G01B 11/30 — для измерения шероховатости или неровностей поверхностей

Страница 14

Устройство для бесконтактного контроля качества обработки поверхности деталей

Загрузка...

Номер патента: 1712781

Опубликовано: 15.02.1992

Авторы: Дрозд, Поперенко, Шайкевич

МПК: G01B 11/30

Метки: бесконтактного, качества, поверхности

...столике 2. Зеркала 4 и 11 неподвижнозакреплены на кронштейнах 3 и 12 соответственно, поэтому падающие на них пучки отражаются в направлении осей вращения 50столиков гониометров с контролируемым иэталонным объектами. Установленные наосях 0101 и 0202 зеркала 5 и 10 крепятсяк кронштейнам 3 и 12 так, что отраженныеот них пучки света проходят в направлении 55вдоль этих осей независимо от поворотовкаждого из кронштейнов. Поскольку зеркала 6 и 9 закреплены неподвижно, то направленные к ним вдоль осей 0101. и 0202пучки света отразятся в направлении, перЦель достигается тем, что устройство для бесконтактного контроля качества обработки поверхности деталей, содержащее источник света и последовательно расположенные по ходу луча два...

Устройство для контроля шероховатости поверхности

Загрузка...

Номер патента: 1712782

Опубликовано: 15.02.1992

Авторы: Комаров, Кривохижа, Лазаренко, Мельник, Таланчук

МПК: G01B 11/30

Метки: поверхности, шероховатости

...изобретения - повышение чувствительности устройства за счет улучшения разделения составляющих светового потокаа.Для этого, в устройстве для контроля шероховатости поверхности, содержащем регистратор, источник излучения, световод со скошенным торцом, перед которым расположен источник излучения, и фотоприемник с чувствительными зонами, разделенными зоной нечувствительности, и с отверстием, в котором расположен световод таким образом, что его ось перпендикулярна чувствительной площадке фотоприемника, чувствительные зоны фотоприемника выполнены асимметричными по отношению к оси световода в соответствии с границами поля облученности, определяемыми. из условия максимального использования отраженного потока излучения.На фиг, 1...

Устройство для контроля качества поверхности цилиндрических отверстий

Загрузка...

Номер патента: 1714351

Опубликовано: 23.02.1992

Автор: Шиляев

МПК: G01B 11/30

Метки: качества, отверстий, поверхности, цилиндрических

...зеркалами 36-38, Приемники 39-42 излучения электрически связаны с блоком 43 регистрации.Для управления глубиной и направлением движения направляющей трубы в устройстве предусмотрены контакты 44 и 45, механически взаимодействующие с контактными дисками 46 и 47 и электрически связанные с блоком 48 управления, 30Устройство работает следующим образом.Перед установкой устройства в контролируемое отверстие в зависимости от диаметра контролируемого отверстия 35 производится регулировка расстояния выходного торца коллекторного световода от оси направляющей трубы. Это производится для установки одинакового расстояния от ,выходного торца до контролируемой повер хности, что дает возможность производить контроль качества...

Способ контроля формы поверхности и устройство для его осуществления

Загрузка...

Номер патента: 1717958

Опубликовано: 07.03.1992

Автор: Стуйт

МПК: G01B 11/30

Метки: поверхности, формы

...контролировать форму поверхностей со сложным текстурным рисунком после обработки, например, полученные путем обкатки шариками. Цель изобретения состоит в повышении производительности контроля и расширении области использования эа счет обеспечения возможности контроля поверхностей любых размеров и с любой ориентациеймикронеровностей поверхности. Поставленная цель достигается тем, что при способе контроля формы поверхности, заключающемся в том, что направляют луч от источника когерентного излучения на исследуемую поверхность, проиэводят фурье-преобразование и Ьпределяют форму поверхности, получают изображение контролируемой поверхности, преобразовывают его в когерентное. производят пространственное модулирование когерентного...

Способ контроля плоскостности поверхности пластины

Загрузка...

Номер патента: 1725072

Опубликовано: 07.04.1992

Авторы: Дружинин, Космович, Костогрыз, Мазин, Овсянников, Пенников, Родионов, Шукшина

МПК: G01B 11/30

Метки: пластины, плоскостности, поверхности

...коэффициент отражения, что устраняет дополнительные погрешности измерения, возникающие за счет отражения преломленных лучей от других (неконтролируемых) поверхностей (от поверхностей, находящихся за контролируемой поверхностью). Одновременно с этим возрастает производительность способа контроля плоскостности пластин за счет одноразовой настройки лучей на контролируемую и эталонную поверхности и исключения необходимости перемещения ее в процессе контроля попеременно (или одновременно) в двух направлениях,Кроме того, вертикальная установка контролируемой пластины в процессе контроля устраняет изгибающие деформации в ней, в результате чего отсутствует прогиб пластины во время контроля, а следовательно, и не искажаются результаты...

Способ контроля шероховатости поверхности детали

Загрузка...

Номер патента: 1730535

Опубликовано: 30.04.1992

Авторы: Денисов, Корчагин

МПК: G01B 11/30

Метки: детали, поверхности, шероховатости

...от припуска, Величину шероховатости при этом определяют традиционными способами. Эту характеристику определяют как семейство кривых, где в качестве определяющего параметра выбирают параметры, влияющие на наклон характеристики микровыравнивания (например, для электрохимический обработки - температура электролита, плотность тока, переменность режима тока, внешние магнитные поля и т. д.). Затем определяют исходную величину шероховатости также обычным способом в контрольной точке на детали партии однотипных деталей, изготовленных по одинаковой технологии. По снятым тарировочным характеристикам микровыравнивания назначают режим проведения обработки и необходимый припуск для получения заданной величины шероховатости, После этого ведут...

Устройство для контроля шероховатости поверхности

Загрузка...

Номер патента: 1733925

Опубликовано: 15.05.1992

Авторы: Комаров, Кравченко, Кривохижа, Лазаренко, Мельник, Моленко, Островский

МПК: G01B 11/30

Метки: поверхности, шероховатости

...изобретения - уменьшение поперечных габаритов и повышение информативности контроля,Для этого в устройстве для контроля шероховатости поверхности, содержащем последовательно расположенные источник излучения, световод со скошенным входным торцом, фотоприемник с чувствительными зонами, разделенными зоной нечувствительности, установленный соосно со световодом на его выходном торце, и регистратор, фотоприемник имеет форму полого цилиндра, а зоны чувствительности фотоприемника нанесены на его внутреннюю цилиндрическую поверхность, между зонами чувствительности расположена зона нечувствительности, выполненная зеркальной.Среди конструкций волоконных устройств для контроля шероховатости поверхности неизвестны такие, в которых зоны...

Способ контроля качества поверхности цилиндрических отверстий

Загрузка...

Номер патента: 1744455

Опубликовано: 30.06.1992

Авторы: Дорожкина, Рогов

МПК: G01B 11/30

Метки: качества, отверстий, поверхности, цилиндрических

...в исследуемом отверстии, и следовательно нельзя контролировать отверстия диаметром от 0,3 мм,Целью изобретения является обеспечение возможности контроля качества поверхности цилиндрических отверстий диаметром 0,3 мм и более,Цель достигается тем, что в способе контроля качества поверхности цилиндрических отверстий, заключающемся в том, что освещают контролируемую поверхность световым потоком, формируют с помощью оптической системы изображения контролируемой поверхности на фотоприемнике и по току с фотоприемника судят о качестве поверхности, освещение контролируемой поверхности производят расходящимся световым потоком от точного источника света, расположенного перед контролируемым отверстием, подвергают пространственной фильтрации свет,...

Способ контроля неровности поверхности и устройство для его осуществления

Загрузка...

Номер патента: 1744456

Опубликовано: 30.06.1992

Авторы: Пыхов, Серова

МПК: G01B 11/30

Метки: неровности, поверхности

...фиг.1 изображена оптическая схема устройства; на фиг.2 - вид А на фиг.1,Устройство содержит лазерные излучатели 1 и 2, цилиндрические линзы 3 и 4, которые формируют плоские световые потоки 5 и 6, Световые потоки пересекаются между собой по линии 1-1 и пересекаются с поверхностью контролируемого объекта 7 (фиг.1). Вид по стрелке А для фиг,1 поясняет взаимное положение лазера 1 и цилиндрической линзы 2, которое характеризуется величиной а - расстоянием между осями лазера и цилиндрической линзы (фиг,2), Величина а определяется в зависимости от диаметра лазерного пучка О и диаметра цилиндрической линзы б по следующей зави- СИМ ОСТИ О - б,а -2Эта формула получена из следующих соображений. Цель поеобразования лазерного пучка - получить...

Способ определения распределения крутизны микронеровностей шероховатой поверхности

Загрузка...

Номер патента: 1744457

Опубликовано: 30.06.1992

Авторы: Ермоленко, Стринадко, Ушенко

МПК: G01B 11/30

Метки: крутизны, микронеровностей, поверхности, распределения, шероховатой

...опорном канале освещающий лазерный пучок с помощью поворотного зеркала 6 направляется на реплику шероховатой поверхности 7, Сформированное таким образом когерентное изображение реплики проецируется объективом 8 в плоскость регистрации, в которой расположен фоторегистрирующий транспарант 10, а перед ним находится анализатор 11, ось пропускания световых колебаний которого ориентирована под углом 45 относительно плоскости падения. Фотослой регистрирует распределение интенсивностей в когерентном изображении реплики шероховатой поверхности.Далее с помощью вращающегося анализатора в угловых пределах 45 - 135 относительно плоскости падения формируют различные проекции плоскости световых колебаний в зонах корреляции когерентного...

Способ измерения рельефа объектов с шероховатой поверхностью

Загрузка...

Номер патента: 1744458

Опубликовано: 30.06.1992

Авторы: Ермоленко, Недужко, Ушенко

МПК: G01B 11/30

Метки: объектов, поверхностью, рельефа, шероховатой

...его использования за счет возможности измерения рельефа объектов, размеры микронеровностей которых сопоставимы с длиной волны падающего излучения.Это достигается тем, что задают плоскость колебаний лазерного пучка под уг лом 45 к плоскости падения, формирование когерентного изображения поверхности объекта производят в двух взаимно перпендикулярных плоскостях регистрации. ортогональных направлению облучения, сканируют полученнце изображения. Выделяют зоны корреляции, измеряют распределение азимутов поляризации световых колебаний зон корреляции когерентных изображений и по полученным данным рассчитывают рельеф объекта с шероховатой поверхностью. На чертеже приведена схема устройства, реализующего предложенный способ для отражающих...

Устройство для контроля дефектов поверхностей

Загрузка...

Номер патента: 1744459

Опубликовано: 30.06.1992

Авторы: Галай, Ермилова, Лысенко

МПК: G01B 11/30

Метки: дефектов, поверхностей

...отраженного от контролируемой поверхности излучения, и блок обработки сигнала, фотоприемник выполнен в виде диска, установленного с возможностью вращения относительно оптической оси, и четырех плоских щелеобразных фотоэлементов, расположенных в плоскости диска под углом 90 относительно друг друга. 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 На фиг.1 представлена функциональная схема устройства для контроля дефектов поверхностей; на фиг,2 - фотоприемник с четырьмя плоскими щелеобразными фотоэлементами, вид спереди,Устройство для контроля дефектов поверхностей содержит источник 1 излучения и оптическую систему, предназначенную для установки по ходу падающего излучения под острым углом к контролируемой поверхности, состоящую из системы светофильтров 2...

Способ измерения профиля шероховатой поверхности изделия

Загрузка...

Номер патента: 1747885

Опубликовано: 15.07.1992

Авторы: Ангельский, Добровольский, Максимяк, Носов

МПК: G01B 11/30

Метки: изделия, поверхности, профиля, шероховатой

...волны с плоским фронтом, которая попадает надлительную. пластинку 3. С помощью пластинки 3, на одной стороне которой нанесено светоделительное покрытие, волнаамплитудно расщепляется на объектную иопорную. Первый пучок лучей, отраженныйот пластинки 3, фокусируется объективом 4на исследуемой поверхности 21, после отражения от нее снова проходит через объектив 4, пластинку 3, объектив 5 и отражаетсяот зеркала 6, Прошедший через поляроид 13пучок лучей с помощью объектива 14 формирует изображение поверхности 21 в плоскости полевой диафрагмы 15. эа которойрасположен фотоэлектрический блок 16 регистрации,Второй пучок лучей проходит через разделительную пластинку 3, попадает на компенсатор 7, проходит пластинку А /8 8 ифокусируется объективом 9...

Устройство для измерения шероховатости поверхности изделия

Загрузка...

Номер патента: 1747886

Опубликовано: 15.07.1992

Авторы: Басиров, Белов, Бочкарев, Запускалов

МПК: G01B 11/30

Метки: изделия, поверхности, шероховатости

...по два на двух ок- блока 1. Световоды 2 и 3 передают отраженружностяхи "предназначенные" дляные световые потоки в фотоприемник 6, Мопропускания зеркальной и диффузной со- дулятор 7 позволяет последовательно ставйяЮщих отраженного светового потока, освещать фотоприемник 6 диффузно и зера блок обработки электрического сигнала 55 кально отраженными потоками и моделиросОстоит изпоследовательно соединвннЫх вать сигналы засветки дополнительного усилителя, ключевого узла, соединенного с фотодиода 9 от осветителя 8, Сигналы с фофотодиодом, делителя напряжений, лога- топриемника 6 усиливаются усилителем 10, рифмического усилителя и показывающего разделяются ключевым блоком 11, связан прибора.ным с фотодиодом 9, делятся в блоке деления...

Устройство для контроля шероховатости поверхности

Загрузка...

Номер патента: 1747887

Опубликовано: 15.07.1992

Авторы: Комаров, Кравченко, Кривохижа, Лазаренко, Мельник, Моленко, Пташник

МПК: G01B 11/30

Метки: поверхности, шероховатости

...перед скоЮ фотоприемником и контролируемым обьек том, выполнен в виде жгута волокон, опеченных на торце, обращенном к фотоприемнику, и образующих кольцевую зону вокруг осветительного световода на другом торшенным торцом которого помещен источник, фотоприемник с кольцевыми концентрично расположенными чувствительными зонами, разделеннйми нечувствительной. зоной, в отверстии которого помещен световод тэк, что его ось перлендикулярйа чувствительной площадке фотоприемника, а также помещеннйе в корпус и залитые компаундом выводы регистратораНедостатком такого устройства является низкая чувствительность, поскольку используется только небольшая часть рассеянной компоненты отраженного потока и вследствие неконцентричного распределения...

Устройство для контроля качества поверхности отверстий детали

Загрузка...

Номер патента: 1749704

Опубликовано: 23.07.1992

Авторы: Абульханов, Данилов, Копытин, Скуратов, Трусов, Федоров

МПК: G01B 11/30

Метки: детали, качества, отверстий, поверхности

...в положение прикотором он перекрывает образующую внутренней поверхности исследуемого кольца30 29, а путем перемещения траверсы 31, посредством вращения вертикального ходового винта 34, между исследуемойповерхностью кольца 29 и волоконно-оптическим датчиком 39 устанавливается зазор35 равный 12 мм.При этом калибровка устройства осуществляется по одному из двух эталонных колец-кольцу, на поверхности которогоприжоги отсутствуют, или кольцу, поверх 40 ность которого сплошь покрыта прижогами(100 ), и с помощью управляемого источника питания 2 на схеме индикации 14 устанавливается удобный для отсчета "условныйкоэффициент отражения" К 1 для данного45 кольца. "Условные коэффициенты отражения" других эталонных колец (имеющих раз.личные...

Устройство для измерения отклонений от прямолинейности

Загрузка...

Номер патента: 1758427

Опубликовано: 30.08.1992

Авторы: Калачиков, Меркулов, Эцин

МПК: G01B 11/30

Метки: отклонений, прямолинейности

...интегратор, вход которого подключен к выходу линии задержки, а выход подключен к управляющему входу дефлектора,На фиг. 1 показана Функциональная схема устройства дпя измерения отклонений от прямолинейности; на фиг. 2 - графики, представляющие собой временные зависимости величин напряжения управления, поступающего с выхода интегратора на вход электрически управляемого дефлектора лазерного пучка, выходных показаний датчика угловых смещений и датчика линейных смещений для случая измерений в одной точке трассы.(ак видно иэ фиг, 1, устройство для измерения отклонений от прямолинейности содержит основание 1, лазер 2 с телескопической системой 3, установленный на основании с воэможностью угловых и линейнь 1 х смещений относительно...

Способ контроля микродефектов поверхности

Загрузка...

Номер патента: 1763885

Опубликовано: 23.09.1992

Автор: Смирнов

МПК: G01B 11/30

Метки: микродефектов, поверхности

...излучения, диафрагму 3, четвертьволновую фазовую пластинку 4, установленную так, что ее оптическая ось составляет с плоскостью поляризации излучения угол, равный 45, фокусирующий объектив 5, сферическую фотоматрицу 6, фотодачики 7 и 8 с диафрагмами 9 и 10 и ослабителями интенсивности 11 и 12, На чертеже также показаны контролируемая поверхность 13, полярные, углы между нормалью к поверхности 13 и направлениями отражения к краю объектива 5 и к центрам первого и 1-го фотодатчиков матрицы 6 соответственно 60, 01, й, приращение Ьд полярного угла, соответствующее двум соседним фотодатчикам матрицы б, расположенным в одной плоскости наблюдения, диаметры диафрагм 3, 9, 10 и входного окна фотодатчика12 д)41 И, 240где Л К =(27 г/Л) з 1 п О-...

Устройство для контроля шероховатости поверхности

Загрузка...

Номер патента: 1768967

Опубликовано: 15.10.1992

Авторы: Князев, Ложкин, Семченко

МПК: G01B 11/30

Метки: поверхности, шероховатости

...первого зеркала, а центры отверстий другого ряда - с оптической осью, являющейся зеркальным отражением оптической оси от второго и третьего зеркал. При этом отверстия одного ряда расположены по окружности диска так, что они не лежат на одном радиусе с отверстиями другого ряда, что обеспечивает поочередное прохождение пучков, объектив, расположен между диском и фотоприемником так, что фокус объектива совпадает с плоскостью фотоприемника, а его оптическая ось параллельна оптическим осям, проходящим через центры отверстий одного и другого рядов диска.На иг.1 представлена схема устройства; на фиг,2 - изобракение диска,Устройство содеркит источник излучения (лазер) 1, линзу 2, плоское зеркало с отверстием 3, плоские зеркала 4, 5,...

Способ контроля качества поверхности объекта и устройство для его реализации

Загрузка...

Номер патента: 1772618

Опубликовано: 30.10.1992

Авторы: Перетц, Улыбышева

МПК: G01B 11/30

Метки: качества, объекта, поверхности, реализации

...положенный в нем источник света и удерживается в руке и располагается отноустановленную по ходу излучения рамку со 15 сительно трубы так, как показано на схеме светофильтром. Описание этого прибора (фиг.1 б).приведено в источнике. В зависимости от спектральных харакОбщим недостатком известных спосо- теристик вероятного порока и фона устанавбов и устройств, включая прототипы, явля- ливается спектр светофильтра. ется недостаточная производительность и 20 Наблюдатель рассматривает конец трубы качество контроля. через тубус 3. Приводится в действие оптиЦель изобретения - повышение произ- ческий затвор 7 и ведется наблюдение в водительности и качества контроля режиме "проблескового огня". НаблюденияДля достижения указанной цели в...

Способ контроля качества поверхности изделия

Загрузка...

Номер патента: 1772619

Опубликовано: 30.10.1992

Авторы: Имшенецкий, Новаковская, Югас

МПК: G01B 11/30

Метки: изделия, качества, поверхности

...в двух точках. Один из фотоприемников располагают в максимуме диаграммы рассеяния и по величине отраженного светового потока в максимуме определяют величину зеркального отражения алюминиевой пленки экрана, а второй фото- приемник располагают под углом 45-55 относительно максимума и измеряют отраженный световой поток, который зависит от степени шероховатости алюминиевой пленки экрана. По его величине определяют величину диффузного отражения. С помощью градуировочных кривых по величинам отраженных световых потоков,5 10 15 20 25 измеренных фотоприемниками, находят коэффициенты зеркального, диффузного и полного отражения,Предлагаемый способ поясняется чертежом,На чертеже представлены: 1 - источник направленного излучения, 2 - фотоприемник,...

Способ контроля неровности поверхности

Загрузка...

Номер патента: 1772620

Опубликовано: 30.10.1992

Авторы: Билялов, Нусупбеков, Терсков, Шайсултанов

МПК: G01B 11/30

Метки: неровности, поверхности

...и обеспечение возможности контроля движущейся поверхности..Поставленная цель достигается тем, что в способе контроля неровности поверхности, заключающемся в там, что направляют 30 на контролируемую поверхность световой поток, проецируют отраженный от нее световой поток ца фатаприемник и определяют неровность поверхности, световой поток сканируют по контролируемой поверхности 35 в плоскости, перпендикулярной контролируемой поверхности и направлению ее движения, В качестве фотоприемника используют фотодиадную линейку, которую располагают вдоль направления движения 40 контролируемой поверхности и пад углом а к ней, который определяют по зависимостии = агсстцО45 где б - ожидаемая наибольшая глубина неровности;0 - продольный размер этой...

Способ измерения шероховатости поверхности

Загрузка...

Номер патента: 1775601

Опубликовано: 15.11.1992

Авторы: Бронников, Прилипко

МПК: G01B 11/30

Метки: поверхности, шероховатости

...и направлением наблюдения, углу между плоскостью зеркального отражения и плоскостью наблюдения, а такжепо величине амплитуды отдельного гауссового процесса в составе функциикорреляции определяют величину среднеквадратического отклонения профиля отсредней линии и из всего набора гауссовыхпроцессов формируют набор величин среднеквадратического отклонения профиля отсредней линии,При выполнении пространственных условий выбора точки наблюдения - 1 0(йфункция временной корреляции излучения,рассеянного движущейся со скоростью Чповерхностью, в точке наблюдения будетиметь вид набора гауссовых процессов16 О-С И)-, 1+созрсоз Осоз ф3 и ф 3 и Осоз ф Х ,Х Х ехр( - (соз ф + соз О) - 4 соз ф о( ) хЛ 2х ехр ( -- (зи ф+ зи 0 - 2 зи ф х2 Л 2 2Л 22 272х зи...

Волоконно-оптический измерительный зонд

Загрузка...

Номер патента: 1778521

Опубликовано: 30.11.1992

Автор: Явелов

МПК: G01B 11/30

Метки: волоконно-оптический, зонд, измерительный

...содержит скомпаноаанные в жгут световоды излучающего и приемного каналов, которые с измерительного торца распределены по моэаичнои схеме, а с другого конца собраны отдельно в каналы, Осветительный канал запитывается от световода, приемный канал подает излучение на фото- диод, Отношение диаметра жгута к диаметру световода 9-98. 3 ил. еется иэлучающии светооточувстаительной кольинимающей отраженныйхарактеристики зависимостей выходного сигнала от расстояния до мишени.Устройство содержит скомпанованные в жгут 1 световоды излучающего 2 и приемного 3 каналов, которые с измерительного торца распределены по мозаичной схеме 4. а с другого конца собраны отдельно в каналы 2, 3, Осветительный канал 2 запитывается от световода 5, приемный канал 3...

Устройство для контроля качества обработки поверхности изделия

Загрузка...

Номер патента: 1778522

Опубликовано: 30.11.1992

Авторы: Виноградов, Дивильковский, Зорев, Кожевников, Сагитов, Субботин, Турянский

МПК: G01B 11/30

Метки: изделия, качества, поверхности

...14 и компаратора 9. При включении электропривода 16 начинается развертка оптического пучка с постоянной линейной скоростью, Отраженное и диффузно рассеянное излучение от поверхности образца 18 непрерывно регистрируется фотоприемным блоком 2, Сигнал фотодиода фотоприемного блока 2 поступает на входы операционных усилителей 4, 5; сигнал ПЗС-структуры - на вход операционного усилителя 5. Выходной сигнал операционного усилителя 5 поступает на входы компаратора 9, дифференциатора 7 и интегратора 8. Каналы сравнения по амплитуде и производной открыты в течение всего цикла измерений, интегратор 8 открывается в момент превышения выходным сигналом операционного усилителя 4 заданного порогового уровня, Логическая схема 13 И срабатывает при условии...

Способ измерения шероховатости поверхности изделия и устройство для его осуществления

Загрузка...

Номер патента: 1781537

Опубликовано: 15.12.1992

Авторы: Емельяненко, Зайцев, Рыжков

МПК: G01B 11/30

Метки: изделия, поверхности, шероховатости

...пучок, измеряют мощность отраженного пучка в пло скости, перпендикулярной отраженному пучку, в точках с координатами (О, 0); (г, 0); (2 г, 0); (О, г), определяют значения средне- квадратической высоты неровностей поверхности 6, коэффициент отражения 25 оптического излучения Й и угол 1 отклонения контролируемой поверхности от заданной плоскости для данной точки поверхности, перемещают контролируемую поверхность без изменения ее ориентации и производят 30 измерения величин Ь, й и 1 для любой точки поверхности по всей площади. Если освещение контролируемой поверхности производят оптическим излучением с заранее заданным гауссовским распределением 35 мощности а 11 учке, значения 1, В и 1 определяют по формулам где Ч 1, Чг, Чз, Ч 4- значения...

Способ измерения шероховатости поверхности изделия

Загрузка...

Номер патента: 1790739

Опубликовано: 23.01.1993

Автор: Сысоев

МПК: G01B 11/30

Метки: изделия, поверхности, шероховатости

...чувствительность способа,Цель изобретения - повышение точности измерений и расширение диапазона измеряемых шероховатостей.Поставленная цель достигается тем, чтов известном способе измерения шероховатости, в котором облучают многохроматическим излучением поочередно поверхностьобразца сравнения и поверхность контролируемого иэделия, определяют величиныинтенсивностей отраженного от поверхностей в зеркальном направлении излученияи измеряют шероховатость поверхности изделия, с целью повышения точности измерения и расширения диапазонаизмеряемых шероховатостей, используютпри облучении линейно поляризованное излучение, а при приеме излучения - анализатор, определение величин интенсивностейпроводят при двух взаимно ортогональныхположениях...

Устройство для контроля внутренней поверхности тел

Загрузка...

Номер патента: 1793210

Опубликовано: 07.02.1993

Авторы: Ишимов, Мороз, Федоринин, Флегентова

МПК: G01B 11/30

Метки: внутренней, поверхности, тел

...в осветительной системе по ходу излучения за электрической лампой и представляющим собой усеченный конус,боковая поверхность которого выполнена вогнутой преломляющей, а меньшее его основание выполнено из непрозрачного материала, и дополнительным отражателем,установленным в корпусе по ходу излученияза электрической лампой, а оба, отражателя выполнены в виде зеркальных дисков с отверстиями и закреплены в корпусе,Снабжение осветительной системы устройства фоконом, установленным по ходуизлучения за электрической лампой и представляющим собой усеченный конус, боковая поверхность которого выполнена вогнутой преломляющей, позволяет изменить направление светового потока, излучаемого осветителем в сторону объектива, и направить его в зону...

Устройство для контроля шероховатости поверхности изделия

Загрузка...

Номер патента: 1796897

Опубликовано: 23.02.1993

Авторы: Менделеев, Сковородько

МПК: G01B 11/30

Метки: изделия, поверхности, шероховатости

...состоит из последовательно соединенных относительно направления шероховатости, вычислителя 9 и индикатора 10 шероховатосовпадающего с направлением шлифова- сти поверхности иэделия, а блок 5 сравне. ния и полирования изделия. Так, например, ния выполнен в виде компаратора иоповорот на 90 плоскости поляризации ли управляемый ключ 4 - в виде реле. Источник нейно-поляризованного излучения, падаю- -6 опорного напряжения выполнен в виде щего йа шероховатую поверхность класса, стабилизированного блока напряжения с приводиткизменениюинтенсивностиатра- возможностью регулировки выходного наженного сигнала на 20 и тем самым к пряжения;Другой пример конкретного выполнения, реализующего схему, приведенную на фиг,1, представлен блок-схемой на...

Способ контроля шероховатости и неплоскостности поверхности изделия

Загрузка...

Номер патента: 1798621

Опубликовано: 28.02.1993

Авторы: Лубнин, Талалаев, Трифанов

МПК: G01B 11/30

Метки: изделия, неплоскостности, поверхности, шероховатости

...служащие визуальным датчиком годности, звуковую головку 12, генератор 13 звуковой частоты.Схема (фиг, 3) содержит генератор 1 задающих импульсов, приемное устройство 2, излучатель 3 инфракрасного излучения, приемник 4 инфракрасного излучения, объективы 5, диафрагмы 6, фланец волновода 7,Способ контроля шероховатости поверхности осуществляется следующим обра 1798621зом. Излучение от источника 2 инфракрасногоизлучения направляется в канал волновода 5 посредством обьектива 3, Проходя через канал вол новода лучи многократно отражаются от его поверхности, на входе отраженные лучи фокусируются объективом 4 и попадают на фотодетектор 7, в качестве которого использован кремниевый светодиод, работающийв фотовольтаическом режиме, С...