Способ измерения чистоты поверхности полированных стеклянных пластин

Номер патента: 91859

Авторы: Калинина, Курицкий

ZIP архив

Текст

. Кали Я ЧИСТОТЫ ПОВБРХЕОСТ 14СТБКЛЯ К ИЫХ ПЛАСТИ Г 1 СПОСОБ Б 3 Ъ"1 е Р Е Н ПОЛ ИРО ВАЛ БЬ за М 41%11 н Гоетеяшну СССР аявяено 31 мая 1950 Д.СТ П:1 Спосоо з)ерения пстоть повер.Иост; по, оовяП 1,." с Гсчл 5 п пь 1. 1 СТИН С ПО 10 ПЫО ,)ОТОЭЛСМЕТЯ, ВОСПП 11:П 1 ТЯО,ОГО ОЗС,ССГПС ДО)Известны способы контроля чистоты повсркности стекляннык пластин с применением фотоэлемента, на который воздействует диффузно рассеянный свет, ограаепЙ 0 т пластпь, налоккенноЙ на П 1)обнос стекло.Недостатком этого способа является завноимость его точности и чувствительности от качества пробнык стекол.Указанный недостаток устранен в предлагаемом способе тем, что пучок света направлен на контролируемую повсркность под углом, больППИ 5 1 Гла ПОЛНО 0 ВНТРЕННЕГО ОТДЯЖЕИ 51, ВС ЕДСТВЕ ЧСГО ООЛЬПЯ 51 ЧЯСТЬ света зеркально отражается и поглощается, я диффузно рассеиваемая часть улавливается фотоэлс 5 енто 1, помсп 1 енным за:роверяс:,ой пластиной.На сртеке изооря)епя скемя, и, лост 1) и) ощая предлягяс.;ы способ контроля чистоты повер.;ности стол 5 ппык пластин.Пчок сВстя От источника ), прокодя через кя ли)ятор 2 и кювст 5 с Иммет,)сОННО 1 Ткьдкость 0 ), па 1 ает под улом, Оольп 1 м уля поли)- Г 0 внутреннего отракени 51, на п 1)ове 1)яе.;110текл 5 пп,10 пластпн, -5.Зе)калыО Отрйткенпыи 01 и)ОВс 05 сОЙ ПОЯС)ост спет ПО;10- щается ловушкой 5., ,иффузно рассея)пгый свет улавлпвается фотоэлементом 6.ПО интспс 1 П)ностп д.1)1)узГО )яссеИОГО с)стя. с д 5.т 0 чстотс по веркности провср 5 Смой пластины.о Я 15 Я фузно рассеянного светао т л и ч а ю щ и Й с 51 те 5, то, с 11 слью ГОны шсния чувствительности способа измерения, послезуемуО иоверхпссть освещают пучком параллельных лучей под углом, большим угла полного внутреннего отражения, а 1 ОтоэлсихСнт располагают позади иссле- дуемоГГ поверхности. Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Мииистров СССР Редактор Н. С. Кутафи Поди,иен, 26/Лг.Цена 25 кои. н форм ационно.издательскии бъем О,7 и. л. Зака ор. Ллатьр., типография 60 4363. ТиракЬ 2 Министерства ой Чува

Смотреть

Заявка

419511, 31.05.1950

Калинина А. А, Курицкий А. Л

МПК / Метки

МПК: G01B 11/30, G01D 5/34

Метки: пластин, поверхности, полированных, стеклянных, чистоты

Опубликовано: 01.01.1951

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-91859-sposob-izmereniya-chistoty-poverkhnosti-polirovannykh-steklyannykh-plastin.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения чистоты поверхности полированных стеклянных пластин</a>

Похожие патенты