G01B 11/30 — для измерения шероховатости или неровностей поверхностей

Страница 3

Фотоэлектрический прибор для автоматического выявления дефектов на движущейся поверхности

Загрузка...

Номер патента: 198696

Опубликовано: 01.01.1967

Авторы: Конструкторское, Сажаев

МПК: G01B 11/30, G01B 9/00, H01T 15/00 ...

Метки: выявления, движущейся, дефектов, поверхности, прибор, фотоэлектрический

...оси вращения цилиндра к фотоэлементу 8. Сигнал рабочей. частоты с фотоэлемента усиливается селективным усилителем 9 и запускает ждущий мультивибратор 10, при этом срабатывает исполнительное устройство 11.Тонкие стекловолоконные световоды диаметром 10 - 100 лгк наклеиваются по образую 5 щей цилиндра с определенным шагом, Диаметр волокон, шаг наклейки волокон, диаметрцилиндра, его скорость вращения и степеньуменьшения изображения, проектируемого наторцы волокон, выбираются в зависимости от10 необходимой разрешающей способности и скорости движения контролируемой поверхности.Если величина изображения контролируемойповерхности укладывается в целое число шагов волокон, что может быть легко достигнуто15 подстройкой размеров изображения, то...

200171

Загрузка...

Номер патента: 200171

Опубликовано: 01.01.1967

МПК: G01B 11/30, G01D 5/34

Метки: 200171

...с фотоэлектрического датчика, что поззоляет автоматически регистрировать отклонения от прямолинейности.На чертеже представлена схема предлагаемого прибора.Марка 1, состоящая из источника света 2, конденсатора 3, точечной диафрагмы 4, образующих точечный источник света, и модулятора 5, перемещается по контролируемой поверхности с постоянной скоростью. При несовпадении точечного источника света марки с оптической осью визирной трубы 6, в качестве объектива которой используется оксикон 7, изображение точечного источника света, увеличенное микроскопом 8, не совпадает с линией нулевого сигнала фотоэлектрического датчика 9. В этом случае на усилитель 10 поступает промодулированный сигнал, который усиливается, выпрямляется фоточувствительным...

Интерферометр для контроля качества плоских оптических поверхностей

Загрузка...

Номер патента: 200227

Опубликовано: 01.01.1967

Авторы: Клочкова, Контиевский

МПК: G01B 11/30, G01B 9/02

Метки: интерферометр, качества, оптических, плоских, поверхностей

...4 и б. Интерференцпонная картина, представляющая собой полосы равной толщины, наблюдается визуально за диафрагмой 8, находящейся в фокальной плоскости объектива 3. Лучи направляются в наблюдательную систему с помощью светоделительной пластины 9.Между объективом 3 и пробным стеклом 5 введен блок, состоящий из нескольких призм Дове 10. Отражающие грани и главные сечения призм параллельны выходящему из объектива пучку лучей, причем отражаюгцие грани всех призм Дове лежат в одной плоскости, что достигастся установкой призм на плоско- параллельную стеклянную пластину 11.Если в наблюдаемой интерференционной картине полосы равной толщины направлены параллельно плоскости, в котороп лежат отражающие грани призм Дове, а изображения полосы,...

Интерферометр для контроля качества вогнутых отражающих поверхностей вращения

Загрузка...

Номер патента: 201721

Опубликовано: 01.01.1967

Автор: Пур

МПК: G01B 11/30, G01B 9/02

Метки: вогнутых, вращения, интерферометр, качества, отражающих, поверхностей

...осуществить ход лучей, при котором выпуклая параболическая поверхность работает как вогнутое 25 параболическое зеркало, фокусируя действительные лучи, падающие, параллельным пучком на параболическую поверхность.Предлагаемый способ позволяет контролировать качество выпуклых, параболических 30 линз только по интерфернционным кольцам,Получение интерференционных полос принципиально невозможнопоэтому определение очень малых:погрешностей затруднено.Описываемый интерферометр применим практически для любой формы второй, поверхности параболической линзы 8 (а, б, в, г). При контроле серии одинаковых линз, например,:выпукло-плоских (в), дополнительную линзу можно выполнить переменной толщины, в виде двух, подвижных клиньев,...

Компенсационный объектив

Загрузка...

Номер патента: 202547

Опубликовано: 01.01.1967

Автор: Пур

МПК: G01B 11/30, G02B 9/04

Метки: компенсационный, объектив

...эллиптической поверхности, показатель и преломления стекла, из которого сделан второй компонент, и расстояние з от заднего фокуса первого компонента до плотской ,поверхности второго компонента.д 2может быгь также выполнен в виде плоскопараболичвокой линзы (фиг, 2) из стекла с показателем преломления, равным также величине, обратной величине эксцентриситета исследуемой поверхности, с толщиной д, определяемой формулой д=/ - з, где / - фокусное 5 расстояние параболической поверхности. Предмет изобретения 1. Компенсационный обьектив для контролявогнутых эллиптических поверхностей вращения, состоящий из исправленного на сферическую аберрацию первого компонента и второго компонента в виде выполненной из стекла с показателем преломления,...

Устройство для контроля наличия поверхностных дефектов

Загрузка...

Номер патента: 208286

Опубликовано: 01.01.1968

Авторы: Вихман, Харитонов

МПК: G01B 11/30

Метки: дефектов, наличия, поверхностных

...света используются обычные лампы накаливания, а в качестве светоприсмников - передающие телевизионные трубки; выходы последних соединены с вычисли ельным блоко: л, определяющим единичные дефекты, размеры которых переходят за пределы допустимой величины,Предлагаемое устройство отличается от известного тем, что его источник света выполнен в виде лазера,Это позволяет увеличить площадь проецируемого на контролируемую поверхность светового пятна и интенсивность отраженного светового потока, увеличить производительность и точность контроля.На чертеже изображена блок-схема устройства.Устройство содержненный в виде лазе 1 ит источник света, выполза 1. Луч 2 лазера предварительно,пропускается через линзу 3 для контроля определенного участка...

Визирная труба

Загрузка...

Номер патента: 210415

Опубликовано: 01.01.1968

Авторы: Изобре, Левин, Серегин

МПК: G01B 11/27, G01B 11/30, G02B 23/00 ...

Метки: визирная, труба

...чертеже схематически изображена предлагаемая визирная труба.Визирная труба состоит из оптического компенсатора 1, объектива 2, выполненного в виде аксикона, который дает резкое изображение любой точки, лежащей на оси визирования, сетки 8, рассматриваемой через окуляр 4 микроскопа 5. Отсчет производят по барабану б микровинта, который через шток 7 качает пластину компенсатора 1. Ось вращения 00 пластины компенсатора расположена поп уг 2лом 45 к плоскости штрихов сетки 3. Шкала отсчетного барабана б рассчитана с учетом проекции изображения точки на координатные оси, совпадающие со штрихами перекрестия 5 сетки д.Изображение точки приводят на одну из нитей перекрес 1 ия и отсчитывают по барабану, затем гочку перемещают на вторую нить...

Устройство для измерения высоты неровности

Загрузка...

Номер патента: 213377

Опубликовано: 01.01.1968

Авторы: Зверев, Кучин

МПК: G01B 11/30, G01B 9/04

Метки: высоты, неровности

...с помощью микроскопов светового сечения основано на разделении светоделительным приспособлением 1 изображения светящейся щели 2 на два изображения, одно из которых проходит сквозь светоделительное приспособление, а другое отражается от него. Созданные таким образом два изображения 21 щели (см. фиг, 2 и 3) проектируются в одно и то же место исследуемой поверхности с двух встречных направлений при помощи одинаковых объективов 3 и системы зеркал 4 и б. Причем каждое направление проектирования щели является отражением другого от исследуемой поверхности, т. е, объективы 3 принадлежат одновременно и системе, проектирующей щель на поверхность, и системе наблюдательной. Отразившиеся искаженные неровностями поверхности изображения щели 0...

Однообъективиый растровый микроскоп

Загрузка...

Номер патента: 213378

Опубликовано: 01.01.1968

Авторы: Зверев, Кучин

МПК: G01B 11/25, G01B 11/30, G01B 9/04 ...

Метки: микроскоп, однообъективиый, растровый

...что, с целью облегчения и ускорения процесса измерения и проведения наблюдений в равнонаклонных пучках, он снабжен размещенными в передней фокальной плоскости его объектива двумя симметрично смещенными относительно оптической оси диафрагмами, первая из которых служит входным зрачком проектирующего тубуса, а ,вторая - выходным зрачком наблюдательного тубуса. Опубликовано 12.11.1968, Дата опубликования опи Известные однообъективные растровые микроскопы, содержащие осветительный тубус с источником света и растром, объектив, наблюдательный тубус с растром сравнения и систему отсчета, не позволяют облегчить и ускорить процесс измерения и проводить наблюдения в равнонаклонных пучках.Предложенный микроскоп отличается от известных тем, что он...

Растровый микроскоп

Загрузка...

Номер патента: 218441

Опубликовано: 01.01.1968

МПК: G01B 11/30, G02B 27/32

Метки: микроскоп, растровый

...15 и эталонный растр 1 б, Освещение растра 1 производится осветительной систе.мой (на чертеже не показана). Прибор снабжен также отсчетным устройством, содержащим объектив 17 и окулярный микрометр 18.5 Растр 1, расположенный в фокальной плоскости параболического зеркала 3, проектируется в бесконечности. С помощью зеркал 5, б и призмы 7 параллельный пучок направляется на параболическое зеркало 8, в фокусе ко торого (на исследуемой поверхности) получается изображение штрихов растра. Отраженные от поверхности 10 лучи проектируются зеркалом 8 в бесконечность, С помощью призмы 12 и зеркал 13 и 14 параллельный пу чок вновь попадает на зеркало 3 и собираетсяв его фокусе, где расположен эталонный растр 1 б. В его плоскости получаются...

221376

Загрузка...

Номер патента: 221376

Опубликовано: 01.01.1968

МПК: G01B 11/30

Метки: 221376

...клапана 4, су. пх элементов 5, пружины б, крышки 7 блока объектива, ламп 8 накаливания, сферического зеркала 9, визирного окна 10, штатива 11, зеркала 12, конденсатора 13, зеркала 14 окуляра 2, линзы 15, измерительной сетки 1 б,винта 17 зажпмного кольца 18, направляющих уплотнптельчых колец 19, резиновой насадки 20, выреза 21 блока окуляра, резьбово 5 го соединения 22, соединительных муфт 23,измерительной шкалы 24.Работа устройства заключается вщсм,Блок ооъсктпва 1 соединяется с первой под 10 впжной штангой 3, которая вводится в паз 21блока окуляра 2. Одновременно включаетсяисточник света - лампа 8. Головка объектива вводится в исследуемую полость, а блококуляра 2 закрепляется на штативе 11.15 Луч света, попадая ца...

Прибор для контроля прямолинейности направляющих

Загрузка...

Номер патента: 231848

Опубликовано: 01.01.1968

Автор: Ладис

МПК: G01B 11/30, G02B 27/10

Метки: направляющих, прибор, прямолинейности

...микроскоп прямого отсчета, служащий для измерения величины смещения призм 24 и 25 с точностью 0,025 мм и состоящий из объектива 2 б с увеличением о=4",О, отклоняющего зеркала 27, окуляра 28 с видимым увеличением о=15", сетки 29 и шкалы 30, перемещающейся вместе с призмами 24 и 25. Вид поля зрения отсчетного микроскопа показан на фиг. 2, где изображены штрихи 31 сетки 29, штрихи 32 шкалы 30 и штрихи 33 шкалы, связанной с перемещением зеркала 17.Телескопическая трубка, узел системы зеркал П (или узел призмы Дове) и автоколлиматор 1 П с оптическим микрометром жестко связаны в один прибор,При контроле прямолинейности направляющих, уводов визирных осей зрительных трубили проверке центрировки объективов приборориентируется так, чтобы не было...

Способ определения суммарной площади активных структур пористой поверхности

Загрузка...

Номер патента: 236023

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Зубаков, Щербаковский

МПК: G01B 11/30

Метки: активных, площади, поверхности, пористой, структур, суммарной

...большого сечения, который освсщдет :)ичцтсльную часть его поверности 5) мощностью Фь Фо Обозцдчд 10 т моц 1 ность Все:; лУ- ец, ПсЛс 101 ЦИ:ф Нд:ССТЯ, СООТВЕТСТ 13 МЮИ:1 ПО- рдм, оошдя плоцтадь которых на снимке 5; Ф;, - мощность лучей, падаюши ид соотвстствующ:с раоочсй поверхности места, общая площадь которых на снимке - 5.Т. ( Р с 00 с 5( ( и КТИ Бис 15 ) ИЛИИ 3.1 э ИОР ИСТИ И 013 ГРКИОСТИ ССТЬ ДОЛ 1 ССИ:013(Р.НОГТИ, 33 - 5 ИС 5 ГЦ(5 От КОЭфНИСИТс 001 ЦС 10 И;)ОП( 01(с 1- и 51 Бес 1 НОГ)кнОсти и коэфинст 05 ипо(.Кс 35 Т 11 Г, С( С 5(.Т;(ЫК 11 ТСС.Т(в Г(ГИСЧИТ( НЯ,ОСТЯТОЧНО ООГИнИК ИЛОЦЯ 35 К 5 О КСКИЧССГ 50,Гт(гС 1 О;(ИИЯ(ОБЬЛ И ЗН 351 СООтнйисис Ь и сс 1:.сслсгусл 01 Нл 01 ц 3,и (Л сСНТЯ (.Н 1 ЛКс), .Г КО 13111 с,1 ТЬ Рс...

236024

Загрузка...

Номер патента: 236024

Опубликовано: 01.01.1969

МПК: G01B 11/30

Метки: 236024

...воспринимаемый фотоприемником 7, уменьшается вследствие рассеяния света ца дефекте, и часть рассеянного светя воспринимается фотоприсмнико. 8.Усилитегез 1 Г) сигнал рассогласования усиливается и поступает на реверсивный двигатсль 11, котор 111 псрсъе)цаст дВижок 1)со.01)- да 9 таким образом, чтоб)ь тот си ял свссги к пулю. ЗаявгСг) 05.Г,1967 (Лое 114 с ирисГ)сдиисиис) зяявк Л. При)рите) Известен прибор для контроля качества ио. верхости ио эффекту отракения и расееция контролируемой по)сркцос во направлено о свето 3010 потока со.сржягци Осветите,и, и два фотоприемника.ПрЕдВГВЕ 3 Ый ПрцбОр дЛя КОНтрОЛя КсСС)- ва поверхности отличается от известного тем. что, с гсльн) автоматчзагци прГПссса, ои сабжец иолупрозра гной...

Визуальный способ оценки шероховатости

Загрузка...

Номер патента: 238798

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Кайнер, Марков

МПК: G01B 11/30

Метки: визуальный, оценки, шероховатости

...картины оценивают класс чистоты поверхности.Способ осуществляется следующим образом.Плоскопараллельная стеклянная пластина накладывается на контролируемую поверхность, при этом образуется воздушный клин и наблюдается интерференционная картина, которая возникает только при наличии шероховатости, соответствующей 9 классу чистоты и выше.Это явление объясняется оптическими свойствами поверхности: при классе чистоты по. всрхности ниже 9 рассеивание отраженных интерферирующих лучей так велико, что визуально нельзя увидеть и оценить интерференционную картину на поверхности детали. При повышении класса чистоты поверхностиизменяется (уменьшается) рассеивание интерферпрующих лучей и в связи с этим заметно изменяется яркость...

Устройство для контроля прямолинейности поверхностей

Загрузка...

Номер патента: 239575

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Бурда, Вайнштейн, Гольман, Мезенцев

МПК: G01B 11/30

Метки: поверхностей, прямолинейности

...ог.ттчатощеесл тем, ощения коцструкц;ш и повыавтоколлимационцый прибор перед ним зеркало жестко пусом шагового мостика,о длу со и ша зер о схеидкоупрсти,цое Изобретение предназначено для контроляпрямолинейности и плоскостности поверхностен на машиностроительных и приборостроительных заводах.Известны устройства для контроля прямолинейности поверхностей, содержащие автоколлимационный прибор и шаговым мостик сустановленными иа нем зеркалами, входящими в ультраоптиметровую схему, одно из которых выполнено жидкостных (например. 10ртутным), а второе, качающееся, расположено перед автоколлиматором, установленнымца базовом основании,Предлагаемое устройство позволяет повысить точность измерений и упростить конструкцшо. Это достигается тем, что...

Оптический плоскомер

Загрузка...

Номер патента: 241023

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Братов, Левин

МПК: G01B 11/30

Метки: оптический, плоскомер

...труба г с отсчетным механизмом 4, установленная на поворотном устрон. стве с возможностью движения в.испуг верти кальной оси плоскомера, и разгрузочный ме ханизм 5 для поворотного устройства. Послед. нее выполнено с тремя сферическими опорами б, а основание плоскомера снабжено диском 7, верхняя плоскость которого контактирует с опорами поворотного устройства.Для измерения плоскомер устанавливают на исследуемую поверхность опорами 8. Плоскомер перед измерением настраивается нивеля ровкой диска с помощью винтовых механи:. мов 9 по трем визирным точкам 10 (см, фиг.2) устанавливаемым в трех точках измеряемои поверхности. Тем самым плоскость сравнения. образованная вращением оптической оси ви зирной трубы, выставляется параллельно и. -...

Оптический способ измерения прямолинейности зеркальной поверхности

Загрузка...

Номер патента: 248249

Опубликовано: 01.01.1969

Автор: Левин

МПК: G01B 11/30

Метки: зеркальной, оптический, поверхности, прямолинейности

...марки в отсчетный микро скоп, огличагогиггйся тем, что, с целью повышения точности измерения и предотвращения повреждения проверяемой поверхности, оптической системой последовательно проектируют изображение марки на проверяемую поверх- Оность, в промежуточное пространство и с двуПриоритетОпубликовано 10,И 1.1969 Известен оптический способ измерения прямолинейности зеркальной поверхности, при котором используют неподвижно установленную афокальную оборачивающую систему, движущуюся по направляющим измерительную каретку с установленными на ней маркой и отсчетным микроскопом и .оптическую систему для передачи изображения марки в отсчетный микроскоп.Особенностью предлагаемого оптического способа является то, что оптической системой...

Прибор для шагового контроля прямолинейности

Загрузка...

Номер патента: 249653

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Бурда, Гольман, Гринберг, Мезенцев

МПК: G01B 11/30

Метки: прибор, прямолинейности, шагового

...измерения,Для этого прибор снабжен сообщающимися емкостями, установленными на корпусе, и качающимся рычагом, шарнирно укрепленным на корпусе. На одном конце рычага подвешен поплавок, плавающий в одной из емкостей, и установлено зеркало, причем оно закреплено таким образом, что луч, исходящий из трубки оптиметра, многократно отразившись между ним и основным зеркалом, вновь попадает в поле зрения трубки оптиметра. На чертеже изображен обор в продольном разрезе.На корпусе 1 мостикадвижных регулируемых ш5 тельньги наконечник 3, пересвязано с колебанием плосна котором закреплено зеркна корпусе 1 мостика устащаюпгиеся емкости б, в10 имеется поплавок 7, подве8, снабженном зеркалом 9.перемещается вдоль корпусконце которого смонтирован11...

Способ определения чистоты обработки поверхности изделия

Загрузка...

Номер патента: 250465

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Власов, Зеликман, Исьс, Плтентко

МПК: G01B 11/30

Метки: изделия, поверхности, чистоты

...2, получая так называемый пучок 8 подсветки, и направляют на поверхность изделия 4. На пути излучения, отраженного от поверхности изделия, как зеркально - 5, так и диффузно - б, ставят фотопластинку 7. Чтобы записать на фотопластинку 7 голограмму изделия, на нее направляют луч 8 лазера, не взаимодействующий с изделием, так называемый опорный пучок. Затем получают голограмму изделия, производя фотообработку фотопластинки без смещения ее из первоначального положения,После этого освещают голограмму (фиг. 2 и 3) опорным пучком 8, в результате чего на поверхность изделия накладывают его действительное изображение, По закону обратного хода лучей излучение, отраженное от поверхности изделия, будет сфокусировано в той же точке, в которой был...

Способ очистки и количественной оценки качества поверхности металлических труб

Загрузка...

Номер патента: 256440

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Геллер, Захаров, Кочин, Кроль, Ленинградский, Маслеников, Сучков

МПК: B08B 9/023, G01B 11/30

Метки: качества, количественной, металлических, оценки, поверхности, труб

...ц0,58о Известен способ очистки и количественнои оценки качества поверхности металлических труб от ржавчины и окалины с помощью вращающегося вокруг трубопровода рабочего органа с рабочими инструментами,Цель изобретения - обеспечить объективную оценку качества очистки.Достигается это тем, что качество очистки оценивают по величине фототока, возникающего при отражении светового потока от очищаемой поверхно"ти, определяя содержание ржавчины и окалины на поверхности по фор- муле тде В - весовой показатель коррозии;- сила тока в измерительной цепи; К - коэффициент пропорциональности,зависящий от характеристик осветителя, датчика и стрелочного прибора,Изобретение поясняется чертежом.На исследуемую поверхность трубы 1 направляется луч света...

Способ измерения шероховатости поверхностиизделия

Загрузка...

Номер патента: 261708

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Татиев, Тигорска

МПК: B41C 3/08, G01B 11/30

Метки: поверхностиизделия, шероховатости

...направляется пучок света от источника света 2 под углом, близким 45. Отраженные от шероховатой поверхности лучи под углом, близким 45, попадают на фотоэлементы 3, фототок которых измеряется микроамперметром 4. Источник света установлен на стойке 5 с помощью скобы б и винта 7, а приемное устройство (фотоэлемент и микроамперметр) закреплено на стойке 8 с помощью скобы 9 и винта 10. Все устройство (оптическая система и приемное устройство) помещается в легкий разъемный 2корпус . 11. К основанию корпуса крепятся стойки 5, 8, там же имеется отверстие 12, а в верхней части этого корпуса - отверстие И для наблюдения за шкалой микроамперметра, 5 Чем больше шероховатость поверхности, тембольше рассеяние света и меньше освещен.ность фотоэлемента...

Устройство для контроля непрямолинейности и неплоскостности крупногабаритных деталей

Загрузка...

Номер патента: 266226

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Барштак, Бурда, Вайнштейн, Срибнер

МПК: G01B 11/26, G01B 11/30

Метки: крупногабаритных, неплоскостности, непрямолинейности

...представлена принципиальная схема тредлагаемого устройства.Оно содержит осветитель 1, каретку 2 с маркой 8, привод 4 каретки, отсчетный прибор-фотомикроскоп Б с измерительно-преоб разовательной системой Б, редуктор 7, кулачок 8, датчик 9, суммирующий блок 10 и ре. гистрирующий прибор 11.Корректирующий кулачокван так, чтобы устранить пог 0 мую рефракцией света и кривизной земли, т, е., например, вносит поправку по формулеС=6865 10-14 д 2,где С - отклонение, мм,Ы - расстояние, мм.Работает предлагаемое устройство следующим образом.При перемещении каретки 2 по контролируемой детали 12 при помощи привода 4 положение марки 3 в каждом положении каретки соответствует величине отклонения от прямолинейности профиля детали 12. Марка 3...

Интерферометр для контроля качества плоских оптических поверхностей

Загрузка...

Номер патента: 269527

Опубликовано: 01.01.1970

Автор: Контиевский

МПК: G01B 11/30, G01B 9/02

Метки: интерферометр, качества, оптических, плоских, поверхностей

...8 и 9, расположенных в фокальных плоскостях объективов 10 и 11, имеющих одипаковые фокусныс расстояния, свстоделительной пластины 12, зеркал 18 - 15, блока 1 б призм Дове, ромб 11 чсских призм 17 и 18,Световой поток от источника 1 монтического излучения через конденсор щает диафрагму 8. Параллельный п чей, выйдя из объектива 4 и отразив светоделительной пластины 5, падает н но на эталонную поверхность пробног б. Отраженные от поверхности стекла поверхности контролируемой детали интерферируя друг с другом, образую 10 ференционную картину, локализовавоздушном промежутке между поверх стекла б и детали 7. Интерференционная картина, представляю щая полосы равной толщины, наблюдаетсядвумя глазами через диафрагмы 8 и 9, Лучи направляются в...

Микроскоп для контроля качества обработки

Загрузка...

Номер патента: 271818

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Зверев, Кучин

МПК: G01B 11/30, G01B 9/04

Метки: качества, микроскоп

...систему б.В последнюю введено светоделительное устройство б, разделяющее ее на две ветви 7 и 8, в одну из которых в плоскость изображения 5 исходного растра помещен растр сравнения 9,штрихи которого совпадают по фазе с изображением штрихов исходного растра в этой плоскости, а шаги обоих растров равны.Микроскоп работает следующим образом.0 Оптической системой 3 на поверхности 4создается изображение штрихов исходного растра, причем штрихи проектируются на эту поверхность под некоторым углом. В случае отсутствия на поверхности 4 неровностей, 5 штрихи, отразившись от нее без искажения,изображаются в плоскостях а - а и б - б обеих ветвей системы 5.Вследствие равенства шагов исходного растра и растра сравнения, а также...

Оптический прибор для контроля поверхностныхдефектов

Загрузка...

Номер патента: 274369

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Комаров, Черлюнчакевич

МПК: G01B 11/30

Метки: оптический, поверхностныхдефектов, прибор

...к оптической оси зрительной трубы, - с передаточным отношением 1:2. Это расширяет технологические возможности прибора.На чертеже изображена принципиальная схема описываемого прибора.Прибор содержит источник 1 света, освещающий контролируемую поверхность 2, зрительную трубу 8 и зеркало 4, направляющее световой пучок в зрительную трубу 8, Зеркало и источник света кинематически связаны между собой и выполнены поворотными относительно оптической оси зрительной трубы с одинаковой скоростью, а относительно оси, перпендикулярной к оптической оси зритель 2 ной трубы, - с передаточным отношени При контроле источник 1 света о контролируемый участок поверхности делах от 2 в 1 в меридиальном сечен 5 рической поверхности. Отраженный света падает...

Устройство для контроля непрямолинейности и ненлоскостности поверхности

Загрузка...

Номер патента: 274381

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Барштак, Бурда, Вайнштейн, Гольман, Инструментов, Мезенцев, Срибнер, Украинский

МПК: G01B 11/30

Метки: ненлоскостности, непрямолинейности, поверхности

...под углом, уже н кривизны зеркала. руются коллиматор Пре изобретения исываем Известно устройство для контроля непрямо- линейности и неплоскостности поверхности, содержащее источник света, отсчетный прибор, например коллиматор, перемещаемую по контролируемой повепхности каретку с изме пительным щупом, Один конец щ па находится в постояттном контакте с контролируемой поверхностью, а другой конец имеет зеркало для отражения световых лучей от источника света к отсчетному прибору. 10Предлагаемое устройство отличается тем, что зеркало выполнено цилиндрическим. Это уппощает процесс измерения.На чертеже изображена схема опого устройства. 15Оно содержит источник 1 света, отсчетный прибор, например коллиматор 2, перемещаемую по контролируемой...

Всгооюзная iизобретения э. о. веретынский, р. в. волков, ю. н. иванов ив. а. матвиенф-т-; п •; ууи: -г inq

Загрузка...

Номер патента: 278136

Опубликовано: 01.01.1970

МПК: G01B 11/30

Метки: iизобретения, веретынский, волков, всгооюзная, ив, иванов, матвиенф-т, ууи

...перпендикулярной оси автоколлиматора.На чертеже схематично изображено описываемое устройство в процессе контроля.Устройство содержит зеркало 1, автоколлиматор 2, шаговую линейку 3 и мостик 4. Последний выполнен поворотным ца 180 в плоскости, перпендикулярной оси автоколлиматора.Устройство работает следующим образом.На контролируемую поверхность фундаментной рамы 5 судового дизеля устанавливают шаговую линейку 3 с закрепленным ца ней автоколлиматором. На другую контролируемую поверхность базируют мостик 4 с расположеццым ца цем плоским зеркалом 1 пе 1)пец.дикулярцо оптической оси автоколлиматора.В процессе контроля автоколлиматор наводится на зеркало и отраженный луч фиксиру ется в определенном месте на шкале автоколлиматора....

Автомат для контроля качества поверхности

Загрузка...

Номер патента: 295020

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Андреев, Антонов, Рожков, Якимов

МПК: G01B 11/30

Метки: автомат, качества, поверхности

...разверт кц, выполненную в виде генератора 2, усилителя 3 ц вибратора 4; синхронизатор 5, блок б мсацдра для формирования црямохгольцого импульса, синхронного с началом развертки: схему 7 совпадения, пересчетцую схему 8, блок 9 сброса пересчетной схемы ц разбраковочный х зел.Генератор 2 вырабатывает напряжение низкой частоты, которое через усилитель 3 подается ца вибратор 4 развертки сканирующего луча п на синхронизатор 5. Вибратор 4 обеспечивает развертку луча осветителя, Вьходное напряжение синхронизатора 5 поступает ца вход блока 6 меандра, формирующего црямоугольцый импульс, длительность которого 25 равна длительности одного хода луча, а фронтсовпадает с началом хода луча, Импульс с блока б меандра подается ца схему 7 совпадения и...

Траектограф

Загрузка...

Номер патента: 295021

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Елецкий, Коневцов

МПК: G01B 11/30

Метки: траектограф

...шкив 720 и зубчато-реечной передачи (шестерця 8 ирейка 9).Като 10 переда 111 размец 1 ет(т и вилштока 11 ц жестко связан с осью 12. Это колесо прц движении трактора катится по базо 25 вой доске, уложенной на поверхности поля,ц прижимается и доске пружиной 13. Длт надежности зацепления зубчато-реечной пс 1 тсдачи барабан прижимается рейкой и шестернепружицо 14,30 Барабан опцрается15 и свободно воашае5 10 15 20 25 30 в верхней части соединен с сердечником индуктивного датчика через вставку 1 б и перемещается вертикально во втулках 17. Катушка индуктивного датчика с опорной втулкой может менять свое положение относительно сердечника, что необходимо для балансировки схемы датчика,Индуктивный датчик при помощи кронштейна 18 и шарикового...