G02B 21/08 — конденсоры

Номер патента: 58634

Опубликовано: 01.01.1940

Автор: Крейнин

МПК: G02B 21/08

Метки: аппарат, проекционный, эпидиаграфоскопии

...об. разом: при проектировании в отраженном свете зеркало 3 опускается и занимает положение 3 и отражатели 1 и 2 направляют лучи наклонно вниз для освещения непрозрачных объектов 10 на подвижном столике 11, После объектива 8 лучи света призмой 9 отбрасываются на экран.При проектированиисвете источник света 2 выключается, поворотное зеркало 3становится под известным углом и положение, показанное на чертеже сплошной линией, для отклонения хода лучей от отражателя и направления пх цанеподвижное зеркало 4, Лучи света,отражаясь от неподвижного зеркала 4,проходят через конденсор 5 и послеобъектива 6 отбрасываются призмой 7на экран.Для микропроекции над конденссрэм5 может быть использован либэ микроскоп или микроприставка; для графо-и...

Номер патента: 104902

Опубликовано: 01.01.1956

Автор: Гаврилов

МПК: G01B 11/30, G02B 21/08, G02B 23/06 ...

Метки: дефектоскоп, оптический

...вверх и вниз. Для крепления всей системы лампового держателя на кожухе прибора служит зажимное кольцо 7 с внутренней резьбой.Ограничение всрпкального перемещения втулки 2 вниз осун 1 еств ляется гайкой 8, которая крепится на ней с помощью стопорного винта 9.Оптическая система 10 крепится в металлическом кожухе 11 и удерживается в нем с помощью конического ко ца 12.Оптическая система 10 составлгчш из сферического зеркального отражателя а, усеченного конического отражателя (зеркала) б с вклеенным в него полусферическим зеркалом (отражателем) в, и двояковыпуклойлинзочки а; все четыре детали склеены вместе и образуют один блок.Никня 51 поверхцость дефектоскоп 1 сыачи 1)ается соотвстствуОщсй и:51- мерсиоццой жидкостью и цак,ядь 1- вается на...

Номер патента: 273471

Опубликовано: 01.01.1970

Автор: Бондарев

МПК: G01B 11/255, G02B 21/00, G02B 21/02 ...

Метки: 273471

...показана) производить измерения расстояний между двумя биссекторами сетки 5 окулярной головки для определения масштаба увеличения. О Обьектив микроскопа снабжен панкратцческой системой линз 6, 7, 8. Перемещение двух крайних из них обеспечивает измене ше увеличения объектива, строящего изобр ажение в плоскости сетки 5, в непосредственной 5 близости к которой размещена пластина 9 снанесенными па ней установочными,штрихами.На сетке 5 окулярной головки микро:копананесены дуги определенных радиусов (штри ховые линии). Рядом с каждой из них имеется по два биссектора, расстояние между которыми равно 1 мл при увеличении 1,Измерения на микроск дующим образом: фокус штрих предметного стекл зрения одну из дуг, нане таким образом, чтобы ш между...

Номер патента: 279100

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Буркард, Вители, Вольфганг, Германска, Иностранцы

МПК: G02B 21/08

Метки: аберрациями, исправленными, конденсор, сферической, хроматической

...в качестве вспомогательной линзы одно однокомпонентное илихсногокомпонентное звено, расстояние которого15 от конденсора больше /4 фокусного расстояния последнего, тогда как расстояние друг отдруга обеих асферических поверхностей имеетвеличину между т/с и /4 фокусного расстоянияконденсора,20 Для обеспечения хорошего исправления хроматической аберрации компонент конденсора,обращенный к ближайшему вспомогательномузвену, состоит из двух склеенных друг с другом одиночных линз, стекла которых имеют25 разностьболее 20.На фиг. 1 показана оптическая схема осветительного устройства; на фиг. 2 - линзоваясистема.Значения расчетных оптических параметров30 могут иметь отклонения от истинных на 20%Тираж 4 В 0 Подписпоо делам изобретений и...

Номер патента: 359626

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Германска, Иностранец

МПК: G02B 21/08

Метки: конденсор, микроскопа

...2 в плоскость объекта 10, при этом расстояние между конденсором и столом 11 Федорова такое, что конденсор не препятствует свободному движению стола.Для того, чтобы освещать увеличенное поле объектов 10 без смены конденсора при работе с объективами слабого увеличения, между полевой диафрагмой 9 и компонентом 2 установлена с возможностью включения и выключения из хода луча насадка 3. Конструкция входящих в насадку линз 7 и б такова, что они проектируют увеличенное изображение полевой диафрагмы 9 в плоскость самой диафрагмы и, таким образом, полевая диафрагма 9 во всех случаях системой компонентов 1 и 2 изображается в плоскость объекта 10.Насадка 3 употребляется только при работе с объективами слабого увеличения.Введение в систему...

Номер патента: 523375

Опубликовано: 30.07.1976

Авторы: Иванова, Макарова

МПК: G02B 21/08

Метки: апланатический, ахроматический, конденсор, микроскопов

...К точности изготовления параболической поверхности не предъявляются повышенные требования - допуск на отклонение направления нормали к поверхности от теоретического равен 13. Второй,компонент 2 выполнен в виде отрицательного двухсклеенного мениска, обращенного 1 п вогнутостью к третьему компоненту 3. Мениск склеен из двояковыпуклой линзы 4 и двояковогнутой линзы 5, составленных из стекол с различными коэффициентами дисперсии и показателями преломления, различаю д щимися менее, чем на 0,1 для основной длины волны .=589,3 мкм. Оптическая сила мениска по модулю равна 0,25 - 0,5 оптической силы всего конденсора. Для обеспечения действительного положения передней фокальной плоскости конденсора и телецентрического хода главного...

Номер патента: 575601

Опубликовано: 05.10.1977

Авторы: Андреев, Руничева

МПК: G02B 21/08

Метки: конденсор, микроскопа

...в длинах волн от 240 до 365 нм, та ахроматизации в )ней сделана тол видимой области спектра,Цель изобретения - увеличение рабочего расстояния с одновременным улучшением коррекции хроматических аберраций. Это достигается тем, что конденсор микроскопа снабжен установленной между двухсклеенной линзой и отрицательным мениском положительной линзой, выполненной из фпюори Конденсор состоит из двух одиночных положительных менисков 1 и 2, двухсклеенной линзы 3, одиночнойположительной линзы 4 и одиночного отрицательного мени ка 5. Мениски 1, 2 и 5 обращены выпукл стью к линзе 3, Линза 4 из флюорита.Особенности конструкции позволяют получить конденсор с хорошей коррекцией а раций для видимой и ультрафиолетовой областей спектра,575601...

Номер патента: 1195323

Опубликовано: 30.11.1985

Авторы: Каракозов, Хомерики, Чихладзе

МПК: G02B 21/08

Метки: линзовый, растр

...сторон. Они могут быть выполнены прозрачными. В подложке 1 тем или иным способом (лазерным лучом, ультразву ком, химическим травлением) выполнены-каналы капилляры б,в виде сквозных цилиндров, продольные оси которых совмещены с электрической осью пьезоматериала. Каналы-капилляры 15 проделаны в подложке 1 с той или иной регулярностью (например, прямоугольной, гексогональной, либо ги" перболической, степенной, параболической по отношению к геометрическо му центру подложки). Продольные оси каналов-капилляров либо параллельны друг к другу, либо вэаимосхОдящиеся к общему центру вне пределов подложки 1. Микролннзы 7, в зависимос ти от требований, выполняются из жидкости с требуемым спектральным пропусканием, смачивающей либо не смачивающей...

Номер патента: 1224773

Опубликовано: 15.04.1986

Авторы: Андреев, Никифорова

МПК: G02B 21/08

Метки: конденсор

...удовлетворительную коррек.цию сферической аберрации и строгоевыполнение условия синусов. Уже причисловой апертуре А = 0,5 отступление от изопланазии составляет нек7 По сравнению с прототипом в предложенном конденсоре улучшено качество изображения эа счет более строгого выполнения условия синусов. Так ЗОпри апертуре А = 0,6 у прототипа отступление от условия неиэопланазиисоставляет 1%, у нового - 0,33% приодинаковой коррекции сферическойаберрации, Улучшена также технологичность конструкции.35 сколько процентов, вследствие чего появляется большая остаточная кома, которая ухудшает качество изображения.На чертеже изображена предлагае" мая оптическая схема конденсораКонденсор состоит иэ последовательно расположенных по ходу луча...