Патенты с меткой «диэлектрической»

Номер патента: 43459

Опубликовано: 30.06.1935

Автор: Вологдин

МПК: H01B 3/10, H01G 4/10

Метки: постоянной, диэлектрика, диэлектрической, большой

...из отдельных мелких кристаллических зерен рутила или четы. рехокиси титана, спрессованных под большим давлением.В качестве связывающего материала между отдельными зернами применены легкоплавкие силикаты в виде мелкого раздробленного порошка или смолы, естественные или искусственные, для чего при прессовали температуру массы поднимают до пределов, отвечающих размягчению связывающего материала,Предлагаемый способ изготовления диэлектрика имеет целью повышение качества диэлектрика как в смысле диэлектрической постоянной, так и в смысле диэлектрической прочности. Для этого после прессовки материала в требуемую форму диэлектрик подвергают действию высокой температуры, превосходящей 1200, в течение нескольких часов, При этом материал...

Номер патента: 59738

Опубликовано: 01.01.1941

Автор: Немилов

МПК: H01J 9/20

Метки: полупрозрачной, металлической, диэлектрической, мозаики, подкладке

...она величиной сопротивления Кили напряжением источника тока,Однако, значение К должно бытьне меньше 2 - 5, 10 2 так как в противном случае мозаика получаетсяочень крупной и неравномерной. Вообще, чем больше длина искры, т. е.чем выше напряжение источника именьше сопротивление К, тем вышеполучается коэфициент заполнения, новместе с тем увеличиваются неравномерность мозаики и размеры самихэлементов.Для того, чтобы получить равномерную мозаику на большой поверхности, удобно пользоваться электродомв виде металлической пластинки 5, которая, передвигается над слоем (фиг. 2)при помощи червячной передачи. Приэтом край пластинки, обращенныйк мозаике, должен быть очень ровными находиться на расстоянии от слоя неменьше 1 мм, так как иначе...

Номер патента: 67369

Опубликовано: 01.01.1946

Автор: Коровин

МПК: G01R 27/00, G01R 27/26

Метки: проводимости, постоянной, веществ, диэлектрической

...роводиатора С нс ос С нденсаторов ПИ САН И конденсатор переменнои емкости (воздушньй нли вакуумный), С. - ндеальньш конденсатор постоянной емкости, Р Р и Р;, - переключатели.Измерение проводимости при помощи приведенной схемы производится следующим образом.Конденсатор С, заполняется исследуемым веществом, и затем уравновешивается идеальным переменным конденсатором С 2.При производстве указанной операции переключатель Р, ставят в положенпе а, а переключатели Р, и Ре ставят сперва в положение в, а затем в положение а,Затем поочередно включают конденсаторы С и Са последовательно с идеальным конденсатором Сз и измеряют в обоих случаях суммарную емкость. Прп производстве этих операций переключатель Р; ставят в положен.е в, а...

Номер патента: 71430

Опубликовано: 01.01.1948

Автор: Валитов

МПК: G01R 27/26

Метки: сантиметровых, постоянной, волнах, диэлектрической

...схема устройства.Электромагнитные колебания с длиной волныпоступающие от генератора сантиметровых волн, расщепляются на два колебанц (лц и лд) и распространяются в разветвлениях волновода. Одно развегнление наполнено известным диэлектриком Е а другое -- исследуемым диэлектриком Е. Так как скорость расцространения электромагнитных колебаний в различных средах различна, то в конце разветвления, где волновод образует общую замкнутую полость, произойдет ин 1 ерференция волн Х, и ла. Интерференционные минимумы волн определ- ются детектором Д и микроамперметром Г, которые связаны с общей полостью волновода. Предмет изобретения Устройство для измерения диэлектрической постоянной на сантиметровых волнах, отличающееся тем, что оно...

Номер патента: 74769

Опубликовано: 01.01.1949

Автор: Караев

МПК: G01F 23/26

Метки: жидкости, диэлектрической, уровня

...хорошо изолированных от окружаюгцей среды про"дойками Л, непроницаемыми для жидкости, К обеим обкладкам примыкают нагревательные спирали Л н Н, также имеющие герметическую изоляцию, Спирали предназначены для прогрева пространства К с тем, чтобы при кажчом изменении уровня жидкость легко смывалась со стенок, а линия раздела водь 1 и жидкости обозначалась совершенно четко,Г 1 итание спиралей М и Н осуществляется одним проводом П.Из.;:ерен 1 е емкости конденсатора С осуществляется мостом переменного тока, плечами котооого служат конденсаторы С, Са и С 1,В конденсаторе Сь, помещаемом у самого бортового отверстия цистерны, диэлектриком является вода, которая должна постоянно циркулировать.Диэлектриком конденсатора С.ь устанавливаемого на...

Номер патента: 79164

Опубликовано: 01.01.1949

Автор: Берлинер

МПК: G01R 27/26, G01N 27/22

Метки: твердых, конденсатор, прибору, тел, влажности, диэлектрической, постоянной

...поля будут частично замыкаться и по поверхности образца, что не препятствует измерению влажности, производимому по шкале с эмпирической градуировкой, учитывающей суммарный эффект емкости и поверхностной проводимости.Конденсатор позволяет измерять влажность и в тех случаях, когда доступна лишь одна поверхность исследуемого тела или когда это те ло не имеет правильной геометрической формы. В последнем случае достаточно создать плоскую поверхность с площадью, равной площади конденсатора.Если необходимо в течение длительного времени контролировать влажность в определенной зоне образца, электроды 1 и 2 в виде тонких слоев металла наносят непосредственно на исследуемый материал путем распыления. Это позволяет быстро и дешево изготовить...

Номер патента: 81970

Опубликовано: 01.01.1950

Автор: Петровский

МПК: H01G 4/06

Метки: диэлектрика, постоянной, толщине, значения, диэлектрической, пластин, отношению, автоматической, сортировки

..."1 сскоп с 01)тПОП,)-. СТ 1)103( -,ПЭ. ЕКТПИКД; Н;3 1. . - ЗЯГРУЗОЧНЫ )ЕКЯНИЗ:.СТРССТБ.: .251 ВТО.ЯТ.ЕС)1 сортирозки, .Тс рп)кс.сс пя с)иг (РС (С:З СИС. Е.Ь СОРТИ)ОПКППСТС,СО.,ЗСЫВЯНИП, Р "Ы тс(МЯ. П,12 СТПКЯ . ЗЪГЕКТРПКЯ ПЯ,ЯСТ Н ; и;к - и р 3330 т. мы: 30 В 1)япеп и, э(сктро;,БГЯтс;ссрсз 1 сд(к - тор . 31 рп .:;2 с ип этОГО дпск 3, 1 ",".1 КЯ,.ПО.(опт пс 10 покязЯН- ПО; 0 13 ПКГ по КОН-,СПСПТР;)Я С 00.Р Э(БЯНПО О ЗЯЗС),1 СИНОП ПОВ(.", КПОСТ 10 ТП КП 9 3 П, Г НР ) П 2 ;Г 11 ), 13,)(. СТГГНК)11,151 СО01 зто 1)0(ь;, с:.к г кайнд(. НОЯ Гор 2, )ЫГП РЯС 051 ,0 3; .ПНО. К 1 ИВГП, 112 1).3)100,0ЯС Г 1 ЛОСКО 1)О - СТП 2.1 СТСН.О. СП.)Я;П.ТПО;:1 ТСЛ. К ". БСЛИЧ;П;3 ) О,1 Н 13 -(пспсгсдит".2".: . т31; ят .В ИО НСЕ ПРГС.;СИКСЯ ВРС),.и ЗЯГР,ЗКП 0...

Номер патента: 83592

Опубликовано: 01.01.1950

Автор: Петровский

МПК: H01G 4/06

Метки: пластин, диэлектрика, отношению, постоянной, сортировки, диэлектрической, автоматической, толщине

...СВ 5133 ных с ГЛзсПОЙ 2. )К 311 11 плп 16 В это Бсм 5 ВБГЙдет из 3330- рс 1 ГГС)д) ОГГГс(МП ВС)суЖЛЕПИ 16 И 17. ЧТО ВОССТЗНОБИТ Збот ГЕ- нератора 1).При пскотоом отпосителы(ом положеи пластин 18 п 20 или 19 и 2( и котуре гспеато 3 .( 0 ажстс 51 ъ 1 осгь, ооеспсИБ 210(251 05 В,ГЕППС СПГПЗ;3 Пс 1 ВЫХОДС УСИГПТСЛ 51 11 ПРОМЕЖУТО 1 ОЙ ЗСТОЫ С,ДЕТС 30)ОМ 12. ) СЛЕ (5 Сабогс(ЕГ, 1 ТО ПОБЛСс(ЕТ 33 СобСИ СОЗСЬ 1 БЗПИС ПЛЗ- стис(ы диэ 1 ектрН(с 1 1 Б одп" ,3 ЗППР 1 х 5(ч 22 или 24 иисмОГО: 5 ШПКЗ,"), ГДЕ бЪДУТ СЗПЛИБЗТЬС тс 1 ПЕ П 1 с 1 СТИ 11;1 ИЭЛСКТп 2, КОТОЫЕ ПС ОТВЕЧ 310 Т ПО СВОПМ ДИЭЛСКТПВСКИХ Пас 1(С(1 М ПЗСТОЙЕ СОИ- рсвочного автомата.В Дс 1 ЛЬНСЙП 1 ЕМ ППКЛ ЗООТЬ СОТПОБОПОГО ЗВТОМЗТЗ ПОВТО 51 СТСЯ.1 ре цм ет зоб ретен ия1, УСТРОЙСТВО...

Номер патента: 84625

Опубликовано: 01.01.1950

Автор: Петровский

МПК: H01G 4/06

Метки: диэлектрика, сортировки, отношению, толщине, пластин, диэлектрической, постоянной, автоматической

...на ходовой части микрометрического винта, механически связаны одна с другой и могут перемещаться в направлении1перпендикулярном по отношению к неподвикным пластинам, а такжеприменением в бункера кулачка, пода 1 ощего командный импульс дляблокировки цзмерцтельцои системы,На чертеже изображена схема описываемого устройства.Устройство состоит цз измерительной системы, сбрасывающего приспособления, подвижного бункера для рассортированных пластин ивспомогатель;ых приспособлений,Испытуе кс пластина 1 диэлектрика через загрузочцу 1 о щель 2 поступает ца е ионный лоток . При опущенном упоре 4 пластина 1 скаТехред Т, П. Курилко Редактор И. М Майзенберг Корректор А. фомина Обьем 0,26 изд. л.Цена 5 коп. формат бум. 70 Х 08/6 Тираж 200 ЦБТИ при...

Номер патента: 84626

Опубликовано: 01.01.1950

Автор: Петровский

МПК: H01G 4/06

Метки: толщине, пластин, диэлектрической, отношению, автоматической, постоянной, диэлектрика, сортировки

...обкладки измерительного и компенсируюц 1 его конденсаторов.На чертеже изображено устройство автомата для сортировки пластинок диэлектрика.Испытуемая пластинка 1 диэлектрика поступает на наклонный лоток 2. При опускании упора 3 пластинка 1 соскальзывает по лотку 2 до упора 4, расположенного на выходе измерительного конденсатора, образованного неподвижной пластинкой б и подвижной пластинкой 6, закрепленной на скобе пьзезоэлемента 7. Емкость, образованная пластинками б и б, введена в контур смесителя гетеродина 8. Задающая частота на гетеродин 8 поступает от генератора 9, в контур которого введена емкость, образованная пластинкой 10, закрепленной на другом конце пьезоэлемента 7, и продолжением пластинки 5, При одинаковгях...

Номер патента: 101134

Опубликовано: 01.01.1955

Автор: Валитов

МПК: G01R 27/26

Метки: непосредственного, сверхвысоких, частотах, диэлектрической, проницаемости

...проницаемость по углу поворота образца под действием пондеромоторных сил электромагнитного поля. На чертеже показана схема устройства для осуществления предлагаемого способа.По волноводу прямоугольного сечения, присоединенному к генератору 1 сверхвысокой частоты, распространяются волны типа 01 в. Волновод расположен так, что его широкая сторона лежит в вертикальной плоскости. Поперек волновода вертикально проходит ось 2, подвешенная на кварцевой нити 3 крутильных весов, На оси укрепляется образец 4 испытуемого материала с диэлектри ческой постоянной г, выполненный в виде эллипсоида вращения и повернутый под углом о к оси волновода.Для устранения отражения волны в месте нахождения образца - эллипВелич а е поворота эллипсо и...

Номер патента: 101968

Опубликовано: 01.01.1955

Автор: Валитов

МПК: G01R 27/26

Метки: газов, проницаемости, диэлектрической, жидкостей, частотах, сверхвысоких

Номер патента: 113390

Опубликовано: 01.01.1958

Автор: Терещенко

МПК: G01R 27/26

Метки: сверхвысоких, диэлектрической, частотах, проницаемости

...принципиальная схема измерительного устройства для осуществления опис.;: - ваемого способа, где: 1 - блок питания; 2 - клистронный генератор;3 и 9 - аттенюатосы; 4 - псгло.цдющая нагрузка; 5 и 8 - детекторные головки; б - эталонный резонд;ор; 7 - сгрелочный шгц 1 катор; 10 - п,с.,едуемый образец диэлектрика;1 - коиоткозамыкдюитдя пластин 1-12 вход дискриминатора подается сшлдл постоянной частоты и по:тоянной мощности. При номиналь.ой чдс.оте для данного дискримипдгорд индикаторный прибор, измергпоценй разность тока в детекторах, нс дает отклонений. Поме:цдя в плечо одного детектора обисследуеамсго диэлектрика 10 в форме пластины определенной толщины, вплотную прилегающей и корсткозамыкдюЦсп пластинке 11, создают между вслнами сдвиг...

Номер патента: 115514

Опубликовано: 01.01.1958

Авторы: Шестопалов, Яцук

МПК: G01R 27/26

Метки: диэлектрической, сверхвысоких, проницаемости, частотах

...устройство пригодно для измерения твердых и жидких диэлектриков. При измерении в сантиметровом диапазоне можно пользоваться образцами относительно небольших геометрических размеров. Предмет изобретения Устройство для измерения диэлектрической проницаемости матс- риалов на сверхвысоких частотах, состоящее из волновода, в который помещается:испытываемый диэлектрик, и измерителя длины волны в волноводе, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью увеличения полосы частот, при которых можно определять диэлектрические свойства материалов, и упрощения расчетов, в качестве волновода грименена спиральная замедляющая система,Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Иинистров СССР Редактор Л. И. Ситников...

Номер патента: 135962

Опубликовано: 01.01.1961

Автор: Филимонов

МПК: G01R 31/12

Метки: неоднородности, диэлектрической, сегнетодиэлектриков, исследования

...- 10 000 гц и слой электролюмицофора начинает светиться. При этом яркость свечения каждой точки электролюминофора пропорциональна диэлектрической проницаемости соответствующей точки сегцетодиэлектрика. По цаблюдецию яркости свечения электролюмннофора в различныл точкак исследуемого образца судят об его диэлектрической неоднородности.Для визуального или фотографического исследования кинетики процессов поляризации и персполяпизацци сегцетодиэлектрика к конденсатору одновременно с переменным прикладывают и постоянное электрическое поле илц подают на него прямоугольные импульсы различной амплитуды, длительности и полярности. П редмет зобретен ектрической неоднородности сегнетодичто, с целью упрощен и я процесс а ц сегнетодиэлектрика с...

Номер патента: 137582

Опубликовано: 01.01.1961

Автор: Шмигель

МПК: G01R 27/26

Метки: проницаемости, частиц, преимущественно, эллипсоидальных, диэлектрической, зерна

...К от 1 до 0 с интервалами сферичности через 0,01 (или 0,005). По этому графику определяется искомая величина яЭталонная эллипсоидальная частица выполняется из мягкого металла (диэлектрическая проницаемость металла 2= с ). Желательно иметь эталонные эллипсоиды различных сферичностей ,0,1: 0,2; 0,3; 0,4; 0,5; 0,6; 0,7; 0,8; 0,9),Прибор для настольного пользования размещается в металлическом ящике, имеющем форму параллелспипеда. На передней стенке прибора (фиг. 2) в нижней его части установлен большой круглый экран Зк с градусной сеткой, на который в процессе измерения проектируется тень измеряемой частицы, На передней же стенке прибора размещены многопредельный вольтметр Г с переключателем диапазонов ПВ, сигнальная красная лампа ЛК...

Номер патента: 139690

Опубликовано: 01.01.1961

Автор: Взятишев

МПК: G01R 27/26

Метки: диэлектриков, потерь, высококачественных, угла, диэлектрической, проницаемости

...ДИЭЛЕКТРИКОВМ 139690 Если в (2) выразить , как это рекомендует ЖаИег М. Е 1 засзег Затухание в круглом диэлектрическом стержне, 1, о 1 Арр 1, РЙ, ч, 20, р. 1193, 1949 г., то после преобразованйя; 1, (о-- =- К 11 с + - оЯ и(4) где параметры испытуемого материала;длина волны в свободном пространстве, см;безразмерный коэффициент, зависящий.от диаметра стержня и длины Волны; И = - порядок реЗОнанСа. ).Ь Х Зависимости - ,С.определяю счетным путем и стро г а ки. Коэффициент (1-Г) рассчитывают36,5 10 фи о формуле мл 2ей стенки,ол л где: х проводимость материала ограничив к, например, для стенки, выполненнои из1,25 слх, 1 д б 3,04: 10 4 .я повышения точности измерений и устраненсхемы измерения необходимо проводить сратной длины.я...

Номер патента: 165796

Опубликовано: 01.01.1964

Авторы: Батура, Антонов, Гладышев

МПК: G01R 27/26

Метки: диэлектрической, прибор, измерений, точнб1х

...Прибор для трической прониц диэлектрических 10 ков при высоких вом диапазоне во с подвижным кор котором находитс лич а ющи й ся 15 ния точности изме снабжен зарубаш циркулирует хлад 2. Прибор по и. что, с целью искл 20 обмена, в полостиПодписная группаИзвестен прибор для точных измерений диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь твердых диэлектриков при высоких температурах в сантиметровом диапазоне волн, содержащий резонатор с подвижным короткозамкнутым поршнем, на котором находится испытуемый образец.Конструкция прибора имеет существенный недостаток: при нагреве диэлектрика происходит изменение размеров резонатора, что приводит к изменению его собственной частоты; в результате снижается точность...

Номер патента: 176119

Опубликовано: 01.01.1965

Авторы: Лукина, Лукь, Усиков, Иванова

МПК: G01N 27/22, G01R 31/16

Метки: диэлектрической, проницаемости, веществ, ячейка

...коаксиально расположенных измерительных приборов помещена центральная вводная трубка, выходящая открытым конусом через горловину внешнего объема и бифилярную соединительную трубку, расположенную вокруг центрального ввода. На чертеже изображена ячейка для определения в жидких веществ с хорошей проводимостью.Измерительная часть ячейки, выполненная 5 из стекла, представляет собой два соосных цилиндра 1 и 2, соединенных бифилярной трубкой д с небольшим проходным сечением, Геометрические размеры этой трубки в основном определяют постоянную в ячейки. По оси ци линдров проходит центральная вводная труб-,ка 4 большего поперечного сечения по срав-, нению с трубкой 3. Трубка 4 соединена с внутренним цилиндром 2 и предназначена для заполнения...

Номер патента: 189214

Опубликовано: 01.01.1966

Авторы: Научно, Чурин, Рогоз, Громов

МПК: G01N 27/22

Метки: диэлектрической, газа, проницаемости

...выводе переорасывающегося контактапереключателя 16 посажен симметричный сердечник (на чертеже пе показан) из электротехнической стали (как и сердечники катушек), расположенный вдоль оси симметриипоследних так, что с обеих сторон остаютсяодинаковые воздушные зазоры. Эти зазорыпри условии жесткой конструкции сердечников обеспечивают постоянную силу нажатияконтактов переключателя и, следовательно,постоянное контактное сопротивление. "1 тобыокружающие условия не оказывали влиянияна паразитные емкости в узле переключения6, переключатель 16 помещен в алюминиевыйэкран, герметизированный прокладками (начертеже не показан).Измерительный конденсатор б, в которомпомещается исследуемое вещество, изготовля:ют, исходя из условий работы его...

Номер патента: 202569

Опубликовано: 01.01.1967

Авторы: Успенский, Чеботарев, Васильев, Яцковский, Ангарский, Россиневич

МПК: G01N 27/22

Метки: проницаемости, растворов, диэлектрической

...отверстия, 25 Внутри баллона находится кольцевой поплавок 4, представляющий собой цилиндрическое кольцо, например из фторопласта, с полостью для всплывания. Кроме того, внутри ко.пьца имеются включения из магнитного 30 материала, например железный или ферритовый магнитный кольцевой сердечник. Снизу поплавок прикрыт легким пластинчатым клапаном б, который притягивается к поплавку пружиной.Обкладки конденсатора соединены с коаксиальным выводом б,Над сосудом ячейки диэлькометра расположена воронка 7 с фильтром 8, которая сообщается с верхней частью баллона 1. Нижняя часть баллона соединена с отсосным капилляром 9. Выходной конец капилляра и воронка закрыты притертыми пробками 10. Воронка и капилляр соединены пробковым краном 11....

Номер патента: 208032

Опубликовано: 01.01.1968

Автор: Егоршин

МПК: G01R 27/26

Метки: проницаелости, диэлектрической, газов

...равна четверти длины волны в нем. Остальную часть резонатора, длина которой равна половине длины волны в вакууме, заполняют исследуемым газом.Слой 4 диэлектрика одновременно служитгерметизирующим уплотнением между частью 5 резонатора, заполняемой исследуемым газом,и частью, вакуумированной или заполненной газом с известным значением е 2 диэлектрической проницаемости, например воздухом.При заполнении части резонатора иссле дуемым газом изменение резонансной длинырезонатора, осуществляемое с помощью поршня, пропорционально величине- )1 ц 1где ф, - фазовые постоянные соответствен но диэлектрического слоя и газа с известнымзначением проницаемости.Методика измерения состоит в следующем.Изменением длины резонатора производится настройка в...

Номер патента: 237936

Опубликовано: 01.01.1969

МПК: G01R 27/26

Метки: субмиллиметровом, пленок, действительной, миллиметровом, части, диэлектрической, проницаемости, диапазонах, тонких

...описываемого способа значение диэлектрической проницаемости определяют по длинам волн двух соседних максимумов коэффициента прохождения нормально падающей на заполненную диэлектриком решетку Н-поляризованной плоской волны.На чертеже изображено устройство для осуществления предлагаемого способа.Исследуемую пленку (на чертеже не показана) помещаюг в узкие щели 1 дифракционной решетки с периодом 1, ширина которых оп. ределяется толщиной пленки. Решетка представляет собой набор плоскопараллельных металлических брусьев 2 прямоугольного профиля высотой 11 из материала с высокой проводимостью, размещенных на расстоянии 11 один от другого. Брусья установлены на цилиндрических направляющих 3, которые стягиваются гайками 4. Величина...

Номер патента: 240051

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Зьков, Яновский, Щербов

МПК: G01N 27/62, G01R 27/26

Метки: плотности, проницаемости, электронов, плазмы, газоразрядной, диэлектрической

...радиоинтерферометра с генератором электромагнитных колеба ий СВЧ-диапазона.Известный способ предназначен для измерений параметров нестационарной плазмы, при этом на выходе интерферсметра регистрируется интерферометрическит". сигнал, по числу максимумов которого судят о плотности плазмы.Предлагаемый способ позволяет производить измерения параметров стационарной плазмы. Для этого частоту генератора интерферометра модулируют пс периодическому закону и определяют амплитуду относительной девиации фазы на выходе,интерферометра, Величина девиации фазы Дч связана с величиной частотной модуляции Дто и параметрами плазмы - протяженностью 1 и диэлектрической проницаемостью е - соотношением По величине Дтр можно определить концен.трацию частиц...

Номер патента: 243246

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Чурин, Рогоз, Громов

МПК: G01R 27/26

Метки: газов, конденсатор, диэлектрической, проницаемости

...которой отсутствует электрическое поле.Корпус герметично закрыт текстолитовым 5 фланцем 18 с резиновым уплотнением И, затянутыми болтами 15 со стальными шайбами 1 б.Опущенный в ртуть внутренней обкладки 8электрод 17 из нержавеющей стали приварен о к выводу 18, который, благодаря резиновомууплотнению 19 и затяжной гайке 20, выведен из корпуса через текстолитовый фланец 18 без нарушения герметичности конденсатора. К электроду 17 приварена шайба 21 с экраниру ющим полость 9 стальным трубчатым цилиндром 22, длину которого и уровень ртути в полости 9 выбирают таким образом, чтобы емкость конденсатора при нагреве без исследуемого газа не изменялась. В верхней части амо пулы 7 выполнены уплотнение 28 и уплотнение243246 Н. йтиронова ставител...

Номер патента: 243734

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Зайцев, Изаков

МПК: G01R 27/26

Метки: диэлектрической, проницаемости

...электродабтсутствип изоляции,(8) 40 3Гранула 9 располагается на заземленномэлектроде 1 длинной осью поперек поля. Дляэтого случая заряд гранулы в поле где а - длина гранулы;О - ширина гранулы;Кф - диэлектрический коэффициентформы, зависящий от диэлектрической проницаемости и соотношения осей гранулы;1 д (Я) - показатель разрядки, зависящийглавным образом от конкретногосопротивления гранулы, находящейся на плоскости.Так как объемное удельное сопротивление полихлорвиниловой пленки 2 больше сопротивления гранулы в 106 раз, то для практических расчетов показатель разрядки 1 д(Р) принимаем равным единице.Учитывая это и подставляя значения Я и о в формулу (1), получимЕгаЬ + ЕаЬэ (3)4 Кф 4 (Ь + 4 й)где еп - диэлектрическая...

Номер патента: 249026

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Казаков, Левин

МПК: G01N 27/22

Метки: индикации, заданного, веществ, диэлектрической, проницаемости, значения, отклонения

...их, чтовило, делает его неприемлемым длятых целей. осится к бесконтактным мефизико-химических свойств найти широкое применение а также лабораторной пракПредлагаемый способ индикации отклонения диэлектрической цроницаемости веществ от заданного значения свободен от этих недостатков. Для пояснения его реализации рассмотрим принципиальную измерительную схему резонансного преобразователя, содержащего емкостную бесконтактную ячейку (см. чертеж). Для,простоты ограничимся рассмотрением преобразователя с параллельной измерительной схемой,Здес Ч - генератор высок1. - индуктивность оконтура;С - теременный конденсатор, необ ходимый для настройки колебательного контура в резонанс перед началом измерений;г - эквивалентное сопротивлениепотерь в...

Номер патента: 254593

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Галанина, Николаев, Данилов, Зотова

МПК: G01R 27/26

Метки: диэлектрической, проницаемости, листовых

...величинами диэлектрической проницаемости(пенопластов) .На чертеже изображено предлагаемое уст 5 рон ство,Устройство содержит облучающую антенну1, неотражающую стенку 2. Между облучающей антенной и испытуемым диэлектриком 3введен импедансный трансформатор в видеплоскопараллельных пластин 4 из диэлектри 10 ка с известной диэлектрической проницаемостью. Измерение свойств листовых диэлектриков состоит в экспериментальном определенииусловий отсутствия отражения плоской илисферической электромагнитной волны от си 15 стемы, содержащей измеряемый образец и двеплоские диэлектрические пластины с известной диэлектрической проницаемостью е, расположенные над ним.Пластины и образцы размещаются в парал 20 лельных плоскостях, и расстояния 1 и 1...

Номер патента: 255409

Опубликовано: 01.01.1969

Автор: Шмигель

МПК: G01R 27/26

Метки: проницаемости, диэлектрической, частиц, эллипсоидальных

...чертеже приведена схема, поясняющая описываемый способ.Испытуемую частицу 1, предварительно взвешенную и обмеренную, помещают в однородном электрическом поле, образованном плоскими горизонтальными электродами 2, 3 на плоский слой диэлектрика 4, который расположен на нижнем заземленном электроде 2. При этом большая ось частицы за счет ее неоднородного состава образует некоторый угол б с горизонтальной плоскостью, Слой диэлектрика 4, имеющий известное значение 5 диэлектрической проницаемости много большей единицы, усиливает поле в воздушном промежутке и исключает подзарядку частицы под воздействием поля за счет касания ее с металлическим электродом. К верхнему 10 электроду у подведено постоянное напряжение от источника питания.На частицу...

Номер патента: 256340

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Подз, Шульман, Зарицкий

МПК: G01N 24/00

Метки: примесей, диэлектрической, ферромагнитных, среде

...никеля.гожно определить римеси, например быть осуществленРЭ. етенц сдмст нз Изобретение относится к области анализа, а именно к способу определения ферромагнитных примесей в диэлектрической среде, например в кристаллах синтетического алмаза, методом ферромагнитного резонанса.Известны способы, предназначенные для этих целей. При этом определение проводят при комнатной температуре. Такие способы це обеспечивают необходимой чувствительности, так каг( при комнатной температуре линии ферромагнитного резонансного поглощения нескольких примесей могут сливаться.Отличительная особенность предлагаемого изобретения заключается в том, что испытуемый образец нагревают и по температуре исчезновения линий ферромагнитного резонансного поглощения...