G01B 11/30 — для измерения шероховатости или неровностей поверхностей
Способ измерения высоты микронеровностей шероховатой поверхности и устройство для его осуществления
Номер патента: 1302141
Опубликовано: 07.04.1987
Авторы: Ангельский, Максимяк
МПК: G01B 11/30
Метки: высоты, микронеровностей, поверхности, шероховатой
...пластинка 13 преобразует взаимно ортогональные линейные поляризации составляющих информационных и опорного каналов во взаимно ортогональные циркуляционные поляризации. Суперпозиция взаимно ортогонально поляризованных волн опорной и любой из информационных составляющих дает линейную поляризацию с определенным азимутом при условии, что интенсивности суперпонирующих составляющих равны, Выравнивание интенсивностей достигается путем вращения четвертьволновой пластинки 2. Интенсивность света, прошедшего через систему четвертьволновая пластинка 2 - поляризатор 4, определяется взаимной ориентацией главной оси пластинки 2 и плоскостью пропускания поляризатора 4. Изменяя угол между указанными направлениями, управляют интенсивностью прошедшего...
Устройство для измерения отклонения от прямолинейности
Номер патента: 1307231
Опубликовано: 30.04.1987
Авторы: Жилкин, Илюхин, Карпушин, Плотников, Усов
МПК: G01B 11/30
Метки: отклонения, прямолинейности
...лазера и коллиматора, направляется вдоль измеряемой трассы. Пройдя через компенсатор 2, выполненный, например, в видеплоскопараллельной пластинки, соединенной с двигателем и потенциометром, излучение попадает на дефлектор3, питаемый напряжением генератора12, и сканируется по углу.Отраженное от нерасстраиваемогоотражателя 4 излучение с помощью полупрозрачного зеркала 7 и линзы 8фокусируется на фотоприемнике 9. При 35совпадении центра сканирования излучения с центром щелевой диафрагмы 6излучение модулируется с удвоеннойчастотой генератора 12. Смещение щелевой диафрагмы 6 в поперечном направлении вызывает модуляцию светового потока с частотой генератора 12,при этом фаза сигнала меняется на180 при изменении направления смещения. Усилитель...
Устройство для неразрушающего контроля показателей глянца поверхности
Номер патента: 1307232
Опубликовано: 30.04.1987
Авторы: Горбатенко, Гузий, Козярский, Кушнарев, Лукашов, Перминов, Ткачев
МПК: G01B 11/30
Метки: глянца, неразрушающего, поверхности, показателей
...зеркал 9 установлена под углом у= 1 О; 22,5; 30; 35 и 42,5 относительно оси цилиндра 2. Положе ние говоротного диска 1 как и закрепленных на нем источника 3 света, фотоэлектрического приемника 5 и тубуса 8 с вырезами против каждой из пар зеркал 9 обеспечивается двумялобовыми шариковыми фиксаторами (начертеже не показаны).Предлагаемое устройство работаетследующим образом,Лучи света от источника 3 конденсором 4 собираются в параллельный .пучок и попадают на поверхность зеркала 9, а отразившись от нее и пройдя прорезь тубуса 8, падают на испытуемую поверхность 10 под углом 20;45; 60 и 70 или 85 в зависимостиот Фиксированного положения поворотного диска 1, Зеркально отраженнаяиспытуемой поверхностью 10 составляющая направляется...
Устройство для наблюдения динамики развития микротрещин в шлифах образцов металлических сплавов
Номер патента: 1310632
Опубликовано: 15.05.1987
Авторы: Кабанов, Плотников, Станотина, Степанов
МПК: G01B 11/30
Метки: динамики, металлических, микротрещин, наблюдения, образцов, развития, сплавов, шлифах
...шайбой 22. Штанга 14 раз 11 к исследуемому образцу 7, обечасти 3 и 5 световода выведены черезвтулку 19 крышки 18 за прелелы сосуда8 Дьюара к источнику 1 света и кмикроскопу. 4.,55й30 35 40 45 50 мещена внутри полого штока 16 и пружины 20 и жестко закреплена на крышке 18 с помощью фиксирующей шайбы 22 и реэьбового узла 21, причем подпружиненный относительно крышки 18 полый шток 16, перемещаясь вдоль оси штанги 14, постоянно упорами 17 прижимает через блок 12 фиксации призму Предлагаемое устройство работает следующим образом.В процессе сборки конструкции добиваются, чтобы контейнер 10 жестко закрепился штангой 14 к крышке 18, а ромбическая призма. 11 своей отража-. тельной гранью плотно прижалась кзеркалу шлифа образца 7,...
Устройство для контроля шероховатости поверхности
Номер патента: 1312380
Опубликовано: 23.05.1987
Авторы: Гасан, Давыдов, Иоффе, Климов
МПК: G01B 11/30
Метки: поверхности, шероховатости
...с фотоприемников 3, 4 и 11 (непоказ.1),1(роме того, устройство снабженоустановленной во втором цилиндрическом отражателе 12 Фокусирующей линзой 14, оптическая ось которой совпадает с осью, проходящей через центрпервого отверстия 5.Устройство работает следующимобразомИзлучение, посылаемое источником1 света, попадает на поверхность 8полупрозрачной пластины . и раздваивается, Отраженный пучок фокусирующей линзой 14 собирается наФотопри.емнике 3. Так как задний фокус Фоку 2380 2 40 светаи коллимирующую линзу, два ци 50 5 10 15 20 25 30 сирующей линзы 14 находится на образующей первого цилиндрического отражателя 7, то размер первого отверстия 5 мал, а величина его определяется диаметром пятна сфокусированного луча источника 1 света...
Способ измерения рельефа микрообъектов
Номер патента: 1315800
Опубликовано: 07.06.1987
Авторы: Авдеев, Куренкова, Скрипаль, Усанов
МПК: G01B 11/02, G01B 11/25, G01B 11/30 ...
Метки: микрообъектов, рельефа
...принципиальная схема устройства, реализующего способ измерения рельефа микрообъектов.Устройство содержит последовательно расположенные источник 1 излучения, линзу 2, прозрачную пластинку 3 и микроскоп 4,Способ осуществляется следующимобразом.Излучение от лазерного источника1 измерения через линзу 2 направляют на прозрачную пластинку 3, расположенную под угломк падающему излучению. Освещают поверхность исследуемого микрообъекта 5 излучением,отраженным от двух граней прозрачнойпластинки 3. Наблюдают изображениемикрообъекта 5, совмещенное с масштабной сеткой в виде системы интерференционных полос, через микроскоп4, вносят изменение расходимостипучка лазерного излучения путем пере.мещения линзы 2, что приводит к из Глубину неровности...
Устройство для контроля шероховатости поверхности
Номер патента: 1315801
Опубликовано: 07.06.1987
Авторы: Гольдберг, Захаров, Клиентов, Ломакин, Перов, Поклад, Шестов
МПК: G01B 11/30
Метки: поверхности, шероховатости
...линзы 2, фотоприемник 4 для регистрации зеркально отраженного излучения, фотоприемник 5 канала сравнения и блок обработки сигналов с Фотоприемников 1 не показан).Источник 1 излучения находится в переднем фокусе Р линзы, а фотоприемник ч расположен от плоской поверхности линзы 2 на расстоянии, равном половине ее заднего фокусного рас стояния, а именно 1/2.Устройство работает следующим образом,Пучок света, посылаемый источником 1 излучения, пройдя через прозшее покрытие в виде нечетного радиального растра, источник 1 излучениярасположен в переднем Фокусе линзы 2,Фотоприемник ч для регистрации зеркально отраженного излучения находится на расстоянии, равном половинезаднего фокусного расстояния линзы 2,а источник 1 излучения и фотоприемники ч...
Способ измерения макрорельефа поверхности объекта
Номер патента: 1315802
Опубликовано: 07.06.1987
Авторы: Островская, Островский, Рейнганд, Семенова, Щитникова
МПК: G01B 11/30, G01B 9/021
Метки: макрорельефа, объекта, поверхности
...6, Излучение от лазера 1 делится светоделительной пластиной 2 на два луча, один из которых проходит через нее к фотопластине 4, отражаясь от зеркала Э, и далее к объекту 7, а другой, отража- ясь от пластины 2, проходит к объекту 7, После первой экспозиции изменяют показатель преломления иммерсионной среды 6 в кювете 5, в которую помещают исследуемый объект 7. Затеи Делают вторую экспозицию и снова изменяют показатель преломления среды 6. Делают третью экспозицию и т.д. При каждом Е-м экспонировании показатель преломления иммерсионной среды 6 выбирают из соотношенияп=п,+(1 с)дп,где.п, - показатель преломления среды при 1-м экспонировании;- порядковый номер экспониро.вания;п - изменение показателя преломленияВ соответствии с этим...
Устройство для измерения шероховатости поверхности
Номер патента: 1315803
Опубликовано: 07.06.1987
Авторы: Дмитриев, Зиновьев, Злодеев
МПК: G01B 11/30
Метки: поверхности, шероховатости
...которого должна быть больше минимального рабочего расстояния Ь ,. Минимальное рабочее расстояние. Ьми,определяется условиями измерений и должно выбиР.ораться.из неравенства Ь, -.= так как при несоблюдении этого неравенства нельзя определить внешний радиус 2, торца приемного ВОСК 5 для диффузной составляющей исходя иэ формулы (2), Световой поток от источника 1 света, после преобразования его коллиматором 2 в параллельный световой поток, подается на входной3 1315803торец передающего ВОЖ 3 под угломМ к нормали торца, величина которого выбирается в зависимости от рабочего расстояния Ь до исследуемой поверхности 12 и размеров приемопереда 5ющего торца 11 трехпучкового ВОЖ.Угол о ввода излучения в передающийВОЖ 3 задается с помощью...
Способ определения шероховатости поверхности изделия
Номер патента: 1322089
Опубликовано: 07.07.1987
Авторы: Антонов, Владов, Дегтярев
МПК: G01B 11/30
Метки: изделия, поверхности, шероховатости
...движуще-. гося изделия 7. Оптико-сканирующий 45 блок 2 обеспечивает сканирование сфокусированного лазерного луча в перпендикулярном движению изделия 7 направлении. При этом луч последовательно пробегает периметр выпукло-криволинейного или замкнутого изделия 7 со скоростью, на порядок большей скорости движения изделия 7. В этом случае луч практически успевает пробежать периметр, который принимают за базовую длину, без искажения, за счет колебаний скорости движения изделия, что дает постоянство базовой длины. При взаимодействии сканирующего в поперечом направлении с большой скоростью азерного луча с выпукло-криволинейой или замкнутой поверхностью изделиясказывается деполяризующее действие ероховатости поверхности. Диффузнотраженный...
Устройство для контроля шероховатости поверхности
Номер патента: 1326881
Опубликовано: 30.07.1987
Авторы: Калинин, Польщиков, Потапова
МПК: G01B 11/30
Метки: поверхности, шероховатости
...излучения светодиодов, поскольку излучение каждого светодиода в направлении, параллельном 45 оптической оси объектива 6 для фокусировки падающего излучения, собирается этим объективом в точке заднего фокуса, совмещенном с точкой О контролируемой поверхности 10, которая освещается каждым светодиодом под определенным углом к нормали к контролируемой поверхности 10, при этом в точку О поступает свет, излучаемый каждым светодиодом в одном и том же направлении, т.е. используется один и тот же участок индикатрисы излучения светодиодов, а на фотоприемник 9 поступает излучение, отраженное или 81 4рассеяннОе контролируемой поверхностью 10 только в точке О, На выходе фотоприемника 9 появляется сигнал, пропорциональный по амплитуде величине...
Устройство для визуального контроля отклонений объекта от прямолинейности
Номер патента: 1328668
Опубликовано: 07.08.1987
МПК: G01B 11/30
Метки: визуального, объекта, отклонений, прямолинейности
...на плоское зеркало 4. Отразившись от зеркала 4, а затем от полупрозрачной диагональной поверхности кубпризмы 2, он попадает на зеркальную грань 5 и оказывается в поле зрения лупы 6. Вторая часть пучка света, отразившись от полупрозрачной диагональной поверхности куб-призмы 2, попадает на ее верхнюю грань. При отсутствии отклонений от прямолинейности ходы лучей, проходящих сквозь призму 2 и отразившихся от зеркала 4, совпадают, поэтому в поле зрения лупы 6 видна одна кольцевая структура, размещенная в центре измерительной сетки 3.При наличии линейного отклонения ьу оси устройства от центра базового луча (фиг. 2) ход лучей аналогичен (фиг. 1), но имеет смещение относительно центра измерительной сетки 3 на величину линейного отклонения ьу....
Бесконтактный оптический способ определения высоты шероховатости поверхности
Номер патента: 1330463
Опубликовано: 15.08.1987
Авторы: Мелькумова, Шкуратов
МПК: G01B 11/30
Метки: бесконтактный, высоты, оптический, поверхности, шероховатости
...средней высоты шероховатости поверхности от отношения Брюстеровского максимума коэффициента поляризацииР возникающей при отражении света от исследуемой поверхности к дополнительному максимуму Р . 304632по известной Формуле коэффициент поляризации отраженного света;Р, -РРР +Ри5Изменяя положение осветителя 1,подобным образом получают значениякоэффициента поляризации Р во всемдиапазоне фазовых углов у, вычисляютотношение Р, /Р , а затем по тарировочной зависимости определяют среднюювысоту шероховатостиПредлагаемый способ пригоден дляизмерения шероховатости поверхностикак прозрачных, так и непрозрачныхобъектов и. не накладывает ограничений на размеры поверхностей измеряемых объектов.На фиг, 1 изображена схема устройства, для...
Способ измерения высоты шероховатости
Номер патента: 1332204
Опубликовано: 23.08.1987
Авторы: Борейко, Вылегжанин, Заводчиков, Поплавский, Таганов, Таганова, Яркин
МПК: G01B 11/30, G01N 21/88
Метки: высоты, шероховатости
...обеспечивает измерение шаго С = 4 2 4 Убсоя /Л М 44 где б 456 сов в =б среднеквадратичная высотанеровностей фугол: падения излучения наобразец,сдлина волны света,коэффициент, зависящий ототклонения приемной системы.от угла зеркального отражения ( 3 ) 1). у50 Расстояние 2, ст плоскости изображения сменных объективов 2 до объектива 11 приемной системы соответствует расстоянию практической бесконечности 2Р /Л, где й - поперечныйразмер изображения источника, создавого параметра шероховатости, что позволяет измерять высоту неровностейпо контрасту спекл-структуры беэ при 5влечения других способов а также даЭет полную информацию о параметрах шероховатости - шаговом и высотном, Измерение шага основано на принципе оптики спеклов: максимальный...
Способ определения шероховатости боковых поверхностей изделия
Номер патента: 1350492
Опубликовано: 07.11.1987
Авторы: Абдрашитов, Антонов, Владов, Дегтярев
МПК: G01B 11/30
Метки: боковых, изделия, поверхностей, шероховатости
...регулировки оптико-сканирующего блока 2.45Способ определения шероховатостибоковых поверхностей изделия осуществляется следующим образом.Лазерный луч от лазерного генератора 1 однократно с помощью блока 21 50регулировки разворачивают посредствомоптико-сканирующего блока 2 на всюширину боковых поверхностей изделия7. Верхние направляющие зеркала 3 и4 направляют лазерные лучи на боковые 5 Вповерхности движущегося изделия 7.Нижние направляющие, зеркала 5 и 6возвращают после первого отражениязеркально отраженные лазерные лучи снова к контролируемым поверхностям иэделия 7. После второго взаимодействия зеркально отраженные лучи возвратятся верхними зеркалами 3 и 4 снова к контролируемой поверхности и т,д, При каждом отражении от контролируемых...
Способ бесконтактного контроля качества обработки поверхности оптических деталей и устройство для его осуществления
Номер патента: 1352201
Опубликовано: 15.11.1987
Авторы: Дрозд, Поперенко, Шайкевич
МПК: G01B 11/30
Метки: бесконтактного, качества, оптических, поверхности
...светового пучка, отраженного от контролируемой летали 21, к интенсивности 1-поляризованного свстового пуцка, отраскс 11 нон сп эталона 9 лля тех же углов падснпя свсгд, опрелсляют максимальную раз- НОСТЬ этн Лву ОтцО(11 ЕНИЙ И С уЧЕтОМ ЭТОЙ РД:5310(.Т 011(.11 всК)Т Кс 3 Ч(.СТВО ООРЗООТКИ.2 исп 2При этом направление псгярнздци 51 второго 1(учка света совпа;1 ает с 8-плоскостьк этало 1 а 9. Здте 1 поворачивают призму 1 и измеряют отноп 1 ение ин тснсивцости Ь-г 10 ляризовднного световогопучка, отраженного от контро,1 ирусмой летали 21, к и 11 тснсивност( Р-поляризова(1(ого пучка, ограже 11 ного от эталона 9. За счет ле 1 п 3 и 11 при раооте лвнгдтсля 19 оосспечивают поворот В пр(гпво 11 оложны пд(1 рдвле 3 и 51 х лиск 015...
Устройство для контроля шероховатости поверхности
Номер патента: 1352202
Опубликовано: 15.11.1987
Авторы: Антонюк, Нестеренко
МПК: G01B 11/30
Метки: поверхности, шероховатости
...Световод 7 установен так, что его входной торец 15 размещен в выходном зрачке первой и второй линз 3 и 6, а выходной торец 16 оптически связан через плоские зеркала 8 и 9 с приемниками 10 и 11 излучения.Устройство работает следующим образом.Пучок света от источника 2 излучения поступает на первую линзу 3, а затем отражается сканирующим зеркалом 4 на вторую линзу 6 так, что в фокальной плоскости (между зеркалом 4 и линзой 6) линзы 6 образуется перемещающееся изображение источника 2 излучения. Линза 6 создает в выходном зрачке системы линз 3 и 6 параллельный пучок лучей. Угол между осью этого пучка и оптической осью системы линз 3 и 6 пропорционален углу поворота зеркала 4, В плоскости выходного зрачка системы линз 3 и 6 установлен...
Устройство для контроля шероховатости отражающих поверхностей изделия
Номер патента: 1357705
Опубликовано: 07.12.1987
Авторы: Антонов, Владов, Дегтярев
МПК: G01B 11/30
Метки: изделия, отражающих, поверхностей, шероховатости
...от нихпо поверхностям й, Ь контролируемого изделия 11 и образуют разверткув виде полосы, поперечной его движению. ДифФузная составляющая отраженного луча, лежащая в телесномугле, имеющем направление, перпендикулярное к поверхностям с 1, Ь попадает на поляроиды 7 и 8, а, пройдячерез них, на фотоприемники 9 и 10.Зеркальная составляющая отраженного луча попадает на эталонные зеркала 5 и 6 и вновь направляется наконтролируемые поверхности а, Ь,а затем на зеркала 3 и 4, и далеепроцесс повторяется до полного рассеяния луча. При каждом акте отражения от контролируемых поверхностей д, Ь часть диффузно рассеянного луча попадает на фотоприемники 9 и 10. При этом интенсивность и степень деполяризации этих лучей возрастает по мере увеличения...
Устройство для контроля дефектов поверхности
Номер патента: 1357706
Опубликовано: 07.12.1987
МПК: G01B 11/30
Метки: дефектов, поверхности
...расширяется коллиматором, образованным линзами 3 и 4,Расширенный параллельный пучок лучейпопадает на аксикон 5, развертывающий параллельный пучок по образующей конуса. Линза 6 собирает пучок6лучей в своей фокальной плоскостив кольцо, диаметр которого равендиаметру провода 13. В фокальнойплоскости линзы 6 лучи отражаются от1 О эмалевого покрытия провода 13 и попадают на линзу 7, которая создаетизображение фокальной плоскости линзы 6 в плоскости приемника 8 излучения. Ролики 11 и 12, закрепленные на15 прозрачных пластинах 9 и 10, обеспечивают поступательное движение провода 13 вдоль главной оптической осилинз 3,4,6 и 7. При отсутствии дефектов величина светового потока,20 падающего на приемник 8 излучения,не изменяется со временем, При...
Эллипсометрический способ контроля качества полирования деталей
Номер патента: 1366878
Опубликовано: 15.01.1988
Авторы: Маслов, Мельник, Одарич
МПК: G01B 11/30
Метки: качества, полирования, эллипсометрический
...осуществляют следующим образом.Предварительно на столик эллипсометра устанавливают эталонную детальи определяют угол падения и азимутполяризатора, при котором отраженное 15излучение будет поляризованным покругу. Это регистрируется по равенству интенсивностей 1, = 1 = 1 , притрех азимутах анализатора, что соответствует достижениюглавного угла паодения ( Д = 90 ) и главного азимутаполяризатора .(=)Эту операцию производят однократно для образцов определенного материала. 25Затем, располагая на столик эллипсометра контролируемый образец, устанавливают угол падения света и ази"мут поляризации поляризатора и анализатора эллипсометра в соответствии Зос определенными значениями углов дляэталона.Измеряют соответствующие интенсивности...
Устройство для контроля шероховатости поверхности
Номер патента: 1374045
Опубликовано: 15.02.1988
Авторы: Комаров, Кравченко, Краковецкий
МПК: G01B 11/30
Метки: поверхности, шероховатости
...контроля и снижение массогабаритных характеристик устройства для контроля шероховатости - достигается за счет снижения отношения сигнал/шум вследствие устранения постоянной составляющей сигнала, которая не несет информации о шероховатости поверхности, но увеличивает шум фотоприемника. 15На фиг.1 показано устройство и ход лучей в системе; на фиг.2 - светочувствительная площадка фотоприемника.Устройство состоит из источника 1 2 О излучения, световода 2, перед скошенным торцом которого помещен источник 1, фотоприемника 3 с концентрическими чувствительными зонами 4,5, разделенными зоной 6 той же формы, в от верстие которого помещен световод 2, и помещенных в корпус 7 и залитых. компаундом 8 выводов регистратора 9. Устройство...
Способ контроля чистоты поверхности
Номер патента: 1379617
Опубликовано: 07.03.1988
Авторы: Астромскис, Василяускас, Палявичюс, Рагульскис
МПК: G01B 11/30
Метки: поверхности, чистоты
...проволок, диаметр которых составляет доли миллиметра.Цель изобретения - обеспечениеконтроля радиусных поверхностей.10На чертеже изображена принципиальная схема устройства для реализации способа контроля чистоты поверхности.Устройство содержит лазер 1 иэкран 2,Способ осуществляется следующимобразом.Направляют наклонно луч лазера 1на исследуемую поверхность проволоки 3. Экран 2 устанавливают так, чтона нем образуется кольцеобразнаядифракционная картина отражения.Дифракционная картина отражения имеетцентральный дифракционный максимум,образующийся из-эа зеркального отражения и не несущий информацию о чистоте поверхности, и диффузную зону,симметричную относительно центрального дифракционного максимума, ширина которой пропорциональна...
Устройство для контроля шероховатости поверхности
Номер патента: 1379618
Опубликовано: 07.03.1988
Авторы: Давыдов, Иоффе, Климов, Красильщиков
МПК: G01B 11/30
Метки: поверхности, шероховатости
...не показан) обработки сигналов с фотоприемников 6, 7 и 8. Фотоприемник 6 сравнения и фотоприемник 7 для регистрации отраженного излучения установлены во втором цилиндрическом отражателе 4, 1 ил. 2ный на оси, точка пересечения которой с оптической осью коллимирующейлинзы 2 лежит на поверхности полупрозрачной пластины 5 со стороны источника 1 света, фотоприемник 7 длярегистрации зеркально отраженногоизлучения, расположенный на оси, точка пересечения которой с оптическойосью коллимирующей линзы 2 лежит наповерхности полупрозрачной пластины5 со стороны коллимирующей линзы 2,фотоприемник 8 для регистрации диффуэно отраженного излучения, расположенный на оптической оси коллимирующей линзы 2 за источником 1 света,рассеиватель 9 для...
Способ контроля поверхностей
Номер патента: 1383090
Опубликовано: 23.03.1988
Авторы: Горлова, Саттаров, Томилин, Черепанова
МПК: G01B 11/30
Метки: поверхностей
...мм эти каналы 25диаметром 9,5 мкм заполняют нематическим жидким кристаллом МББА поддействием капиллярных сил, Локальныедефекты внутренних поверхностей каналов создают локальные деформацииоднородно ориентированных молекулжидкого кристалла, которые визуализируются в поляризованном свете засчет возникающей фазовой задержки,Тогда излучение источника 1 черезконценсор 2 и поляризатор 3 вводится в каналы микроканальной пластины4, заполненные жидким кристаллом.Излучение, проходящее бездефектныйканал, почти полностью гасится наанализаторе 5, скрещенном с поляризатором 3, В случае наличия в канале дефектов излучение, проходящеечерез него с фазовой задержкой, проходит через анализатор 5 в объектив45поляризационного микроскопа 6 инаблюдается...
Устройство для контроля качества обработки отверстий детали
Номер патента: 1395945
Опубликовано: 15.05.1988
Автор: Корс
МПК: G01B 11/30
Метки: детали, качества, отверстий
...сигналов,На чертеже представлена схема уст, ройства.Устройство содержит источник 1 из, лучения, коллиматор 2, кольцевую диаф рагму 3, первый конус 4 с внешней зеркальной поверхностью, первый конус5 с внутренней зеркальной поверх ностью, второй конус 6 с внутреннейзеркальной поверхностью, второй конус7 с внешней зеркальной поверхностью,светоделитель 8, вторую кольцевую 20диафрагму 9, первый фотоприемник 10,второй фотоприемник 11, установленныйн ходе излучения отраженного от светоделителя 8, основание 12, каретки 13и 14, предназначенные для размещения 25на них конусов с внутренней зеркальной поверхностью, и привод 15 перемещения.На чертеже также обозначены кинематическая связь 1 б между каретками13 и 14, предназначенными для размещения...
Прибор для контроля шероховатости поверхности
Номер патента: 1395946
Опубликовано: 15.05.1988
Авторы: Мельник, Михеенко, Тимашева
МПК: G01B 11/30
Метки: поверхности, прибор, шероховатости
...оптической оси источник 1 излучения, положительные линзы 2 и 3 и регистратор 4. Источник 1 излучения совместно с 25 линзой 2 меньшего диаметра и с центральной зоной линзы 3 большего диаметра образуют короткофокусный осветительный канал, а регистратор 4 совместно с периферийной зоной линзы 3 30 большего диаметра образуют длиннофокусный приемный канал, апертура кото рого в пространстве предметов превышает апертуру осветительного канала. 35Линзы 2, 3 могут быть плосковыпуклыми, двояковыпуклыми либо положительными менисками, В качестве источника1 излучения может использоваться миниатюрная лампа накаливания, но лучшие: 40результаты дает применение светодио"дов с узкой индикатрисой излучения.Регистратором 4 может быть фотоприемник, позволяющий...
Фотометрический способ определения высоты шероховатостей поверхности оптически прозрачных плоских деталей
Номер патента: 1397727
Опубликовано: 23.05.1988
Авторы: Афанасьева, Матшина, Мухамедов, Несмелов
МПК: G01B 11/30
Метки: высоты, оптически, плоских, поверхности, прозрачных, фотометрический, шероховатостей
...к поверхности 7 образца 8, 1установленного за отверстием 4 так, что диффузно отраженное от поверхности 7 излучение без потерь попадает в фотометрический шар 2, Зеркально отраженная часть потока через отверстие 3 отводится в пространство вне Фотометрического шара 2, Диффузно отраженное от поверхности 7 излучение попадает в фотометрический шар 2, где оно интегрируется и создает на приемной поверхности фотоприемника 6 через отверстие 5 освещенность, пропорциональную коэффициенту , диффузно отраженного от поверхности 7 излучения, Затем образец 8 переворачивают и аналогично определяют коэффициентдиффузно отраженного излучения от поверхности 9.Далее образец 8 помещают между источником 1 излучения и отверстием 3 параллельно...
Устройство для бесконтактного определения высоты шероховатости поверхности
Номер патента: 1397728
Опубликовано: 23.05.1988
Авторы: Бабулевич, Кизеветтер, Малюгин
МПК: G01B 11/30
Метки: бесконтактного, высоты, поверхности, шероховатости
...работает следующим образом.Луч лазера, пройдя диафрагму 2,которая Формирует диаметр луча 0,5 -1 мм, попадает на исследуемый образец 3. Отраженное излучение регистрируется ПЗС-фотоприемником, видеосигнал, соответствующий индикатрисерассеяния, преобраэовывается в цифровой код и запоминается в запоминающем блоке 6. После окончания запоминания видеосигнала, последнийпереписывается в блок 7 усреднения,где происходит накопление и усреднение индикатрис рассеяния. По окончании перезаписи подается команда напередвижение образца. С помощью специальной подвижки перемещение производится так, что угол падения лазерного луча относительно нормали остается постоянным (обычно выбирают этотугол 8-15 ). При этом излучение лазера попадает на новый...
Устройство для контроля качества обработки отверстий деталей
Номер патента: 1401272
Опубликовано: 07.06.1988
Автор: Корс
МПК: G01B 11/30
...кареток 15 и 16 относительно друг друга, связанный с приводом 18 для перемещения каретки 19, на которой размещена деталь 20, Привод 18 и каретка 19 образуют узел для перемегцения детали 20.Устройство работает следующим образом.Световой пучок от источника 1 света преобразуется коллиматором 2 в параллельный пучок, из которого кольцевой диафрагмой 3 вырезают пучок кольцевой конфигурации. Направляют сформированный пучок на зеркала 4 и 5, отразившись от которых, пучок преобразуется в диаметре и под некоторым углом направляется на контролируемую поверхность детали 20 по всему периметру отверстия. Отраженный от этой поверхности пучок посредством зеркал 6 и 7 направляют на светоделитель 8. Часть потока, отразившись от светоделителя 8, попадает...
Устройство для контроля прямолинейности и соосности
Номер патента: 1402803
Опубликовано: 15.06.1988
Автор: Пимшин
МПК: G01B 11/30
Метки: прямолинейности, соосности
...пучка источника 1. Причем отраженные пучки в обеих призмах - куб 7, 8 идут в противоположных направлениях.С помощью прямоугольной призмы 9 один из отклоненных пучков, например, от светоделительной грани 11 призмы - куб 8 вводят в другую призму - куб 7 и направляют его вдоль отраженного пучка от светоделительной грани 10 призмы 7.внучок света, прошедший призменный блок 3, перехватывает регистрирующим уст 14028032ройством 4, а пучок света, отраженный призменным блоком 3 на угол, равный 90, перехватывают вторым регистрирующим устройством 5.5Зонная марка 2 формирует изображениеисточника 1 света в плоскости анализа, в которой расположены регистрирующие устройства 4 и 5.Если выверяемый контролируемый объект 6" располагается строго...