G01B 11/30 — для измерения шероховатости или неровностей поверхностей

Номер патента: 1807308

Опубликовано: 07.04.1993

Авторы: Гончаров, Карпенко, Чурак, Шахло, Шостко

МПК: G01B 11/30

Метки: дистанционного, изделия, поверхности, шероховатости

...и опорный, Опорный пучок с первого выхода второго светоделителя 6, переотражаясь от первого отражателя 9, поступает на первый вход оптического смесителя световых пучков 12. Измерительный пучок с второго выхода второго светоделителя 6, переотражаясь от второго отражателя 10, поступает на вход оптической управляемой линии задержки 11. С второго выхода синхронизатора 17 на второй вход счетчика импульсов 18 поступает импульс установки в начальное состоянйе и устанавливает счетчик 18 в нуль, С третьего выхода синхронизатора 17 на второй вход вентиля 19 поступают тактовые импульсы, которые с выхода вентиля 19 поступают на первый вход счетчика импульсов 18. Счетчик импульсов 18 считает тактовые импульсы, поступающие с выхода вентиля...

Номер патента: 1810751

Опубликовано: 23.04.1993

Авторы: Зимняков, Полькина, Рябухо, Ткаченко, Федулеев

МПК: G01B 11/30

Метки: изделия, поверхности, шероховатости

...5 интерференционных полос. Разность фазмежду когерентными пучками в интерферометре блока 3 можно изменять во времени, например, путем смещения одного из зеркал интерферометра или путем сдвига час тоты одного из пучков, например, спомощью движущейся дифракционной решетки или акустооптической ячейки.С фоторегистратора 6 сигнал направля.ют в блок 7, где проводят обработку этого 15 сигнала таким образом, что на выходе блока7 формируется сигнал, пропорциональный величине контраста интерференционных полосЮ20 огде Овых - сигнал на выходе блока 7,К - коэффициент пропорциональности,Ч - контраст интерференционных полос,Ж - амплитуда изменения средней интенсивности спекл-модулированного рассеянного поля,Ьо - среднее по времени значение...

Номер патента: 1816964

Опубликовано: 23.05.1993

Авторы: Басиров, Белов, Бочкарев

МПК: G01B 11/30

Метки: изделия, поверхности, шероховатости

...отражающая поверхность оптической системы 4, Часть этого диффузного потока после отражения от исследуемой поверхности вновь возвращается 45 оптической системой 3 в точку падения излучения, Таким образом между оптическими системами 3 и 4 осуществляется многократное отражение диффузной составляющей излучения, проходящего через 50 точку падения луча А. Через отверстие оптической системы 4 проходит зеркальная составляющая отраженного излучения и часть диффузной составляющей, обусловленной многократными отражениями между опти ческими системами 3, 4 и отражениями в точке А, Этот поток, обозначим его Ф, отражаясь от зеркала 6, направляется на фотоприемник 9. На фотоприемник 9 также направляется диффузно составляющая отраженного излучения под...

Номер патента: 1820205

Опубликовано: 07.06.1993

Автор: Пимшин

МПК: G01B 11/30

Метки: объекта, прямолинейности

...ГКНТ СССР113035, Москва, Ж; Раушская наб 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г, Ужгород, ул.Гагдрина, 101 Изобретение относится к измеритель-. ной технике, предназначено для контроля прямолинейности объектов, преимущественно расточек.Изобретение решает техническую зада чу повышения производительности контроля.На чертеже изображена схема расположения выверяемого оборудования, линейки и теодолита.. 10Пример осуществления способа при техническом контроле геометрических параметров оборудования типа мельниц мокрого самоизмельчения (ММС) в процессе его монтажа, 15На начальную закрепленную точку 1 оси мельницы устанавливают теодолит 2, а на конечную закрепленную точку 3 оси горизонтально устанавливают линейку 4, причем ее...

Номер патента: 1820206

Опубликовано: 07.06.1993

Авторы: Большанина, Путилин, Старовойтов

МПК: G01B 11/30

Метки: детали, поверхности, шероховатости

...на границу раздела излучения под угломобеспечивающим наименьшую полуширину максимума рассеяния, в предлагаемом способе используется линза с цилиндрической образующей, позволяющая менять угол падения излучения на границу в пределах 0-90,На фиг.1 представлено взаимное расположение контролируемой поверхности и цилиндрической линзы; на фиг.2 - схема реализации метода,Устройство включает в себя: 1 - источник когерентного монохроматического изаучения; 2 - модулятор (прерывательсветового потока); 3 - светоделитель, 4 -фотоприемник, 5 - цилиндрическую линзу,б - образец, 7 - предметный столик, 8 -фотоприемник, 9 - предусилитель, 10 - селективный измеритель отношения электрических сигналов, 11 -...

Номер патента: 1487353

Опубликовано: 09.07.1995

Авторы: Вагнер, Шундиков

МПК: B64F 5/00, G01B 11/30

Метки: аппаратов, габаритов, летательных, элементов

СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ГАБАРИТОВ ЭЛЕМЕНТОВ ЛЕТАТЕЛЬНЫХ АППАРАТОВ, включающий нивелирование установленного на стенде летательного аппарата, проецирование концевых точек измеряемого габарита элемента летательного аппарата на горизонтального основание, фиксацию их положения на этом основании и сравнение расстояний между зафиксированными точками с эталоном, установленным на горизонтальном основании, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерений путем исключения погрешностей установки летательного аппарата в стенде от заданного положения, формируют лазерный луч и сканируют в горизонтальной плоскости до совмещения его оси с проекциями концевых точек измеряемого габарита элемента летательного аппарата, перемещают луч параллельно...

Номер патента: 1829570

Опубликовано: 10.03.1996

Авторы: Менделеев, Сковородько

МПК: G01B 11/30

Метки: изделия, поверхности, шероховатости

...повторяется.В устройстве реализуется парэллельнопоследовательный обзор поверхности 17, что позволяет повысить производительность контроля,В случае варианта устройства на фиг. 2 линейный поляризатор 7 формирует линейно поляризованное излучение, а зеркально отраженные контролируемой поверхностью 17 лучи направляются на линзу 9, формирующую параллельный пучок, который разделяется двулучепреломляющей призмой 8 нэ обыкновенный и необыкновенный пучки, падающие соответственно на фотоприемники 3 и 10, Электрические сигналы с фотоприемников 3 и 10 поступают в блок 4 регистрации, где вычисляется коэффициент деполяризации, как отношение этих сигналов.Вращением двулучепреломляющей призмы 8 совместно с фотоприемниками 3 и 10 вокруг оптической оси...

Номер патента: 1533456

Опубликовано: 20.10.1996

Авторы: Григоров, Гудков, Кулик, Новиков, Островский, Поскачей, Токарев

МПК: G01B 11/30

Метки: дефектоскопического, зоны, околошовной, сварного, шва

Способ дефектоскопического контроля сварного шва и околошовной зоны, заключающийся в том, что исследуемую поверхность освещают излучением и визуально определяют дефекты, отличающийся тем, что, с целью повышения достоверности контроля и снижения его трудоемкости, излучение раскладывают в спектр, освещение производят излучением, разложенным в спектр, осуществляют продольное и поперечное перемещение разложенного в спектр излучения относительно сварного шва со скоростью 3 6 м/ч, а дефекты определяют по локальному поглощению спектральных составляющих излучения.

Номер патента: 980507

Опубликовано: 20.01.1997

Авторы: Духопел, Мышкина, Рассудова, Сердюк, Серегин

МПК: G01B 11/30, G01B 9/02

Метки: интенферометр, объекта, плоскостности, поверхности, прямолинейности

1. Интерферометр для контроля прямолинейности и плоскостности поверхности объекта, содержащий источник монохроматического света, телескопическую систему, расширяющую световой пучок и включающую микрообъектив, светоделитель, коллиматорный объектив и светоделительную дифракционную решетку, плоскую отражательную дифракционную решетку, отстоящую от светоделительной дифракционной решетки на расстоянии, превышающем размер контролируемой поверхности объекта, и регистрирующее устройство, отличающийся тем, что, с целью повышения точности контроля, упрощения конструкции и уменьшения габаритов, коллиматорный объектив и светоделительная дифракционная решетка выполнены в виде одной вогнутой отражательной дифракционной решетки, оптическая ось которой...

Номер патента: 1814839

Опубликовано: 20.03.2001

Авторы: Зиновьев, Лебедев, Шмырев

МПК: G01B 11/30

Метки: кольцевой, крупногабаритных, отклонения, плоскостности, поверхностей, торцовых, формы

Устройство для контроля отклонения от плоскостности торцовых поверхностей крупногабаритных деталей кольцевой формы, содержащее корпус, плоскопараллельную пластину, зеркало, источники освещения и средство регистрации, отличающееся тем, что, с целью повышения точности и производительности контроля в цеховых условиях, плоскопараллельная пластина установлена в верхней части корпуса, зеркало расположено в нижней части корпуса параллельно плоскости пластины, источники освещения расположены равномерно вокруг зеркала, а средство регистрации установлено за плоскопараллельной пластиной по ходу излучения.

Номер патента: 553873

Опубликовано: 27.08.2002

Авторы: Лукин, Мустафин, Рафиков

МПК: G01B 11/30, G03H 1/04

Метки: асферических, вращения, второго, гиперболических, голограммного, компенсатора, поверхностей, порядка, преимущественно, эллиптических

Способ изготовления голограммного компенсатора для контроля асферических поверхностей вращения второго порядка, преимущественно эллиптических и гиперболических, заключающийся в том, что рассчитывают распределение интенсивности светового поля в плоскости компенсатора, получают картину распределения интенсивности и фотографируют ее, отличающийся тем, что, с целью упрощения процесса изготовления компенсатора и улучшения его рабочих характеристик, получают картину распределения интенсивности наложением плоской и сферической волн и дважды фотографируют ее, вторично - с изменением масштаба.

Номер патента: 1839881

Опубликовано: 20.06.2006

Авторы: Азарова, Горбачев, Соловьева

МПК: G01B 11/30

Метки: бесконтактный, высоты, образцов, поверхности, фотометрический, шероховатости

Бесконтактный фотометрический способ измерения высоты шероховатостей поверхности образцов, по которому на контролируемую поверхность направляют монохроматический поток излучения под углом, не превышающим 10°, определяют интенсивность J0 зеркально-отраженного излучения и интенсивность излучения J( 1), отраженного в направлении, отличном от зеркального, под заданным углом 1 определяют отношение заверенных интенсивностей отличающийся тем, что, с целью...