G01B 11/30 — для измерения шероховатости или неровностей поверхностей

Номер патента: 1569533

Опубликовано: 07.06.1990

Автор: Коржук

МПК: G01B 11/30

Метки: качества, плоских, поверхности

...ограниченный с одной стороны четкой линейной границей, ориентированной перпендикулярно плоскости измерения так, что граница перехода между освещенным и затененньщучастками поверхности находится в центре поля зрения приемного оптического узла 3, расположенного в корпусе 1 с противсположной осветителю 2 стороны в плоскости измерения под углом 90 к нему. Наоходящаяся в поле зрения приемного оптического узла 3 граница перехода между освещенным и затененным участками поверхности проектируется им на рабочую поверхность укрепленного на нем линейного фотодиодного преобра-. зователя 4 излучения, что вызывает засветку и срабатывание части его фотодиодных ячеек. Подключенная к выходу линейного фотодиодного преобразователя 4 излучения...

Номер патента: 1576616

Опубликовано: 07.07.1990

Авторы: Михальченко, Пышкин

МПК: E01B 35/00, G01B 11/30

Метки: прямолинейности, путей, рельсовых

...устройства 16 и 21 аналогичны по конструкции,И с пог и ител ь но-регистрирующее устройство 16 включает привод 23 и датчик 24 пути (фиг,2), Привод 23 выполнен, например, электромеханическим и включает источник 25 автономного питания, электрически связанный с приемником 26 канала телеуправления и контзктором 27. Управляющий вход контактора 27 подключен к выходу приемника канала телеуправления 26, а выход - к электродвигателю 28, котооый посредством редуктора 29 механически связан с ведущим роликом 30 подвижной г 1 латформы 17.Датчик пути 24 выполнен. например, в виде колесного датчика пути, включающего измерительное колесо, конструктивно совмещенное, например, с ведущим роликом 30, формирователь 31 импульсов дальности, счетчик 32...

Номер патента: 1578465

Опубликовано: 15.07.1990

Авторы: Асланян, Лебедев

МПК: G01B 11/30

Метки: измерительный, эндоскоп

...внутреннюю полость газотурбинного двигателя для осмотра какой-либо его части и выявления дефектов. Включают источник 5света, к выходу которого присоединенсветовод б освещения, создающий необходимое освещение на контролируемой поверхности 12. Оператор, наблю-, дая в окуляр 3 и используя оптическую систему 1 передачи иэображенияи объектив 2, осматривает контролируемую говерхность 12.Если в процессе осмотра обнаруживается дефект, размер которого необходимо измерить, включают дополнительный источник 9 света или источник 5 света, присоединенный к входумоноволоконного световода , и с помощью градана 8 формируют параллельный калибровочный луч света, падающийна контролируемую поверхность 12,создавая на ней световое пятно определенного диаметра,...

Номер патента: 1582004

Опубликовано: 30.07.1990

Авторы: Буянов-Уздальский, Обрадович

МПК: G01B 11/30

Метки: изделия, параметров, поверхности, рефлектометрический, шероховатости

...поток Рэ при каждомзначении длины 21 волны излучения измеряют фотоприемником 3, подключенным к электронному блоку 1, а часть30диффузного потока, рассеянного вплоскости падения в малом телесномугле 1163 под углом бср к нормали поверхности 6 изделия, измеряют при каждомзначении 21 фотоприемником 4, подключенным к электронному блоку 1, Телесный угол Ь(д определяется расстоянием.от освещенного участка поверх,ности до диафрагмы э, установленнойгперед фотоприемником 4, и диаметром40диафрагмы 5Значение рассеянного потока, деленное на телесный угол Ьд),дает интенсивность излучения 1(в 1,6),рассеянного под углом бср. В электронном блоке 1 при каждом значении 1измеряется (с учетом телесного угла307 и чувствительности фотоприемников)...

Номер патента: 1582005

Опубликовано: 30.07.1990

Авторы: Ермоленко, Ущенко

МПК: G01B 11/30

Метки: крутизны, неровностей, объекта, плоского, распределения, шероховатого

...циркулярную поляризацию лазерного пучка, Поляризатор 3 пропускает лазерную волну, плоскость поляризацииокоторои составляет угол 45 относительно плоскости падения, Телескопическая система 4, состоящая иэ двух объективов и диафраглм междуРедакт ираж 4 1 одписное 0 Зак ытиям при ГКНТ СССР 4/5 Государственного комитета по изобретениям и от 113035, Москва, Ж, Раушская наб эдательский комбинат "Патент", г. Уж 11 роизводствен ул. Гагарина, 101 ннми, расширяет пучок и формирует плоский волновой фронт, Эта волна оТражается от поверхности объекта 10, Объектив 5 проецирует когерен 5 ное иэображение шероховатой поверхности в плоскость фоточувствительного слоя транспаранта-маски 8, на котором. регистрируется распределение ИИтенсивностей в...

Номер патента: 1582006

Опубликовано: 30.07.1990

Авторы: Амелин, Ивахник, Козлов, Красночуб, Никонов

МПК: G01B 11/30

Метки: изделия, поверхности, шероховатости

...без изменений - исходный пучок, а второй пучок испытывает дифракцию. Оптическая частота дифрагированного пучка отличается на частоту ж (частоту акустической волны) от частоты исходного пучка, Угол между описанными пучками на практике составляет величину порядка сотых долей радиана, поэтому далее оба распространяются пространственно, практически полностью совпадая между собой,Оба пучка падают на исследуемую 40 поверхность изделия 5 и после отражения направляются на фотоприемник 4. Диафрагма 3, роль которой может играть сама апертура фотоприемника 4, выделяет участок в области перекрытия световых пучков. Световой сигнал, соответствующий интегральному световому потоку, прошедшему через диафрагму 3, преобразуется вэлектрический. Глубина...

Номер патента: 1583738

Опубликовано: 07.08.1990

Автор: Кайнер

МПК: G01B 11/30

Метки: поверхности, прямолинейности

...комбинат "Патент", г.ужгород, ул, Гагарина,101 Изобретение относится к измерительцоц технике и может быть использовано для контроля отклонений от прямолинейности.Цель изобретения - расширение номенклатуры контролируемых поверхностей путем контроля как горизонтальных, так и вертикальных зеркальных поверхностей,На чертеже представлена схема устройства, реализующего способ контроля прямолинейности поверхности.Устройство содержит автоколлима - тор, показанный в виде двух линз 1 И 2, трехгранную прозрачную зеркальную призму 3, 4 - контролируемая поверхность.Способ осуществляют следующим образом.Устанавливают цп контролируемую поверхность 4 отражатель, выполненная в виде трехгранной прозрачной зеркальной призмы 3, так, что...

Номер патента: 1585672

Опубликовано: 15.08.1990

Автор: Заморянский

МПК: G01B 11/30

Метки: машин, механически, обработанной, параметров, поверхности, шероховатости

...возможности определения направления следов обработки.На чертеже изображена принципиальная схема для осуществления способа, 2 ОНа схеме изображены источник коллимированного пучка излучения, например,лазер 1, экран 2 с отверстием 3,световая полоса 4 дифрагировавшегоизлучения от пучка 5, поверхность 6 25детали 7.Предлагаемый способ осуществляется следующим образом.Пучок коллимированного излучения,от лазера 1 направляют на поверхность6 детали 7 и регистрируют отраженноеот нее излучение. По ходу пучка устанавливают. экран 2 с отверстием 3для прохождения пучка. На экране 2наблюдают дифракционную картину ввиде световой полосы 4. О направле 35нии следов обработки судят по направлению световой полосы 4 с учетом того, что полоса 4 перпендикулярна...

Номер патента: 1585673

Опубликовано: 15.08.1990

Авторы: Ангельский, Максимяк

МПК: G01B 11/30

Метки: пластин, плоскопараллельных, поверхностей, прозрачных, шероховатости

...поверхность пластины 7, Измеряют значения 1кеЧ мкс1 иини ц аналогично предыдущим:измеминрениям. Расчитывают среднеквадратичные отклонения профиля от базовой линии К и и Кповерхностей3пластины из соотношений: Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в оптическом приборостроении,машиностроении и других отраслях науки и техники для измерения шероховатости поверхности.Цель изобретения - повышение точности измерения и расширение диапа. зона измеряемых высот в сторону мень Оших знаений.На чертеже изображена принципиаль-,ная схема устройства, реализующегоописываемый способ,Устройство содержит одномодовый 15лазер 1, телескопическую систему 2,гениометр 3, объектив 4, диафрагмуи фотоэлектронный блок б...

Номер патента: 1587331

Опубликовано: 23.08.1990

Авторы: Коваль, Левченко, Савченко

МПК: G01B 11/30

Метки: поверхности, шероховатости

...3. Вогнутое зер кало 9 установлено с возможностью отраже 1 ния астигматической совокупностисветовых пучков на многоэлементный приемник 10 излучения, соединенный с блоком 4011 обработки сигнала;Устройство работает следующим образом.Световой пучок от лазера 1 проходитчерез коллиматор 2 с диафрагмой 3, сужается, коллимируется и направляется на светоделительную клиновидную пластинку 4,Указанный первичный световой пучок многократно отражается от пленок 5 и 6 внутрипластинки 4 и, преломляясь на ее стороне,. 50обращенной к измеряемой поерхности 12,образует вторичную астигматическую сходящуюся систему световых пучков, величина астигматизма и угловое расстояниемежду пучками которой определяется углом 55падения первичного светового пучка на...

Номер патента: 1587332

Опубликовано: 23.08.1990

Авторы: Грудин, Сафронова, Шмакова

МПК: G01B 11/30

Метки: исследования, микроструктуры, образца

...линии более яркой, чем остал ьное изображение.До фокусировки изображения наблюдаемой поверхности используют расфокусировку оптической системы микроскопа, получая белый ручеистый узор 1 неконтакта, лежащий выше плоскости изображения, это и будет изображением микрорельефа в недофокусе,В фокусе наблюдают микроструктуру, расположенную точно в плоскости изображения данного микроскопа, при этом визуализируется четкое изображение реплики 2 от материала закалочного диска и контуры 3 наиболее крупных каверн.После фокусировки выполняется пере- фокусировка, заключающаяся в визуализации предметной плоскости, совпадающей с дном наиболее крупных каверн и каналов топологии 4 дна каверны и лежащей ниже плоскости изображения реплики. В перефокусе, как...

Номер патента: 1587333

Опубликовано: 23.08.1990

Авторы: Василенко, Плотников, Сафронова

МПК: G01B 11/30

Метки: исследования, микроструктуры, образца

...в объект,на котором формируется смешанный амплитудно-фазовый контраст, визуализиро 5 вать который можно традиционнойфокусировкой или расфокусировкой, Такимобразом, любой дефект внешней поверхности аморфной ленты позволяет найти "условный" фокус.10 После определения "условного" фокусаполучают восстановленное изображениепенообразной структуры ленты в точках, находящихся по оптической оси микроскопавыше и ниже "условного" фокуса, а расстоя 15 ние между выбранными точками определяют по соотношению Л= - 0,3 о/лА, где 1 О -размер наименьшей фазовой неоднородности, А - длина волны используемого излучения (численный коэффициент 0,3 следует изучета средней величины погрешности метода), Это соотношение справедливо при наблюдении фазового...

Номер патента: 1594350

Опубликовано: 23.09.1990

Авторы: Абульханов, Крамаровский, Митряев, Шпатаковский

МПК: G01B 11/30

Метки: отверстий, поверхности, шероховатости

...11 постоянного тока. Работа последнего через привод рейки 3 обеспечивает осевое перемещение направляющей трубы 2. Перемещение направляющей трубы 2 осуществляется до тех пор, пока упор 14 не коснется одного из концевых выключателей 15 или 16. После этого в блоке 22 управления происходит смена полярности питания электродвигателя 11 и его отключение. Для возобновления контроля необходимо через блок 22 управления включить электродвигатель 11. В этом случае движение направляющей трубы 2 осуществляется в другую 10 15 20 25 30 35 40 сторону, пока упор 14 не коснется концевого выключателя 15 или 16. Таким образом, смены полярности электродвигателя 11 в блоке 22 управления позволяют совершать управляемое возвратно-поступательное перемещение...

Номер патента: 1597536

Опубликовано: 07.10.1990

Авторы: Гузенко, Корниенко, Федчук, Шаповал, Шевченко

МПК: G01B 11/30

Метки: пластин, поверхностной, полупроводниковых, сверхрешетки, симметрии, типа

...пластину 11 полупроводника наносят слой анизотропного жидкого диэлектрика, Затем пластину 11 со слоем диэлектрика устанавливают на электроде 4 неподвижной части 2 держателя.Прозрачный электрод 7, жестко закрепленный на повторной части 3, приводят в контакт со слоем диэлектрика,нанесенного на пластину 11, Обе части 2 и 3 держателя скрепляют с помощью накидных пружйнных стопоров 6,входящих в кольцевой паз 9. Прикладывая к электродам 4 и 7 П-импульс.: электрического поля, поворачиваютмолекулы слоя анизотропнаго жидкогодиэлектрика. Затем поворачивают прозрачный электрод 7 на угол 0 - 90",С помощью шариковых подпружиненныхфиксаторов 5 и сферических углублений 8 угол поворота Фиксируют, Осве,щают устройство от источника 1 света длина...

Номер патента: 1597537

Опубликовано: 07.10.1990

Авторы: Ангельский, Максимяк

МПК: G01B 11/30

Метки: изделия, поверхности, шероховатости

...пучка через диафрагму 5 из фотометрического шара 7 беэ дифракции. Это достигается благодаря экспериментальному выполнению соотношения (1), Механизм 9 перемещения объектива. 6 в продольном и поперечном направлениях позволяет компенсироватЬ некоторое сферическое отклонение от плоскости исследуемой поверхности 11. Показание фотоэлектрического блока 8 регистрации дает значение 1 . При этом лишь незначительная часть выходит через диафрагму 5. Механизмом 9 или 10 можно послать зеркальноотраженный пучок на стенку шара 7. Б этом случае показание блока 8 регистрации дает значение 1 П, Определяют степень шероховатости поверх ности из соотношения К4 созе где К - среднеквадратичное отклонениепрофиля от базовой линии; - длина волны...

Номер патента: 1601513

Опубликовано: 23.10.1990

Авторы: Глыва, Морозов, Солодов

МПК: G01B 11/30

Метки: оптическое, поверхности, шероховатости

...поверхности.Устройство содержит источник 1света, коллиматор 2 и светоделитель3,: делящий световой поток на две ветви., в одной из которых расположенФокусирующий объектив 4, а в другойобъектив 5, зеркало.6 и два Фотопри.еника 7 и 8,, Зеркало 6 выполнено эллиптическойоформы и установлено под углом 0( 90 к оптической оси. Фотоприемники 7 и 8 выполнены одноплощадоцными. Фотоприемник 8 установлен на. оптической оси по ходу лучей за зеркалом 6, а Фотоприемник 7 - по ходулучей, отраженных от зеркала 6. Фотоприемники 7 и 8 своими выходамисоединены с суммирующим и дифференциальным усилителями 9 и 1 О, выходыкоторых подключены к входам делителя11 напряжений, выход которого подключен к регистратору 12Устройство работает...

Номер патента: 1601514

Опубликовано: 23.10.1990

Авторы: Аляева, Гальперин, Королев, Смирнов

МПК: G01B 11/30

Метки: изделия, поверхности, шероховатости

...в маске 3 и рассеивается пластинкой5 160151 5 внутри интегриоующего шара 7, Применение рассеивающих пластинок 5 и 6 и интегрирующих шаров 7 и 8 исключает интерференционные эффекты и де 5 лает возможным использование описываемого устройства для контроля как изотропных поверхностей, так и поверхностей, имеющих регулярную составляющую шероховатости. Величина уг О ла 0 выбирается из условияЙ о2 агсйВ - с Я с 815где Й - диаметр светового пятна наповерхности Я,1 - расстояние от этого пятнадо маски 3 в направлениизеркального отражения. 20Это необходимо для того, чтобы размеры диафрагмы 22 в маске 3 былизаметно больше размеров световогопятна, соответствующего зеркальноотраженному пучку, но не превосходили предельных размеров, определяемых...

Номер патента: 1608426

Опубликовано: 23.11.1990

Авторы: Арманд, Карпов, Суровегин

МПК: G01B 11/30

Метки: бесконтактного, параметров, поверхности, шероховатости

...ширинашероховатости;Н - высота приемника, передатчика.1 ри малых углах 9 , где 9 " Дгде тобы можно было пренебречь ошибдискретиэации, должно выполнятьсявие кой усл Д сс сц) с 1) сСКВ ) - среднеквадратичный тангенс угла наклона. 50(10) где словие (6) означает, что в предеинтервала дискретизации угол расия в точку приема меняется несувенно и Функция распределения тически постояйна. Выполнения уся (6) можно всегда добиться над-щим выбором высоты приемника (пелах сея щесепралов леж(5) При этом должно выполняться услот.е. если имеют место (6) и (7), ошиб-.кой дискретизации можно пренебречь.В реальных ситуациях значение среднеквадратичного тангенса угла наклона Сйд 6 много меньше единицы, так 15что ( Сд 9Я тогда нормированО%ная огибающая,...

Номер патента: 1608427

Опубликовано: 23.11.1990

Авторы: Кабанов, Корбан, Подопригора, Сургутанов

МПК: G01B 11/30

Метки: поверхности, шероховатости

...1 монохроматического излучения, модулируется модулятором 2 и направляется на измеряемую поверхностьизделия 16 под углом 9, падения. Зеркальная составляющая отраженного излучения направляется на Фотоприемник5. Два диффузно отраженных луча подуглами, отличными от угла зеркального отражения, направляются на фотоприемники 3. и 4.В каждый каналдля регистрации интенсивностей зеркальной и диффузных составляющих введены соответствующие коллиматор и микроскоп. Электрические сигналы с Фотоприемников 3-5, несущие информациюоб относительных значениях интенсивностей отраженных лучей, поступают вблок 15 обработки сигналовПринцип действия устройства основан на измерении абсолютных значенийинтенсивностей зеркальной составляющей 1 отраженного луча и...

Номер патента: 1610258

Опубликовано: 30.11.1990

Авторы: Кожин, Котляр, Хаимов, Храбров

МПК: G01B 11/30

Метки: поверхности, шероховатости

...механизмом 4, Платформу 17 перемещают вдоль основания 1 в положение, при котором кромки ножа 16 располагаются в зоне измерений. При регистрации нормального теневого сечения рельефа эрозионно изношенной поверхности лопатки 19 приемный блок 9 и фотоприемник 12 устанавливают в положение, показанное на чертеже, при котором теневое сечение передается оптической системой 10 на фотопленку.14 без искажений При этом световой пучок осветителя 5, отразившись от зеркала 8, направляется под прямым углом к исследуемой поверхности лопатки 19 и на своем пути, частично срезаясь ножом 16, формирует нормальное теневое сечение эрозионноизношенной поверхности лопатки 19.Измерение объемов изношенного эрозией металла лопатки 19 или другого изделия...

Номер патента: 1610259

Опубликовано: 30.11.1990

Авторы: Егоров, Черемискин

МПК: G01B 11/30

Метки: оптической, поверхности, шероховатости

...его контролируемая поверхность 11,Устройство работает следующим образом.Световой пучок от источника 1 излучения через пластину элемента 3 связи, установленную по ходу пучка, вводится поднебольшим углом ф в слой 9 оптически прозрачной жидкости. Подстройкой угла ф до биваются резонанса по минимумуизлучения, отраженного падающим световым пучком. Затем с помощью приемника 2излучения измеряют распределение интенсивности рассеянного излучения (диаграмму направленности) в зависимости от угларассеяния О в плоскости падения, Плоскость падения - это плоскость, включающаяперпендикуляр к контролируемой поверхности 11 и световой пучок от источника 1излучения, С приемника 2 излучения сигналпоступает на блок 4 регистрации. Блок 4регистрации содержит...

Номер патента: 1610260

Опубликовано: 30.11.1990

Авторы: Ангельский, Максимяк

МПК: G01B 11/30

Метки: изделия, поверхности, профиля, шероховатости

...1 ил. 3. Прошедший через объектив 10 и поляризатор 11 пучок лучей формирует изображение поверхности 13 в приемной плоскости регистратора 12,Второй пучок лучей проходит через светоделитель 3, падает на компенсатор 5, проходит пластинку 6 Х/8 и фокусируется объективом 7 на зеркале 8, Отразившись от зеркала 8, лучи идут в обратном направлении и падают на светоделитель 3. При этом часть лучей проходит через него и не участвует в определении профиля шероховатости поверхности изделия, а другая часть лучей отражается от светоделителя 3 и интерферирует с лучами первой ветви интерферометра, образуя интерференционную картину полосы, локализованной в бесконечности. Это изображение с помощью объектива 10 переносится в плоскость приемной площадки...

Номер патента: 1610261

Опубликовано: 30.11.1990

Автор: Гуров

МПК: G01B 11/30

Метки: визуального, движущейся, дефектов, ленты, поверхностях

...которого одновременно отражаются лицевая А и тыльная Б стороны контролируемой ленты 3, зеркало 2, расположенное под тыльной (не видимой) поверхностью ленты 3. На чертеже обозначены; а - величина створа угла, образованного зеркалом 2 и серединной линией ленты 3; В - серединная линия поперечного сечения контролируемой ленты 3; Г - точка наблюдения; /3 - угол видения,Способ визуального контроля дефектов на поверхностях движущейся ленты осуществляют следующим образом,Контроль ведут при перемотке ленты 3 из одного рулона в другой. На пути перемещения ленты 3 устанавливают пару сходящихся под углом 90 плоских зеркал 1 и 2 так. чтобы одно из зеркал (2) образовывало с серединной линией поперечного сечения ленты 3 угол а, створ которого...

Номер патента: 1620831

Опубликовано: 15.01.1991

Авторы: Егоров, Черемискин

МПК: G01B 11/30

Метки: оптической, параметров, поверхности, шероховатости

...период (шаг) и интервал корреляции шероховатости, а по рассеянной мощности определяют величину среднеквадратичного отклонения поверхности. лом к неи, падающего излучения и ховатости, П лируемой и оптический в лучения изм основной м угол р, изме сти рассеян от угла расс лучают инд рой опреде плоскости По максима плоскости и ределяют в затем измеряют интенсивность и рассеянного от поверхности определяют параметры шероредварительно на базе контрооверхности создают планарный олновод. Острый угол падения иэеняют до момента возбуждения оды в пленке, затем фиксируют ряют зависимость интенсивно- ного излучения основной моды еяния в плоскости падения, поикатриссу рассеяния, по котоляют функцию спектральной шероховатости поверхности....

Номер патента: 1620832

Опубликовано: 15.01.1991

Автор: Якименко

МПК: G01B 11/30

Метки: оптическое, поверхности, шероховатости

...установленного с возможностью перемещения вдоль оптической оси схемы, система оптического отображения предназначена для жесткой связи с контролируемой поверхностью, а схема формирования когерентных световых пучков и система оптического отображения установлены так, что их оптические оси составляют между собой Угол 9, где 0 (6 с 90 О2соз 8 р)55 Изобретение относится к измерительной технике и предназначено дляконтроля качества обработки поверхности изделий,Цель изобретения - повышение производительности измерения за счетобеспечения возможности непосредственной визуализации степени разрушения интерференционной картины и, следовательно, соотношения между характерным размером неоднородностей контролируемой поверхности и...

Номер патента: 1627830

Опубликовано: 15.02.1991

Авторы: Афанасьева, Несмелов

МПК: G01B 11/30

Метки: качества, оптических, полировки, прозрачных, фотометрический

...фотоприемника 6 чс 1 р)з отверстие 5 освекенцость, пропорциональную коэд)д)циенту , диф 0 фузно отраженного от поверхности 8 излучения, Затем образец 7 переворачивают и лца.огично определяют коэффициент ) диффузцо отраженного излучения от поверхности 9.Далее дс таль 7 помещают между исто и 1:о.1 1 элуцеция н отверстием 3 1 Р .1)Е.1111) С.Р 11нсЦЛЛ 1110 У 1 О)1 ОЖЕцпь) детл.ц 1. Ири этом регулярно проше;шее черед дс-.таль 7 излучение отв)д 11 т 1:я черо; отвсрст 1 е 4 в простр,цстцо гн Ьотометрического нара 2,) =-а+ ) + с, +)+ г- ь с 8 пгВпг2(п потоки излучения раздельно с обеихповерхностей 8 и 9 интегрируются вфотометрицеском шаре 2 и создают наприемной поверхности фотоприемника 6через отверстие 5 освещенности, пропорциональные...

Номер патента: 1627831

Опубликовано: 15.02.1991

Авторы: Ваганов, Дидур, Кожухарь, Панченко

МПК: G01B 11/30

Метки: плоскостности, поверхности

...2, ческую докусруючую систему б, меялл волокоотцессблок йбе 1, получают Аормлцю остцости поверхности детлл зА-л, 1 ил..Ревск праж 383 одписно и ГКНТ СС НИИ 11 И Государ етениям и открыти шская наб., д. 4/ коктета по изо Мос кв я, Ж, Р венцог 113035 но-издательский комбинат "Патент", г. Ужгоро агарина, 10 иэводст Устройство работает следуюпим образом. Нл контролируемую деталь 7 накллдывттстт эталонную волоконно-оптпческукт пллцглйбу 1, на которут подвтжттст ус гл пл лгилают волоконпо-оптический б:сткпл торце которогорлспо:ож ты сотоприемцпки 3. 7 учи отисточнтпсл э светл направляют через оптпчест;ую 1 ос спрующую систему б цллиппю контакта подвижного ттолокоцностп 1 ческо о блока 2 с тотосонто-оппческой пллпшлйбой 1 тлк, ттобывся...

Номер патента: 1629751

Опубликовано: 23.02.1991

Авторы: Божевольная, Божевольный, Радько

МПК: G01B 11/30, G01B 9/04

Метки: дифференциальный, микроскоп, оптический, сканирующий

...по ходу излучения лазера 1 и управляемым генератогами 3, делитель 4 оптического излучения, расположенныи по ходу дифра- ГИРОВаННОГО На аКУСтООПтИЧЕСКОМ МОДУЛЯ- торе 2 излучения, опорный канал, состоящий из фокусирующей линзы 5, расположенной по ходу отклоненного делителем 4 оптического излучения, и оптически связанного с линзой 5 фотодиода 6, измерительный канал., включающий фокусирующую пи зу 7, расположенную по ходу проходящего через дслитель 4 оптического излучения, опически связаннь 1 й с линзой 7 фотодиод 8, блок 9, предназначенный для сканирования исследуемого объекта в плоскости ХУ, перпендикулярной оптической оси излучения, фокусирующую линзу 10; расположенную по ходу отклоненного делителем 4 излучения, отраженного от...

Номер патента: 1633375

Опубликовано: 07.03.1991

Авторы: Галаневич, Сербунов, Тимочко

МПК: G01B 11/30

Метки: микроплощадок, наклонам, образца, плоской, поверхности, распределения, функции, шероховатой

...рассеяния излучения полированной поверхности в направлении, обратном направлению облучения.Тогда интенсивность иэлучения, отраженного от всей совокупности микро- площадок с углом наклона к макроповерхности, связана с функцией распределения микроплощадок по наклонам соот ношением- ) А(созе -Г(М,)(2)о где ) - эффективный показатель отражения от исследуемой поверхностиПо - площадь светового пятна в плоскости регистрации,К - расстояние от исследуемой пооверхности к плоскости регистрации.фурье-спектр выпрямленного электронного сигнала фотоэлектрического приемника обладает особенностью на нулевой частоте, которая связана с зеркальной составляющей индикатрисы рассеяния микроплощадок, ориентированных параллельно макроповерхности. Если...

Номер патента: 1634999

Опубликовано: 15.03.1991

Авторы: Бусурин, Шведов

МПК: G01B 11/30

Метки: загрязненности, оптической, поверхности

...6 выполняется по любой известной или доступной рабочему проектированию схеме сопоставления двух сигналов (анализатор отношения, разности, совпадения и т,д,).Приемники 2 и 3 излучения установлены в одной плоскости, симметрично относительно оптической оси излучателя и с воэможностью изменения расстояний между ними, Пластина 7 расположена вплотную к приемникам 2 и 3 излучения,Описанное устройство работает следующим образом.Излучение от излучателя 1 попадает в контролируемую оптическую деталь 5 и после переотражений в нем воспринимается приемниками 2 и 3 излучения, При загрязнении или при дефекте поверхности детали 5 в зоне контроля уменьшается часть излучения, достигающая приемников 2 и 3 излучения. На приемнике 2 излучения это...