Профилометр для исследования микрогеометрии поверхностей

Номер патента: 78168

Авторы: Киммельфельд, Миндлин

ZIP архив

Текст

78168 Фиг. 1 Фнг. 2 Фиг Фтв. редактор Акиш е,тактор А. И. Кисел 112 связанным через двуплечий рычаг с оптической оистемой профилометра, отличающийся тем, что для Возможности перемещсния щупа Вдоль узких ИОВерхностсй и лезВий однолезвийных и многолезвийных режущих инструментов измерительная головка со щупом установлена на подвижных направляющих пластинках располагавмых вдоль исследуемой поверхности и прикрепленных к неподвикному основанию прибора,2. Видоизменение профилометра по и, 1, От лукич а ю щс е с я приме иенцем шгрсвых опорных ножек,. устанавливаемых на требуемой высоте на передней и задней поверхности измеряемого режущего инструмента и регулируемых в зависиа ости от угла заострения последнегс.

Смотреть

Заявка

371492, 29.11.1947

Киммельфельд М. П, Миндлин Я. Б

МПК / Метки

МПК: G01B 11/30, G01B 9/08

Метки: исследования, микрогеометрии, поверхностей, профилометр

Опубликовано: 01.01.1949

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-78168-profilometr-dlya-issledovaniya-mikrogeometrii-poverkhnostejj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Профилометр для исследования микрогеометрии поверхностей</a>

Похожие патенты