Архив за 1993 год

Номер патента: 2002246

Опубликовано: 30.10.1993

Авторы: Лехнович, Синица, Шарова

МПК: G01N 27/82

Метки: дефектоскопов, калибровки, магнитных

...и два источника тока, подключенных к соответствующим имитаторам, согласно изобретению имитатор сварного шва выполнен в виде цилиндрического сегмента с хордой, равной ширине усиления имитируемого шва, и стрелой, равной высоте его усиленич,На фиг, 1 представлено сварное соединение с поверхностным дефектОм и распределение напряженности магнитного поля Н на его поверхности; на фиг. 2 - устройство для калибровки, описанное в прототипе, и распределение Н на его поверхности; на фиг, 3 - заявляемое устройство и распределение Н на его поверхности.Так как усиление сварного шва 1 (фиг, 1)оказывает на намагниченность сварного 5 соединения размагничивающее действие,зависящее от Формы усиления, распределение Н на его поверхности неоднородно(фиг,...

Номер патента: 2002247

Опубликовано: 30.10.1993

Авторы: Айрапетов, Грибков, Лысков, Рандошкин, Червоненкис

МПК: G01N 27/83

Метки: изделия, качества, магнитооптическое

...устройство контроля качества изделия содержит источник света 1, конденсор 2, поляризатор 3, светоделитель 4, подложку 5 с магнитооптическим пленочным датчиком 6, анализатор 7, линзу 8, телекамеру 9 с монитором 10, ярмо 11 и 5 постоянные магниты 12.Устройство работает следующим образом. Вблизи поверхности изделия 13 помещают датчик 6. Свет от источника 1 проходит конденсор 2, поляризатор 3, све тоделитель 4 и освещает датчик 6. Свет, отраженный от свободной поверхности датчика 6, проходит светоделитель 4, анализатор 7 и с помощью линзы 8 фокусируется на телекамеру 9. Изображение доменной 15 структуры или распределения магнитных- моментов в датчике 6 регистрируется на экране монитора 10.Постоянные магниты 12 с ярмом 11...

Номер патента: 2002248

Опубликовано: 30.10.1993

Авторы: Новиков, Романов

МПК: G01N 27/85

Метки: магнитного, ферромагнитных

...поверхностей, При известном способе магнитного контроля сканирующие поверхность нити с расположенной на их концах ферромагнитной жидкостью располагают перпендикулярно контролируемой поверхности, Применительно к контролю вертикальных поверхностей его можно было реализовать, закрепив жесткие неферромагнитные нити с ферромагнитной жидкостью шарнирно и снабдив их противовесом, Однако достоверность контроля в этом случае была бц невелика, так как отклонение нитей много меньше 90 О,Указанная цель достигается тем, что в способе магнитного контроля ферромагнит.Формула изобретения СПОСОБ МАГНИТНОГО КОНТРОЛЯ ФЕРРОМАГНИТНЫХ ИЗДЕЛИЙ, заключающийся в намагничивании объекта контроля и сканировании его поверхности с помощью ферромагнитной...

Номер патента: 2002249

Опубликовано: 30.10.1993

Авторы: Новиков, Романов

МПК: G01N 27/85

Метки: магнитографического, ферромагнитных

...перпендикулярном продольной оси зоны контроля исчитывают с ленты магнитный рельеф, по которому судят о наличии дефектов в изделии, согласно изобретению, запись полейрассеяния от дефектов осуществляют на высокоэрцитивную ленту при напряженностиполя на поверхности изделия в контролиру 5 емой зоне от 400 до 1400 А/см.Контроль способом, принятым эа прототип, осуществляют при режиме, когда материал намагничен до состояния насыщенияили несколько больше. Разрешающая спо 10 собность метода в этом случае недостаточна,Повысить разрешающую способностьметода можно, контролируя изделие как применьшей, так и при значительно более вы 15 сокой напряженности приложенного поля.В первом случае определить требуемое значение напряженности...

Номер патента: 2002250

Опубликовано: 30.10.1993

Авторы: Новиков, Романов

МПК: G01N 27/85

Метки: дефектоскопии, индикатор, магнитной, магнитных, полей

...предварительной ее механической обработки магнигопорошковые метод контроля с использованием монолитных частицпорошка неэффективен. так как скоплениечастиц порошка затруднено. Если изделиенаходится под слоем жидкости, особенно втом случае, когда жидкость имеет малуюпрозрачность, то это препятствует наблюдению скоплений порошка в местах дефектов сплошности,Решение поставленной задачи позволит расширить область использования индикаторов магнитных полей за счет появления возможности контроля изделий с грубой поверхностью, а также изделий, находящихся под слоем жидкости.Сущность изобретения состоит в том, что в индикаторе магнитных полей для магнитной дефектоскопии, представляющем собой частицы магнитного порошка, в нем...

Номер патента: 2002251

Опубликовано: 30.10.1993

Авторы: Синица, Шарова

МПК: G01N 27/85

Метки: дефектоскопии, контрольный, магнитной, образец

...3 с переменнимости изготовленичества мак изтогожеПри необход няющимся попроверк "ач - бой заготовкУ"(фазца с изм й выи едстав олируем контрляющий соое изделие ОЛЬНОГО О Рм фиг . 3 последнииР что и контрия, имитибине дефекто ( бины от Ь 1 дпг,материала,и,ают отвер глу ин м,нной глу ин вцсотаором просверли10 полнен перем го металла,которующие дефе ного образцекты а в тОМ 1 Ина ОснОВНОГказа ннных ь, - толщНедос 1 аток у Онтроля свар силения шв, Н бходимо иза.готовитья кон не пригод " ствует Усилени П р и м е Р ния из стале У1,и З.стак как отсутс " шое влия. варного соединен, имею.соединений.,т в ющее большобРаэец н и металлаго шва, оказцва т оля.иной основн - 10 от толщинсварно льность контрущ 1 толщ л биноииринойние на чувствителим...

Номер патента: 2002252

Опубликовано: 30.10.1993

Авторы: Новиков, Романов

МПК: G01N 27/85

Метки: магнитографического

...намагничивают изделие совместна с манитным носителем в поперечном направлении, считывают с носителя инфармацию о магнитном рельефе в направлении намагничивания, определяют положение траектории считывающей головки на ленте при максимальном сигнале от дефекта и по расположению указанной траНедостаткам способа является низкая достоверность контроля вследствие низкой точности определения координат расположения магнитного отпечатка, обусловлен- нага дефектом на ленте. Эта обусловлено тем, что а положении,магнитного отпечатка на ленте. саатьетствующега дефекту, судят па положению траектории считывающей головки на ленте при максимальном сигнале ат дефекта, Если иэделие проконтролировать укаэанным способом дважды, то точность определения...

Номер патента: 2002253

Опубликовано: 30.10.1993

Авторы: Синица, Шарова

МПК: G01N 27/85

Метки: магнитографического

...контроля изделий из ферромагнитных материалов, заключающийся в том, что сварной шов с уложенной на его поверхность магнитной лентой намагничивают постоянным магнитным полем и сравнивают считанную с ленты сигналограмму с сигналограммой, полученной аналогичным образом нэ сварном шве эталонного издекоторых на поверхности изделия равен или.больше ширины магнитной ленты, так как вэтом случае двухполярный сигнал от дефек лия, а о наличии дефектов в корне шва судят по уменьшению амплитуды сигналов от краев шва эталонного иэделия, согласно изобретению, амплитуду сигналов от краев магнитной ленты сравнивают с амплитудой сигналов от краев ленты, намагниченной на эталонном изделии, а по ее увеличению судят о наличии глубинных дефектов.На магнитную...

Номер патента: 2002254

Опубликовано: 30.10.1993

Авторы: Зубко, Какиашвили, Кочламазашвили, Сургуладзе, Франюк

МПК: G01N 27/90

Метки: качества, труб

...участка трубы, а момент изменения значений толщин стьнки трубы по периметру принимают за конец бездефектного участка трубы.Устройство, реализующее способ контроля качества труб, содержащее и преобразователей толщины, установленных с равным шагом по периметру, измеритель длины трубы, регистрирующий блок и узел обрезки труб, с целью повышения достоверности и надежности контроля, оно снабжено последовательно соединенными дифферанцирующим блоком, и входовкоторого соединены соответственно с выходами и преобразователей, логической ячейкой И - НЕ, таймером, краскоотматчиком и логическим элементом И, выход которого2002254 10 устройства. 20Устройство содержит и преобразователей 1 (использованы 4), дифференцирую 25 30 35 40 45 50 соединен с узлом...

Номер патента: 2002255

Опубликовано: 30.10.1993

Авторы: Малышев, Олефиренко

МПК: G01N 27/90

Метки: вихретоковый, дефектоскоп, ферромагнитных, электропроводящих

...при измерении глубины дефектов, так как при трассировании преобразователем грубой криволинейной поверхности, имеющей электромагнитные неоднородности, на выходе функционального усилителя 8 модулирующих частот, хотя и сильно ослабленные, возникают сигналы от помех,Измеритель 16 пиковых напряжений позволяет измерять амплитуды импульсов, поступающих на его вход при трассировании контролируемой поверхности преобразователем со скоростью 0,02 - 0,1 мс, при динамическом режиме работы дефектоскопа и запомнить результаты измерения, Переключатель 10 обеспечивает перевод работы дефектоскопа со статического режима на. динамический и переключает показывающий прибор 11 к выходу функционального усилителя 8 модулирующих частот или к...

Номер патента: 2002256

Опубликовано: 30.10.1993

Авторы: Бородин, Кушлык, Максимочкин, Яковлев

МПК: G01N 29/02

Метки: воды, маслах, минеральных, содержания

...определейия содержания воды в минеральных маслах. заключающемся в том, что в образцах с разными концентрациями составляющих компонентов возбуждают ультразвуковые колебания, измеряют коэффициент поглощения ультразвуков волн. о содержании воды в исследуемой среде судят путем сравнения зависимости того же параметра с зависимостью для образцов с известным содержанием компонентов, измерения на образцах проводят при постоянной температуре и перемешивании компонент. а в качестве заФормула изобретенияСПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ СОДЕРЖАНИЯ ВОДЫ В МИНЕРАЛЬНЫХ МАСЛАХ, заключающийся в том, что в образцах с разными концентрациями составляющих компонентов возбуждают ультразвуковые колебания, измеряют коэффициент поглощения ультразвуковых волн, а о...

Номер патента: 2002257

Опубликовано: 30.10.1993

Автор: Каширин

МПК: G01N 29/08

Метки: листа, перемещения, проката, процессе, рольгангу, толстолистового, ультразвукового

...верхнего струеобраэующего устройства). При этом разница давлений на входах соответствующих нижних и верхних сопл оказывается выше величины А и не будет зависеть от того, находится или нет толстолистовой прокат между верхним 2 и нижним 5 струеобраэующими устройствами,В процессе проведения контроля расстояние ао между центрами крайних струйных контактов выбирают таким образом, чтобы в любой момент времени размер тол-, столистового проката поперек направления движения был меньше ао, т.е. чтобы была возможность по результатам измерений очертить контур толстолистового проката. Для этого величина ао выбирается в соответствии с выражением, приведенным в формуле изобретения.Способ измерений основан на сквозном прозвучивании движущегося...

Номер патента: 2002258

Опубликовано: 30.10.1993

Авторы: Зацаринный, Панич, Рожков

МПК: G01N 29/14

Метки: акустико-эмиссионный, повреждаемости

...акустико- выделение параметров сигналов АЭ, в частэмиссионном способе определения пара- ности выделяется параметр повреждаемометра повреждаемости изделий, сти Рь Измерение усилий производится сзаключающемся в том, что образец изделия помощью тензометрического преобразовапогружают до разрушения, регистрируют 50 теля 6, измерение температуры - с посумму амплитуд сигналов акустической мощью термопары 7, Усиление сигналов сэмиссии из эоны разрушения, объем зоны датчиков усилий и измерение температурыразрушения и расстояние от эоны раэруше- производится с помощью усилителей 8 и 9.ния до приемного преобразователя, те же Усиленные сигналы с датчиков поступают напараметры регистрируют при нагружении 55 регистрирующее устройство 10,...

Номер патента: 2002259

Опубликовано: 30.10.1993

Автор: Каширин

МПК: G01N 29/22

Метки: дефектоскопа, струеобразующее, ультразвукового

...через столб жидкости от излучателя до приемника звука. Кроме того, при отсутствии контакта возникают затруднения в определении границ контролируемого изделия.Цель изобретения - повышение надежности контроля.Сущность изобретения заключается в том, что известное устройство, которое содержит камеру с линейным рядом сопл с одинаковыми диаметрами выходных отверФормула изобретенияСТРУЕОБРАЗУЮШ,ЕЕ УСТРОЙСТВО УЛЬТРАЗВУКОВОГО ДЕФЕКТОСКОПА, содержащее камеру с линейным рядом сопл с одинаковым диаметром выходных отверстий, расстояние между осями которых для любых соседних сопл лежит в пределах ЛГб = 1: 2, отличающееся тем, что, с целью повышения надежности контроля,стий, снабжено второй камерой, идентичной первой, расположенной под ней...

Номер патента: 2002260

Опубликовано: 30.10.1993

Авторы: Волынец, Дуброва, Молочникова, Шкинев

МПК: G01N 30/90, G01N 30/93

Метки: пластина, тонкослойной, хроматографии

...в качестве связующего используют сульфат декстрана 3 - 25мас, ,Д,П р и м е р . Дгея подготовки пластин вхимический стакан помещают 14,25 г силикагеля, 0,75 г сульфата декстрана, что соответствует 5 мас, %, и воду. Суспензиюнагревают на водяной бане при 85 С в тече 5 ние 5 мин при постоянном перемешивании,Полученнуео сметанообразную массу выливают на подложку (геавсан, стекло, металл),помещенную на хроматографический столик, имеющий строго горизонтальную по 0 верхность, что обуславливает равномерноераспределение сорбента по подложке. Высушивают полученные пластины на воздухепри комнатной температуре,Были получены хроматогрэфические5 пластины с разгеичньем содержанием сульфата декстрана, При содержании связующего менее 3% полу еаллсь...

Номер патента: 2002261

Опубликовано: 30.10.1993

Автор: Смольникова

МПК: G01N 31/00

Метки: искусственной, кожи, надежности, оценки

...системы ткань-пористая пленка(табл. 1) модельимеет вид; Ух - -30,4332 хэ + 6,3890 х 7ФПараметры уравнения показывают характер и степень влияния независимых переменных на результирующий признак.Оптимальные значения критериев выбраны парным регрессионным анализом,табл. 2,(56) Михеева Е,Я. и Беляев Л.С, Современ .ные методы оценки качества обуви и обувных материалов. М.; Легкая и пищеваяпромышленность, 1984, с, 247,ТУ 17-21-360-85. Кожа синтетическаяобувная. Оптимальное значение второго критерия определяется мультипликативным уравнением: У 1= е - 13,97 х 74,61 (2)15Опытные носки синтетических материалов показали, чта ресурс натурального исинтетического верха составляет не менее 4млн.циклов деформаций (1 2 месяцев носки),20 если лицевые...

Номер патента: 2002262

Опубликовано: 30.10.1993

Автор: Курихин

МПК: G01N 31/22

Метки: индикатор, курихина

...геометрические фигуры: прямоугольник, квадрат, круг, эллипс и т.д, Наружная поверхность индикаторного слоя пригодна для нанесения абстрактных и фирменных символов, отличительных знаков маркировки,Индикатор работает следующим образом.Предварительно его устанавливают на пользователе 6 как аппликационную накладку и фиксируют на нем дополнительным средством крепления 5 в таком месте, чтобы хорошо была видна поверхность индикаторного слоя 3 и полоска 4 эталонов. Индикатор дает возможность быстро провести индивидуальную экологическую квалиметрию жидких атмосферных осадков (дождь, морось, туман, мокрый снег) в локальной зоне окружающей среды. При попадании жидкости атмосферных осадков на индикаторный слой с лакмусовой пропиткой он либо...

Номер патента: 2002263

Опубликовано: 30.10.1993

Автор: Виноходов

МПК: G01N 33/18

Метки: внешней, исследований, объектов, препарата, среды, токсикологических

...в остаточных количествах, достаточных для размножения бактерий после внесения питательной среды, Препарат готов к употреблению и сохраняет свои свойства в течение года хранения при температуре 15,0-25,0 С в сухом. защищенном от света месте.С целью экспериментальной проверки заявляемый объект изобретения исследовали при различных значениях технологических параметров внешней среды, Результаты исследований приведены в табл. 1-4,Из данных табл, 1 следует, что инокуляционная доза культур С,зеи 1/В,зцЬтП 1 з ниже 1,0 10 /5,0 10 экз./мл давала конЭ -, бцентрацию клеток инфузорий ниже требуемой для диагнастикума. Дозы ММ 3 - 5 давали концентрацию инфузорий, достаточную для приготовления диагностикума, - 10 - 11 10 зкз./мл, однако при...

Номер патента: 2002264

Опубликовано: 30.10.1993

Авторы: Аплетов, Давыдов, Скупов, Щербаков

МПК: G01N 33/38

Метки: качества, прочность

...кг/см . а относительную циклическуюдеформацию. изменяющуюся по закону выбирают в пределах 6 = 1/3 при циклической частоте порядка 1 Гц.По полученным диаграммам вычисляют реологические коэффициенты по следующим зависимостям: где А - разность напряжений в крайних точках деформации( е= О, г= 2 к,) установившегося режима,8 - разность напряжений в точках, соответствующих половине амплитуды относительной деформации ( к = а ) установившегося режима;С - разность напряжений. при относительной деформации, равной нулю ( е= О) для статического нагружения и.установившегося режима.В результате последовательных испытаний серий образцов регистрируют массив экспериментальных данных, характеризующий зависимость реологических коэффици.- ентов Е 1. Е...

Номер патента: 2002265

Опубликовано: 30.10.1993

Авторы: Баканов, Банкова, Коржова, Сальникова

МПК: A61N 5/00, G01N 33/49

Метки: крови

...клеточных мембран,Предлагаемый способ, Облучение пробы 5% взвеси эритроцитов, взятый от беременных с поздним токсикозом, желтым спектром длиной волны 578 нм в импульсном режиме привело к: снижению гемолиза до инкубации до нормальных величин; увеличению гемолиэа после инкубации в меньшей степени (на 40, чем при облучении красным спектром в непрерывном режиме; не отмечается увеличения МДА как до, так и после инкубации, что позволяет судить о хорошем функционировании всех структур плазматических мембран и лучшей деградации МДА в эритроцитах и лучшей защиты фосфолипидов от ПОЛ; повышению интенсивности деградации МДА и АОА соответственно содержанию МДА, не меняя соотношения Д/МДА и АОА/МДА, указывающие на физиологичность действия...

Номер патента: 2002266

Опубликовано: 30.10.1993

Авторы: Дикань, Карлов, Яковлев

МПК: G01N 33/53

Метки: живых, ионизированного, клеток, концентрации, цитоплазме

...инкубируют при постоянном помешивании 15 мин при 20 С, после чего вовторой и третий трипли вносят 5 мкл 1 Мраствора дигитонина, микрокюветы повторно инкубируют в том же режиме 5 мин.Измерения.Проводят в трипле на флуориметре вмикрокюветах по программе: ЛазЬ га 1 е, 1,00вз, бе 1 ау с 1 гпе 0,02 вз, Мпс 1 оит 1 гпе 0,50 вз,с 1 еа 1 бее 10 пз,В отличии от прототипа определениепроводят в объединенных в стрипы микрокюветах, соблюдая при этом определеннуюпоследовательность их заполнения, обьемные соотношения вносимых ингредиентов;температурный и временной режимы; расд гчет концентрации ионизированного Сапроводят по формуле, где в отличии от прототипа коэффициент диссоциации цо 1 пАМ(К) взят для 20 С (из расчета на...

Номер патента: 2002267

Опубликовано: 30.10.1993

Авторы: Коган, Коненков, Сизякин

МПК: G01N 33/53

Метки: бесплодия, мужчин, прогнозирования

...м е р 1, Больной С, 16 лет, поступил в урологическую клинику по направлению райвоенкомата с диагнозом: варикоцеле слева. При объективном осмотре: яички обычных размеров, гладко-эластичной консистенции, безболезненные при пальпации. По ходу левого семенного канатика определяются варикозно расширенные вены, прослеживающиеся до верхнего полюса яичка. Общие анализы беэ особенностей. Данные сперматограммы: объем 5,0, цвет белый, время разжижения 40 мин, запах специфический, рН 8,0, сперматозоиды количество 100 млн/мл, хорошо подвижных 71 , слабо подвижных 18, неподвижных 11, морфологич. изменения: с патологией головки 1 млн., лц нет, эр нет, реакция агглютинации отрицательная. Гор.мональный статус без особенностей, реакция...

Номер патента: 2002268

Опубликовано: 30.10.1993

Авторы: Борисов, Трофимов

МПК: G01P 3/40

Метки: стробоскопический, тахометр

...3 непрерывно индициоуются с периодом 0,25 с на его индикаторе,Такой режим работы обеспечивает получение показаний индикатора частотомера3 непосредственно в оборотах в минуту.В то же время на вход вторичного источника 16 питания поступают импульсы отопорного генератора 4 импульсов (от егозадающего кварцованного генератора, работающего на частоте 32,768 кГц), а на входпитания вторичного источника 16 подаетсянапряжение питания от первичного источника 15. Вторичный источник 15 собран посхеме дроссельного типа с обратной связьюи обеспечивает стабилизированное питание блоков 1, 2, 3, 4, 5, 7, 8 и 14 при изменении в широких пределах величинынапряжения первичного источника 15 питания. Введение в схему стробоскопическоготахометра вторичного...

Номер патента: 2002269

Опубликовано: 30.10.1993

Авторы: Бернадский, Гречушкин, Засухин, Сущев

МПК: G01P 5/12

Метки: термоанемометр

...регуля.гора 12,Во втором варианте источник 3 соединен с неинвертирующим входом усилителя 1 через делитель напряжения на резисторах 7 и 8, Усилитель 1 подключен к транзистору 4 и резистору 13 так, что образуют стабилизированный источник тока, на выход которого подключен четырехплечий мост из элементов 5 и 6 и резисторов 9 и 10. В диагональ моста включен вход операционного усилителя 2, выход которого соединен с управляемым входом регулятора 12, Регистратор 11 включен между выходом регулятора 12 и точкой соединения элементов 5 и б и инвертирующего входа усилителя 2,Устройство по первому варианту работает в режиме поддеркания постоянного по величине напряжения на чувствительных элементах 5, б, Это достигается за счет подачи от...

Номер патента: 2002270

Опубликовано: 30.10.1993

Авторы: Ледовская, Сошников, Чикризов

МПК: G01R 29/10

Метки: излучений, побочных, радиопередающих, устройств

...пеовой измерительной ач-енны 1,1, поступающее на первый информационный ьход первого Вычислителя 13.1. В момент окончания Второго импульса Оз (см, фиг. 2,в) ждущего мультивибратора 16 его срез дифференцируется блоком 8.3 дифференцирования (см, фиг, 2 ги) и после инвертирования блоком 12 (см. фиг. 2,к) и задержки вторым элементом 17.2 задержки через первый электронный ключ 20.1 вновь подается на второй Вход Второго элемента ИЛИ 5,2, а с его Выхода в виде третьего импульса О поступает на вход с етного три-гера 11, третьего элемента 17 задержки и ждущего мультивибратора 16, Ждущий мультивибратор 16 опять срабатывает и на его выходе формируется третий импульс Оз ,см, фиг, 2.в), Счетный тоиггео 11 переводит 20022705 10 20 25 30 ся в положение...

Номер патента: 2002271

Опубликовано: 30.10.1993

Авторы: Акчурин, Огнищев

МПК: G01R 31/26

Метки: быстродействия, свч-транзисторов, фотодетекторов

...излучения многочастотного лазера после его детектирования на быстродействующем фотодетекторе.Последовательность операций, необходимых для реализации данного способа в соответствии со схемой, показанной на фиг.1, выглядит следующим образом.Излучение многочастотного инжекционного полупроводникового лазера 1 с просветленной рабочей гранью, внешким перестраиваемым резонатором, содержащим микрообъектив 2, в фокусе которого находится активная область лазера, и юстируемое полупрозрачное зеркало или дифракционную решетку, светоделительной пластинкой 5 делится на двз пучка, один из которых используется для измерения оптического спектра излучения с помощью дифракционного монохроматора или эталона Фабри-Перо б, низкочастотного фотодетектора...

Номер патента: 2002272

Опубликовано: 30.10.1993

Авторы: Андрианов, Арманд, Штерн

МПК: G01S 3/12

Метки: грунта, диэлектрической, планеты, проницаемости

...отличия",Рассмотрим физическую сущность предлагаемого способа. Для его реализации измерения проводят в три этапа. Первый этап - калибровка аппаратуры. С этой целью придвижении космического аппарата - искусственногоспутника планеты(ИСП) над освещаемой Солнцем дневной стороной ее поверхности выше максимума электронной концентрации ионосферы йавпва" (2 в) (фиг. 1), где 2 в - высота максимума электронной концентрации над поверхностью планеты, с борта ИСП в перпендикулярном к поверхности планеты направлении (в надир) излучают радиоволны разных частот Ь, й"1,2,3, йвийИвах, йвп 6-7, Ива15, при этом Ь1 ы, где Гм - критическая частота дневной ионосферы при ее зондировании в надир, 1 со = Г 81 й еУ где Им" - максимум ионизации дневной...

Номер патента: 2002273

Опубликовано: 30.10.1993

Автор: Алексеев

МПК: G01C 21/00, G01S 3/72

Метки: координат, небесных, оптическом, радиодиапазонах, связи, установленных

...определяют координаты указанной точки по карте звездного неба ав, Зв - координаты проекции базы 10 В на небесную сферу.Неизвестные небесные координаты.авр, Звр проекции базы В на небесную сферу. в радиодиэпаэоне определяют по со. Отношеньим авр=О авЗвр = РЗв 20 где О, Р - коэффициенты связи указанныхкоординат, определяемые следующим образом.Вектор базы В можно записать в де картовой системе координат 30 задержки ть т 2: 1 ., 1т: -В, 81); т 2 = - (В, 82). (3)СС35где С - скорость света:81. 82 - единичные векторы направления на первый и второй исследуемые радио источники скоординатами аф, 81 ий 2, 82.соответственно: 8 х 1 соз 81 соза 13 = 3 у 1 = созЗ з 1 па 145 8 1 зМЗ 1 50 блок 7 обработки по телеметрическим каналам связи 8, 9...

Номер патента: 2002274

Опубликовано: 30.10.1993

Авторы: Гладких, Жомин

МПК: G01S 3/42, G01S 3/74

Метки: источников, координат, радиосигналов, угловых

...подаваемое на управляющие входы переменных фазовращателей ФХ 31,Переменные фазовращатели 31 обеспечивают установку фазового сдвига, идентичного сдвигу между вертикальными столбцами элементов антенной решетки для моделируемых направлений прихода и поляризации. Напряжения с выходов аттенюаторов 21 или 23 (для нечетных и четных столбцов соответственно) подаются на сигнальные входы переменных фазовращэтелей 32 (в нечетных столбцах - через 33).Блоки 15 - 22 предназначены для формирования коэффициентов,их и ру, определяющих соотношение амплитуд сигналов, соответственно при ориентации АЭ вдоль осей Х и У и вычисляемых согласно выражениям (19), исходя иэ зависимости(20) 40 45 50 55 Значение параметров,их и ру с выходов блока определения...

Номер патента: 2002275

Опубликовано: 30.10.1993

Авторы: Гнитько, Ельцов

МПК: G01S 7/52

Метки: многолучевой, приемник, ультразвука

...содержат многовыводные линии задержки 14, выводы которых соединены с магистралью 8, выход коммутатора 15 является выходом управляемой линии задержки 4, 5.Устройство работает следующим образом,При поступлении на управляющий вход устройства импульсного сигнала "Прием кадра" счетчик 12 в блоке распределения 7 обнуляется и на адресные входы ПЗУ 13 поступает нулевой код. В результате на магистраль 8 выдается содержимое первой ячейки ПЗУ 13. В ПЗУ 13 находятся коды, управляющие работой коммутаторов 15 управляемых линий задержек 4. 5, благодаря чему задаются величины времен задержек сигналов, поступающих с преобразователей матрицы 1, Величины задержек а ячейках 3 каждого ряда выбираются так, чтобы обеспечить появление на выходе приемника...