют лазерное излучение .на исследуемую поверхность, перемещают исследуемый образец, измеряют характеристики рассеянного излучения, по которым определяют высоту нероховатости, о т л ич а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения точности и производительности определения, исследуемый образец одновременно с его перемещением вращают вокруг оси, перпендикулярной плоскости поверхности исследуемого образца, перемещение исследуемого образца производят параллельно плоскости его поверхности на величину, за время одного оборота равную диаметру лазерного луча, а угловую скоростьвращения задают из...
Способ интерференционного контроля формы поверхности оптической детали из пористого стекла
Номер патента: 1649265
Опубликовано: 15.05.1991
Автор: Степанов
МПК: G01B 11/30
Метки: детали, интерференционного, оптической, поверхности, пористого, стекла, формы
...компенсации тепловых деформаций, имеющих место при механической обработке оптических деталей,Представленная схема обеспечивает постоянное заполнение объема пор жидкостью (испарение воды из поверхностного слоя пористых деталей компенсируется ее самопроизвольным капиллярным течением) и устраняет возможную местную деформацию ПС при контроле. Следовательно, получаемая интерференционная картина отражает только точность механической об1649265 Составитель Л. ЛобзоваРедактор Н, Федорова Техред М.Моргеитал Корректор М, Демч аз 1867 Тираж 392 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР113035, Москва, Ж, Раушская иаб 4/5 роиэводствеиио-издательский комбинат "Патент", г, Ужгород, ул.Гагарина, 10 работки и...
Устройство для контроля параметров шероховатой поверхности
Номер патента: 1652815
Опубликовано: 30.05.1991
Авторы: Нестеренко, Остафьев, Сахно, Тымчик
МПК: G01B 11/30
Метки: параметров, поверхности, шероховатой
...светодЕлительного куба 3 и подключен свопм выходом к входу интегратора 11,выход которого подсоединен к первомувХоду регистрирующего блока 12, а квторому его входу подключен выход дат"чика 9 угла поворота. ЗОУстройство работает следующим образом,Параллельный пучок излучения отисточника 1 излучения периодическиотклоняется дедитектором 2 так, что,за промежуток времени , угол 01изменяется в пределах - 0,+М,где . - половина апертурного углалинзы 4, где Эи - световой диаметр первой положительной линзы 4,Б - расстояние межцу точкой А, относительно которойпроисходит отклонение луча, и линзой 4. Линза 4осуществляет. ввод лучей в световод 5под углами Ии к отической оси устройства, обусловленными углами М,между отклоняемым детектором 2...
Способ измерения шероховатости поверхности детали
Номер патента: 1657950
Опубликовано: 23.06.1991
Авторы: Бучковский, Гуминецкий, Житарюк
МПК: G01B 11/30
Метки: детали, поверхности, шероховатости
...соэ, ц/1+ совк, М=з 10 бр./эггар.ф1,25. 1,г ,Ф(2)/Ф(1), М, 2,в после измерений з 1, эг на исследуемых поверхностях опрееляют Вя по формуле Яя=;(1-М/А(Ф(2)-МФ(1 . 1 ил,вания полученных результатов в измерениях на исследуемых деталях.На чертеже представлена принципиальная схема устройства для реализации предлагаемого способа,Устройство содержит источник 1 излучения, фотоэлектрический приемник 2. Позицией 3 обозначена исследуемая деталь,Способ осуществляют следующим образом.На предметный столик гониометра (не показан) помещают деталь 3 с известным параметром Яя и облучают от источника 1 излучения исследуемую поверхность пучСреднеквадратичное отклонение йя микронеровностей от средней линии профиля определяют по формуле1 - Мдет 30 / 1 з...
Способ определения параметров шероховатости зеркальной поверхности
Номер патента: 1666921
Опубликовано: 30.07.1991
Автор: Смирнов
МПК: G01B 11/30
Метки: зеркальной, параметров, поверхности, шероховатости
...металлических поверхностей иэделий, не имеющих регулярной составляющейшероховатости, Цель изобретения - повышение производительности определениясреднеквадратичного отклонения и периодакорреляции высот неровностей, являющихся параметрами шероховатости. Способ определения параметров шероховатостизеркальной поверхности заключается в том,А 2,1666921 А 1 что освещают исследуемую поверхность параллельным монохроматическим световым пучком под острым углом 00 к ее нормали, измеряют интенсивности световых потоков, отраженных исследуемой поверхностью,и по отношениям этих интенсивностей к интенсивности зеркального отражения судят о среднеквадратичном отклонении и периоде корреляции высот неровностей. Измерение интенсивностей 1 и 1 световых...
Лазерный интерференционный плоскомер
Номер патента: 1668864
Опубликовано: 07.08.1991
Авторы: Карпова, Смирнов, Шаркин
МПК: G01B 11/30
Метки: интерференционный, лазерный, плоскомер
...оптическойоси, визирную, марку 3 и блок обработкиинформации, измерительный блок в видеустановленного с возможностью перемещения вдоль оси корпуса 5 с тремя наконечниками 6 - 8, один из которыхустановлен с возможностью перемещенияперпендикулярно оптической оси, и последовательно расположенных вдоль оптической оси корпуса 5 уголкового отражателя9, двух пар оптических клиньев 10, 11 и 12,13 и второго уголкового отражателя 14.Плоскомер содержит также две оптические пластины 15 и 16, расположенные с-1противоположных сторон корпуса 5 и предназначенных для создания замкнутой оптической системыПлоскомер работает следующим образом,Луч лазерного интерферометра 1 направляется плоским зеркалом 2 через оптическую пластину 15 в измерительный блокна...
Способ измерения шероховатости металлической поверхности
Номер патента: 1668865
Опубликовано: 07.08.1991
Авторы: Витенберг, Ланде, Подхалюзин, Терехов, Торчинский
МПК: G01B 11/30
Метки: металлической, поверхности, шероховатости
...в трых сколов их поверхасширение чет обнаруической поток сначала измеряют интенсивность 1 г отраженного в обратном направлении горизонтально поляризованного света и по отношению инГостей - судят о наличии сколов, а1 гг1 вввкола определяют иэ соотношений СОВ(зг/и) - Созе/п)СОБОЛЬ/и) зом.От источника 1 монохромати та с длиной волны (, направляю поток 6 через поляризатор 2 н контролируемой поверхности 5 ность отраженного световог проходящего через анализато рируют приемником 4. Направ товой поток сначала пол вертикальной плоскости и изме ивность 1 в, отраженного в обратном на1668865 впф)впф) Г гг вц совф) -сОзф)ссай) 1 гг ( 31 П /и 5 и о/и сов(л/и) - созф/п)соя(р,/и) Составитель Л. Лобз Техред М,Моргентал ректор Л, Бески дактор О. Голова...
Рефлектометр для измерения поляризационных параметров поверхности объекта
Номер патента: 1670394
Опубликовано: 15.08.1991
Авторы: Дрозд, Поперенко, Щайкевич
МПК: G01B 11/30
Метки: объекта, параметров, поверхности, поляризационных, рефлектометр
...размещена в плоскости, перпендикулярной плоскости столика 1, а другая - в плоскости горизонтально расположенного столика 2.Рефлектометр работает следующим образом,Направленное вдоль оси 00 излучение1попадает на зеркало 3, при вращении которого вокруг оси, перпендикулярной оси 00, излучение поочередно направляется либо на столик 1, либо на столик 2, а затем, после отражения от эталонного и контролируемого объектов и соответственно зеркал 10 и 11, направляется на зеркало 4, направляющее поочередно (вследствие кинематической связи с зеркалом 3) излучение либо от эталонного, либо от контролируемого объекта к фотоприемнику 5, где регистрируемый сигнал переменного тока (напряжения) прямо пропорционален уровню различия коэффициентов отражения...
Устройство для контроля качества поверхности
Номер патента: 1675669
Опубликовано: 07.09.1991
Авторы: Антонюк, Король, Маслов, Остафьев
МПК: G01B 11/30
Метки: качества, поверхности
...Москва, Ж, Раушская наб., 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул,Гагарина, 101 Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано длябесконтактного контроля качества поверхностей деталей, например, шероховатостиповерхности в машиностроении и приборостроении.Цель изобретения "- повышение точности контроля за счет тогочто регистрируются как зеркально отраженный поток лучей,так и диффузионно-рассеянные световые 10потоки, в зависимости от закона распредепения микронеровностей исследуемой поверхности, но с большей площади,На чертеже изображена схема устройсгва для контроля качества поверхности, 15Устройство содержит осветитель, состоящий иэ последовательно установленных источника 1 излучения...
Способ а. м. тонояна трассологической экспертизы следов орудия преступления
Номер патента: 1681167
Опубликовано: 30.09.1991
Автор: Тоноян
МПК: G01B 11/30
Метки: орудия, преступления, следов, тонояна, трассологической, экспертизы
...исследован ием было установлено, что пятна бурого цвета, обнаруженные на полу и на различныхпредметах, в том числе и на топоре, являю Гся следами крови человека, а остатки костей, найденные в печи, являются частицамичелюстей и черепа челсвека,Все это подтверждало версию, что убийство совершено в квартире, где проживалиМал кина и Шел я пин ы. 50Однако решающим доказательствомэтогообстоятельстваявилась трассоло.ическая экспертиза, установившая, что расчленение трупа Магкиной произведенотопором, найденным в кладовой квартиры 55Шеляпиных.На исследование г 1 оступило три кости,НО ЛИШЬ На ОДНой Иэ НИХНа ГолОВКЕ ПоаБОГО б,.дрэ след Оказал,я пригодным дляидентификации. Этот след представлял собой ряд параллельно идущих линий в...
Устройство для контроля поверхностных пороков рулонных материалов
Номер патента: 1681243
Опубликовано: 30.09.1991
Авторы: Анбиндер, Бражник, Воронин, Гефтер, Шевлягина
МПК: G01B 11/30, G01N 33/36
Метки: поверхностных, пороков, рулонных
...электроприводом.Устройство работает следующим образом.Луч лазерного сканера 1 перемещается поперек поверхности движущегося материала 3, Проходящий через материал 3 или отраженный от него световой поток поступает на линейный фотоприемник 2, с выхода которого в результате изменения интенсивного светового потока, вызванного наличием на поверхности материала 3 дефекта, электрический сигнал подается на вход блока 10 определения наличия дефекта. Сигнал с первого выхода блока 10 поступает на вход формирователя 4, и в случае его совпадения по времени с импульсом, поступающим с выхода линейного фотоприемника 2, на выходе последнего формируется сигнал "Начало дефекта", подаваемый далее на первый вход блока 5 сравнения, в котором...
Устройство для контроля шероховатости поверхности изделия
Номер патента: 1682770
Опубликовано: 07.10.1991
Авторы: Нестеренко, Сахно
МПК: G01B 11/30
Метки: изделия, поверхности, шероховатости
...лучом и оптической осьюизменяется в пределах а 1 - аг Положительная формирующая линза 5 фокусирует. эти лучи на выходной торец световода 6 так, 45что угол а между лучом за положительнойформирующей линзой 5 и оптической осьюизменяется за промежуток времени Ь Т впределах ( - а 1 - а 2 ) В результате эффекта симметризации пучка лучей в световоде6 пучок за выходным торцом световодапредставляет собой полый конус с вершиной в центре выходного торца и углом привершине, изменяющимся в пределах4а 1 - а 2 за промежуток времени ЬТ, Положительная фокусирующая линза 7 фокусирует полученный конический пучок наисследуемую поверхность 10 так, что за нейобразуется пучок в виде полого конуса с вершиной на исследуемой поверхности 10 и углом между...
Устройство для определения направления следов обработки на поверхности деталей
Номер патента: 1682771
Опубликовано: 07.10.1991
Авторы: Гатенян, Заморянский
МПК: G01B 11/30
Метки: направления, поверхности, следов
...диски 4 с выполненными в немдвумя диаметрально противоположнымищелями 5 и 6, снабженный приводом 7 вращения и датчиком 8 угла положения, и экран9 с прозрачным сектором 10 и отражателем11, закрепленным на экране 9 по центру свнешней стороны. Отражатель 11 оптическисвязан через вспомогательнуо призму 12 с 30лазером 1. ФЭУ 3 установлен в корпусе 2 иэлектрически соединен с усилителем 13, выход которого, в свою очередь, соединен свходом регистрирующего блока 14. Исследуемая поверхность 15 расположена перпендикулярно оси диска 4.Устройство работает следующим образом.При работе луч лазера 1 через вспомогательную призму 12 и отражатель 11 попадает на исследуемую поверхность 15, Приэтом на экране 9 возникает след от дифракции пучка...
Устройство для контроля качества цилиндрической поверхности
Номер патента: 1684594
Опубликовано: 15.10.1991
Авторы: Бирман, Гроссман, Седельников, Федяй
МПК: G01B 11/30
Метки: качества, поверхности, цилиндрической
...ось которой совпадаетс осью контролируемой детали 9, В оптическом контакте с этой поверхностью находится фокусирующая линза 7, котораяограничена с другой стороны тороидальнойповерхностью и имеет в сечении вид сегмента,Световоды 4, отводящие излучение, также образованы из множества волокон, входные торцы которых собраны по граняммногогранной правильной пирамиды и обработаны так, что образуют поверхностьусеченного конуса. В оптическом контакте сэтими поверхностями находятся линзы 8,которые ограничены с другой стороны тороидальной поверхностью и имеют в сечениивид сегментов.Наклон образующей конической поверхности выбирают таким, чтобы оси входныхторцов волокон световодов 4, отводящих излучение, пересекались с плоскостью расположения...
Устройство для измерения шероховатости поверхности изделия
Номер патента: 1693376
Опубликовано: 23.11.1991
Авторы: Витушкин, Гинкул, Михайлов
МПК: G01B 11/30
Метки: изделия, поверхности, шероховатости
...нанесена тарированная вкала шероховатости поверхности. Поверхность 10 грани, на которой выполнена линза 7, - зеркальная.Устройство работает следующим образом,Излучение от исто Рникасвета проходит через отверстие диафрагмы 2 и фокусируется линзой 3 на зеркале 4. При медленном перемещении всего измерительного устройства по контролируемой поверхности 11 изделия щуп 5, повторяя профиль микронеровностей поверхности 11, отклоняет зеркало 4 на определенныЙ угол п, величина которого пропорциональна максимальной высоте микронеровностей, На угол 2 р отклоняется падающий нд зеркало 4 тонкий луч света. Далее луч света проходит цилиндрическую линзу 7 и, преломляясь, разворачивается на угол у, Попадая на отрдженнуо линзу 8, луч разворачивается нд...
Способ контроля частоты отражающих радиусных поверхностей
Номер патента: 1693377
Опубликовано: 23.11.1991
Автор: Нетреба
МПК: G01B 11/30
Метки: отражающих, поверхностей, радиусных, частоты
...дефектов типа: риски, раковины выбоины, выступы,С помощью предлагаемого способа можно производить на экране аизуальное сравнение количества и размеров наблюдаемых дефектов с фотошаблоном, определяющим допустимые размеры и количество дефектов в поле зре п я. Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано длябесконтактного визуального контроля чистоты отражающих радиусных поверхностей,преимущественно шариков и дорожек качения подшипниковых колец,Цель изобретения - повь,шение качества контроля и расширение области использования способа эа счет возможностиобнаружения единичного и групповых дефектов с размерами порядка среднегоразмера шероховатостей исследуемой поверхности, а также за счет обеспеченияконтроля...
Устройство для контроля печатных плат
Номер патента: 1693378
Опубликовано: 23.11.1991
Автор: Иванов
МПК: G01B 11/30
...впадин, то происходит нарушение изображения кольцевой диафрагмы 3 в виде "местной" или "общей" ошибки, При этом величина отклонения формы кольца в месте ошибки пропорциональна стрелке про-, гиба поверхности отверстия 10, а направление определяется типом дефектов 12,Для контроля дефектов 12 на всей внутренней поверхности отверстия 10 печатной платы 11 проекционная и анализирующая системы одновременно перемещаются вдоль оптической оси на высоту отверстия 10, При этом на экране телевизионной камеры 9 возникают изображения профиля участков поверхности отверстия 10 платы 11.Благодаря введению коллиматора 2 и подбору соотношения фокусов коллиматора 2 и.проекционного объектива 4 изображение источника 1 света Формируется в задней фокальной...
Способ измерения шероховатости поверхности изделия
Номер патента: 1698640
Опубликовано: 15.12.1991
Авторы: Седельников, Ульянов
МПК: G01B 11/30
Метки: изделия, поверхности, шероховатости
...поляризации света и скорости движения поверхности изделия 8 ортогональны. Рассеянное излучение, проходящее через микрообъектиа 3, с помощью светоделительного кубика 2 направляют на микрообъектиа 4 и снова локалиэуют в точке микрообъектива 4, идентично микрообъективу 3, Расстояние от точки фокуса микро- объектива 4 до диафрагмы 6, т,е, плоскостимального падения луча лазера 2 на поверхность изделия 8, С помощью поляризатора 5 в рэсс 8 Янном иэлуч 8 нии выделяют единственную,компоненту полл, соответствующую исходной поляризации лазерного излучения. 5 С помощью диаФрагмы 6 с малым отверстием, находящейся непосредственно за поляризатором 5, выделяют в дифракционной картине а области зеркальной компоненты (наиболее крупный центральный спекл...
Способ бесконтактного определения шероховатости поверхности
Номер патента: 1698641
Опубликовано: 15.12.1991
Автор: Юрина-Цымбал
МПК: G01B 11/30
Метки: бесконтактного, поверхности, шероховатости
...в информационных иопорном пучках; б - диаметр пучкови ,сравнимый с базовой длиной шероховатости поверхности, гп - расстояние междуцентрами пучков, которое больше базовойдлины шероховатости повеохности; о - 5центр пучка , совмещенный с центром вращения поверхности 26 контролируемого из-.делия, Ь - центр пучка , в которыйсфокусирован пучок ,Способ осуществляют следующим об- Оразом.Контролируемую поверхность 28 вращают с постоянной скоростью и освещаютдвумя монохроматическими хогарентнымилинейно поляризованными пучками света с 15взаимно ортогональной поляризацией, сформированными лазером 1, четвертьволновойпластиной 2, полупоозрачным зеркалом 9,линзой 10, призмой Волластона 11, призмой 12 и микрообъективами 16 и 15 так, что 20на...
Способ определения параметров шероховатости поверхности изделия и устройство для его осуществления
Номер патента: 1700358
Опубликовано: 23.12.1991
Автор: Егоров
МПК: G01B 11/30
Метки: изделия, параметров, поверхности, шероховатости
...излучения, а также за счет определения параметров шероховатости; пространственного периода, амплитуды гармонических составляющих и среднеквадратичного отклонения поверхности от плоскости.На фиг.1 изображена принципиальная схема устройства для определения параметров шероховатости поверхности; на фиг.2 - то же, вид сверху.Устройство содержит источник 1 излучения, поляризатор 2, фокусирующую систему 3, первый оптический элемент 4 связи (призма), диэлектрический слой 5, второй оптический элемент 6 связи, выполненный в виде плоского полукруга радиуса Я 1, третий оптический элемент 7 связи, выполненный в виде полусферы с плоским основанием радиуса Яг первый слой 8 иммерсии, второй слой 9 иммерсии, первый приемник 10 излучения, второй приемник...
Способ измерения среднего квадратического отклонения высот неровностей анизотропной поверхности изделия и устройство для его осуществления
Номер патента: 1700359
Опубликовано: 23.12.1991
Авторы: Буянов-Уздальский, Обрадович, Солодухо
МПК: G01B 11/30
Метки: анизотропной, высот, изделия, квадратического, неровностей, отклонения, поверхности, среднего
...с шириной, равной ширине отВерстия в маске, и длиной, меньшей длины Отверстия в маске на величину диаметра зеркально отраженного пучка,Именно предлагаемая форма отверстий в маске и шторках и смещение оптической оси объектива относительно зеркального вправления обеспечивают, согласно способу, измерение интегральных диффузных потоков вблизи плоскости падения и тем ,самым достижение цели. Это позволяет сде,лать вывод, что предлагаемый способ и уст,ройство связаны между собой единымзамыслом.На Фиг.1 изображена принципиальная схема устройства, реализующего предложенный способ; на фиг.2-4 - конфигурация маски и подвижных шторок; на фиг.5 и 6 - условно показаны взаимное расположение отверстий в маске и подвижных шторах в их 1 и П положениях...
Устройство для измерения шероховатости полированной поверхности образца
Номер патента: 1702178
Опубликовано: 30.12.1991
Авторы: Король, Маслов, Остафьев
МПК: G01B 11/30
Метки: образца, поверхности, полированной, шероховатости
...и вокруг оси, перпендикулярной плоскости падения и црохо 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 дящей через цен гр приемной ппощэдки фотоприемникэ.На чертеже пред 1 эпецэ пригшипиальнэя схема устройстваУстройс 1 во содержиг й 1 очник 1 когерентного излучения, обьекйв 2 дпя фокусировки падающего излучения, блок 3 перемещения образца, фотоцриемник 4, блок 5 обрэбот,. и информации н индикэции, систему сканирования, состоящую из приводов б и 7 поворота. Источник 1 когерентного излучения и обьектив 2 расположены на одной оптической оси, Блок 3 перемещения образца позволяет осуществпягь подвижки исследуемого образца 8 в плоскости, перпендикулярной плоскости падения луча, в двух взаимно перпендикулярных направлениях, при этом возможно проведение...
Способ определения шероховатости поверхности детали
Номер патента: 1702179
Опубликовано: 30.12.1991
Автор: Большанини
МПК: G01B 11/30
Метки: детали, поверхности, шероховатости
...материала, а также отсутствия влияния точности изготовления эталона на результаты измерения. Освещают световым потоком от источника 1 когерентного монохроматического излучения на поверхность исследуемой детали 15 со стороны среды с большим показателем преломления и под углом, величина которого не меньше критического значения для данного материала детали. Регистрируют величину сигнала, пропорциональную интенсивности 1 т рассеянного излучения, прошедшего контролируемую поверхность эа счет нарушения полного внутреннего отражения, и величину сигнала, пропорциональную интенсивности 1 О падающего излучения. Среднеквадратичную шероховатость О определяют по формуле16-1 т,4): 4 асов ч, где Л - длина волны когерентного источника; ч - угол...
Автокорреляционный способ статистической оценки погрешности формы оптической поверхности детали
Номер патента: 1705702
Опубликовано: 15.01.1992
Авторы: Королев, Крылов, Машников
МПК: G01B 11/30
Метки: автокорреляционный, детали, оптической, оценки, поверхности, погрешности, статистической, формы
...оценивают погрешность формы оптической поверхности, определение автокорреляционной функции производят сначала для отрезка на поверхности не менее трех аттестованных деталей с известными и разными величинами среднеквадратической погрешности профиля поверхности, затем производят определение автокорреляционной функции контролируемой детали, а оценку погрешности формы оптической по 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 верхности контролируемой детали производят по величине среднеквадратической погрешности профиля поверхности путем интерполяции результатов измерений аттестованных деталей.Предлагаемый способ статистической оценки погрешности формы оптической поверхности детали заключается в последовательном выполнении следующих...
Устройство для контроля шероховатости поверхности
Номер патента: 1711001
Опубликовано: 07.02.1992
Авторы: Езерский, Калашников, Король, Маслов, Сыревич
МПК: G01B 11/30
Метки: поверхности, шероховатости
...перемещения светового луча вплоскости образца 3 при сохранении посто 35 я нного угла падения луча и нормали к поверхности образца в контролируемых точках,Управление механизмом 2 осуществляетсяпосредством механической связи с выхода7 блока 8, который тактируется по входу 9 с40 выхода синхронизатора 10, При этом управление записью значений отсчетов индикатрисы рассеяния в контрольных точкахосуществляется при помощи дозатора 12циклов контроля, управляемого сигналами,45 синхронными с тактами перемещения светового луча, с выхода 11 блока 8 калиброванного дискретного перемещения. Процесссъема информации устройством состоит изМ циклов, в каждом иэ которых выполняется50 . тактов сдвига светового луча в плоскостиобразца на...