G01B 11/30 — для измерения шероховатости или неровностей поверхностей

Страница 11

Способ определения параметров шероховатости поверхности изделия

Загрузка...

Номер патента: 1504505

Опубликовано: 30.08.1989

Автор: Смирнов

МПК: G01B 11/30

Метки: изделия, параметров, поверхности, шероховатости

...1)/1 и К = 1/1 не зависит от 35 огда световой поток параллельного моно- вета, проходит межкала 2, поверхность рез отверстие 7 в аправлении нормали ю фотодатчиков 11, ся интенсивности соответственно Т1 1 +Т,. Вто товой поток перекрыт ремя ника от ис оматическог ду лопастями зе 13 освещается ч рефлекторе 5 в к ней и с помощ 10 и 12 измеряю световых то время, к лопастью освещает огда све зеркала ся от зе 8 в рефл 2,ркалекто верхност 4 через 5 под у мощью фо ом верстие 6 к ее с п ормяли лельного монохроматического пучкасвета и зеркала 4, к поверхности 13при освещении этой поверхности соответственно в направлении нормалик ней и под острым углом Ц, к этойнормали. Отверстия 6 и 9 предназначены для пропускания к фотодатчикам...

Устройство для контроля шероховатости поверхности

Загрузка...

Номер патента: 1506271

Опубликовано: 07.09.1989

Авторы: Гольдберг, Дорохин, Клиентов, Поклад, Чернокнижный, Шестов

МПК: G01B 11/30

Метки: поверхности, шероховатости

...мник для регистрации э енного излучения устан оянии от линзы, равном заднегЬ фокусного расс оприемник для регистра отраженного излучения по отношению к источник ство содержит источник 1 из" расположенный в переднем фоуто-выпуклой коллимирующей нанесенным на вогнутую по"1светоделительным покрытием, ский отражатель 3, осесимоптической оси коллимирую-2, фотоприемник 4 для реэеркально отраженноГо изасположенный на оптической ирующей линзы 2 на расстояравном половине ее задного расстояния, фотоприемрегистрации диффуэно отралучения расположенкый наоси коллимирующей линзы 2271 Сигналы с фотоприемников 4 - 6 поступают в блок 7 обработки сигна-, лов и результат выдается на отсчетный узел (ие показано). УрЫмм МюсюсФФ Составитель...

Устройство для измерения неравномерности просвета бумаги

Загрузка...

Номер патента: 1511592

Опубликовано: 30.09.1989

Авторы: Белавин, Гущин, Сидоров

МПК: G01B 11/30

Метки: бумаги, неравномерности, просвета

...последовательно расположенные почходу излучения от осветителя 1 объектив 2, диафрагму 3; фотодетектор 4,блок 5 обработки информации, светопоглощающий экран 6, расположенныйв задней фокальной плоскости объектина 2 или перед объективом (размерэкрана 6 соизмерим с размером освет,.ителя 2), и образец 7. 4через участок образца 7, меняется в соответствии с колебаниями массы участка образца 7. Прошедшее через сквозные поры образца 7 без рассеяния излучение поглощается экраном 6. Переменный фотоэлектрический сигнал с фотодетектора 4 подвергается обработке в блоке 5, где осуществляется разделение сигнала на составляющие - постоянную и пульсационную. Затем про-" изводится подсчет коэффициента вариации, характеризующего качество бумаги. Формула...

Прибор для контроля шероховатости поверхности

Загрузка...

Номер патента: 1511593

Опубликовано: 30.09.1989

Авторы: Мельник, Михеенко, Сорокина

МПК: G01B 11/30

Метки: поверхности, прибор, шероховатости

...5.Линза 1 может быть плосковыпуклой,двояковыпуклой, либо положительныммениском. В качестве источника 3 излучения может использоваться миниатюрная лампа накаливания, но лучшиерезультаты дает светодиод с узкой индикатрисой излучения, Регистратором4 может быть фотоприемник, позволяющий регистрировать и оценивать величи 45ну отраженной от контролируемой поверхности .5 рассеянной составляющейлучистого потока, либо обычный микроскоп, если целесообразно определениевеличины шероховатости по геометри 50ческим характеристикам визуально наблюдаемых микродефектов контролируемой поверхности 5,Для обеспечения минимальных потерьэнергии и максимального контрастаизображения контролируемую поверхность 5 целесообразно расположить вовтором Фокусе...

Устройство для контроля оптических асферических поверхностей

Загрузка...

Номер патента: 1516767

Опубликовано: 23.10.1989

Авторы: Голуб, Казанский, Сисакян, Сойфер

МПК: G01B 11/30, G01B 9/02

Метки: асферических, оптических, поверхностей

...- координаты, определяемыэ уравнений 9 щ х - 1- Г(х,у Г(х,у3 -1 - к(х,у)Д д- ГСх,у)а 7671 Осадочное место для контролируемой поверхности и блок регистрации, о тл и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью повышения точности при контроле ; набора внеосевых сегментов оптическойасферической поверхности, оно снабжено кассетой, узлом смены внеосевыхсегментов и блоком согласования,электрически связанным с кассетой ис узлом смены внеосевых сегментов, аширокоапертурный компенсационный оптический элемент выполнен в виде набора малоапертурных плоских Фазовых оптических элементов, установленных в кассете так, что в процессе контроля каждый элемент расположен на одной оптической оси с посадочным местом.2. Устройство по и,1, о т л и ч аю щ е е с я тем,...

Устройство для контроля шероховатости поверхности

Загрузка...

Номер патента: 1518670

Опубликовано: 30.10.1989

Авторы: Лазаренко, Мельник, Михеенко, Саботюк

МПК: G01B 11/30

Метки: поверхности, шероховатости

...к приборам, предназначенным для исследования и контроля шероховатости поверхности по методу темного поля.Цель изобретения - улучшение габаритон устройства за счет исключения иэ конструкции светонода большой длины и диафрагм (зоц нечувствительности).На фиг, показана принципиальная схема устройства; на фиг.2 и 3 - ход лучей в покрытии при выделении рассеянной составляющей отраженного от контролируемой поверасности потока излучения,Устройство состоит цз монохроматического точечного источника 1 излучения, установленного н отверстии чувствительной площадки фотоприемника 2, подключенного к регистратору 3. Иа чувствительную площадку нанесено интерференционное покрытие 4 переменной толщины, определяемой по формуле Если в точке, уддлеццой...

Способ контроля шероховатости поверхности

Загрузка...

Номер патента: 1518671

Опубликовано: 30.10.1989

Авторы: Ведин, Коломиец, Митрофанов, Тимаков, Титов

МПК: G01B 11/30

Метки: поверхности, шероховатости

...технике и может быть использовано для контроля шероховатостиповерхности.Цель изобретения - расширение информативности способа эа счет определения кроме шероховатости еще инеплоскостности поверхцостй,На чертеже представлена схема устройства для осуществления способа.Устройство содержит источникэлектромагнитного излучения, прерыватель 2, рассеиватель 3, два объектива 4 и 5, диафрагму б, фотоприемник 7 и измеритель Ь.Способ осуществляется следующимобразом.Излучение от источникапроходитчерез прерыватель 2, где иэ непрерывного преобразуется в последовательность фотоимпульсов. Рассеиватель 3увеличивает площадь воздействия излучения. Затем излучение коллимируется объективом 4 и проходит через диаАрагму 6, где излучение разделяетсяна отдельные...

Прибор для контроля шероховатости поверхности

Загрузка...

Номер патента: 1522033

Опубликовано: 15.11.1989

Авторы: Зотова, Мельник, Михеенко

МПК: G01B 11/30

Метки: поверхности, прибор, шероховатости

...технике и может быть использовано, в частности, для контроля шероховатости поверхности 5Цель изобретения - расширение области применения путем измерения как зеркальной, так и рассеянной компонент потока, что позволяет использо" вать прибор для измерения широкого 10 класса поверхностей шероховатостью от 0,05,до 20 мкм независимо от изменения отражательной способности поверхности.15На чертеже изображена принципиаль- ная схема прибора для контроля шероховатости поверхности.1 Прибор содержит последовательно расположенные на оптической оси линзу 1 большего светового диаметра, конический отражатель 2 с регулятором 3 на основании корпуса, положительную линзу 4 меньшего светового диаметра, источник 5 излучения и ре 25 гистратор 6...

Устройство для контроля шероховатости поверхности отверстий

Загрузка...

Номер патента: 1527491

Опубликовано: 07.12.1989

Авторы: Абульханов, Ачкасова, Баландин, Митряев

МПК: G01B 11/30

Метки: отверстий, поверхности, шероховатости

...Вращение нзпрднлянпцей трубь 3 кушссг В)ястя до тех пцр, покс 1 рыча 1 нс кос цстся дрх03 грх ппы кон гдктов 11, что с нц Нс 1 ПРИ ВОДИТ К СЧС 13 ПЦГ 51 РНЦСТИ и ИТД НИ ),1 ктро.(ниг;с,я ) Т;(кич 06 рд:оу, напрдвлян)щая труба 3 вместе со све)ододом 4 совершает возвратно-п(к гу пате, ьнос движение. ( Вободная укладка световода 4 в направляющую трубу 3 познолясг увеличить ресурс работы световода 4, р;6 огдющего нд скручивание при во:врди.:-нрдцд)ельнцм .(вижении направляюпсей трубы 311 с.(. Вклнчения (,п)кд 17 пианис6 ы 3 нанравлякт в контро.;р)ечое цтверс тие детали 1 не показано) и спускают до тех пор, пока центрирсн)цис треугольники 5 нс соприкоснутся с 1р н; 13 .,.1 т)иГ 1 ипх с мого отверстия, вы(п,нсннн) в (нлиндри че( кой детали, кь...

Рефлектометрический способ измерения средней высоты микронеровностей шероховатой поверхности

Загрузка...

Номер патента: 1529039

Опубликовано: 15.12.1989

Авторы: Лисицын, Надежкин, Фокин

МПК: G01B 11/30

Метки: высоты, микронеровностей, поверхности, рефлектометрический, средней, шероховатой

...отношения.Способ осуществляют следующим образом,Зондирующее излучение лазера 1 направляют через светоделительную пластинку 2 на исследуемую поверхностьдетали 9. Деталь 9 помещают в центркривизны сферического отражающегозеркала 3 и сообщают им гармоническиеколебания с помощью механизма 4 вокруг оси, проходящей через точку Озондирования и перпендикулярной плоскости падения излучения. Ось, проходящая через точку О и перпендикулярная плоскости падения излучения, составляет прямой угол с осью 02. Уголд падения излучения на исследуемуюповерхность изменяется, что вызываетмодуляцию интенсивности зеркальнойсоставляющей излучения, отраженногоот исследуемой поверхности. Зеркало3 возвращает отраженный от исследуемой поверхности детали 9 в зеркальном...

Эллипсометрический способ контроля качества полирования образца

Загрузка...

Номер патента: 1536199

Опубликовано: 15.01.1990

Авторы: Маслов, Мельник

МПК: G01B 11/30

Метки: качества, образца, полирования, эллипсометрический

...при одинаковой ориентации образца и эталона относительно внешнегомагнитного поля.При наложении внешнего магнитного поля на образец цз феррита изменяется состояние поляризации страженного от поверхности образ 1 а из ферритапервоначальн.и 1 нсй 1.-поляризованного света вследствие влияния намагниченности. Это извест ия. эффект Керра, падающий под углом лииейио в исляризованньп свет ирис бретиет после отражения ст поверхисстц Феррцта эллиити1536199 ле, и в поверхностном слое частицы Составитель Л. Лобзова Техред М,Ходанич Корректор 11.Мпксимишинец Редактор Н, Горват Заказ 100 Тираж 482 1 тодписносВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при 13.ПТ СССР113035, Москва, Ж, Раушская наб д. 4/5 1 11Производственно-издательский...

Устройство для контроля внутренних поверхностей

Загрузка...

Номер патента: 1536200

Опубликовано: 15.01.1990

Авторы: Абульханов, Богатов, Семенов

МПК: G01B 11/30

Метки: внутренних, поверхностей

...области применения и упрощение Конструкции. 15Иа чертеже показана схема устройства для контроля внутренних поверхостей.Устройство содержит корпус., выполенный В виде втулки 1 с диаметрально 20 закрепленными на нем кронштейнами 2 и 3 с отверстиями, установленную в корусе 1 с возможностью осевого и враательного движений ц.шилд" в =.ы рубу 4 с сланцем 5, коаксиально закрепленный в трубе 4 световод 6 и механизм управления световодом 6, выпал.генный в виде закрепленного на трубе 4 кронштейна 7 с опорным наконечником 8, пружины 9 и тросика 10. 30Устройство работает следующим образом.При использовании в стоматологии вставляют средний и указательный паль" цы руки в отверстия кронштейнов 2 и 35 3, а бопьшой палец руки размещают на опбрном...

Способ определения шероховатости поверхности

Загрузка...

Номер патента: 1538045

Опубликовано: 23.01.1990

Авторы: Валетов, Листовец, Москвин, Слякоткин

МПК: G01B 11/30

Метки: поверхности, шероховатости

...поверхности 9 зеркало 8, про, изводят калибровку сигналов измери" тельного тракта, соответствующего рассеянию нормали, по величине опорного сигнала, за который принимают сигнал, получаемый при измерении интенсивности света, первично отраженного от светоделителя 3, Фотоприемни" ком 7. При этом добиваются равенства величин этих сигналов (например вво 40 дя компенсатор 6 перед фотоприемником 7)Полученные при рассеянии от исследуемой шероховатой поверхности 9 сигналы измерительной информации (нормированные по величине сигнала, сост 45 ветствующего рассеянию по нормали) в виде зависимостей интенсивности рассеянного света 1от долготы г (например, табличных или графических) при разных 8 исследуют наличие экстремумов (например, вручную или...

Способ измерения шероховатости поверхности

Загрузка...

Номер патента: 1538046

Опубликовано: 23.01.1990

Авторы: Кузнецова, Логинова, Солодкин

МПК: G01B 11/30

Метки: поверхности, шероховатости

...с центром полярной си" стемы координат О. Распределение интенсивности отраженного поверхностью светового потока регистрируют в плоскости входного сечения жгута 4 и выделяют максимум в картине распределения интенсивности. Его полярные координаты (т, 4) связаны с координатами соответствующего приемного ОЪ световода. АВ (фиг.2) показывает ход . луча, передающего отраженный свет максимальной интенсивности. На фиг.2 Н - расстояние от поверхности до входного сечения волоконно-оптического жгута 4. Угол наклона микроуцастка сределяют по Формуле10 25 Угол поворота микроучастка относи"тельно падающего пучка (Фиг.2) нахо"дят через полярный угол ц: 8Таким образом, производится измерение всего диапазона углов поворота5О.с 9 с 27, а диапазон...

Способ измерения шероховатости поверхности

Загрузка...

Номер патента: 1538047

Опубликовано: 23.01.1990

Авторы: Остафьев, Сахно, Тымчик

МПК: G01B 11/30

Метки: поверхности, шероховатости

...относится к измерительной технике, в частности к опти" ческим методам измерения шероховатой поверхности, и может быть использовано для измерения шероховатости поверхности при металлообработке.Цель изобретения - расширение инФормативности и повышение точности измерения за счет возможности измерения шероховатости не только сверх" гладких поверхностей, но и в,случае ЯО 1538047 А 1 шероховатой поверхности за счет опре"деления отношения коэффициентов ослабления зеркальной составляющейконтролируемой и эталонной поверхностей, соответственно методом, обес"печивающим минимальные погрешности,вносимые, диффузной составляющей,а также исключения влияния оптичес"ких свойств материала на результатыизмерений путем выравнивания полныхинтенсивностей...

Способ оценки качества образцов шероховатости поверхности отливок

Загрузка...

Номер патента: 1539523

Опубликовано: 30.01.1990

Автор: Чукалин

МПК: G01B 11/30

Метки: качества, образцов, отливок, оценки, поверхности, шероховатости

...для образцов шероховатости, одну из которЫх обрабатывают дробью в режимах, соответствующих режимам, указанным на1539523 документов и на возможность их применения для оценки качества поверхности отливок после их обработкидробью. Составитель М.МининТехред Л,Олийнык Корректор М,Шароши Редактор А.Огар Заказ 207 Тираж 480 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г.ужгород, ул. Гагарина,101 временно судят о достоверности режима, примененного для получения контролируемого образца шероховатости. Для уменьшения количесТва эталонных образцов в комплекте и упрощения способа в качестве первого эталонного образца...

Лазерный створный измеритель

Загрузка...

Номер патента: 1543225

Опубликовано: 15.02.1990

Авторы: Бублик, Клюшин, Тарасов

МПК: G01B 11/30

Метки: измеритель, лазерный, створный

...регистрирующего устройства 11; фи Ъ - длины волн излучения лазеров 2 и 3; 1%1и 19- ширина интерференционных полос, получаемых в результатеинтерференции дифрагирующихпучков с длинами волн 9, и 9Измеритель работает следующим образом.,Излучения от лазеров 2 и 3 поступают в телескопические расширители 4и 5, а затем проходят поляризаторы 6и 7, на выходе которых образуютсямонохроматические лазерные пучки,линейно поляризованные во взаимноперпендикулярных плоскостях. С помощью светоделителя 8 световые пучкисовмещаются и попадают на двущелевую диафрагму 9, Лазерный пучокс длиной Ъ волны проходит анализатор 10 без ослабления и дифрагируетна двущелевой диафрагме 9. Для другого пучка с длиной Ъ волны излучения, плоскость преимущественных...

Устройство для контроля качества поверхности сквозных каналов

Загрузка...

Номер патента: 1551994

Опубликовано: 23.03.1990

Авторы: Буряк, Горкун, Комарова, Маслов, Остафьев

МПК: G01B 11/30

Метки: каналов, качества, поверхности, сквозных

...света,Иа чертеже изображена принципиальная схема устройства для контроля "качества поверхности сквозных каналов.Устройство содержит осветитель 1,выходную головку 2 с кольцевой диаф;рагмой 3, входную головку 4 с кольцевой диафрагмой 5, собирающую линзу6 с центральным отверстием, фотоприемники 7 и 8, причем фотоприемник 7 установлен в центральном отверстии собирающей линзы 6, а Фотоприем:ник 8 - в заднем Фокусе линзы 6. Вы,ходная головка 2 соединена с входной 4 с возможностью перемещенияотносительно друг друга. Это осуществляется при помощи резьбового соединения двух винтов 9 и гайки 10. Осветитель 1 представляет собой лампочку накаливания и рассеивающую линзу.Осветитель 1 и выходная головка2 с кольцевой диафрагмой 3 выполненыв одном...

Устройство для контроля шероховатости поверхности

Загрузка...

Номер патента: 1551995

Опубликовано: 23.03.1990

Авторы: Артемьев, Борисенко, Гавриков, Одинцов

МПК: G01B 11/30

Метки: поверхности, шероховатости

...плоскости сопряжения световодов 4 и 5 и максимум индикатриссы отраженного от контролируемой поверхности 11 излучения, и нижней 10 - неподвижной относительно контролируемой поверхности 11 и выполненной с профилем опорной поверхности, обратным профилю контроли 50 руемой поверхности 11.При использовании диффузного отражения верхняя часть.9 поворотной го" ловки 6 вращается вокруг оси симметрии световода 4 (фиг. 3), которыйа установлен под углом падения 6: 0к контролируемой поверхности 11.Верхняя часть 9 выполнена из жесткого материала (например, дюралюминия) и предназначена для фиксации наконечников световодов 4 и 5 и поворота ихплоскости сопряжения, Нижняя часть10 выполнена из эластичного материала(например, резины) для того,...

Способ измерения шероховатости поверхности изделия

Загрузка...

Номер патента: 1562692

Опубликовано: 07.05.1990

Авторы: Остафьев, Сахно, Тымчик

МПК: G01B 11/30

Метки: изделия, поверхности, шероховатости

...при помощи приемника 5 изображения, выходной видеосигнал которого подают нааналоговый вход аналого-цифрового преобразователя бр Цифровые коды со 50 ответствующие значенияминтенсивности на фотоэлементах приемника 5 изображения с цифрового выхода аналого-цифрового преобразователя 6, передают через блок 7 ввода цифровых сигналов 35 в оперативное запоминающее устройство микропроцессора 8, где формируют массив чисел и выполняют программнуюцифровую обработку этого массива. Обработка заключается в том, что значения массива нормируют на величину полной интенсивности, равную сумме всех значений элементов массива, и определяют дисперсию Б, углового распределения интенсивности дифракционного спектра освещающего пучка. Затем с,помощью источника 1...

Оптическая линейка для контроля отклонения от прямолинейности

Загрузка...

Номер патента: 1562693

Опубликовано: 07.05.1990

Автор: Шиляев

МПК: G01B 11/30

Метки: линейка, оптическая, отклонения, прямолинейности

...призмы 14,уголкового отражателя 8 и угла, образованного призмами 15 и 16, находятся на одной оси, а расстояние Н и Нмежду отражающими поверхностями пэизм15 и 16 и уголкового отражателя 8 равны. Коллимированный световой пучокот источника 4 освещает марку 5 и поступает на полупрозрачный участок 11уголкового отражателя 8, где он делится .на два пучка, первый из которыхпретерпевает многократное отражениемежду отражающими поверхностями призмы 14 и уголкового отражателя 8, авторой между отражающими поверхностями призм 15 и 16 и отражателя 8. Припопадании на полупрозрачный участок12 часть первого светового пучка отразится на дополнительный отражатель17 и, пройдя через проекционный объектив, изображение марки сФормулируется на экране 18, а...

Устройство для контроля качества цилиндрической поверхности

Загрузка...

Номер патента: 1562694

Опубликовано: 07.05.1990

Авторы: Бирман, Гроссман, Седельников

МПК: G01B 11/30

Метки: качества, поверхности, цилиндрической

...поверхности. На противопо,ложной грани делительного кубика 3 поОтношению к входным торцам световодов4 размещен приемник 5 излучения, соединенный с блоком 6 обработки информации.На направляющих роликах 7 размещенаКонтролируемая деталь 8 таким образом,что ось совпадает с осью многограннойПризмы, образуемой выходными торцамицветоводов 4,Устройство работает следующим обРазом.От источника 1 света лучи прохо.дят через Фокусирующую линзу 2 и параллельным пучком попадают на кубик3. Часть светового потока (50/), отраженного от кубика 3, попадает всветоводы 4. Через выходные торцысветоводов 4 лучи падают на контролируемую поверхность детали 8 и, отразившись от нее, возвращаются всветоводы 4. Определенная часть от Формула изобретения...

Устройство для контроля качества цилиндрической поверхности

Загрузка...

Номер патента: 1562695

Опубликовано: 07.05.1990

Авторы: Бирман, Гроссман, Седельников

МПК: G01B 11/30

Метки: качества, поверхности, цилиндрической

...излучение, приемник 5 излучения, блок б обработки информации. На направляющих роликах 7 размещена контролируемая деталь 8.Световоды 4 и 3 выполнены из боль шого числа отдельных волокон. Выходные торцы волокон световода 3, подводящего излучение, образуют почти цилиндрическую поверхность, расположенную концентрично контролируемой по верхности детали 8. Входные торцы световода 3, подводящего излучения, расположены на плоскости за фокусирующей линзой 2.Входные торцы волокон световодов 4, отводящих излучение, образуют конусные поверхности, размещенные по обеим сторонам световода 3 так, что нормали к поверхностям проходят через освещенный участок контролируемой по верхности детали 8. Выходные торцы волокон световодов 4, отводящих излучение,...

Способ определения распределения крутизны микронеровностей шероховатых поверхностей

Загрузка...

Номер патента: 1562696

Опубликовано: 07.05.1990

Авторы: Стринадко, Ушенко

МПК: G01B 11/30

Метки: крутизны, микронеровностей, поверхностей, распределения, шероховатых

...через анализатор 13 и магнитооптическую ячейку 14.Размер полевой диафрагмы 12 выбирают порядка 1/10 части размера зоны корреляции. С помощью анализатора 13 и магнитооптической ячейки 14 определяется ситуация, когда колебания светового поля в нулевой полосе интерФеренционной картины оказываются строго линейно поляризованными. При этом измеряется величина прилагаемого в этот момент времени напряжения к электрооптическому кристаллу 9, а также азимут попяризации световых колебаний и интенсивность в нулевой полосе интерференционной картины.Далее, путем сканирования полученного когерентного изображения шероховатой поверхности выделяется новая зона корреляции, и, таким образом, определяется массив значений напря- - , жений Ц,...

Устройство для контроля качества цилиндрической поверхности

Загрузка...

Номер патента: 1562697

Опубликовано: 07.05.1990

Авторы: Бирман, Гроссман, Седельников

МПК: G01B 11/30

Метки: качества, поверхности, цилиндрической

...деталь 8, напримерпровод с эмалевой изоляцией. Световоды 3 и 4 выполнены из отдельных вопокон, одни из торцов которых расположены по сторонам правильного многоугольника так, что оси их совпадаютс осями симметрии многоугольника. 25Число волокон выбрано большим, такчто торцы образуют почти цилиндрическую поверхность, ось которой совпадает с осью контролируемой детали 8,Вторые торцы нечетных волокон свето"вода 3 собраны в одной плоскости иразмещены за фокусирующей линзой 2,т,е. нечетные волокна образуют световод 3, подводящий излучение. Вторыеторцы четных волокон световода 4 сое" Здинены с приемником 5 излучения, т,е.четные волокна образуют световод 4отводящий излучение,Устройство работает следующим образом. 40 Световые лучи,...

Оптическая линейка

Загрузка...

Номер патента: 1566210

Опубликовано: 23.05.1990

Авторы: Александрова, Левин, Леонтьева, Серегин, Цыренов

МПК: G01B 11/30

Метки: линейка, оптическая

...отслеживают положениеизображений меток 13 при перемещениикаретка 4 вдоль оси О О афокальнойсистемы, устанавливая направляющие7 и 8 дпя перемещения каретки 4 симметрично осп О Оь,Оптическая линейка работает следующим образом,1Оптическая линейка является самоповеряющейся, т,е, появляется воэможность определения погрешности исходной прямой, 2 ля этого конструкция кор-пуса 1 позволяет устанавливать его в двух положениях, отличающихая поворотом на 180 ф относительно оси афокапьной системы. В одном случае корпус 1 линейки устанавливают на опоры 10 и 11 опорными поверхностями 9, а в другой - опорными поверхностями 2, В обоих положениях корпуса 1 оптической линейкой производят измерение непрямо- линейности в одних и тех же точках поверхности,...

Лазерный интерференционный створофиксатор

Загрузка...

Номер патента: 1567881

Опубликовано: 30.05.1990

Автор: Украинко

МПК: G01B 11/30

Метки: интерференционный, лазерный, створофиксатор

...например карбопласта.В качестве регистратора лазерного луча используют, например, разрезной Фо"топриемник, линия разреза которогоявляется отсчетным индексом 12. Длина базисной рейки определяется в лабораторных условиях путем компарирования ее, например, на измерительной машине ИЗМс точностью 0,005 мм. Лазерный створоуказатель 3, зонную марку 4, регистр атор 11 лаэ ерного луча иФотоприемник 5 с регистрирующим блоком предварительно согласовывают повысоте,Устройство работает следующим образом,Лазерным створоуказателем 3, включающим лазер 1 и коллиматор 2 зоннуюЭмарку 4 и, фотоприемник 5 с регистри-,рующим блоком задают опорную линию ввиде лазерного луча, проходящего через опорные точки А и В, В контролируемую точку С устанавливают...

Способ определения функции распределения высот и углов наклона шероховатой поверхности

Загрузка...

Номер патента: 1567882

Опубликовано: 30.05.1990

Авторы: Ермоленко, Ушенко

МПК: G01B 11/30

Метки: высот, наклона, поверхности, распределения, углов, функции, шероховатой

...объективов и диафрагмы между ними, служит для расширения пучка и формирования волны с плоским волновым фронтом. Пластинка 3 ориентируется таким образом, что ось наибольшей скоростиосоставляет угол 45 с ппоскостью поляризации лазерного пучка, что позволяет получить циркулярную поляризацию освещающего пучка Поляризатор 4 за-20 дает плоскость колебаний световой воло оны под углом 0(ЭС(90 к плоскости падения, Цилиндрический объектив 5 формирует волну со сходящимся на поверхности объекта 13 цилиндричесслм вол новым фронтом, Объект 13 осуществляет поляриэационно-фазовую модуляцию лазерного пучка. Объектив 6 проектирует изображение профиля исследуемой шероховатой поверхности объекта 13 сквозь поляризатор 7 в плоскость полевой диафрагмы эа...

Устройство для контроля прямолинейности

Загрузка...

Номер патента: 1567883

Опубликовано: 30.05.1990

Автор: Писарев

МПК: G01B 11/30

Метки: прямолинейности

...3, р асположенное в фокальной плоскости линзы 6 в точке А(фиг,2), Линза 6 формирует расходящийсяпучок, подаяций на триэдр 7, после прохождения которого пучок возвращают в объектив 5, С помощью объ ектив а 5 и положительной линзы 8 на сетке 9 строятизображение пучка (точка А", находящаяся на расстоянии 57 от плоскости00 (эквивалентного отражения триэдра 457),Пространственное положение изображения марки-диафрагмы 3 (точка А )оценивают с помощью окуляра 10, Изобпражение марки-диафрагмы 3 (точка А )является оптически связанным с точкойАц, положение которой относительно оптической оси зрительной трубы определяется положением триэдра 7 относительно этой же оси,55Триэдр строит мнимое изображениеточки, из которой напр авлен р асходящийся...

Устройство для измерения шероховатости

Загрузка...

Номер патента: 1569532

Опубликовано: 07.06.1990

Авторы: Глазов, Сопов, Тараторкин

МПК: G01B 11/30

Метки: шероховатости

...относительно контролируемого объекта 12 так, что одно из перемещений параллельно поверхности контролируемого объекта 12, а второе - перпендикулярно поверхности контролируемого объекта 12. Перед началом измерения устройство перемещают перпендикулярно поверхности контролируемого объекта в положение, при котором при среднем положении прозрачной призмы 3 задний Фокус объектива 2 совмещен с поверхностью контролируемого объекта 12, .Устройство. работает следующим образом.Пучок лучей лазера 1 после объектива 2 проходит через стеклянную призму 3, частично проходит через светоделитель 4 и отражается от одной грани двугранпого отражателя 5 и час- тично от светоделителя 4, а затем от второй грани двугранного отражателя 5 и собирается в точку...