G01B 11/30 — для измерения шероховатости или неровностей поверхностей

Номер патента: 115098

Опубликовано: 01.01.1958

Автор: Коломийцов

МПК: G01B 11/30, G01B 9/02

Метки: исследования, микропрофилометр, оценки, поверхности, чистоты

...системы с наклонными плоскими зеркалами достигается высокая точность измерения глубины узких следов обработки. Предмет изобретения/ Ь7 Комитет но делам нзооретенп 11 н открытп 11 н 1 и Сонете Министров СССР Репактоп Л. П. Ситников Подп. к печ. 2411 П 1 9 г.тираж 1675, Цена 25 коп,Иа/формаинонпо-издательский отдел,О /ь;Г 17, л. Зак. З 1/. Гор. Алатырь типография М 2 Ыпппстерстаа культуры Чупашской АССР,Микропрофилометр для оценки и йсследования чистоты обработки поверхности, снабженный оптической системой для наблюдения в поле зрения окуляра интерференционных полос, отличающийся тем, что, с целью повыгдепия точности измерения глубины узких следов обработки, он снабжен установленной перед зрительной трубой дополнительной...

Номер патента: 134433

Опубликовано: 01.01.1960

Автор: Левин

МПК: G01B 11/30, G01D 5/04

Метки: зеркала, иглы, подвес, приборов, профилографа, шарнирный

...бокового плата б посредством регулировочного винта 7. Упор 8 штока иглы взаимодействует с опорной планкой 9 зеркала 10, подвешенного на двух пластинчатых накрест расположенных пружинах 11.При перемещении основание параллелограммного шарнира смещат упор подвеса иглы относительно опорной планки 9, изменяя расстояие до оси крестообразного шарнира, т. е. изменяя плечо подвеса.Перемещение пружинного параллелограмма относительно кресто. образного пружинного шарнира позволяет производить плавное изменение вертикального масштаба. е н Известныи подобных прОтличителтоит в том, чтолограмма, обрприкрепленнымнаправляющейплавное изменповорота подвеменен крестоодвумя пересекБа чертежвид. нирного подвеса соспружинного параллеоскими пружинами,...

Номер патента: 134434

Опубликовано: 01.01.1960

Автор: Левин

МПК: G01B 11/24, G01B 11/30

Метки: контактным, оптический, поверхности, профилограф, способом, чистоты

...с оптической осью телеобъектива.Зеркало выполняет роль коллектора.Параллельные пучки света, выходящие из телеобъектива, падают на колеблющееся зеркало Б, после двойного отражения от которого поступают вновь в телеобъектив, Этот телеобъектив посредством зеркала 3 и цилиндрической линзы б формирует изображение нити в виде точки на фотослой 7.134434 Установка контролируемого образца 8 параллельно плоскости перемещения измерительной головки осуществляется вспомогательным плоскопараллельным зеркалом 9, устанавливаемым на контролируемой поверхности образца, и призмой 10, включаемой по ходу лучей перед телеобъективом.Вращением регулировочных винтов стола или прибора приводят автоколимационное изображение нити до совмещения с нулевым...

Номер патента: 134436

Опубликовано: 01.01.1960

Автор: Левин

МПК: G01B 11/30, G01D 9/02

Метки: оптический, профилограф

...пружины б прижимается поворотный упор 7, имею.щий два диаметрально противоположных выступа, расположенных на разной высоте.Поворотный упор жестко соединен с ползуном Я прибора, несущим ощупывающую иглу 9, перемещающуюся по исследуемой поверхности 10, поворотную относительно оси 11, На этой игле укреплено зерка,ло 12.134436 Электродвигатель приводит ощупывающую иглу прибора и барабан с расположенной в нем фотобумагой. Сочетание движений иглы и; барабана воспроизводит кривую профиля поверхности. Лампа И установлена в фокусе телеобъектива 14 и ее пучок света, отраженный от колеблющегося зеркала 12 наклонным зеркалом 15, падает на цилиндрическую линзу 16, которая фокусирует перемещающийся перпендикулярно вращению барабана пучок света на...

Номер патента: 134438

Опубликовано: 01.01.1960

Автор: Левин

МПК: G01B 11/30, G01D 9/02

Метки: контактный, оптический, профилограф

...б и оптическую 7 системы и фотобарабан 8. Опорная пята выполнена в виде тора, большой радиус которого расположен в плоскости основного движения прибора, а малый радиус в перпендикулярном направлении, Опорная пята и испытуемая поверхность 9 образчОт плоскость сравнения, Мотор 10 посредством шарнира 11 вращает толкатель 12, который, в свою очередь, через шарнир 13 вращает фотобарабан, установленный на оси 14.Вращение толкателя, имеющего винтовую нарезку, кроме врния фотобарабана, обеспечивает поступательное перемещениеголовки вдоль направляющей шпонки 15. Нить лампы осветителяновлена в фокусе оптической системы, которая в обратном автокмационном ходе формирует изображение нити, посредством наклго зеркала 16 и цилиндрической линзы,...

Номер патента: 128620

Опубликовано: 01.01.1960

Автор: Пятницкий

МПК: B07C 5/10, G01B 11/30

Метки: качества, поверхности, прибору, развертывающее, фотоэлектрическому, шара

...роликам 1 и 2.Развертывающее устройство применено в фотоэлектрическом приборе, состоящем из оптической трубы 5, несущей источник 6 света, лучи которого через конденсор 7, диафрагму 8, коллиматор 9, призму 10 и объектив 11 падают на шар 4 и, отразившись от него, через полулинзы 12 воздействуют на фотоэлемент 13, От двигателя вращение передается на шкив 14, который через редуктор 15 приводит во вращение кулачковый барабан 16, сообщающий через зубчатый сектор 17, шестерьпо 18 н шатуны 19 возвратно-поступательное движение (качательнос движение вокруг оси шестерни 18) трубе 5, Одновременно через шкивы 20 и 21 получают вращение приводные ролики 1 и 2. Сочетание возвратно-поступательного движения трубы 5 относительно оси вращения шара 4 с...

Номер патента: 130700

Опубликовано: 01.01.1960

Авторы: Гриншпан, Мелентьев

МПК: G01B 11/30

Метки: бумаги, качества, например, поверхности

...некоторой шероховатости отражающей исследуемой поверхности, отраженный луч, по силе интенсивности несколько меньший луча падающего, разделяется на две составляющие: зеркальную и диффузную. Если бы отражающая поверхность была абсолютно гладкой, то весь отраженный свет состоял бы из одной зеркальной составляющей; поскольку же отражающая поверхность является более или менее шероховатой, часть отраженного света получает угол отражения, не равный углу падения, и при проходе через объектив б другой оптической системы не собирается в фокусе этого объектива, Зеркальная составляющая отраженного света регистрируется фотоэлементом 7; диффузная составляющая регистрируется фотоэлементом 8, имеющим в центре отверстие для пропуска зеркальной...

Номер патента: 131897

Опубликовано: 01.01.1960

Авторы: Бездетный, Мирзоев

МПК: G01B 11/30, G01B 7/34, G01D 5/34 ...

Метки: качества, оценки, поверхности

...ряССЕИВтТ;т П(1 дяЮ- щие ня них потоки света, Источником падающего света слу)кит,а)Ия Ня б В МощНОСтьЮ В 20 т, СВЕТ Л 11 ттПЬ Нацрян,ястея Ня ПСПЬ)тус(тц 1 объект под углом 45.В качестве индикатора интенсивности светового потока, отбрясыв 1- смого испытуемым объектом, пр 1 зСн(н(т фотосопрот 1(вленис ФСКс внутренним фотоэффектом, Фотосопротивление ФСКразмещается н пути луча, отраженного от испытуемого объект под угл(о 1 и лчу также 45.131897 В цепь введены,сопротивления Йь Й Ра и /, - . О коли й, 16 ком, Ра - 10 колт, Ят - 115 ол), й Ьв и- 1 ком, Й ыколи а также конденсатор С, емкостью 10 л)кф 1 на 450 в).Устрбйство градуируется на основе показаний микроампермтра от установленного лучшего образца средней шероховатости....

Номер патента: 135232

Опубликовано: 01.01.1961

Авторы: Голубовский, Духопел, Инюшин

МПК: G01B 11/30

Метки: дефектов, обнаружения, оптических, поверхностей, фотоэлектрический

...б - фотоумноиитель.Источник света 1 кондецсором 2 проектируется в плоскость диафрагмы 3, которая находится в фокальной плоскости микрообъективя 4. Вышедший из микрообъектива параллельный пучок света зеркалом 5 направляется на конденсор б, который дает изображение, светящегося отверстия диафрагмы 3 на контрслгируемой поверхностен 7. Пучок све. та, зеркально отраженный от контролируемой поверхности, возвращается обратно по прежнему направлению и не.попадает ца катод ротоумцожителя. Свет, рассеянный дефектами контролируемой поверхцо. сти 7, в пределах апертуры 17 собирается конденсором б и цаправ 1 ясг. ся на катод фотоумножителя 1 б, Диаметр оветящегося пятна на контролируемой поверхности равец 0,2 люле, Развертка лонтролируемсй по....

Номер патента: 136893

Опубликовано: 01.01.1961

Авторы: Долгалев, Мустюков, Розанов

МПК: G01B 11/30

Метки: качества, металлической, непрерывного, поверхности, полосы, прибор

...каждого датчика,Для повышения эксплуатационной надежности и обеспечения работы прибора с одним усилителем и одним индикатором для любого количества датчиков, применяемых в приборе, между датчиками и усилителем включено устройство, выделяющее из сигналов всех датчиков наибольший сигналНа блок-схеме прибора изображен прибор, состоящий из блока одинаковых фотодатчиков 1, количество которых может быть разным, схемы выделения наибольшего сигнала загрязнения 2, усилителя 3, индикатора 4 и источника питания 5,Каждый датчик состоит из лампы накаливания - источника света и измерительного моста, тремя плечами которого являются омические сопротивленйя, а четвертым плечом - фотосопротивление. Все датчики питаются стабилизированным напряжением....

Номер патента: 139463

Опубликовано: 01.01.1961

Авторы: Коломийцов, Панаиотова, Смирнова

МПК: G01B 11/30, G02B 27/30

Метки: автоколлимационный, кривизны, нелинейных, поверхностей, правильности, радиусов, формы

...светящуюся точку и наблюдают в поле зрения прибора ее отраженное изображение в виде световой полоски, по форме и размерам которой и судят о контролируемой поверхности.На чертеже схематически представлено устройство для осуществления указанного способа.Устройство состоит из следующих основных деталей: источника света 1, конденсаторной линзы 2, диафрагмы 3 с малым круглым отверстием, объектива коллиматора 4, кубика 5 с полупрозрачной диагональю, объектива б, контролируемого изделия 7 (внутреннее кольцо шарикоподшипника), объектива 8 зрительной трубы и окуляра 9, Объектив б дает изображение диафрагмы 3 в своем фокусе Р. Перемещением контролируемого изделия 7 с точкой Р поочередно совмещается вершина дуги 6 желоба и ее центр кривизны. В...

Номер патента: 148912

Опубликовано: 01.01.1962

МПК: G01B 11/30, G01B 9/04, G01D 5/28 ...

Метки: 148912

...проведении измерений труба 1 устанавливается при помощи рейтеров 9 на контролируемую поверхность 10, а каретка 5 со щупом б, осветителем 3 и микроскопом 4 перемещается в меридиональной прорези 11 трубы 1. Г 1 ри этом каретка 5 опирается на поверхность 10 одним из роликов 12 и щупом б, Световой поток от лампы 13, концентрируемый зеркалом 14, проходит сквозь конденсорные линзы 15 и 1 б, сетку 17 и дает изображение штриха 18 (расположенного перпендикуляр148912 но плоскости чертежа на оптической оси 8) в плоскости полевой диафрагмы 19, сопряженной с плоскостью сетки 17. Микрообъектив 20 переносит это изображение в увеличенном виде в плоскость сетки 21, выполненной в виде бифиляра. Окончательно изображения обеих сеток 17 и 21 (штрих...

Номер патента: 149574

Опубликовано: 01.01.1962

Автор: Медведев

МПК: C03B 23/08, C03C 27/06, G01B 11/30, G01B 9/02 ...

Метки: линейка, оптическая, стеклянная

...оптической линейки изготовляетсяпластинка 1, а также ее отдельные точные элементы, выполненные ввиде полированных цилиндрических сегментов 2. В холодном состоянии на обратную сторону сегментов со слоем клея (например, эпоксидного) накладывается заранее подготовленная пластинка 1, так каксегменты предварительно перед этим закрепляются парафином наточной горячей поверхности, то они тем самым ориентированы относительно друг друга, а при склейке относительно общего основания 3, После полимеризации клея линейка в подогретом состоянии отделяется от склеечного приспособления (к которому сегменты былиприкреплены парафином), протирается бензином и проверяется на качество сборки. Проверка осуществляется большим пробным стекломна общую...

Номер патента: 149910

Опубликовано: 01.01.1962

Авторы: Кривовяз, Пуряев

МПК: G01B 11/30, G01B 9/02

Метки: вращения, второго, интерферометр, качества, поверхностей, порядка

...Оба пучка встречаются на разделительной грани кубика б и интерферируют между собой. По возникающей интерферекциопной картине делают заключение о качестве контролируемой поверхности.Путь лучей в воздухе в обеих ветвях интерферометра уравнивается путем перемещения объектива 7 совместно с эталонным зеркалом 8 (эталонный блок), при этом несколько нарушается условие яркости интерференционной картины и выдерживается условие контрастности. Чтобы одновременно выдерживать условия яркости и контрастности, необходимо, чтобы радиус эталонного зеркала 8 был равен длине хода луча от фокуса обектива 9 до поверхности автоколлимационного зеркала 10.Автоколлимационное зеркало совместно с контролируемой поверхностью 11 составляет контрольный...

Номер патента: 150691

Опубликовано: 01.01.1962

Автор: Рабинович

МПК: G01B 11/30, G01B 7/34, H04N 7/18 ...

Метки: обнаружения, прибыльной, раковин, раскатанного, слитка, срезе, усадочных, части

...на генератор 9,стробирующих импульсов так, что меняется их ширина и задержка. В качестве детектора положения при:кимного устройства 12 может быть испольэовали реостатный датчик, с которого снимается напряжение задержки на сетки ламп генератора стробируюших импульсов.В результате этого изменяются размеры и форма выделяемого участка .изображения,и устраняются ложные срабатывания дефектоскопа от сигналов, создаваемых краевым участком сечения раската. Выделенный в селекторе 7 импульс дефекта запускает релейный блок, подающий соответствующий релейный импульс в схему управления ножницами. В случае перехода,на ручное управление ножницами релейный импульс, вырабатываемый дефектоскопом, может быть подан в схему 13 звуковой или световой...

Номер патента: 155292

Опубликовано: 01.01.1963

МПК: G01B 11/30, G02B 27/30

Метки: 155292

...по концам и в месте шарнирного соединения.На фиг, 1 показана схема описываемого прибора с использованием автоколлиматора и зеркала; на фиг. 2 - схема прибора с использованием коллиматора и зрительной трубы.Автоколлиматор 1 и зеркало 2 (коллиматор 3 и зрительная труба 4) неподвижно укреплены на общем основании 5. Основание 5 состоит пз двух частей, соединенных шарниром 6.На концах основания и в месте шарнирного соединения расположены опоры 7 на расстояниях вдруг от друга,Контроль плоскостности и прямолинейности деталей больших размеров описываемым прибором производится следующим обрдзом.Устанавливают прибор на объект в начале контролируемого направления, снимают первый отчет по прибору и, передв 1 гнув мостик155292 вдоль...

Номер патента: 155964

Опубликовано: 01.01.1963

МПК: G01B 11/30, G01B 9/02

Метки: 155964

...ня полупрозрачную пластинку 4 и разделяется здесь па два потока. Один из ннх падает нормально к плоскому зеркалу 5, отражается от него и идет обратно. Другой поток проходит через объектив б, кривая сферической аберрации которого совпадает с кривой аберраций норм 1 лей контролируемой поверхности или близка и ней. После прохождения через объектив б совокупность лучей второго потока образует волновую поверхность, уравнение которой является уравнением контролируемой поверхности 7. Очевидно, что пр 11 атом условии лучи, в 1.1 ходящие из Ооъектива б, Образуют сОвокуп 11 Ость ИОрмалей кОнтрОлируемой ПОверхности. Падая нормально к поверхност 11, все лучи отражаятся от чее и повторяют свой путь в обратном направлении. Таким образом, оба потока...

Номер патента: 156715

Опубликовано: 01.01.1963

МПК: G01B 11/30, G01B 9/02

Метки: 156715

...царапин при наложении эталона на контролируемую деталь, позволяет вести контроль непосредственно на шпинделе оптического станка и дает повышенную контрастность интерференционной картины.Это достигается тем, что между эталоном и контролируемой деталью помещены прокладки, наклеенные на эталон, и для освещения применен монохроматический источник света.На чертежике изобразкена оптическая схема интерферометра, которая содержит монохроматический источник света 1, матовое стекло 2, пластинку-отражатель 3 и эталон 4.В качестве эталона взято рабочее стекло заданного диаметра, рабочая поверхность которого обработана с точностью до 1 интерференционной полосы (в линейной мере не более 0,03 лк). На поверхности эталона приклеены три пластинки 5...

Номер патента: 160862

Опубликовано: 01.01.1964

МПК: G01B 11/30, G01B 9/02

Метки: 160862

...испаряться. Интенсивность испарения масла в каждой точке мембраны 10 определяется интенсивностью иисрракрасоз радиации в данной точке,В результате неравномерного испарения масла происходит визуализации невидимого изображения иитерфереициоииых полос иа поверхиости мембраны 10 при ее освещении через тепловой фильтр 17 от источника 18 видимого света, установленого в фокальиой плоскости объектива 19, расположенного перед полупрозрачным зеркалом 20, Объектив 19 формирует пучок лучей, который проходит ,через окошко о 1 кюветы и падает иа мембрану 10. Йитерфереициоиая картина иа мембране 10 при помощи объективов 19 и 22 может рассматриваться визуальпо через окуляр 23 или при включеипом зеркале 21 фотографироваться фотокамерой 2 з. При вс:си...

Номер патента: 165904

Опубликовано: 01.01.1964

Авторы: Галеева, Контиевский

МПК: G01B 11/30, G01B 9/02, G02B 23/04 ...

Метки: оптических, плоских, поверхностей, прибор

...с точным промежуточным кольцом 4. В фокальной плоско сти объектива 5, совпадающей с диафрагмой 6, образуется интерферепционная система колец. Коллиматор 7 обеспечивает телецентрический ход лучей. Свет от правой н левой частей интерференционной системы колец идет вначале различными путями (ромбические призмы О, измерительные клинья 9, объективы 10), затем изображения правой и левой частей интерференционной системы колец при помощи зеркал 11 и светоделительной пластинки 12 совмещаются в фокальнон плоскости ок.- ляра 13. При перемещении диафрагмы 14 из. менения в промежутке между пластинками, вызываемые ошибками изготовления нли не- параллельностью пластинок, приводят к расхождению правой и левой частей интерференционного кольца,...

Номер патента: 173454

Опубликовано: 01.01.1965

Авторы: Захарьевский, Кузнецова

МПК: G01B 11/30, G01B 9/02

Метки: 173454

...прямого зрения и отсчетное устройство.На фиг. 1 показана принципиальная схемаоинтерферрометра; на фиг, 2 - общий профилограммы контролируемой поверхностеи пластинки 5 покрыта посветоделительной пленкой,Интерференционная картина, воспроизводящая микропрофиль контролируемой поверх ности 6, возникает в плоскости изображения7 и рассматривается через окуляр 8. В плоскости изображения установлена щелевая диафрагма, и глаз 9 наблюдателя видит одну светлую линию, За окуляром помещена спек тральная призма 10 прямого зрения, котораяразворачивает светлую линию в спектр, перессченный полосами, число которых зависит от разности хода в двух ветвях интерферрометра. Шероховатость контролируемой по верхности изображается в виде зигзагов (см.фиг. 2) на...

Номер патента: 175247

Опубликовано: 01.01.1965

Авторы: Всзсо, Вурганова, Розенберг, Эфрос

МПК: G01B 11/30

Метки: направляющих, плоскостности, поверхностей, прямолинейности

...соответствующей установке автоколлиматора 1 в его поле зрения будут видны два автоколлимационных изображения: одно от передней катетной грани 2 прямоугольной призмы 3 и второе - от поверхности жидкостного, например ртутного, зеркала 4, Призма и ртутное зеркало неподвижно закреплены на измерительном мостике 5. Для повышения яркости и контрастности автоколлимационныхизображений на верхнюю половину переднсикатетной грани 2 призмы нанесен отражающий слой с коэффициентом отражения, близ 5 ким к коэффициенту отражения жидкостногозеркала 4.В начальном положении мостика 5 положение первого автоколлимационного изображения определяется отсчетами по шкале авто 10 коллиматора соответственно: т, - в горизонтальной плоскости и 1 - в вертикальной...

Номер патента: 187320

Опубликовано: 01.01.1966

МПК: G01B 11/30, G01B 9/02, G02B 23/02 ...

Метки: интерференционный, микропрофи, омет

...падает на обьектив 6, а другой ,после прохождения через компенсационную пластину 7) - на об.ьектив 8. Обьск)п)3 6 вмссте с призмой 9 вводится внутрь контролируемой детали 10 и проектирует на сс поверхность изоора)кение щели ). Оъсктив ( дастизображение щели вблизи р(бр прзмы 1,работнощей как двугранно( зеркало. Призманеобходима для того, чтобы тражшпый пучоклучей после обратиго пр(хо)кдп 351:Срс:3объектив В шел под небольшим угло) к своспе)1)она)ал).нол)л НГ)п)ав,)ени)0, чт поз)30 Л 5 ет полечить 1)нте(1)ср(чп;31 ннс 1 ,3 с тр(.буеми) ширины,Г 1 учки лучей, отраженные от граней призмы 1 и от контролируемой поверхности 10,вновь соединяются пластиной 5 и попадают взрительную трубу, состоящую из бъ ктпва12 ОН 1 Л 511)а 13 и Б 11 клоча 10...

Номер патента: 187353

Опубликовано: 01.01.1966

Автор: Янушкевич

МПК: G01B 11/30, G01N 15/02

Метки: микрорефлектометр

...так и к визирному микроскопу, дает изображение марки в плоскости А. Установленное в соответствующем месте ца пути лучей плоское зеркало 1 изменяет их направление на противоположное и дает цзоб ражецие марки в плоскости А, которая совпадает с фокальной плоскостью визирного микроскопа. Таким образом изображение марки может наблюдаться с помощью визирного микроскопа, состоящего из объектива 3 и оку- О ляра б.Схема, приведенная на фиг, 2, принципиально ничем не отличаясь от схемы на фиг, 1, гредусматривает применение двух объективов 3 и 9 отдельно для осветительной системы и визирного микроскопа. Такая схема с пристроенным осветителем позволяет использовать в качестве микрорефлектометра обычный измерительный микроскоп.Применение...

Номер патента: 189605

Опубликовано: 01.01.1966

Авторы: Карташёв, Кучин

МПК: G01B 11/30

Метки: высот, искривлению, муаровых, наблюдения, неровностей, поверхности, полос

...б подобрано таким образом, чтобы в плоскости растра 7 5 шаги обоих растров были одинаковы. Растр 7можно разворачивать в плоскости, перпендикулярной оптической осц на угол в , 5, что позволяет менять количество муаровых полос в поле зрения микроскопа от 1 до 15.10 Муаровые полосы, локализованные в плоскости растра 7, перепроектцруются системой 8 переноса изображения в плоскость сетки окулярного микрометра 9.Для измерения высот неровностей от 40 15 до 0,1 лкл в приборе предусмотрено две парысменных растров с расстояниями между штрихами в плоскости предмета соответственно 20 и 4 ккм. 20 Прц исследовании поверхностей с ленным расположением неровцосте скопе предусмотрена возможность ния длины штрихов растра 3 с те поверхность...

Номер патента: 177633

Опубликовано: 01.01.1966

Авторы: Всесоюзный, Шестопалов

МПК: G01B 11/30, G01B 9/02, G01D 5/36 ...

Метки: направляющих, оптическое, прямолинейности

...3 и используемым в качестве подвижного зеркала 25 уголковым отражателем 4, который крепитсяна подвижной каретке 5 проверяемых направляющихх.При равномерном движении каретки 5 ввыходном пучкс ннтерферометра перемещаст ся система полос, причем колебание ширины1776:3 оставитель В. Чудов хрсд Т. П. Курилко Редактор Л. А. Утехина кторы: Г. Е. Опарина и Ю. М. федулова каз 15/13 Тираж 1050 Формат бум. 60 К 90/з Объем 0,21 нзд. л. Подписнс1 ИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССМосква, Центр, пр. Серова, д. 4,Типография, пр, Сапунова, д. полос, вызываемое наклонами отражателя, характеризует прямолинейность направляющих.Текущая ширина полосы измеряется фазовым методом автоматически следующим образом: "1Выходной...

Номер патента: 180376

Опубликовано: 01.01.1966

Автор: Контиевский

МПК: G01B 11/30, G01B 9/02

Метки: интерферометр, качества, оптических, плоских, поверхностей

...чтобправлениемпендикулярнВысокая тционную пол Известны интерферометры для контроля качества плоских оптических поверхностей по измерению искривлений полос равной толщины посредством двухлучевой интерференции, содержащие осветительную и наблюдательную системы.Предлагаемый интерферометр отличается от известных тем, что между объективом наблюдательной системы и контролируемой поверхностью, наложенной на эталонную поверхность, введена призма Дове, главное сечение и отражающая грань которой параллельны оптической оси объектива наблюдательной системы.Призма Дове установлена на направляющие, которые обеспечивают ее прямолинейное перемещение в двух взаимно перпендикулярных направлениях, параллельных плоскости контролируемой...

Номер патента: 191141

Опубликовано: 01.01.1967

МПК: F16G 9/00, G01B 11/30

Метки: прибор, прямолинейности, шагового

...и перестановка каретки иа шаг внутри отверстии в этих приборах затруднены, особенно при малом диаметре и большой длине отверстия.Предлагаемый прибор отличается от изве. стных тем, что, с целью обеспечения контроля отверстий, он снабжен устанавливаемым в проверяемое отверстие корпусом, имеющим продольный направляющий паз, предохраняющий каретку ог боковых смещений, и двумя переставшими центрирующими корпус мостиками, а отсчетное устройство закреплено нд корпусе вне отверстия,Кроме того, прибор отличается тем, что для повышения производительности контроля он снабжен устройством перемещения каретки, например, в виде скрепленного с кареткой бесконечного троса, перекинутого через установленные а корпусе блоки, один из которых является...

Номер патента: 196359

Опубликовано: 01.01.1967

Авторы: Кулантис, Мацюл

МПК: G01B 11/30, G03B 15/00

Метки: интерференционный

...непосредственно в процессе тонкой обработки детали прц использовании охлаждающей жидкости.На чертеже изображена схема измерительного комплекса, поясняющая предлагаемый способ.В процессе тонкой обработки без снятия детали со станка применяется измерительный комплекс, который включает шлифовальцый круг 1 ца круглошлифовальном станке, сопло 2 воздушной заслонки, исследуемую деталь 3, закрепленную в центрах 4, диск - световую заслонку 5, лампочку 6 накаливания, кронштейн 7 крепления, фотоэлемент 8, провода 9 - 12, исто и;цк питания импульсной лампыстроботроца 13, устройство 14 синхронизации, кинокамеру 15 с электрическим приводом, ицтерферометр 16 для исследования подвпжцых поверхностей деталей в процессе обработки ц 10 поводковое...

Номер патента: 198689

Опубликовано: 01.01.1967

МПК: G01B 11/30, G01B 7/34, G01B 9/02 ...

Метки: направляющих, оптико-электронное, прямолинейности

...отражатель 3 интерферометра. Входы фазового нуль-органа 12 соединены с фотоэлектрическими преобразователями 9. Усилитель 13 электрически связан с фазовым нуль.15 органом. Источник 14 компенсационного воздействия соединен с усилителем 13 и выдает сигнал на датчик 11 и далее на регистрирующий 16 и отсчетпый 16 приборы.Выходной пучок интерферометра пластиной 20 7 разделяется па два пучка, падающие на щелевые диафрагмы 8, вырезающие из одной пространсгвенцо разделенной полосы (илп разных полос) участки, сдвинутые на некоторый постоянный по фазе угол, и имеющие шприцу, 25 немного меньшую ширины ицтерференционпойполосы. За диафрагмами установлены фотоэлектрические преобразователи 9, сигналы которых подаются на вход фазового нуль-органа 12,...