Устройство для калибровки магнитных дефектоскопов

(51) 5 661 И 27 8 САНИЕ ИЗОБРЕТЕН ПАТЕНТУ Комитет Российской Федерации о патентам и товарным знакам(71) Могилевский машиностроительный институт(72) Шарова АМ; Синица Анйехнояич ГА(73) Могилевский машиностроительный институт(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ КАЛИБРОВКИ МАГНИТНЫХ ДЕФЕКТОСКОПОВ(57) Изобретение относится к средствам неразрушающего контроля и может быть использовано длякалибровки магнитных дефектоскопов. Цельюизобретения является повышение достоверности калибровки магнитных дефектоскопов Это достигается тек что в устройстве для калибровки магнитных дефектоскопов, содержащем образец без дефекта. закрепленные на нем имитатор сварного шва и имитатор дефекта в риде электропроводящей пластины, ширина которого меньше ширины имитатора сварного шва, и два источника тока, подключенных к соответствующим имитаторам, имитатор сварного шва выполнен в виде цилиндрического сегмента с хордой, равной ширине усилия имитируемого шва, к стрелой, равной высоте его усипения .Э ил55 Изобретение относится к средствам не- разрушающего контроля и может быть использовано для калибров маитных дефектоскопов.Известно устройство для калибровки магнитных дефектоскопов, содержащее бездефектный образец с закрепленным на нем имитатором дефекта в виде электропроводящей пластины, ширина которой равна минимальному дефекту, и источника тока, подключенного к имитатору дефекта (1).Недостатком указанного устройства является невозможность калибровки магнитных дефектоскопов, предназначенных для контроля сварных соединений, так как с его помощью невозможно учитывать размагничивающее действие усиления шва,Наиболее близким по технической сущности к достигаемому результату является устройство калибровки магнитных дефектоскопов, содержащее образец без дефекта, закрепленные на нем имитатор сварного шва и имитатор дефекта в виде электропроводящей пластины, ширина которого меньше ширины имитатора сварного шва, и два источника тока, подключенных к соответствующим имитаторам 2),Недостаток устройства в той, что в реальном сварном соединении усиление шва в поперечном сечении имеет форму, близкую к сегменту, а ь прототипе усиление шва имитируется плоской пластиной, распределение напряженности магнитного поля на поверхности которой будет значительно отличаться от распределения поля на реальном сварном соединении, что снижает достоверность калибровки,Целью изобретения является повыше. ние достоверности калибровки магнитных дефектоскопов.Это достигается тем, что устройство для калибровки магнитных дефектоскопов, содержащее образец без дефекта, закрепленные на нем имитатор сварного шва и имитатор дефекта в виде электропроводящей пластины, ширина которого меньше ширины имитатора сварного шва, и два источника тока, подключенных к соответствующим имитаторам, согласно изобретению имитатор сварного шва выполнен в виде цилиндрического сегмента с хордой, равной ширине усиления имитируемого шва, и стрелой, равной высоте его усиленич,На фиг, 1 представлено сварное соединение с поверхностным дефектОм и распределение напряженности магнитного поля Н на его поверхности; на фиг. 2 - устройство для калибровки, описанное в прототипе, и распределение Н на его поверхности; на фиг, 3 - заявляемое устройство и распределение Н на его поверхности.Так как усиление сварного шва 1 (фиг, 1)оказывает на намагниченность сварного 5 соединения размагничивающее действие,зависящее от Формы усиления, распределение Н на его поверхности неоднородно(фиг, 1).При имитации усиления шва плоской пластиной 2 (фиг. 2) с током, распределение Н 10 на поверхности образца значительно отличается от распределения Н на реальном сварном изделии (фиг, 1) (различные значения вагаб Н), Это вызвано тем, что усиление реального шва (фиг, 1) имеет форму сегмен та со стрелой равной С и шириной, равной Ь.При использовании в качестве имитатора шва сегмента 3(фиг, 3) с теми же размерами, что и усиления реального сварного соединения, распределение Н на его поверхности 20 (фиг, 3) будет соответствовать распределению Н на реальном сварном шве(фиг, 1), что повышает достоверность калибровки магнитных дефектоскопов.Устройство для калибровки магнитных 25 дефектоскопов работает следующим образом: от источников тока по имитаторам дефекта и шва пропускают во взаимно противоположных направлениях электрический ток, а на бездефектный образец воз действуют внешним магнитным полем,направление которого совпадает с магнитным полем имитатора дефекта, При этом над образцом образуется магнитное поле, являющееся суммарным от внешнего поля, 35 поля имитатора дефекта и поля имитаторашва. После этого на поверхности устройства для калибровки устанавливают датчик магнитного дефектоскопа, регистрирующий магнитные поля рассеяния устройства, По сле этого регулируют чувствительность дефектоскопа так, чтобы дефектоскоп выявлял задан н ый дефект.П р и м е р, Калибруют магнитографический дефектоскоп МДГ для контроля сварного изделия толщиной 6 мм со следующими размерами усиления шва: ширина - 15 мм, высота - 2 мм. Необходимо выявить дефекты шириной более 0,5 мм, Толщина бездефектного образца 6 мм.50 Имитатор шва представляет собой в поперечном сечении сегмент с хордой 15 мм и стрелой 2 мм, имитатор дефекта - пластина шириной 0,5 мм. Они укладываются на бездефектный образец, на них укладывают ленту И - 4701. Образец намагничивают полем 250 А/см, а по имитаторам шва и дефекта пропускают ток силой 100 и 15 А соответственно, Считывают магнитограмму с ленты икалибруют дефектоскоп.(56) 1. Авторское свидетельство СССРМ 911305, кл. 0 01 М 27/82, 1982. Формула изобретенияУСТРОЙСТВО ДЛЯ КАЛИБРОВКИ МАГНИТНЫХ ДЕФЕКТОСКОПОВ, содержащее образец без дефекта, закрепленные на нем имитатор сварного шва и имитатор дефекта в виде злектропроводящей пластины, ширина которого меньше ширины имитатора сварного шва, и два источника 2, Авторское свидетельство СССРМ 1589190, кл, С О 1 й 27/82, 1990. 5 тока, подключенных к соответствующимимитаторам, отличающееся тем, что, с целью повышения достоверности калибровки, имитатор сварного шва выполнен в виде цилиндрического сегмента с хордой, 10 равной ширина усиления имитируемогошва, и стрелой, равной высоте его усиления.