G01B 11/30 — для измерения шероховатости или неровностей поверхностей

Номер патента: 311239

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Бахти, Винникова, Лисов, Овчаренко, Полуэктова, Черепашенец

МПК: G01B 11/30

Метки: зернистой, исследования, металлов, однородности, структуры

...имеет металлопрафический микроскоп 1 (МИМ), трансфокатор 2, призму 3, мальтийский механизм 4, фотоэлектронный умножитель (ФЭУ) 5, вторичный црибор 6 (вольтметр эффективных значений В) вт электродвигатель 7. Световой поток, отражясь от поверхности ЗО микрошлцфа металла (шлцф установлен на предметном столовке металлографическо;о микроскопа 1), создает на выходе мсцкроскопа увеличенное изображение шлифа. Это изображение попадает на трансфокатор 2, с помощью которого изменяют масштаб цзображенсия и обеспечивают поступление сзетового сигнала от малого (точечного) участка поверхности микрошлцфа. С помощью, призмы 3, прцьодимой в движение электродвигателе.7 и вращающейся в подшипнике скольжения, осуществляют вр ащение...

Номер патента: 312139

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Коваленко, Кретов

МПК: G01B 11/30

Метки: глубоких, отверстий, отступлений, поверхности, прямолинейности

...прямолинейности,Предлагаемый способ отличается от известного тем, что для осуществления контроля впроцессе выполнения отверстия отражающуюсистему располагают непосредственно в инструменте, например сверле,На фиг. 1 изображено устройство, позволяющее осуществить описываемый способ; нафиг. 2 - узел 1 в увеличенном масштабе.Устройство содержит: сверло с рабочейчастью 1, хвостовиком 2 и продольным каналом 3; отражающую систему в виде блоков4 и 5; оптический квантовый генератор б, направляющий луч 7 на отражающую поверхность обрабатываемой детали 8; сферическуюшкалу 9.При падении луча, имеющего малый диаметр, например 0,01 мм, на первый отражающий блок 4 возможны два случая (фиг. 2): первый, когда геометрическая ось рабочей части сверла...

Номер патента: 315022

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Ивашевский, Карташев

МПК: G01B 11/24, G01B 11/30, G01D 5/39 ...

Метки: оптико-электронный, профилоскоп

...поля зрения прибора с помощью зеркал 9 и 10. Далее прошедшая часть светового потока объективом б собирается на фотоприемник П, Если исследуемый участок поверхности идеально гладок и не имеет неровностей, то при движении пятна по этому участку его изображение не будет выходить за пределы кромки полуэкрана, и освещенность фотоприемника будет оставаться постоянной и равной половине исходной, так как кромка полуэкраца приходится ровно посередине изображения пятна. В случае появления неровностей изображение пятна относительно полуэкраца начнет смещаться вниз или вверх в вертикальном направлении, что вызовет уменьшение или увеличение освещенности за полуэкрацом в зависимости от характера неровностей (выступы или впадины). Следовательно,...

Номер патента: 315099

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Горелов, Комбалов, Михин, Пин

МПК: G01B 11/28, G01B 11/30, G01N 19/02 ...

Метки: контакта, определени, оптическое, площади, фактической

...7 крепится штифтами 12 для исключения проворачивания. (Возможен обратный вариант, 10 когда эталонное тело стоит неподвижно, а образец вращается или перемещается).Для визуального наблюдения рабочая частьосвещается как боковыми 13, так и установленными непосредственно на микроскопе 14 15 лампочками. В качестве визуального наблюдения и фотометрирования применяются микроскопы 15.Устройство работает следующим образом.В направляющую 7 устанавливается испы туемый образец б и фиксируется от возможных смещений. Если испытания идут при вращении индентора, то направляющая стопорит.ся, и включается двигатель. Если эталонный прозрачный образец неподвижен, то возмож но вращение направляющей 7 с жестко за.крепленным испытуемым образцом б (при...

Номер патента: 319840

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Боконь, Гильман, Кибернетики, Научно

МПК: G01B 11/30

Метки: автоматический, измеритель, неоднородностей, объекта, поверхности

...колебаний и конденсатора 3, расположенного на одной оптической скамье с источником света. Измеритель имеет также вибратор 4 с подключенным к нему генератором б прямоугольного или синусоидального напряжения, представляющим поляризованное реле, на якоре которого находится крепление для объектов, короткофокусный объектив б, диафрагму 7 с отверстием, формакоторого подобна форме исследуемого объекта с диаметром, меньшим диаметра увеличенного изображения поверхности на величину, равную амплитуде его колебаний и анализирующее устройство. Анализирующее устройство содержит конденсаторы 8 и 9, периодическую структуру 10, представляющую совокупность двух дифракционных решеток, расположенных под некоторым углом и вращающихся за счет...

Номер патента: 326446

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Клименко, Петроченко, Рудный, Селиванов

МПК: G01B 11/06, G01B 11/30

Метки: загрязненности, измеритель, поверхности

...измеритель,Измеритель содержит ленту 1, систему направляющих ролцков 2 лентопротяжного механизма (на чертеже не показан), следящий ролик 3, редуктор 4, прижимной ролик 5, прижимной механизм б, вибратор 7, регистрирующее устройство 8, источник света 9, образцовую ленту 10, фотоприемники 11 - 12, измерительный блок 1 З и контролируемую поверхность 14.Измеритель загрязненности поверхности изделий работает следующим образом.Лента 1 с,помощью системы направляющих роликов 2 образует петлю и движется параллельно контролируемой поверхности 14. Следящий ролик 3, установленный перед лентой 1, находится в непосредственном контакте с контролируемой поверхностью 14, его линейная скорость немного меньше скорости движения контролируемой...

Номер патента: 327375

Опубликовано: 01.01.1972

МПК: G01B 11/30, G01B 7/34

Метки: 327375

...поступает к тальваномегру. Этот сигнал изображен на фиг. 3 кривой А. Синхронно с перемещением датчика с бооины через ролики и шестеренку 10 с помощью электродвигателя протягивается фотоматериал, Луч света от осветителя ерез об ьектив попадает на зеркало гальваномегра и засвечивает фотоматериал по кривой, каждая точка которой соответствует то 1 ке на контролируемом профиле.Засвеченный фотоматериал с помощью шестеренок 10,и 11 поступает в обрабатывающую камеру для,проявления. Для того, чтобы оценить характер, кривой А, необходимо получить опорную линию Б, по отношению к которой могут быть сделаны измерения. Эта опорная линия Б пересекаст криву 1 о А таким образом, что обласги кривой А, лежащие выше линии Б, по площади равны...

Номер патента: 339775

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Гольман, Срибнер

МПК: G01B 11/30

Метки: 1би5лиос, н1егнм, оптический, уровеньвсесоюзная1л1нтнот1

...зеркало выполнено маятниковым,На чертеже показан предложенный уровень.Уровень содержит основа 1, выполненное в виде шагового мостик токоллимационную трубку 2, закрепленную на основании, и отражающую систему, состоящую из двух плоских зеркал 3 и 4, образующих двугранный угол. Одно из зеркал 3 жестко скреплено с основанием, а второе 4 - смонтировано на гибком подвесе 5 и является маятниковым. Для демпфирования колебаний маятникового зеркала 4 последнее помещено между двумя плоскопар аллельными стеклянными пластинками 6. Для изменения направления хода лу ей оптический уровень снабжен дополнительным зеркалом 7.Работает оптический уровень следующимобразом.Оптический уровень устанавливают на кон тролируемую поверхность, Под...

Номер патента: 342112

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Баркан, Искоз, Николаев, Руссо, Тгп

МПК: G01B 11/30, G01N 17/00

Метки: 342112

...на светочувствительную поверхность из трех (или более) групп фоторезисторов, набранных по внутренней поверхности корпуса фотоэлектрического датчика 3 с учетом суммарного спектра окисления 10 контролируемой конструкции.Активное сопротивление группы фоторезисторов изменяется в зависимости от соотношения длин волн Хт, Х 2 . Х и стрелка микро- амперметра 7 отклоняется. Электрическое пи тание осуществляется следующим образом,К входным клеммам 8 подается переменноенапряжение сети промышленной частоты, которое ослабляется конденсатором 9 и резистором 10. Это напряжение выпрямляется дио дами 11 и 12. Выпрямленное напряжение приложено к аккумулятору 13 и стабилизируется электронным стабилизатором на сопротивлении 14, кремниевом стабилитроне 15 и...

Номер патента: 348861

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Волкова, Левин, Леонтьева

МПК: G01B 11/30

Метки: оптический, отступлений, поверхности, прибор, прямолинейности

...на экране 14 смешается изображения С относительно бифиляра которое может быть измерено микро метром 15. Перемещая измерительную каретку б по поверхности плиты, можно измерить непрямолинейность этой поверхности.В тубусе 1 б (фиг. 2) измерительной каретки в плоскости чертежа устанавливается освещаемая лампой визирная марка 17, например точечная или секторная. Перемещение марки 17 регулируется винтами 18 и 19 в плоскости чертежа и перпендикулярно ей. Необходимо, чтобы ось измерительного наконечника 7, визирный штрих С и марка 17 лежали бы на одной вертикальной прямой (перпендикулярно оси афокальной системы),На плите 1 располагается штатив 20, который при помощи винтов 21, 22 и гайки 23 совершает тонкие регулировочные движения -...

Номер патента: 349887

Опубликовано: 01.01.1972

Автор: Грум

МПК: G01B 11/30

Метки: качества, поверхности

...5 Иа Окуляр цадеВяОт Ч)ОтогратриескуО цасядку. ПрилеиВ Образец к стеклу, вводят обьсктив, цаколцяют образец с по.мощью столика (и: 20") ц произ)Одят грубуо 20 паводку ца резкость. В поле зрения при этомдолжна быть видна блестящая повсрхцость образца и яркий световой зайчик в серсдице.Далее включают объектив, дающий большое увеличецие, наводят ца резкость и производяг 25 наблюдение или фотографирование. При количсствеццых подсчетах используют сетку, имеющуюс 5 В кО 1 плскте 1 БС. Сетку п 1)иклецвают к образцу кусочком пластилина. Использовацие сетки избавляет от цеобходимости 30 вводить поправку за счет цаклсша образца,349887 П р ед м ет изобретения Составитель Лобзова1 зсдактор В. Новоселова Текред Л. Куклина Корректор А. Василье ьказ...

Номер патента: 384003

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Богородский, Вител, Потемкин, Смирнова, Солнцев

МПК: G01B 11/30, G01B 7/34

Метки: выявления, движущейся, дефектов, поверхности, прибор

...16 и 17 и вырезы обтюраторов расположены таким образом, что при открытом опорном световом канале усиленный электрический импульс этого канала поступает на один из резисторов (например резистор 20) ячейки сравнения, а при открытом измерительном световом канале соответствующий импульс поступает на другой резистор (например резистор 21). Падения напряжении на резисторах 20 и 21 направлены навстречу друг другу и их суммарная величина измеряется магнитоэлектрическим вольтметром 22, имеющим нуль в середине шкалы. При равенстве падений напряжения на резисторах 20 и 21, а, следовательно, при равенстве импульсов напряжения, снимаемых с усилителя 14, результирующее напряжение, измеряемое вольтметром 22, будет равно нулю.В этой системе в...

Номер патента: 386238

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Вител, Иорх, Козаев, Рский

МПК: G01B 11/30

Метки: оптического, плоскостности, поверхности

...раздвоенных световодов сгруппированы таким образом, что одни концы жгутов 5образуют сектор, а другие - жгуты б - кольцо мозаичного экрана 4, фотоприемники 7, об 15 разующие фотоэлектрический блок 8, блок 9обработки электрического оигнала с фотопри.емников 7 и узел 10 координатного перемещения контролируемой детали, задающий иотслеживающий перемещение предметного20 столика 1,Предлагаемое устройство работает следующим образом.Проверяемую деталь 11 укрепляют на предметном столике 1. Луч лазера 2 направляют25 на соответствующую элементарную площадкупод некоторым углом к поверхности детали11, которую перемещают посредством узла 10координатного перемещения. Отраженный лучпопадает на входной торец того или иного волоконного световода 3...

Номер патента: 386239

Опубликовано: 01.01.1973

МПК: G01B 11/30

Метки: оптических, плоскомера, поверки, помощью, средств

...линейками или плиты 1 выбирают три точки А, В и С (фиг. 1), отстоящие одна от другой на расстоянии, не менее 0,5 м и 1 м, которые лежат по высоте на одной прямой (базовой) с точностью до 1 - 2 мкм. Линия О - О, проходящая через точки А В, и С, образованные местоположениями диафрагмы марки 2 в точках А, В и С, параллельна базовой прямой. Между точками В,и С, примерно посредине, помещают плоскомер 8, например типа ИС, чтобы базовая прямая проходила через центр плоскомера и была перпендикулярна линии опор К 1,. Устанавливают марку в точки А и В и, действуя опорными винтами плоскомера, вводят изображение диафрагмы .,арки в центре перекрестия сетки 4, выставлял тем самым визирную ось трубы параллельно базовой прямой. Далее,...

Номер патента: 387208

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Розенберг, Эфрос

МПК: G01B 11/30

Метки: неплоскостности

...визирные марки 7 и 8 и, перемещая мостик 2 с зеркально-призменной системой, измеряют взаимное смещение изображений марок 7 и 8, вызванных при поворотах мостика 2 извернутостью направляющих поверхностей. Изобретение касается и ки и может быть исполь неплоскостности и непрям ляющих поверхностей, на ков. Известны устроистваскостности и непрямолинщих поверхностей, содербу с фокусировкой, устможностью перемещенияролируемых поверхностеистик и размещенную наменную систему. Однакоизмерять извернутостьверхностей и требуют дпользования уровня длясти.ц для контроля неплоейности направляюжащие визирную труанавливаемый с возотносительно конт измерительный монем зеркально-призони не позволяютнаправляющих поополнительного ис контроля...

Номер патента: 392330

Опубликовано: 01.01.1973

Автор: Кныш

МПК: G01B 11/30

Метки: заготовки, поверхности, сканирования, цилиндрической

...сигналами заготовка подается через лоток б в канал сор тировщика 7. шение а помнои ь коу роельноскаУстройствоцилиндрическзированногостора, содериположенныеки нз механи ования поверхности , например металлиого основания резищий мехшгнзм и раси движения заготозорных вращающихся для сканир ой заготовккерамическ ащее подаю на траектор зма два оп 1Изобретение относится к средствам неразрушающего контроля изделий и может быть использовано в автоматах для сортировки полуфабрикатов в электронной промышленности.Известно устройство для сканирования поверхности цилиндрической заготовки, например металлизированного керамического основания резистора, содержащее подающий механизм и расположенные на траектории движения заготовки из механизма два...

Номер патента: 396546

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Вител, Проектно, Техники, Фаерштейн, Шевченко

МПК: G01B 11/30

Метки: поверхности, шероховатости

...и изделий и может Оыть использоВано для определения шероховатости поверхности илц для дефоктоскопци изделий.По авт. св.261708 известен способ измерения шероховатости поверхности изделия, заключающийся в том, что на поверхность изделия направляют поток света под задаццым углом падения, а отраженный свет прцпцмают фоторегистратором и по параметрам отраженного света судят о контролируемом объекте.Однако при осуществлении этого спосооа происходит снижение точности с увеличением уровня освещенности объекта.Целью изобретения является повышение точности.Для этого пада 1 ощцй пучок лучей пропускают чсрсз поляризатор, а перед фоторегистратором устанавливают другой поляризатор. Предлагаемый способ поясняется чертежом. СВетОВОи поток От...

Номер патента: 403949

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Духопел, Пахомова, Урнис

МПК: G01B 11/30, G01B 9/02

Метки: интерферометр

...содержит монохроматическпй источник 1 света, кондепсор 2, диафрагму (входддодд зрачок интерферомстра) 3,25 плоское зеркало 4, светоделительн пластину 5, тубуспую линзу 6, микрообъектив 7, полусферическую линзу 8, выключающийся объектив 9, окуляр 10.Позицией 11 обозначена контрол30 таль, 12 - капля иммерсионной ж25 ЗО 35 3образцовая сферическая поверхность; б - контролируемая поверхность.Работает предлагаемый интерферомстр следующим образом.Монохроматический источник света 1 с помощью конденсора 2 освещает отверстие диафрагмы 3, установленной в фокальной плоскости тубусной линзы 6. Прошедшие через диафрагму пучки плоским зеркалом 4 направляются сначала на линзу 6, а затем в микрообьектив 7, В предметной плоскости...

Номер патента: 406116

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Артамонов, Бердников

МПК: G01B 11/30

Метки: дефектоскоп, фотоэлектрический

...недостаточная, так какнеобходима периодическая балансировка волоконно-оптического канала,С целью устранения этого недостатк лагаемый дефектоскоп снабжен полуп ным зеркалом, установленным между ником света, выходом волоконно-опти канала,и оптико-электронным преоора лем, а вход волоконно-оптического сформирован по профилю контролируе верхности в пределах телесного угла стер. На чертеже,изооражена схема предлагаемого фотоэлектрического дефектоскопа. Осветительная система: осветитель 1, полупрозрачное зеркало 2, волоконно-оптический канал 3 - создает ,равномерную освещенность поверхности детали 4. Проекционная ветвь: волоконно-оптический канал З,и объектив 5 в ,изображает контролируемую поверхность на фотокатоде приемно-передающей...

Номер патента: 362187

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Авторы, Остругов, Платонов, Тихонов

МПК: G01B 11/30

Метки: непрямолинейности, объекта, оси, цилиндрического

...расстояния между башмаком и фиксирующим устройством в виде стопорного винта 8, зажимающего стержень в фиксирующем устройстве. На планшете может быть установлена счетная линейка пли светочувствительная бумага, или,фотоаппарат, Кривизна поверхности обечайки значения не имеет как внутри печи, так и снаружи, в пределах размера башмака поверхность обечайки практи 362187чески плоская, так как радиус печи велик, а длина башмака мала.Предложенный способ реализуется следующим образом.Излу атель 1 устанавливают на неподвижном основании 9 у одного конца печи 10, базовую мишень 2 устанавливают у другого конца печи также на неподвижном основании 11.Неподвижные основания выбирают таким образом, чтобы луч 12 излучателя был в одной плоскости с осью 13...

Номер патента: 366627

Опубликовано: 01.01.1973

Автор: Иностранец

МПК: G01B 11/30

Метки: дефектов, обнаружения

...1,1969 ( Изобретение относится к контрольно-измерительной технике.Известно устройство для обнаружения дефектов, содержащее источник света, многогранное дисковое зеркало, расположенное в его потоке, и фотоэлектрический преобразователь, установленный в потоке отраженного от дискового зеркала и дрошедшего через контролируемый объект света.Однако разрешающая способность такого устройства недостаточно высокая, в особенности при дефектоскопии движущихся объектов в виде, прозрачных листов.Предлагаемое устройство отличается тем, что, с целью повышения разрешающей способности дефектоскопни движущихся объектов в виде листов, оно снабжено параболическим зеркалом, установленным в потоке отраженного от дискового зеркала света, в фокусе которого...

Номер патента: 370462

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Волкова, Всесоюзная, Михайлой

МПК: G01B 11/30

Метки: объекта, отклонения, поверхности, прямолинейности

...принципиальная схема предлагаемого устройства,Оно содержит лазер 1, измерительную каретку 2, позиционно-чувствительный фотоприемцик 3, электронную схему 4 отработки сигнала с фотоприемника, прямоугольный отражатель 6, отражатель 6, образованный четырьмя зеркальцыми пересекающимися под углом 90 поверхности и расположенный ца измерительной каретке 2, трехгранный отра. жатель 7 и дополнительный прямоугольный отражатель 8, расположенный перед отражателем 7.Предлагаемое устройство работает следующим образом.Луч света от лазера 1 направляется ца от. ражатель 6, установленный ца измерительной каретке 2. Отразившись от отражателя 6, лучЗ 70462 Предмет изобретения Составитель Лобзова Техред Г. Дворина Редактор Т, Фадеева Корректор А....

Номер патента: 373525

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Варанаускас, Микелайтис, Рагул

МПК: G01B 11/30

Метки: всесоюг, гвиб, оащтй-ш, пист

...криволинейности наносится оператором вручную; процесс этот трудоемкий и точность зависит от внимательности и навыков оператора,очности измерения ооеспечиустройство снабжено емкостью жидкостью, например ртутью, навливается измеряемое тело, и, частично погруженными в оложенными так, что одно изнаправляет между телом и от источника света, а второе Устройство содержит источник света 1,окно 2, линзу 8, зеркала 4 и 5, емкость б с непрозрачной жидкостью, линзу 7, чувствительный элемент 8, например фотоприемник, рас.1 о положенный в фокусе линзы 7, В окно 2 вставлены оптические элементы (па чертеже не показаны).Предлагаемое устройство раоотает следующим образом.15 Во время измерения вращением источникасвета 1 с окном 2 (с вмонтированными в...

Номер патента: 375477

Опубликовано: 01.01.1973

МПК: G01B 11/30

Метки: объекта, отклонения, прямолинейности

...с коллиматором 2, отсчетный прибор 3, полупрозрачноезеркало 4, непрозрачное зеркало б, основнуюкаретку б и дополнительную 7 с установленными на них соответственно отражателями 8и 9,Источник света выполнен в виде оптическоО го квантового генератора, снабженного визирной трубкой 10 и ориентирующим устройством 11.Отсчетный прибор выполнен в виде экрана с нанесенной на него координатной сеткой5 с центральным отверстием 12 и с фоторегистрирующим устройством. Основная б и дополнительная 7 каретки тождественны и конструктивно выполнены в виде механической следящей системы на базе контактирующих роли375477 дмет изобретен с 1 авитель Л обзова Ускова ректор О. Тюрин едактор Н. Воликова Изд, Мв 1345 митета по делам изобрете Москва, 7 К, аказ...

Номер патента: 375478

Опубликовано: 01.01.1973

МПК: G01B 11/30

Метки: качества, оценки, поверхности

...мостовой схемы включен усилитель 8 и индикатор 9, имеющий нуль в средней части шкалы. Балансировка моста производится клином 11 путем перемещения его О перпендикулярно оптической оси системы К недостаткам этого устроиства относится влияние на точность измерения колебаний накала источника света, колебаний напряжения источника питания, изменение во времени параметров лампы и фотоприемника, изменение температуры окружающей среды, отличия в физических свойствах поверхности материалов различных марок, имеющих одну и ту же степень шероховатости. Цель изобретения - уменьшение влияния на точность измерения колебаний напряжения питания, нестабильности накала источника света, изменения температуры окружающей среды, изменения во времени...

Номер патента: 376655

Опубликовано: 01.01.1973

Автор: Авторы

МПК: G01B 11/30, G01B 7/34

Метки: оптическое, сканирующее

...регулятора амплитуды 4, электронного усилителя 5, конденсатора 6, подвижных катушек 7 и 8, двух электродинамических систем 9 и 10, каретки 11 с оптической щелью, которая жестко соединена с катушками 7 и 8,Система 9, выполняющая функцию возбудителя колебаний, подключена непосредственно к выходу электронного усилителя 5, а система 10, выполняющая функцию датчика обратной связи по скорости перемещения подвижной каретки 11 с оптической щелью, под ключена вместе с выходом генератора 1 ковходу усилителя 5.Работает устройство следующим образом.При включении сканирующего устройствагенератор 1 начинает вырабатывать тактовые 10 импульсы с регулируемой частотой на триггер 2 со счетным входом, который является задатчиком скорости. Конденсатор 8...

Номер патента: 381885

Опубликовано: 01.01.1973

МПК: G01B 11/30

Метки: металлической, поверхности, фотоэлектрическое, шероховатости

...моста, в два других смежных плеча которого включены переменные сопротивления 6 и 7. Сопротивление 6 служит для балансировки моста при измерении степени шероховатости металлической поверхности и снабжено измерительной шкалой 8. Сопротивление 7 служит для введения поправок при контроле поверхности из металлов различных марок и снабжено шкалой поправок 9. В измерительную диагональ моста включен усилитель 10 и электрический индикатор 11. Фотоприемник 5 выполнен с возможностью поворота относительно оси оптической системы 2, угол поворота фотоприемника 5 контролируется шкалой 12. Введение поправок при контроле поверхности из металлов различных марок может осуществляться как изменением сопротивления 7, так и поворотом фотоприемника 5. Поворот...

Номер патента: 413373

Опубликовано: 30.01.1974

МПК: G01B 11/30

Метки: 413373

...sа выпуклой поверхности, например сферической или цилиндрической.Это позволяет контролировать оптические поверхности с крутизной более 45. На чертеже приведена схема устройства для контроля асферической поверхности.Устройство содержит лазер 1, коллиматор 2, светоделитель 3, зеркало 4, линзу 5, искусственную компенсационную голограмму 6. Свет от лазера 1 проходит через коллиматор 2, светоделитель 3, линзу 5, отражается от искусственной голограммы 6 и контролируемой детали 7, преобразуется голограммой 5 6 в сходящуюся сферическую или цилиндрическую волну, проходит через линзу 5, отражается от светоделителя 3 и в плоскости наблюдения 8 интерферирует с волной, отраженной от зеркала 4 и прошедшей через светоде литель 3. По...

Номер патента: 418716

Опубликовано: 05.03.1974

МПК: G01B 11/30

Метки: 418716

...прижимной ролик выполнен из двух равных частей, расположенных на одной оси с заданным зазором между собой.На фиг. 1 изображено предложенное устройство в двух проекциях; на фиг. 2 - разрез по А - А на фиг. 1.Устройство включает вращающиеся в одном направлении приводные ролики 1, 2, заготовку 3, толкатель 4, перемещающий заготовку вдоль осей приводных роликов, прижимной ролик 5, состоящий из двух равных частей, создающих в средней части кольцевой паз для прохода отраженного луча, ось 6 ролика, которая может перемещаться в вертикальном направлении по направляющим 7, осветитель 8 и датчик 9 отраженного луча. Работа устройства заключается в следующем.При отсутствии заготовки прижимной ролик5 подвешен на опорах направляющих 7, образуя...

Номер патента: 418717

Опубликовано: 05.03.1974

МПК: G01B 11/30, G01B 9/02

Метки: 418717

...диафрагму 4, расположсццую в передней фокальцой плоскости линзы 5. Зеркало 8 и проекционный объектив 9 вмсстс с линзой 5 проектир, ют апсрдцаф 13 агм 4 в плоскость выходного зрачка мцкрообъсктцвов 10 ц 11. Объектив 9 проектирует полсгую диафрагму 7 в бесконечность.Рабочая интерферационная ветвь состоит из испытуемой поверхности 12, микрообъектива 10 оптической детали 13 переменной толщины и светоделительной пластины 14.Ветвь сравнения состоит из поверхности 15 сравнения, микрообъектива 11, плоскопараллельной пластины 16, компенсационных клиньев 17 и светоделительной пластины 14.Наблюдательная ветвь со спектроскопом состоит из объектива 18, призмы 19, зеркала 20, щели 21, окуляра с вынесенным зрачком 22, дифракцио иной решетки 23,...