G01B 11/30 — для измерения шероховатости или неровностей поверхностей

Номер патента: 868347

Опубликовано: 30.09.1981

Авторы: Обрадович, Попов, Солодухо

МПК: G01B 11/30

Метки: поверхностей, полированных, рефлектометрический, шероховатости

...и общий отраженный от поверхности изделия световой поток 1 О Л , по отношениям (1 Э + +д 1 )Л /1, и (1 + Ь)Л / ), судят о среднем квадратическом отклонении и об интервале корреляции высот неровностей.0СпоСоб может быть реализован с помощью серийно выпускаемых спектрофотометров с интегрирующей сферой типа СФи СФ.На чертеже представлена принципи альная схема спектрофотометра.Спектрофотометр содержит монохроматор 1 и интегрирующую схему 2, которая включает ловушку 3, заслонку 4, приемник 5 излучения и регистри рующее устройство 6.Способ осуществляется следующим образом.Контролируемое изделие 7 располагают в окне интегрирующей сферы 2, освещают поверхность изделия 7 с помощью монохроматора 1 монохроматическим излучением по крайней мере з...

Номер патента: 868348

Опубликовано: 30.09.1981

Авторы: Городинский, Поклад, Шестов

МПК: G01B 11/30

Метки: поверхности, шероховатости

...7 для регистрации диффуэНо отраженного излучения, распол 6 женный на той же оси по ходу светового излучения эа фотоприемником бдля регистрации зеркально отраженного излучения, блок обработки сигналов с фотоприемников 6 и 7 (не показан), приемник 8 сравнения, полупрозрачную пластину 9, установленную в точке А пересечения упомянутыхосей под произвольным углом (например, 45 ) к оси коллимирующей линзы2, рассеиватель 10 для обеспеченияравномерного распределения потокана фотоприемнике 7.Устройство работает следующим образом,Пучок света, посылаемый источником 1 света, падает на полупрозрачную пластину 9 и раздваивается. От"раженный пучок попадает на приемник8 сравненияПрошедший пучок коллимирующей линзой 2 проецируется на...

Номер патента: 872959

Опубликовано: 15.10.1981

Автор: Скрелин

МПК: G01B 11/30

Метки: бесконтактный, высоты, образцов, поверхности, прозрачных, фотометрический, шероховатости

...о определяемые, напр формулами Френеля, воначальном положе разца;Т 1 - коэффициент пропускания4измеряемой поверхности итолщи образца в первоначальном его положении;Т " сигналы от диффузного и1полного потоков, отраженных от поверхностей в первоначальном его положении, , г - коэффициенты зеркальногоотражения измеряемой и противоположной изповерхностей образределяемые, напримформулами френеля,перевернутом положеобразца;У - коэффициент пропуспротивоположной измой поверхности и ний за счет искажений, вносимых слоем при воспроизведении микрорельефа, и в ряде случаев делает непригодными образцы для эксплуатации.Целью изобретения является повышение точности и упрощение процесса измерения.Поставленная цель достигается тем, что после...

Номер патента: 890070

Опубликовано: 15.12.1981

Авторы: Бобонич, Дворак, Фольовчук

МПК: G01B 11/30

Метки: объекта, поверхности, шероховатости

...2, светоделительный элемент 3, закрепленный в корпусе 4, фотоприемники 5 и 6, регистрирующую систему, включающую усилители 7 и 8, дискриминатор 9 и блок 10 сравнения, исполнительный механизм 11.Устройство работает следующим образом.Монохроматическое излучение от источника 1 света попадает на световод 2, с помощью которого происходит деление пучка света на две часФормула изобретения У 2 ВНИИПИ За Тираж 645 П "Патент"ул.Проектная, Филиал г.Ужго ти, Одна часть попадает на светоделительный элемент 3, а вторая - на фотоприемник 6, Излучение, прошедшее через светоделительный элемент 3, попадает на контролируемую поверхность объекта 12 и, отражаясь от нее, регистрируется фотоприемником 5.Сигналы от Фотоприемников 5 и 6 усиливаются...

Номер патента: 892207

Опубликовано: 23.12.1981

Авторы: Ганшин, Кубринская, Петрова

МПК: G01B 11/30

Метки: волноводных, диэлектрических, качества, пленок, поверхности

...волноводов, соответственно (см. Фиг. 3). Расчет таких зависимостей для самых различных значений параметров диэлектрических пленок, толщины и показателя преломления, показывает,.что форма кривых является практическинеизменной, Параметр В можно определить из кривых фиг. 3, если значения величины В лежат в диапазоне порядка 10- 500 нм.Пленки оксинитрида кремния 510 И толщиной 1,6 мкм и коэффициентом преломления 1,59 осаждают на подложки из окисленного полированного кремния, при этом пленки поддерживают четыре направляемые моды ТЕ поляризации.Перед началом измерений для укаэанных параметров пленок рассчитывают графическую зависимость отношений двух максимумов интенсивности рассеиваемого волноводной пленкой. излучения 1 = 1" /1...

Номер патента: 896400

Опубликовано: 07.01.1982

Авторы: Лапин, Царенко

МПК: G01B 11/30

Метки: дефектности

...на электрические входы блока 1 измерений с функционального генератора 8 поступает периодическая последовательность прямоугольных импульсов, 25 на соответствующие оптические входы воздействует световой поток. На выходе блока будет послеповательность импульсов, модулированных дестабилизирующим параметром (например, неравномерной освещенностью фотодатчиков). КЬличество импульсов во вхопном и выходном сигналах соответствует числу каналов фото- датчика.Выходной сигнал с блока 1 измерения 35через коммутатор 2. (контакты К, замкнуты), управляемый блоком 3 управления, подается на первый вход функционального преобразователя 6. На второйвход последнего вводится последовательность входных импульсов блока 1 измерений, поступающая с...

Номер патента: 896401

Опубликовано: 07.01.1982

Авторы: Денисов, Кузнецов, Огородников, Пискалов

МПК: G01B 11/30

Метки: поверхности, шероховатости

...конлируемую поверхность и регистрируют учение, отраженное от поверхности 2 Недостаток этого способа - невозможость осуществления контроля шероховатости напьшяемости поверхности из-за помех,вносимых излучением плазмы, а также896401 Составитель Н. ЗахаренкоРедактор И. Юрковецкий Техред М,Тепер Корректор Д, Шеньо Заказ 11677/26 Тираж 613 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5филиал ППП Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4 Способ заключается в следующем.Направляют монохроматическое определенной длины волны излучение на контролируемую поверхность, при этом для поддержания непрерывного контроля ше роховатости одновременно с процессом ионно-плазменного напыления...

Номер патента: 896402

Опубликовано: 07.01.1982

Авторы: Бакут, Демин, Клоков, Троцкий

МПК: G01B 11/30

Метки: диффузно-отражающей, объекта, поверхности, шероховатости

...поверхности в естественном свете.15 составляющие излучения равной интенсивности, длины волн которых ),и 3 связаны между собой соотношением Х,1- 30,01-0,1 1, по каждой выделеннойсоставляюшей излучения формируют 1 изображение поверхности объекта, регистрируют распределение интенсивности одного из сформированных изображений, усиливают распределение интенсивности второго изображения пропорционально зарегистрированной интенсивности первогоизображения суммируют интенсивностив изображениях и по величине этой суммы судят о степени шероховатости поверхности.На чертеже изображена принципиальная схема устройства, реализующегопредлагаемый способ,Устройство содержит приемную оптическую систему 1, полупрозрачное зер 20кало 2,...

Номер патента: 934219

Опубликовано: 07.06.1982

Авторы: Денисенко, Калинушкин, Кондрашов, Кузнецов, Однороженко, Сабокарь

МПК: G01B 11/30

Метки: качества, отверстий

...установлен наконечник 13 с зеркалом 14 в виде конуса и жестко соединенный с ним фотоприемник 15.Устройство работает следующим образом.Параллельный пучок света, излучаемый источником 2 света, расширяется коллиматором 3 до необходимого диаметра и, пройдя через кольцевую диафрагму 4, направляется на зеркало 14в виде конуса. Кольцевая диафрагма 4 свободно укреплена на оси 5 привода,осуществляющего ее вращение. Отраженный зеркалом 14 световой потокнаправляется под некоторым углом наконтролируемую внутреннюю цилиндрическую поверхность детали 9 и, отражаясь на этой поверхности, поступаетна фотоприемник 15. Вращением диафрагм 4 осуществляется сканированиезондирующего луча по внутренней поверхности отверстия. При поступательном движении...

Номер патента: 938010

Опубликовано: 23.06.1982

Авторы: Гребенюк, Гребнев, Кречман, Суминов, Уваров

МПК: G01B 11/30

Метки: качества, отверстий, поверхности, цилиндрических

...в виде аксикона и установлен Вершиной навстречу излучению лазера, а световод выполнен в виде кольцевых секций, входные торцы которых скошены 1 в а каждый выходной торец соединен с соответствующим приемником излучения.На фиг. 1 изображена принципиальная схема для контроля качества поверхности цилиндрических отверстий; на фиг. 2 - сечение А-А на фиг. 1.Устройство содержит последователь о расположенные на одной оптической оси лазер 1, фокусирующую линзу 2, световод 3, выполненный в виде коль- Зв цевых секций, входные торцы которых скошены, отклоняющий элемент 4, выполненный в виде аксикона и установленный вершиной навстречу излучению лазера 1, приемники 5 излучения, каж- г 5 дый из которых соединен с соответстВующим выходным торцом...

Номер патента: 938011

Опубликовано: 23.06.1982

Автор: Кокин

МПК: G01B 11/30

Метки: прямолинейности, фотоэлектрическое

...А-А) вследствие его наклонного расположения.При подаче питающего напряженияна приводвращения, например электродвигатель, светорасщепитель 2 и генератор 5 опорных напряжений начина,ют вращаться с частотой вращенияэлектродвигателя, цто приводит квращению раздельных пучков лучей:по окржуностям с радиусами г и ги к появлению на выходах генератора 5 переменных напряжений, сдвинутых по Фазе на У/2, частота которыхравна частоте вращения светорасщепителя 2Вращающиеся пучки лучей создаютобщую для них равносигнальную зону,являющуюся продолжением энергетической оси пучка лучей от источника 1света, при этом величина клина светорасщепителя и ее изменения от различных Факторов влияют только на углырасхождения вращающихся пуцков лучей,но не...

Номер патента: 945652

Опубликовано: 23.07.1982

Авторы: Беляев, Карпов, Квасов, Немченок, Полонин

МПК: G01B 11/30

Метки: поверхности, шероховатости

...на контролируемую поверхность" поляризованное электромагнитное излучение, регистрируют интенсивность излучения, отраженного отповерхности, и по велицине интенсивности оценивают контролируемый параметр, о т л и ч а ю щ и й с я тем,что, с целью измерения также и поверхностных дефектов, осуществляютвращение плоскости поляризации излучения, направляемого на поверхность,а величину контролируемого параметраопределяют по максимальной интенсивности отраженного от поверхности излучения,Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1, Авторское свидетельство, СССРйф 508670, кл. 6 0 В 11/30, 1972.2. Патент ВеликобританииМ 1523604, кл. 6 01 В 11/30, 1978(прототип),Составитель Н. ЗахаренкоРедактор О. Юрковецкая Техред С.Мигунова Корректор...

Номер патента: 949336

Опубликовано: 07.08.1982

Автор: Шаяхметов

МПК: G01B 11/30

Метки: поверхностей, прямолинейности

...решетка в процессе измерения перемещается по контролируемой поверхности 1.Недостатком устройства является изкая производительность и,точность змерения. 2Наиболее близким к изобретению ,является устройство 2для измерения прямолинейности поверхностей, содержащее последовательно расположенные источник когерентного света, коллиматор, дифракционную решетку, установленную перпендикулярно свето вому лучу, отражающее зеркало и бло регистрации. Устройство содержит также вторую дифракционную решетк установленную как и первая перпенди кулярно световому лучу. Дифракционн решетки закреплены на одном основании и связаны между собой соотноше(Ф уь, в Составитель Л, ЛобзеваЕгорова Техред М. Рейвес Корректор Н КОРОльПодписное Редактор ж 1о комитета...

Номер патента: 951070

Опубликовано: 15.08.1982

Авторы: Голубев, Лукичев, Трофимов

МПК: G01B 11/30

Метки: качества, поверхности

...объектива 3, равным его фокусному 10расстоянию, В центре Фокусирующегообъектива 3 выполнено отверстие 4,в котором установлен приемный конецсветовода 5, другой конец которогосоединен с Фотодатчиком б. фотодатчик 6 электрически соединен с усилителем 7, к выходу которого подключенрегистрирующий прибор 8. Объектив 3установлен от рабочего торца 9 корпуса 1 на расстоянии, равном половине 20его Фокусного расстояния, что позволяет сфокусировать отраженный от контролируемой поверхности 10 пучок света на приемный конец световода 5, асам световод 5 предотвращает рассеива ние света на пути от точки фокусирования отраженного пучка до Фотодатчика 6.Устройство работает следующим образом,Рассеянный поток света от осветителя с помощью...

Номер патента: 970102

Опубликовано: 30.10.1982

Авторы: Байков, Лубны-Герцык, Эскин

МПК: G01B 11/30

Метки: оптической, регистрации, рельефа

...движение пону, фотографируют реную фотопластинку, соО ную фотопластинку с ппросвечивают совмещенки.На чертеже представлена оптичкая схема устройства, реализующеоптический способ регистрации.Устройство содержит источникта, объектив 2, плоскости 3 фотофирования и рельеф 4 поверхностиследуемого слоя.Способ реализуется следующимНаправляют излучение от источника 1 света на рельеф 2 поверхности исследуемого слоя, объективом 3 фокусируют рассеянное излучение в плоскость 4 фотографирования, фотографируют на позитивную фотопластинку (не пока зана)изображение,рельефа. Затем на место позитивной фотопластинки устанавливают негативную Фотопластинку (не показана), приводимую в колебательное движение по заданному 1 О закону. Закон, согласно которому...

Номер патента: 977949

Опубликовано: 30.11.1982

Авторы: Бескровный, Жилкин, Запрягаева, Кращин

МПК: G01B 11/30

Метки: объектов, отклонений, прямолинейности, точек

...состоит из объектива 4, :сетки 5 и окуляра 6, закрепленных в корпусе 7. На оси 8, закрепленной в корпусе 7; установлены перпендикулярно визирной оси 0-0 оптической трубы оптические плоскопараллельные пластины 9- 11. Количество пластин соответствует количеству марок.Устройство работает следующим об разом.При необходимости измерений положений любой из марок, например 1, в оптическую трубу путем поворота относительно оси 8 вводится оптическая плоскопа раллельная пластина 9, При этом толщина пластины 9. связана с расстоянием до марки и параметрами оптической трубы соотношением 9 флентно перефокусировке на промежуточные марки,Йля уменьшения суммарной толщиныоптических плоскопараллельных пластин в. предлагаемом устройстве...

Номер патента: 983455

Опубликовано: 23.12.1982

Автор: Двинянинов

МПК: G01B 11/30

Метки: детали, качества, поверхности, прибор

...установлен перед этой плоскостью А-Ь на пути световых лучей,отклоненных на 90 ф второй полупрозрачной пластиной в фокусе общей линзы 4, и имеет экран 8 с отверстием,сплошной экран 9, установленный перед первым фотоприемником Ь,Прибор работает Следующим образом.Расходящийся световой поток первичного излучения от точечногоисточника 1 света с помощью дополнительной линзы 5, полупрозрачной пластины 2 и общей линзы 4 преобразуется,в параллельный поток, направленный по нормали к контролируемой поверхности детали 10. Поток вторичного излучения от светящегося пятнана контролируемой поверхности детали 10 после прохождения общей линзы4 превращается в сходящийся световой 65 поток. Одна часть этого потока проходит в сторону первого фотоприемника...

Номер патента: 987381

Опубликовано: 07.01.1983

Авторы: Обрадович, Попов, Солодухо

МПК: G01B 11/30

Метки: параметров, поверхностей, рефлектометр, сверхгладких, шероховатости

...под углом 8, отличным от угла В зеркального отражения, и под углом 9, отличным от углов 8 и 8, нейтральные светофильтры 13- 15, электронно-измерительный блок обработки сигналов, включающий селективный нановольтметр 16, переключатель 17, блок 18 интерфейсных плат и микропроцессор 19, зеркало 20.Рефлектометр работает следующим образом.ЗОПучок монохроматического излучения,выходящий иэ лазера 1, модулируетсямодулятором, представляющим собойжидкокристаллическую .ячейку 2 с поляризатором 3, и оптической системой 5 З 5направляется под острым углом 91 наизмеряемую поверхность, Отраженное втрех направлениях излучение, пройдя через нейтральные светофильтры 13-15,попадает на приемники 7-9 излучения 40с диафрагмами 10-12, расположеннымив...

Номер патента: 1004755

Опубликовано: 15.03.1983

Авторы: Медведев, Поплавский, Таганов, Таганова

МПК: G01B 11/30

Метки: высоты, объекта, оптический, поверхности, шероховатости

...в плоскости падения, объективом 3 Фокусируют на поверхность исследуемого объекта 11 в пятно диаметром 100 мкм. Угол Ч падения излучения на объект 11 составляет 14.о Отраженный от объекта 11 световой поток регистрируют приемной системой в области сферического Фронта волны.Измерение интенсивности производят на краю дифракционной фигуры рассеяния, для чего получают индикатрису отражения путем вращения приемной системы вокруг исследуемого объек:" та 11. Регистрацию .изменения интенсивности отраженного потока осуществляют при фиксированном положе- б 5 нии приемной системы при линейномперемещении исследуемого объекта 11с сохранением положения нормали вплоскости падения. Статистическуюобработку сигнала с Фотоэлектронного умножителя 10,...

Номер патента: 1019237

Опубликовано: 23.05.1983

Автор: Шафер

МПК: G01B 11/30

Метки: поверхности, шероховатости

...в обе сторокь. от среднего положения в пределах угла +2 о Так как нет необходи"мости в больших амплитудах угла отклонения лазерного луча, Пьезоэлектрический дефлектор 5 работает встатическом режиме на частоте, от"личной от резонансной, что снижает требования к стабильности частоты генератора 1 синусоидальных коле"баний, при этом амплитуда угла отклокения задается величиной напряже" кия, подаваемого с усилителя 4 на пьезоэлектрический дефлектор 5. Отраженный от пьезоэлектрического дефлектора 5 падающий сканирующий луч фокусируется объективом 2 на контролируемую поверхность 14, отражаясьот которой проходит через щелевую диафрагму 6 и Фокусируется объективом 7 ка Фотоприемкик 8, Щелевая диафрагма б поддерживает неизменной .площадь...

Номер патента: 1019238

Опубликовано: 23.05.1983

Авторы: Денисов, Медведев, Некит, Петров, Поляков, Тимошенко, Хозиков, Чернов

МПК: G01B 11/30

Метки: неплоскостности, полосы, холоднокатаной

...поверхности;В " кривизна исследуемой поверхности;В - длина волны неплоскостности,Определение неплоскостности спомощью предлагаемого устройствапроизводят следующим образом.Основной линейный растр 1 (фиг.1) 55 устанавливают над;исследуемой поверхностью 2. В плоскости растра 1смежно с ним располагается дополнительный линейный растр 3 с шагом,3 1019238 а ,меньшим вага основного линейного ра- муаровых картин. Если исследуемая стра 1. Растры 1 и 3 освещают ис- поверхность освещена беэ бликов, то точником 4 света, По форме и коли-. вся поверхность имеет одинаковый уроцеству муаровых полос визуально су" вень освещенности. На таком фоне мудят о неплоскостности. ихарактереаровые полосы легко преобразуются в ее распространения по исследуемой :...

Номер патента: 1024708

Опубликовано: 23.06.1983

Авторы: Иванов, Солнцев, Тимощук, Филимонов, Шапоров

МПК: G01B 11/30

Метки: изделия, качества, поверхности, прибор

...блоком отношения зеркальнойсоставляющей к диффузной, вхоцы которого поцкдючвны к выходам системы измерения интенсивности составляющих свето25ваго потокаНа чертеже изображена принципиальнаяблок-схвма прибора цля измерения качества поввфкиости иэделияПрибор состоит иэ основания 1, соприкасаквюгося с цвижущимся бумажным полотном 2. На основании расположеныосветительная системе 3, состоящая излампы 4 накаливания, фокусируюшвй линзы 5 и защитного стекла 6; оптическая,приемная система 7, диффузной составляю 35 щей светового потока включающая в се-.бя защитное стекло 8 и фототранзистор 9и расположенная так, что ве ось перпендикулярна основанию 1; оптическая прием.ная система 10 зеркальной составляющей40 светового потока, включающая в...

Номер патента: 1024709

Опубликовано: 23.06.1983

Авторы: Седаков, Солдатов

МПК: G01B 11/30

Метки: неплоскостности

...фазоиэмерительные 55схемы, два двигателя с редукторами,два датчика перемещений и логическуюсхему, первый вход фазоизмерительной схемы подключен к выходам первого .и второго фотоприемников, первый вход второй фозоизмерительной схемы подключен к выходу. третьего фотоприемника, вторые Входы фаэоизмеритель" ных схем подключены соответственно к выходам ГОН, к выходам фазоиэмерительных схем последовательно подклю 4,чены двигатели с редукторами, первый редуктор кинематически связан с анализатором изображений, второйредуктор. кинематически связан с основанием приемной части, установленным с возможностью перемещений, вход первого датчика перемещений кинематически связан с первым редуктором,. вяод второго датчика перемещений кинемати. чески...

Номер патента: 1027514

Опубликовано: 07.07.1983

Автор: Кузнецов

МПК: G01B 11/30

Метки: качества, отверстий

...деталь 12 и привод 3поступательного вдоль оси)перемещения каретки 11, съемную кольцевуюдиафрагму 14 и корпус 15, на котором установлен"наконечник 16 с зеркалом 17 в виде конуса и жестко соединенный с ним Фотоприемник 18.Устройство. работает следующим образом,Параллельный пучок света, излучаемый источником 2 света, расширяется коллиматором 3 до необходимогодиаметра и, пройдя через кольцевуюдиафрагму 4, направляется на зеркало17 в виде конуса. Кольцевая диафрагма 4 свободно укреплена на оси 7привода 8, осуществляющего ее вращение. Отраженный зеркалом 17 световой поток направляется под некоторымуглом на контролируемую внутреннююцилиндрическую поверхность детали 12и, отражаясь от этой поверхности,поступает на фотоприемник 18....

Номер патента: 1033863

Опубликовано: 07.08.1983

Авторы: Дерюгин, Осовицкий, Сотин, Тищенко, Цеснек, Челяев

МПК: G01B 11/30

Метки: поверхности, шероховатости

...выполняющую функции элемента оптической связи приемника и источника с контролируемой поверхностью через две диэлектрическиепленки, нанесенные одна на контролируемую поверхность 1 а другая - на основание элемента связи. Элемент связивыполнен в виде прямоугольной призмы АР, причем его основанием служит гипотенузная грань2 1 . 5 1 О 15 20 25 ЗО 5 5 О 5 Целью изобретения является повышение информативности результатов измерений и расширение диапазона контролируемых поверхностей.Указанная цель достигается тем, чтов устройстве, содержашем, расположенные по одну сторону от контролируемойповерхности, источник и приемник излучения и устанавливаемый на нее черездве диэлектрические пленки оптическийэлемент связи, последний выполнен в виде тела...

Номер патента: 1044970

Опубликовано: 30.09.1983

Авторы: Афонин, Бачелис, Токарев, Ястребов

МПК: G01B 11/30

Метки: внутренних, объектов, оптическое, поверхностей

...плоского зеркала, кольцевым переключателем, связанным сплоским зеркалом, а последнее выполнено с возможностью вращения вокруг б 5 корпуса и наклона к ней на углы 45и 90На чертеже изображена принципиальная схема оптического устройства для контроля внутренних поверхностейобъектов,Устройство содержит полый цилиндрический корпус 1 и последовательно установленные в нем вдоль егооси осветитель 2, плоское зеркало 3,зеркало 4 кольцевого обзора, выполненное в виде поверхности вращения второго порядка с центральным отверстием и установленное выпуклой отражающей поверхностью н сторону плоского зеркала 3, объектив 5, масштабная .сетка 6, оборачивающая оптическая система 7 (по крайней мере, одна) и окуляр 8,привод 9 вращения плоского зеркала...

Номер патента: 1046611

Опубликовано: 07.10.1983

Авторы: Глазунова, Золотухин, Поляков, Рожнов, Трифонов

МПК: G01B 11/30

Метки: зеркальных, поверхностей, шероховатости

...составляющей световогопотока и периодический сигнал отзеркальной составляющей,Минимальное значение регистрируемого сигнала 3, обусловлено диффузной составляющей 3 фиг. 2)фи, (1)где К - некоторый постоянный коэффициент преобразования Фотоприемника на уровне 3 ш,.Максимальное значение 3 обусловлено суммой диФФузной Ф и зеркальной ф составляющих излученияад = М (ф 4+ф 6),где К - постоянный коэффициент преобразования Фотоприемника на уровне Зще сли сигналы 3 п);и 2,с,имеФтблизкие по величйне значейия и измеряются одним фотоприемником, то К = К и отношение сигналов(3)не зависит от временных и иных характеристик фотоприемника, что обеспечивает более высокую стабильность работы устройства и, следовательно, более высокую точность...

Номер патента: 1058875

Опубликовано: 07.12.1983

Авторы: Седов, Урывский

МПК: G01B 11/30

Метки: лазерный, профилограф

...цель достигается.тем, что в лазерйом профилографе, содержащем лазер и расположенные по ходу луча лазера два светоделителя, блок сканирования луча лазера, индикатор луча лазера, координатйо-чувствительный приемник, визир и предметный столик, блок сканирования выполнен в виде двух четырехгранных призм, последователь но установленных с воэможностью вращения относительно осей, параллельных плоскости предметного столика, проекции этих осей на плоскость предметного столика взаимно перпендикулярны, светоделители установлены последовательно между лазером и блоком сканирования, а размеры граней призм выбирают из условий 540 0 Ц особ цс 51 О бю 46 -атсвл оЫ 00 И 1.где б - длина граней призм;А - максимальное смещение...

Номер патента: 1060945

Опубликовано: 15.12.1983

Автор: Романий

МПК: G01B 11/30

Метки: крупногабаритных

...и двумя обтюраторами, установленными в ходе излуче" ния в оптических записывающих головках, оптические записывающие головки установлены соосно по обе стороны носителя информации встречно друг другу с возможностью синхронносинфазного перемещения над поверхностями носителя информации, вход триггера подключен к датчику 1/2 оборота контролируемого иэделия, выходы триггера подключены к реверсивному механизму и обтюраторам, опти ческйе записывающие головки кинематически "связаны со сканирующим узлом и с реверсивным механизмом.На Фиг. 1 изображена оптико-ки-. нематическая схема устройства для 45 контроля крупногабаритных изделий; на фиг. 2 - схема регистрирующейчасти устройства.Устройство содержит узел крепления (планшайбу Ц на которой...

Номер патента: 1067350

Опубликовано: 15.01.1984

Авторы: Обрадович, Попов, Солодухо

МПК: G01B 11/30

Метки: изменения, поверхности, шероховатости

...9,попадает на приемник 10 излучения и регистрируется электронным блоком 11 обработки сигналон, При этом подвижныешторки б и 7 вдвинуты, а шторка 5выдвинута (фиг. 2). Затем привдвинутых подвижных шторках 5 и 7 ивыднинутой подвижной шторке б (фиг.3)регистрируется поток излучения, прошедший через внутреннее кольцевоеотверстие в маске 4. После чего,выдвинув подвижную шторку 7 и вдвинув шторки 5 и б (фиг. 4), регистры"руется поток излучения, прошедший через крайнее кольцевое отверстие вмаске 4, По отношению потоков иэлуЦель изобретения - повышение точ ности и чувствительности измерения.Указанная цель достигается гем, что устройство для измерения шероховатости поверхности, содержащее последовательно расположенные на одной 65...