G01B 11/30 — для измерения шероховатости или неровностей поверхностей

Номер патента: 1402804

Опубликовано: 15.06.1988

Авторы: Пимшин, Украинко

МПК: G01B 11/30

Метки: параллельности

...снегового потока распространя:ся в направлении пецтапр 5)зхы 4. Пентаьркзмы, и 5 разворачцва;от .)уч лазера зрО;О Пя Гс)Б ПрОйдя Чцтацриэ, Х 5, Л)ГЧ 1)С)1 ЯДЯ)Т В С)Х):)(ИРМСПСС П 01, .1 ОЗРЯ 3 ЦОЕ срк . 30 э)СКОЛЬКУ УС,Н)ВИЯ Ра(ПОЛКЕНИЯ ВЫПОЛ)ЯОТ).51, ТО ДВЯ 1 У"Я ПО:Я,)2.0)ЦИС Ца ПОЛ 5 - прозра 1)ю(. зеркало 6, после его црохожде)ия фо)Миру 10 т,1 ВС ветви п 21 ял,.ельныхРсСТОЯНИЕ Х;(ХКД Ко. О;ЫХиветств) 1 величин сдв 332 .Оси скмметрк полупрозрачных зс)Кал,5 и 5 (л носительно оси симметрии;енгапркзм 4 51 5. )дца ветвь цараллелыых лм Г, ;спадает на позиционно-МВС)ВИТЕЛ 3 Ь 1; .сМЕ.т 7. КОГОрЫй уета, оП(ВЛЕ ца рсь(;ТСИ)К 1.-", - ,-П, От ГЕОМЕ- ричсско 0 цнт 1:",",)5 ИпуОИ,сГО )30.упро- ЗрачцОГО Зсрна.а 6, Л,уая ВЕТВЬ ПараЛЛЕЛЬ);ьх лу)ей...

Номер патента: 1404816

Опубликовано: 23.06.1988

Авторы: Шаяхметов, Юрлов

МПК: G01B 11/30

Метки: отклонения, прямолинейности

...в виде зонных плас тинок 2 - 4, со смещенными в плоскости, перпендикулярной оптической оси, оптическими центрами, и фоторегистратор, выполненный из пози ционно-чувствительных фотоприемников 5 - 7 по числу фокусирующих элементов, жестко закрепленных на общем основа.15 нии (не показано). Устройство работает следующим образом.Излучение от лазера 1 попадает отдельно 20 на каждую из зонных пластинок 2 - 4, распространяясь вдоль контролируемой трассы. Каждая из указанных пластин фокусирует луч в плоскости регистрации на соответствующий позиционно-чувствительный фотоприемник 5 - 7. При отклонении какой-ли 16бо точки от прямой на некоторую величину на ту же величину и в том же направлении отклоняется оптический центр соответствующей зонной...

Номер патента: 1409864

Опубликовано: 15.07.1988

Авторы: Ангельский, Максимяк

МПК: G01B 11/30

Метки: поверхности, шероховатости

...поля результирующего излучения в плоскость полой диафрагмы 8. Объектив б вместе с диафрагмой 7 обеспечивают прием всех пространственно-частотных компонент поля, соответствующих поверхностной структуре объекта в плоскости сравнения (плоскость б диафрагмы 8). С помощью фотоэлектрического приемника 9 и блока регистрации изменяют интенсивность результирующего пучка. Вращая столик 5, добиваются абсолютного минимума результирующего поля, Этому соответствует угол поворота Чр (фиг.2), при котором объектный и опорный пучки в противофазе, а их средние амплитуды равны А =А , Перекрывают объектный пучок с помощью введения заслонки 4 и измеряют интенсивность опорного пучка 1 , Выводят заслонки 4 и продогжают вращение столика, добиваясь...

Номер патента: 1413417

Опубликовано: 30.07.1988

Авторы: Солодухо, Шмаев

МПК: G01B 11/30

Метки: микроинтерферометр, поверхности, шероховатости

...в одной ветви, четвертьволновуюпластинку 6, микрообъектив 7 и референтное зеркало 8, последовательно установленные в другой ветви, зрительную трубу 9 и расположенный по ходуизлучения перед ней компенсатор 10Сенармона.Микроинтерферометр работает следующим образом,Пучок света выходит из коллиматора2, проходит поляризационный светофильтр 3 (плоскость колебания пучкасовпадает. с плоскостью чертежа, чтоусловно показано стрелками) и свето 35делителем 4 в виде плоскопараллельной пластинки делится на два пучка,идущих в рабочую ветвь и ветвь сравнения. Пройдя через микрообъектив 5и отразившись рт измеряемой поверхности 11, световой пучок выходит израбочей ветви микроинтерферометра,сохранив направление плоскости поляризации, Световой...

Номер патента: 1421995

Опубликовано: 07.09.1988

Авторы: Агапов, Половцев

МПК: G01B 11/255, G01B 11/30, G02B 27/54 ...

Метки: прибор, теневой

...тень от экрана 4 при контроле детали 2 идеальной формы будет иметь вид прямых линий. Измерительный экран 5 установлен за плоскостью изображения источника 1 света в плоскости анализа теневой картины, т. е. в плоскости компенсации кривизны экрана 4, с возможностью перемещения его вдоль оптической оси измерения величины этого перемещения. Взаимная ориентация и размерные зависимости прямых на измерительном экране 5 и кривых на криволинейном экране 4 определяется, параметрами контролируемой детали 2 и схемой контроля. На фиг. 2 представлен вариант разметки экрана 5, где 6 - линии разметки, 7 линия световой апертуры, 8 - центр теневой картины,Теневой прибор работает следующим образом.Перед началом измерений точечный источник 1 света...

Номер патента: 1421996

Опубликовано: 07.09.1988

Автор: Сысоев

МПК: G01B 11/30

Метки: изделия, поверхности, шероховатости

...оптическим методам измерения высоты шероховатости поверхности, и может быть использовано во многих отраслях народного хозяйства, в частности в прецизионном приборостроении.Цель изобретения - повышение чувствительности и точности измерения за счет увеличения соотношения сигнал/шум.На чертеже изображена принципиальная схема устройства, реализующего способ измерения шероховатости поверхности изделия.Устройство содержит лазер 1, оптический расщепитель 2, линзу 3, фотоприемник 4 и пространственный фильтр 5.Способ осуществляется следующим образом.Луч лазера 1 разделяют на два потока оптическим расщепителем 2, между которыми вносят оптическую разность хода, оба потока фокусируют линзой 3 и направляют на исследуемую поверхность объекта...

Номер патента: 1435938

Опубликовано: 07.11.1988

Авторы: Абульханов, Горюнов, Митряев, Семенов

МПК: G01B 11/30

Метки: качества, отверстий, поверхности, цилиндрических

...совершает осевое перемещение за счет перемещения пальца 14 в пазах 17 и 18. При этом торец 20 световода 19 сканирует контролируемую поверхность, а результаты контроля . отображаются регистрирующим блоком 2. 2 ил. 2связанные с другим торцом 21 световода 19 лазер 22 с блоками 23 и 24соответственно питания и управленияи приемник 25 излучения с фильтром 26высоких частот и регистрирующим блоком 27,Устройство работает следующим образом.В исходном состоянии с помощьютросика 16 палец 14 выводят из пазов17 и 18, перемещают оправку в крайнееположение, освобождают тросик 16,вводят палец 14 в крайний кольцевойпаз 17 и размещают корпус 1 внутрьконтролируемого цилиндрического отверстия. При контроле качества по-ерхверхности контролируемого...

Номер патента: 1439392

Опубликовано: 23.11.1988

Авторы: Клиентов, Поклад, Серга, Шестов

МПК: G01B 11/30

Метки: поверхности, шероховатости

...светапреломляющей призмы.Устройство работает следующим образом.Излучение источника 1 проецируется конденсором 5 на входной торец свето- вора 6. Излучение по световоду проходит к противоположному торцу, расположенному на двойном Фокусном расстоянии от объектива 7, и объективом 7 и призмой 8 направляется на контролируемую поверхность.Часть потока излучения источника 1, отразившись от сферической поверхности корпуса 4, проходит прозрачный держатель 2 и падает на фотоприемник 3 обратной связи. Зеркально отраженное от контролируемой поверхности излучение призмой 9 направляется на объектив 10.Для установки рабочего расстояния от базовой до контролируемой поверхности служит симметричное относитель" но объективов перемещение призм 8 и 9, а за...

Номер патента: 1441194

Опубликовано: 30.11.1988

Авторы: Беляков, Буцков, Глушков, Гуревич, Дунаев, Константинов, Левушкин, Рядинский, Сиркунен, Уваров, Черных

МПК: G01B 11/30

Метки: поверхности, состояния

...4выполнен в.виде плоского зеркала с 30отверстием, расположенным в конфо-.кальной точке первой 2 и второй 3оптических систем. Зеркальная призма б и светоделительная пластика 7и эталонное зеркало 8 имеют возможность перемещения в плоскости, параллельной контролируемой поверхности,таким образом, что величина шагаперемещения зеркальной призмы 6 былабы в два раза меньше шага перемещения светоделительной пластины 7 иэталонного зеркала 8Устройство для контроля состоянияповерхности работает следующим образом.Свет от лазера 1 проходит черезпервую 2 и.вторую 3 оптические системы с общим фокусом. При этом про странственный фильтр 4 пропускаетосновную часть освещенного пучка,сфокусированного первой оптическойсистемой 2 в отверстие в зеркале,и в...

Номер патента: 1442817

Опубликовано: 07.12.1988

Авторы: Авдеев, Куренкова, Скрипаль, Тупикин, Усанов

МПК: G01B 11/30, G01B 9/02

Метки: глубины, дефектов, объекта, поверхности

...плоскопараллельную пластину 2, покрытую светоделительным слоем и разделяютна два пучка, один из которых отражаетсяот светоделительного слоя и образует первую ветвь интерферометра, вторая половинапучка, пройдя сквозь пластину 2, образуетвторую ветвь. После прохождения первогопучка лучей через объектив 3 и отраженияего от поверхности контролируемого объекта 7 и после прохождения второго пучка лучей через объектив 4 и отражения его отэталонного зеркала 5, наклоненного подугломер, оба пучка соединяются на поверхности разделительной пластины 2 и наблюдаются в окуляре 6. В результате сложениядвух пучков в поле 8 зрения окуляра 6 вобласти дефекта 9 наблюдают систему 10интерференционных полос. Измеряют расстояние 1 а между. соседними...

Номер патента: 1442827

Опубликовано: 07.12.1988

Авторы: Гильманшин, Коварский, Николаева

МПК: G01B 11/30

Метки: высоты, неровностей, поверхности

...к этой поверхности; а на фиг. 1 - профиль контролируемой поверхности 1 в местах ее сечения симметричными плоскостями.Предлагаемый способ осуществляют следующим образом.Формируют ограничительными плоскостями 8 световой луч прямоугольного сечения (изображение 5) и направляют его в направлении 2 под углом 45 на контролируемую поверхность 1. Отраженный от поверхности 1 световой луч в направлении 4 падает на плоскость 3 обратного сканирования для получения линейного профиля поверхности. Его трансформируют в профиль 7 поверхности вращения обратным круговым сканированием светового луча по контролируемой поверхности 1 вокруг оси, перпендикулярной к ней, путем вращения поверхности 1 в направлении А (или вращения поверхности 1 в...

Номер патента: 1446465

Опубликовано: 23.12.1988

Авторы: Дюков, Климов, Красильщиков, Шаронов

МПК: G01B 11/30

Метки: поверхности, шероховатости

...на оси фотоприемников 4 и 5по другую сторону от полупрозрачнойпластины Ь. Между источником 1 излучения и коллимирующей линзой 2 расположен отражатель 8, форма которого подобна Форме части полупрозрачной пластины 6, предназначенной для от" ражения диффузно отраженного излучения. Отражатель 8 выполнен в виде отражающего покрытия, нанесенного на поверхность полупрозрачной пластины 6, причем полупрозрачной выполнена часть пластины 6, предназначенная для отражения зеркально отраженного излучения.Устройство работает следующим образом.Пучок света посылаемый источником 1 излучения, падает на полупрозрачную пластину 6 и раздвигается. Отраженный пучок попадает на приемник 7 сравнения. Прошедший пучок коллимирующей линзой 2 проецируется...

Номер патента: 1455234

Опубликовано: 30.01.1989

Авторы: Витенберг, Терехов, Торчинский

МПК: G01B 11/30

Метки: шероховатости

...уравнение рассеивающей поверхности описывается функ-. цией- длина корреляции;- среднеквадратическая высота микронеровностей.Слагаемые под знаком суммы в (5) быстро уменьшаются с ростом числа и, Из зависимости (5) видно, что распределение интенсивности рассеянного света по направлениям должно получить осциллирующий характер. Действительно, при целых значенияхТз 1 п 9 = шЪвсе члены суммы в (5) имеют одну и ту же фазу, что приводит к появлению максимумов и минимумов на индикатриссе рассеяния при определенных углах 9 = 9 . Индикатрисса рассеяния в этом случае аналогична спектру рассеяния на периодической поверхности. Направления максимумов определяются соотношением Таким образом, зная длину Ъ волны падающего света по измерению углового...

Номер патента: 1456777

Опубликовано: 07.02.1989

Авторы: Гольдберг, Клиентов, Поклад, Шестов

МПК: G01B 11/30

Метки: поверхности, шероховатости

...излучение на фотоприемник 12 для регистрации зеркально отраженного излучения, Блок (не показан) обработки сигналов с Фотоприемников 12 и 13 обрабатывает полученные сигналы и выдает результаты на отсчетное устройство (не показано) .При таком положении элементов схемы производится интегральное измер ени е шероховатости пов ер хно сти.Локальное измерение шероховатости поверхности происходит при положении элементов, показанном на фиг.2 и 3. Отличие состоит только в расположении объективов, поэтому на фиг.2 и 3 приведена часть схемы от входного торца светоюда 3 до входного торца световода 11.Локальное измерение шеооховатости стенок базового отверстия происходит следующим образом (фиг.2). Объектив иэ компонентов 4 и 5 сдвигают на двойное...

Номер патента: 1456778

Опубликовано: 07.02.1989

Авторы: Ермоленко, Ушенко

МПК: G01B 11/30

Метки: микронеровностей, наклона, поверхности, распределения, углов, функции, шероховатой

...6, диафрагма 7, электрооптический модулятор 8,фотоэлектрический блок 9 регистрации, устройство О связи с объектом,гликроЭВМ 11, исследуемый объект 12,Способ осущестгляется следующимобразом.,Из когерептного излучения от источника 1 с помощью коллиматора 2Формируют Ьолну с плоским волновггмФронтом, Получают с помощью четнертьволновой пластинки 3 циркулярную поляризацию излучения и, пропуская его через поляризатор 4, формируют плоскость колебаний световойоволны под углом О с 3 ГС 90 к плоскости падения. Освещают волной иссле" дуемую поверхность и проецируют объективом 5 изображение этой поверхности в плоскость полевой диафрагмы 7, пропуская при этом излучение через поляризатор б. Размер диафрагмы 7 выбирают равным порядка 0,1...

Номер патента: 1456779

Опубликовано: 07.02.1989

Авторы: Ангельский, Магун, Максимяк

МПК: G01B 11/30

Метки: параметров, поверхности, слабошероховатой, шероховатости

...В.Бахтин Техред М. Ходанич Редактор Г.Волкога Корректор Г.Решеткик Заказ 7494/38 Тираж 683 ПодписноеВНИИПИ Государственного коьытета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4 1. Способ определения параметров шероховатости слабошероховатой поверхности, заключающийся в том, что коллимированный пучок когерентного излучения разделяют на два пучка равной интенсивности, опорный и измерительный, освещают измерительным пучком исследуемую поверхность, совмещают отраженный от поверхности пучок с опорным, наблюдают интерференционные полосы и определяют параметры шероховатости, о т л и ч а ю " щ и й с я тем, что, с целью повышения...

Номер патента: 1460601

Опубликовано: 23.02.1989

Авторы: Гаращук, Порубов

МПК: G01B 11/30

Метки: качества, поверхности

...Л.Гратилло Техред Л.Олийнык Корректор И,Муска Заказ 534/50 Тираж 683 ПодписноеВНИИДИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГХЙТ СССР113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г.Ужгород, ул. Гагарина, 101 Изобретение относится к измерительной технике и может быть ис" пользовано при контроле качества различных поверхностей.Целью изобретения является расширение номенклатуры контролируемых поверхностей, повышение чувствительности и точности контроля за счет возможности контроля поверхностей ,0 любой формы, поглощения элементом : селекции зеркально отраженного излучения от большой площади поверхности сложной формы и.пропускания рассеян ного дефектами этой поверхности...

Номер патента: 1465699

Опубликовано: 15.03.1989

Авторы: Бирман, Гроссман, Седельников

МПК: G01B 11/30

Метки: дефектов, поверхности, цилиндрических

...поверхности цилиндричес- лируемой детали 13.ких деталей. Ролики 5 и 6 закрепленные наУст ойство содержит расположенР прозрачных пластиках 7 и 8, обеспеные на одной оптической оси источник щ чивают поступательное движение дета 1 света, первый аксикон 2, второй 3 и ли 3 вдоль оптической оси устройсти третий 4 аксикопы, размещенные ва.между источником 1 света и первым ак- При отсутствии дефектов лучи отрасиконом 2 и образующие коллиматор, жаются от поверхности детали 13 иНаправляющие ролики 5 и 6 закрепле сигналы на приемниках 10 излученияны на прозрачных пластинах 7 и 8, отсутствуют.в которых .выполнены отверстия по оп- При попадании дефекта в зонутическои оси устройст а.ойствИену проз- освещения лучи рассеиваются на нем,рачными...

Номер патента: 1467390

Опубликовано: 23.03.1989

Авторы: Киркач, Копко, Михайлишин, Садженица, Соболев

МПК: G01B 11/30

Метки: видеои, глубины, информационного, компакт-дисков, микрорельефа, оптических, отражательных

...отражения уменьшается почти донуля, т.е. такая поверхность перестает зеркально отражать и становитсядиффузно отражающим объектом.В зависимости от назначения оптического диска глубина информационногомикрорельефа на нем принимает значения в пределах 700-1600 Х. Спектральная область, в которой наблюдаются интерференционные минимумыв спектре зеркального отражения, соответствующие этим глубинам, заключена между длинами волн, равными 0,42и 0,96 мкм соответственно. Дпя четкой регистрации экстремума спектральную область необходимо расширитьна 0,15-0,2 мкм в обе стороны. Впредельном случае требуемый спектральный диапазон измерения 0,2 -1,1 мам,При помощи регистрирующего спектрометра с приставкой зеркального от, -ражения регистрируют...

Номер патента: 1469346

Опубликовано: 30.03.1989

Авторы: Вагин, Коваль, Левченко

МПК: G01B 11/30

Метки: поверхности, шероховатости

...измеряемой поверхностью излучения анализатор 6 ди"хроичного или поляроидного типа,объектив 7, светофильтры 8, многоэлементный приемник 9 излучения, например матрица приборов с зарядовой связью, и электронный блок 10,Устройство работает следующим образом.Пар аплельный пучок монохроматического излучения от источника 1 мо-.нохроматическо го излучения модулируется модулятором 2 и проходит чеРез 4 Ооптическую систему 3, После расщепления поляриэ ационным дефлектором4 возникают два разделенных в простР аист ве пучка свет а со вз аимно перпендикулярными плоскостями поляризации, Один из пучков проходит черезфазовую пластинку 5, которая поворачивает плоскость его поляризации доплоскости, параллельной плоскости поляризации другого пучка....

Номер патента: 1474458

Опубликовано: 23.04.1989

Авторы: Арефьев, Здоркин, Илюхин, Старостенко

МПК: G01B 11/30

Метки: непрямолинейности

...плоскости объектива 7 получают искаженную дифракционнуюкартину, Затем плавно перемещают вторую полу плоскость 6 параллельно самой себе, добиваясь совмещения одного из минимумов дифракционной картины с фиксированной точкой плоскости анализа - диафрагмы 8. При этом расстояние меж ду полуплоскостями 4 и 6 составит величину й.Условие минимумов для дифракции на щели с разнесенными полуплоскостями 4 и 6, между которыми расположена плоскопараллельная стеклянная пластина толщиной с 1 с показателем преломления и определяется в виде1, 22 Ь, япцр -Ь яз.п Ч +с 1 -- яп=2 ш,где в = + 1+2; угловая координата минимумов дифракции,11 ри поперечном смещениии первой полуплоскости щели 4, закрепленной на измерительной марке 3, на величинуЬ при ее...

Номер патента: 1474459

Опубликовано: 23.04.1989

Авторы: Горяев, Данилов, Кириллов, Мостовой, Федоров

МПК: G01B 11/30

Метки: детали, дефектов, обнаружения, поверхности

...позволяет различать трещины длиной 0,2-0,3 мм, не требует предварительной градуировки или точного поддержания заданного расстояния междуторцами световодов и контролируемойповерхностью, а также не требуетприменения экспертных оценок для различения усталостных трещин от другихдефектов. 2 ил. устройство 6 отображения ронно-лучевой трубке выход ала фотоприемника 5 с соот ей разверткой сигнала по в Способ обнаружения дефекповерхности детали осуществляют следующим образом. Подвижную головку 1 подносят к контролируемому участку поверхности детали 7 на расстояние, необходимое для получения на экране электроннолучевой трубки устройства б отображения устойчиво воспроизводимого изображения сигнала с фотоприемника 5. К детали 7 прикладывают...

Номер патента: 1478041

Опубликовано: 07.05.1989

Автор: Кайнер

МПК: G01B 11/30

Метки: детали, поверхности, шероховатости

...на участке пластины, противолежащем дну паза, нанесены сходящиеся риски. 2, Устройство по п,1, о т л и ч аю щ е е с я тем, что, на сходящихся рисках нанесены деления, определяемые по сечениям, соответствующим базовым длинам шероховатости,Составитель К,КузнецовТехред А.КравчукВ Корректор И.Муска Редактор В,Петраш Заказ 2352/40 Тираж 684 подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д, 4/5Производственно-издательский комбинат "Патент", г.Ужгород, ул. Гагарина,101 зовано для оценки качества поверхности прецизионных деталей.5Цель изобретения - повышение точности измерения и обеспечение возможности измерения шероховатости поверхности на различной нормируемойбазовой...

Номер патента: 1481592

Опубликовано: 23.05.1989

Авторы: Турянский, Федосеева

МПК: G01B 11/30

Метки: дефектов, образца, поверхности

...счетчиков 28 и 29, начинается угловое сканирование образца относительно нормали к поверхности и введение в память ЭВМ 17 результатов счета 1. ,числа импульсов во всех каналах измерения. После поворота на заданный угол гониометром 31 выдаются сигналы, поступающие на электропривод,30 и ЭВМ 17, производится отключение электропривода 30 и выдается команда начала измерений, поступающая на электропривод 19 и электронные счетчики 28 и 29. По окончании М-го цикла измерений из ЭВМ 17. на электро- приводы 30 и 19 подается, команда остановки, производится математическая обработка полученных данных, результаты которой выводятся на,цисплей 32 или цифропечатающее устройство 33.Способ может быть реализован на базе серийно выпускаемого...

Номер патента: 1481593

Опубликовано: 23.05.1989

Авторы: Бурая, Егоров

МПК: G01B 11/30

Метки: зеркальных, поверхностей, шероховатости

...9 и 10, вырабатывающие сигналы,пропорциональные .интенсивности эеркальной и рассеянной компоненты излучения соответственно. Дифрагма 4 оп"тически сопряжена с отверстием собирающего зеркала 8,Устройство работает следующим образом.Луч света от лазера 1 падает навходной торец гибкого световода 2и дает яркое световое пятно на еговыходном торце. Линзой 3 световойконус, выходящий с торца гибкого.световода 2, собирается на отверстии диафрагмы 4, падая далее наконтролируемую поверхность 11, Отражаясь от контролируемой поверхности 4011световой пучок попадает на зерка"ло-объектив 5, которое его фиксируетпосле отражения от контролируемойповерхности 11 на зеркале-коллекторе 7. Последнее через контролируемую 45поверхность 11 посылает...

Номер патента: 1481594

Опубликовано: 23.05.1989

Авторы: Биленко, Иванов, Полянская

МПК: G01B 11/30

Метки: анизотропной, параметров, поверхности

...плоскости падения излучения, Ориентируют поверхность так, чтобы плоскость падения излучения была параллельна направлению анизотропии поверхности, изменяют угол падения излучения, измеряя при этом интенсивность дифрагированного излу- аФ чения, и по результатам измерений судят о глубине канавок. го излучения, используемого при исследованиях, и ширину не менее /4,освещают пучком когерентного монохроматического излучения, плоскостьполяризации которого перпендикулярнаплоскости падения излучения, В качестве источника такого излучения может быть использован, например, гелий-неоновый лазер, имеющий длину1волны 3 = 0,63 мкм,Поверхность ориентируют так, что плоскость падения излучения параллельна направлению анизотропииИзменяют угол...

Номер патента: 1490473

Опубликовано: 30.06.1989

Авторы: Великотный, Потапова

МПК: G01B 11/30

Метки: детали, поверхности, шероховатости

...Фотодиоды. Масштабируюций блок 5 состоит нз масштабцруюцих резисторов, а коммутирующий блок 6 - иэ ключей на интегральных микросхемах, В качестве измерителя 7 амплитуды сигнала - вольтметр.Устройство работает следующим обраэогл.Свет от источника 2 излучения поступает в передаюций светонод 1 и освецает расходящимся световым пучкои контролируеиую поверхность 8, которую располагают на заданном фиксированном расстоянии от выходного торца передаюцего световода 1 параллельно еиу. Свет отражается от контролируемой поверхности 8 и попадает на входные торцы приемных снетонодоз 3, по которым передается на Фотоприемиики 4, установленные на выходе каждого приемного световода 3. Уронень сигнала на выходе Фотоприемника 4 пропорционален...

Номер патента: 1499114

Опубликовано: 07.08.1989

Авторы: Дрозд, Поперенко, Шайкевич

МПК: G01B 11/30

Метки: бесконтактного, качества, поверхности

...которых соотносятся как 1;2, На дисках меньшего радиуса чакреплены кронштейны 1 и 12, а на дисках большего радиуса - поворотные столики (не показаны) с держателем 15 эталона и держателем 14 испьггуемого образца, Посредством укаэанных дискОв с помощью гибких стальных лент (не показаны) осуп 1 ествляется кинематическая связь между кронштейнами 1 и 12 и поворотными столиками гониометровШарниры 4 и 9 закреплены соответственно на планках 3 и 1 О с возможностью врдщения вокруг осей 01 и О. Планки 3 и 10 установлены с воэможностью вращения вокруг осей О, и О 2. Кронштейны 1 и 12 нведены в и 1 арниры 4 и 9. Плоские поворотные зеркала 5 и 8 жестко закреплены на кронтшейнах 2 и 11 соответственно, 5 14991Кронштейны 2 и 11 введены в отверстия...

Номер патента: 1499115

Опубликовано: 07.08.1989

Авторы: Захаров, Мыльников, Тюрин, Шиляев

МПК: G01B 11/30

Метки: неплоскостности, оптико-электронное

...работает следующим образом,Пучок лучей иэ источника 1 коллимированцого излучения делится на дня пучка лучей н системе 3 отражателей и, отразившись от зеркал 9 и О, попадает н оптический умножитель 4, я затем - на две площадки координатно-чувствительного Фотоприемника 6, рязмещенцого вместе с оптическим умножителем. 4 на платформе 5, перемещаемой по поверхности контролируемого объекта 19. При отсутствии отклонений поверхности контролируемого объекта 19 от плоскости пучки лучей А и В попадают на боковые грани призмы 12 симметрично и параллельно плоскости, проходящей через верхнее ребро призмы 12 параллельно направлению измерения. Вследствие этого после отражения от параболических поверхностей призмы 12 лучи А и В падают на...

Номер патента: 1504504

Опубликовано: 30.08.1989

Авторы: Андрианов, Захаров, Серых, Скачков

МПК: G01B 11/30

Метки: дефектов, наружных, оптико-электронное, поверхностях

...самым световую полоску, котораядеформируется в,месте проекции в50соответствии с характером геометрииконтролируемой поверхности детали 8.ИнФормация о глубине и ширине дефекта поверхности содержится в геометрических параметрах соотнетственцо Ь ц я деформации световой полоски (см. Фиг2).Анаморфотцый объектив 3 строитв плоскости изображений, где устанавлинается двумерный фотоприемцик 4, изображение освещенного светоной полоской участка контролируемой поверхности детали 8 с заданными линейными увеличениями иВо время действия импульса излучения длительностью С Фотоприемникпреобразует оптическую информацию в электрический сигнал и запоминает его на время выборки. Поскольку 1 не превышает 100 нс, то контролируемая деталь 8 в процессе...