Патенты с меткой «дефектоскопов»

Способ проверки правильности показаний магнитных дефектоскопов

Загрузка...

Номер патента: 122930

Опубликовано: 01.01.1959

Автор: Письменный

МПК: B61K 9/10, G01N 27/83

Метки: показаний, дефектоскопов, проверки, правильности, магнитных

...местной намагниченностью, является постоянной величиной и существует совершенно независимо. Поле же рассеяния над дефектным местом головки рельса является прямой функцией пронизывающего рельс магнитного потока, созданного намагничивающей системой дефектоскопа,правильности показаний дустановки его повторно надазания измерительного прибпосле чего изменяют величного потока, создаваемого эапример, путем введения ст Про чается в дефекта дикатора ющего и фектоскоцесс проверки том, что после фиксируют покдефектоскопа, делие магнит па, хотя бы, н ефектоскопа заклюместом отмеченного ора на выходе инину намагничиваюлектромагнитом деальной пластины в122930 один из зазоров между проверяемым изделием (рельсом) и полюсным наконечником...

Генератор зондирующих импульсов для дефектоскопов

Загрузка...

Номер патента: 313293

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Ямщиков, Какорин, Носов

МПК: H03K 12/00

Метки: импульсов, генератор, зондирующих, дефектоскопов

...электрическая схема предлагаемого генератора.Генератор содержит фазоинвертирующне 1 С-цепочки 1, диодно-ограничительные цепочки 2 и дифференцирующие КС-цепочки 3 и 4, каскад формирования импульсов 5, выполненный на двух транзисторах с общим эмиттерным сопротивлением, усилительный каскад 6, входной трансформатор 7 блока питания 8. Усилительный каскад 6 соединен с каскадом формирования импульсов 5 через второй тр а н сфор м атор 9. Сигнал со входного трансформатора 7, проходя через фазоинвертирующие ЯС-цепочки 1.сдвигается на 90, затем ограничивается цепочкой 2, дифференцируется и подается назапуск каскада формирования импульсов э,далее поступает на усилительный каскад 6,нагруженньш на электроакустический преобразователь...

Способ калибровки дефектоскопов

Загрузка...

Номер патента: 328605

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Сейго, Иностранцы, Иностранна

МПК: G01N 27/82

Метки: калибровки, дефектоскопов

...с выходом усилителя 4, индикатор 7 сигналов от дефектов, подключенный к выходу селектора 6, схему 8 совпадения с двумя входами, один 10 пз которых связан с выходом селектора 6,а другой через блок 9 пусковых сигналов -- с выходом усилителя 3; многоканальный амплитудный анализатор 10 импульсов, соединенный входом с выходом схемы 8, блок 11 15 делителей напряжения, через которые соответствующие каналы анализатора 10 соединены со входами схемы 12 ИЛ 11, выход которой подклочен в цепь регулировки усиления усилителя 4. Сигнал с выхода разба лансированной мостовой схемы 1 прп взаимодействии датчиков с контролируемым изделием усиливается усилителями 3 и 4 и после детектирования детектором 6 обрабатывается селектором б. При характерном сигнале...

Способ визуализации сигналов дефектоскопов

Загрузка...

Номер патента: 438909

Опубликовано: 05.08.1974

Авторы: Горбунов, Абрамов, Епифанцев

МПК: G01N 23/04

Метки: сигналов, дефектоскопов, визуализации

...У, блок 11 памяти, схему 12 совпадения, модулятор 13, гене 10 тор 14 строчной развертки, генератор 15 кадровой развертки, электронно-лучевую трубку16 и тактовый генератор 17,Сигнал от приемника 2 излучения черезсогласующее устройство 3, в котором анало 15 говый сигнал преобразуют в цифровой код,записывают построчно в блок 11 памяти синхронно со сканированием источника 1 излучения, расположенного в блокс сканированиядвижущего изделия, Датчик 4 изменения ко 20 ординат регистрирует перемещение детали ивыдает в блок 10 формирования адреса записи по координате У импульсы разрешениязаписи в следу 1 ощую строку блока 11, а черезтриггер 5 и схему 6 совпадения разрешает25 запуск блока 8 формирования адреса записипо координате Х.Построчным...

Автоматический сигнализатор дефектов для ультразвуковых дефектоскопов

Загрузка...

Номер патента: 486270

Опубликовано: 30.09.1975

Авторы: Пастернак, Шпинер

МПК: G01N 29/04

Метки: автоматический, дефектов, ультразвуковых, сигнализатор, дефектоскопов

...формирования зоны контроля, ройство аналогового выхода,Однако в таком устройстве эффективное значение выделенного сигнала в аналоговой форме зависит от частоты следования и от местоположения дефекта по глубине: за период времени от импульса синхронизации до прихода сигнала, отраженного от дефекта, аналоговый сигнал отсутствует. Это приводит к существенной потере информации при придонных дефектах.Целью изобретения является повышение точности контроля.Достигается это за счет того, что у ство снабжено двумя последовательно диненными пиковыми детекторами со сбросом, расположенными между выходом селектора и устройством аналогового выхода,На фиг. 1 дана блок-схема устройства; на фиг 2 - диаграмма напряжений, пояспя 1 ощая работу устройства....

Имитатор сигналов для проверки и калибровки электромагнитных преобразователей и дефектоскопов неразрушающего контроля

Загрузка...

Номер патента: 502309

Опубликовано: 05.02.1976

Авторы: Дегтерев, Балбасов, Семенов

МПК: G01N 27/86

Метки: калибровки, дефектоскопов, имитатор, сигналов, электромагнитных, проверки, преобразователей, неразрушающего

...Сигнал с фазовращателя 2 поступает на модулятор 3, на другой вход которого поступает постоянный или импульсный сигнал от формирователя 4. Форма импульсного сигнала соответствует закону динамического изменения фазы высокочастотного колебания от изменения измеряемого параметра. С выхода модулятора 3 сигнал поступает на модулятор 5, на другов вход которого поступает постоянный пли импульсный сигнал от формирователя 6. Форма импульсного сигнала соответствует закону дп намического изменения амплитуды высокочастотного колебания от изменения измеряемого параметра,С выхода модулятора 5 сигнал поступает на катушку 9. Сигнал на катушку 9 может непосредственно подаваться с формирователя 6. Для проверки индукционных преобразователей и...

Способ автоматической регулировки чувствительности ультразвуковых импульсных дефектоскопов

Загрузка...

Номер патента: 605167

Опубликовано: 30.04.1978

Авторы: Наседкин, Дубровин

МПК: G01N 29/04

Метки: автоматической, чувствительности, дефектоскопов, ультразвуковых, регулировки, импульсных

...5 последовательность импульсов, поступающих на его вход при сканировании пьезопреобразователя 2 над отражателем, подается также на узел интегрирования, состоящий из преобразователя 7 амплитуды импульсов в число импульсов и счетчика 8 импульсов, суммирующего все импульсы. Таким образом, на выходе счетчика 8 после завершения сканирования отражателя получается число, пропорциональное площади индикатрисы рассеяния отражателя. Выходы триггеров счетчика 8 соединены с выходами цифрового дискриминатора 9, имеющего переключатели для установки нижнего и верхнего порогов дискриминации. С помощью этих переключателей задается пороговый уровень, соответствующий номинальному значению площади индикатри.ы рассеяния, с запасом на возможные откло 5 10 15...

Способ уменьшения мертвой зоны эхоимпульсных ультразвуковых дефектоскопов

Загрузка...

Номер патента: 723450

Опубликовано: 25.03.1980

Автор: Королев

МПК: G01N 29/04

Метки: ультразвуковых, эхоимпульсных, зоны, дефектоскопов, уменьшения, мертвой

...радиоимпульсом, частота заполнения, которогов нечетное число раз меньше его собственной резонансной частоты, а снимают с пьезопреобразователя радиоимпульсы с частотой заполнения, равной его собственной резонансной частоте,На чертеже представлена структурная схема реализации данного способа.Способ заключается в следующем,Пьезопреобраэователь 1 возбуждаютгенератором 2 радиоимпульсов с частотой заполнения, которая например в3 раза меньше собственной резонансной частоты с е пьезопреобразователя 1, В режиме приема с того же пьезопреобразователя 1 снимаются радиоимпульсы, отраженные от дна контро723450 Формула изобретения оставитель В. Косаринехред М,келемеш, Корректо едактор Н.Морозов а Заказ 422/34 Тираж 1019 Подписное ЦНИИПИ...

Имитатор для настройки дефектоскопов

Загрузка...

Номер патента: 739391

Опубликовано: 05.06.1980

Авторы: Хватов, Скоробогатько, Косовский, Исаков, Конжуков, Шкарлет

МПК: G01N 27/86

Метки: настройки, имитатор, дефектоскопов

...стыком слоя4, размещаемого на внешней поверхности.На фиг. 3 приведен имитатор для настройки прибора, контролирующего дефекты зОна внутренней поверхности труб. Дефектвоспроизводится стыком слоя 5. размещаемого на внутренней поверхности трубы,На фиг. 4 приведен имитатор, воспроизводящий подповерхностный дефект за счетстыка слоя 6, размещенного между двумя35трубами.На фиг. 5 приведен имитатор, воспроизводящий дефект, расположенный под угломк внешней поверхности, отличным от 90.Ориентация дефекта относительно поверх ености задается торцами слоя, образующимистык за счет изменения угла наклона торцов.Необходимый угол наклона обеспечиваетсясоответствующей обработкой, например фрезерованием торцов плоского листа.Для обеспечения настройки...

Имитатор для настройки дефектоскопов

Загрузка...

Номер патента: 873105

Опубликовано: 15.10.1981

Авторы: Хвостова, Косовский

МПК: G01N 27/90

Метки: имитатор, настройки, дефектоскопов

...двух чатей 1 и 2. Каждая часть имитатвыполнена в виде конического цилиу которых толщина стенки ив направлении продольнойи имитатора 1 и 2 соединяю873105 ставитель В. Махровхред С.Мигунова Карре Рошк Редактор П, Коссей Заказ 902 Подписно Оомитета СССРоткрытийушская наб д 5 Патент Ужгород, ул. Проектная ял 3что-изменение толщины их стенок про исходит во взаимно противоположных направлениях, Такое соединение позво.-., ляет выполнять внешний слой с постоянным внешним диаметром, что обеспечивает лучшие условия эксплуатации иьщтатора, Индексами Ьш, и Ь . обозначены ооответственно наибольшая и наименьшая глубины и ширина дефекта . На боковой поверхности вдоль одной О из образующих Нуюлиндра нанесена шкала, делеиия которой обозначают толщину...

Устройство для измерения чувствительности ультразвуковых преобразователей и дефектоскопов

Загрузка...

Номер патента: 879453

Опубликовано: 07.11.1981

Авторы: Панин, Дузенко

МПК: G01N 29/04

Метки: ультразвуковых, дефектоскопов, чувствительности, преобразователей

...например, у регистратора 11. Образец 4 и клиновидный вкладьпп 6 выполнены в виде клиньев с одинаковыми угламифиг. 2), величина которых выбирается иэ условия достижения заданной точности расстояния по переменной базе, требуемого диапазона расстояний, минимального влияния переотражений во вкладыше 6 на результат измерений, незначительного веса и габаритон акустической нагрузки, Обра87945 3 6зователем 2, при наклонном падениина границе раздела двух сред, образованной гранью 21 вкладьппа 6 и гранью7 образца 4, распадается на энергиюотраженной волны и энергию прошедшейволны. Если при включенном механизме9 существует стабильный акустическийконтакт между вкладышем 6 и образцом4,то при постоянной амплитуде падающейволны амплитуды прошедшей и...

Способ определения ширины диаграммы направленности ультразвуковых преобразователей и дефектоскопов и устройство для осуществления способа

Загрузка...

Номер патента: 900179

Опубликовано: 23.01.1982

Авторы: Панин, Дузенко

МПК: G01N 29/04

Метки: диаграммы, дефектоскопов, ширины, ультразвуковых, направленности, способа, преобразователей

...(с) 5 и нтск угол между центраи дополнительнымилями 5-8;Функция Бесселя 1 нымтражатего рода; полярной системы координат, центркоторой лежит в точке пересеченияповерхности, на которой установленпреобразователь с нормалью к этойповерхности, восстановленной черезцентральный отражатель.На чертеже показано устройстводля осуществления способа.Устройство содержит генератор 1импульсов, преобразователь 2, электрически соединенный с генераторомобразец 3 акустической нагрузки,в котором выполнены ненаправлен-ные центральный отражатель 1 идополнительные отражатели 5-8 и измеритель 9 отношения амплитуд эхоимпульсов, электрически соединенныйс преобразователем 2.Способ осуществляется следующимобразом,Акустические импульсы излучаютсяв образец 3...

Устройство для калибровки магнитных дефектоскопов (его варианты)

Загрузка...

Номер патента: 911305

Опубликовано: 07.03.1982

Авторы: Гусев, Зацепин, Михальцевич

МПК: G01N 27/82

Метки: варианты, калибровки, дефектоскопов, его, магнитных

...магнитного поля (фиг, 6) дефекта 7 при намагничивании контролируемого иэделия 8 магнитным полем параллельно контродируемой поверхности. Так как ширина пластины в устройстве для калибровки выбрана равнойширине 1, магнитного дефекта, то необходи-.мый градиент напряженности магнитного поля(фиг. 3), соответствующий размерам заданногопри калибровке дефекта, получают установкойнеобходимой величины электрического тока впластине 2 (фиг. 1).Устройство для калибровки может бытьзаранее проградуировано по силе электричес.кого тока и размерам дефектов в необходи мом интервале. После установки необходимого значения электрического тока в пластине 2(фиг, 1) на поверхность контрольного образца 1 устанавливают датчик магнитного дефектоскопа (не показан)...

Имитатор сигналов для проверки и калибровки электромагнитных дефектоскопов

Загрузка...

Номер патента: 920508

Опубликовано: 15.04.1982

Авторы: Скоробогатько, Федосенко, Черняев, Анохов

МПК: G01N 27/90

Метки: имитатор, сигналов, дефектоскопов, калибровки, проверки, электромагнитных

...через усилитель 14 и переключатель 1.5 Блок 3 формирования сигнала (и аналогичный ему блок 7) содержит последовательно соединенные генератор .16 высокой частоты, фазовращатель 17, Фазовый модулятор 18; амплитудный, модулятор 19, подключенный к генератору 16 синхронизатор 20, включенный между синхронизатором 20 и Фазовым модулятором 18 фогмирователь 21. закона фазовой модуляций и включенный между синхронизатором 20: и амплитудным модулятором 19 Формирователь 22 закона амплитудной модуляции. Схемы 10 и 11 автоподстройки частоты содержат частотные дискриминаторы 23, управляющие варикондами 24, выходы схем подключены к генераторам 16 блоков 3 и 7 Формирования сигналов. Схемы 12 и 13 автоподстройки фазы и амплитуды содержат фазовый...

Имитатор для настройки электромагнитных дефектоскопов

Загрузка...

Номер патента: 926584

Опубликовано: 07.05.1982

Авторы: Вяхорев, Олейников, Никульшин

МПК: G01N 27/90

Метки: электромагнитных, дефектоскопов, настройки, имитатор

...и размещеновнутри цилиндрических втулок нафиг, 11 - то же, основание выполнено в аиде стержня из электропровод 50ного материала и размещено внутрицилиндрических втулок на фиг, 12 то же, основание выполнено в видетрубы из электропроводного материала.и размещено внутри цилиндрических втулок; на Фиг. 13 - то же, основание выполнено в виде трубы из проводящего материала, охватывающей 4 4цилиндрические втулки; на Фиг, 14 -то же, основание выполнено в видетрубы из непроводящего материала,охватывающей цилиндрические втуЛки.Имитатор содержит электропроводныевтулкии 2 основание 3, искусственный дефект 4, шкалу 5 параметрадефекта (глубина или ширина трещины),элементы 6 крепления втулок ивинты 7. В вариантах имитатора,представленных на фиг. 4...

Имитатор для настройки дефектоскопов

Загрузка...

Номер патента: 926585

Опубликовано: 07.05.1982

Авторы: Вяхорев, Олейников, Никульшин

МПК: G01N 27/90

Метки: имитатор, настройки, дефектоскопов

...26Имитатор содержит основание 1 с искусственным дефектом 2, электропроводящий экран 3, установленный на основании, шкалу 1 толщины экрана, указатель 5, Фиксатор б, торцо-. 23 вые ограничительные элементы 7, прикрепленные к основанию. Изготавливают имитатор следующим образом.В основании 1 изготавливают искусственные дефекты 2 в виде углуб.лений требуемых размеров и формы, или в виде тела из электропроводного и/или магнитного иатериала. На одном основании может быть выполне 33 но несколько различных дефектов, расстояние между которыми должно быть больше эоны чувствительности электромагнитного преобразователя,46 используемого в дефектоскопе. Измерительным пибором например микроскопом, измеряют размеры дефектов, затеи измеряют...

Имитатор для настройки электромагнитных дефектоскопов

Загрузка...

Номер патента: 926586

Опубликовано: 07.05.1982

Авторы: Никульшин, Олейников, Вяхорев

МПК: G01N 27/90

Метки: дефектоскопов, электромагнитных, настройки, имитатор

...вития техники, прост в изготовлении, ан- настройке и эксплуатации, обладаетхорошей воспроизводимостью. Ф 1 Формула изобретения свидетельство СССР01 М 27/86) 1978.свидетельство СССР01 М. 29/04, 1974 1. Авторское М 739391, кл, С2. Авторское й 502313, кл, С (прототип). Поставленная цель достигаетсясчет того, что имитатор для настрки электромагнитных дефектоскоповсодержащий две втулки с равным экцентриситетом, установленных однав другой а внутрення поверхностьвнутренней втулки концентрична наружной поверхности наружной втулкснабжен цилиндрической втулкой скусственными дефектами, размещеннмежду эксцентричными втулками и .уновленный с возможностью фиксировного. поворота вокруг своей оси, иуказателем положения циЛиндрическойвтулки. 1Для...

Настроечный образец для дефектоскопов

Загрузка...

Номер патента: 930100

Опубликовано: 23.05.1982

Авторы: Гребенник, Мужицкий, Леонов, Анохов, Воропаев, Палеесь, Лапшин

МПК: G01N 27/82

Метки: дефектоскопов, образец, настроечный

...в которой выполненпаэ, состоящий из двух профильныхучастков, один иэ которых 2, выполнен в виде сквозного паза, другой3, являющийся продолжением пер"вого, - в виде паза переменной глуби1ны.При метрологической поверке прибора и при проверке работоспособности 2 Й Ъ и - Я,пластины. Например, при измерении дефектов глубиной до 100 мм, необходимо изготовить образец с имитатором в виде клина толщиной не менее 120 мм, а его протяженность при заданной точности измерений должна быть минимум в 4-10 раэ больше его толщины, что значительно затрудняет использование такого образца в комплекте с портатив:ым прибором его масса составит не менее 15- 20 кг) .Поэтому .метрологическое обеспечение в условиях эксплуатации прибора при измерении глубины...

Способ изготовления образцов для дефектоскопов

Загрузка...

Номер патента: 962801

Опубликовано: 30.09.1982

Авторы: Качанов, Власов, Мужицкий, Кудряшов, Анохов, Зарапин, Шестеркин

МПК: G01N 27/90

Метки: дефектоскопов, образцов

...тем,что согласно способу изготовленияобразцов для дефектоскопов, заключающемуся в том, что выполняют рискуна заготовке, нагружают последнююи снимают механическую нагрузку подостижении требуемых параметров де-.фекта, заготовку перед нагружениемнагревают до пластической деформациипоследней, а нагружают заготовкупродольно-поперечным обжатием.Способ реализуется следующим образом.На поверхности заготовки наносится риска заданных размеров (ширина,глубина, протяженность) Затем заготовку нагревают до температуры, необходимой для пластической деформа ции, после чего подвергают калиброванному продольно-поперечному на- . -гружению, например протягивают ввалках или фильерах. При этом металл как бы "течет" в двух направле- ЗО ниях:. вдоль и...

Способ изготовления образцов для калибровки дефектоскопов

Загрузка...

Номер патента: 968725

Опубликовано: 23.10.1982

Авторы: Денисов, Анохов, Скоробогатько, Качанов, Конжуков

МПК: G01N 27/84

Метки: дефектоскопов, образцов, калибровки

...полого цилиндшины в образце имеют ширину 2 о ра, соприкосновение поверхностей элераскрытия и фиксирован рав- ментов заготовки выполняют путем пластиную толщине заготовки, ческой деформации с помощью параллельНаиболее близким к изобретению по йых одна к другой и оси заготовки плиттехнической сущности является способ из; и разрезают заготовку по плоскости, пер3 96872пендикулярной к полученной плоскости соприкосновения поверхностей полости заготовкиеНа фиг, 1-3 показана последовательность операций изготовления образца иэзаготовки,Способ реализуется следуюшим образом.Заготовка 1 в виде полого цилиндрапластически деформируется с помощью 16двух плит 2 и 3, параллельных друг другу и оси цн индра. Перед деформацией ре комендуется нагреть...

Способ изготовления образцов для калибровки дефектоскопов

Загрузка...

Номер патента: 968726

Опубликовано: 23.10.1982

Авторы: Скоробогатько, Качанов, Денисов, Конжуков, Анохов

МПК: G01N 27/84

Метки: дефектоскопов, образцов, калибровки

...нагревают до температуры, составляющей 0,5-0,7 температуры ееплавления, и деформируют при этой тем- .пературе.На фиг. 1-4 показана последовательность операций при изготовлении об- щраэца,Образец изготавливается из заготовки 1 цилиндрической формы с прорезью2 треугольного сечения с помощью гильзы 3, ИСпособ реализуется следующим образом,В заготовкецилиндрической формы выполняют прорезь 2 треугольногосечения. Рекомендуется выполнять про- щрезь с монотонно уменьшающейся глубиной от одного торца заготовки 1 к другому, Заготовка 1 с прорезью 2 вставляется в гильзу 3, с внутренним диа"метром, на 0,2-0,3 мм превышающим вне-шний диаметр заготовки 1, Длина гильзы 3 меньше длины образца. Затем заготовку 1 нагревают до температуры,составляющей...

Настроечный имитатор для вихретоковых дефектоскопов (его варианты)

Загрузка...

Номер патента: 1006992

Опубликовано: 23.03.1983

Авторы: Олейников, Никульшин, Вяхорев

МПК: G01N 27/90

Метки: варианты, дефектоскопов, настроечный, вихретоковых, имитатор, его

...40слое 3 ).Этот имитатор также сложен приизготовлении дефектов с переменнойглубиной залегания, поскольку основание необходимо изготавливать иэ 45большого числа слоев с искусственнымдефектом постоянных размеров в каждом, Кроме того, имитатор не позволяет изготавливать дефекты с плавноизменяющейся глубиной залегания,Имитатор имеет большую трудоемкостьизготовления, поскольку на каждыйтипоразмер дефекта требуется отдельный имитатор,Цель изобретения - упрощение технологии изготовления в листовых материалах дефектов с переменной глубиной залегания, снижение трудоемкости изготовления искусственныхдефектов типа трещин переменной глубины и получение трещин с постоянным углом раскрытия.Укаэанная цель достигается тем,что в. настроечном имитаторе...

Устройство для настройки ультразвуковых дефектоскопов

Загрузка...

Номер патента: 1037159

Опубликовано: 23.08.1983

Авторы: Романко, Панин

МПК: G01N 29/04

Метки: настройки, ультразвуковых, дефектоскопов

...ультразвуковых дефектоскопов.Устройство содержит эвукопровод1 из пьезоэлектрического материалав виде конуса, поверхность вводаультразвука которого,разделена,кольцевой проточкой иа две осесиметричные части, на каждую иэ которых, нанесено по тонкому металлическрмуэлектроду 2 и 3. Боковая поверхность 0звукопровода, а также поверхностипроточки и электрода 2 покрыты поглотителем 4 ультразвуковых колебанийс волновым сопротивлением, близкимк волновому сопротивлению материала 65 звукопронода. Электроды 2 и 3 электрически соединены с последовательно.соединенными усилителем 5 с регулируемым коэффициентом передачи и генератором 6 радиоимпульсов с регулируемой задержкой и амплитудой, междувыходами которых включен блок 7 срав"нения...

Способ изготовления контрольного образца для дефектоскопов

Загрузка...

Номер патента: 1084665

Опубликовано: 07.04.1984

Авторы: Кузин, Гейтенко, Захаров, Максименко, Ильин

МПК: G01N 27/82

Метки: образца, дефектоскопов, контрольного

...кислоту, в зависимости от материала изделия, и вытравливают полость,имитирующую искусственный подповерхностный дефект. Размеры дефекта определяются свойствами и количеством введенного в отверстие химического вещества, а также продолжительностью травления.П р и м е р (контрольный образец . Изготавливают серию образцов с поверхностным слоем толщиной 0,5 мм из нержавеющей стали ОХ 18 Н 10 Т и внутренней частью из сплава алюминия- силумина, Искусственный дефект, имитирующий пору, изготовляют в виде полусферы диаметром 4-9 мм, усеченной поверхностным слоем. Изготовление образца начинают с формирования поверхностного слоя иэ гладкостенной трубы с помощью роликового протяжного стана. Затем поверхностный слой с одного конца герметиэируют...

Образец для настройки дефектоскопов

Загрузка...

Номер патента: 1096563

Опубликовано: 07.06.1984

Авторы: Баранова, Белов

МПК: G01N 27/82

Метки: дефектоскопов, образец, настройки

...цель достигается тем,что в образце для настройки дефектоскопов, содержащем электропроводящиецилиндры различных диаметров со сквозными прорезями, в цилиндре наибольшего диаметра выполнены дополнительные прорези, число которых равно числу имитируемых дефектов, а прорезиостальных цилиндров совмешены с дополнительными прорезями,На чертеже представлен образец,поперечное сечение.Образец для настройки дефектоскопов с установленными электродами 1включает в себя полые цилиндры 2-5,сплошной цилиндр 6, установленныевнутри полого цилиндра 7, причемпрорези в цилиндре 7 совпадают спрорезями в цилинцрах 2-6, крометого, в цилиндре 7 выполнена на всюего длину сквозная прорезь 8, остающаяся свободной.Дефекты имитируются дугами...

Автоматический сигнализатор дефектов для ультразвуковых дефектоскопов

Загрузка...

Номер патента: 1113734

Опубликовано: 15.09.1984

Авторы: Моргин, Морозов, Квирикашвили, Тантлевский, Афисов, Бучацкий, Грозман, Шаповалов

МПК: G01N 29/04

Метки: автоматический, дефектов, ультразвуковых, сигнализатор, дефектоскопов

...указанно" га строба приводит к пропуску части дефектов.Целью изобретения является повышение достоверности контроля, 45Указанная цель достигается тем, что автоматический сигнализатор дефектов для ультразвуковых дефектоскопов, содержащий последовательно соединенные усилитель, вход которого предназначен для подключения к приемному тракту дефектоскопа, селектор и исполнительное устройство,Юрого соединен с выходом первого формирователя строба, и схемой сравнения кодов, второй вход которой соединен с задатчиком, а выход - с вторымвходом первого формирователя строба.На чертеже приведена структурнаясхема автоматического сигнализаторадефектов для ультразвуковых дефекто-,скоповАвтоматический сигнализатор дефектов для ультразвуковых дефектоскопов...

Устройство для испытания ультразвуковых дефектоскопов

Загрузка...

Номер патента: 1126867

Опубликовано: 30.11.1984

Авторы: Перлатов, Нуриев, Гринберг, Антипин

МПК: G01N 29/00

Метки: дефектоскопов, ультразвуковых, испытания

...формирователя видеоимпульсов, а второй вход формирователя радиоимпульсов соединен с выходом генератора качающей частоты.Введением в устройство генератора качающейся частоты и частотно-временного преобразователя, позволяющих производить задержкуйспытательного сигнала (радиоимпульса) пропорционально его частоте, дает возможность получить иэображение АЧХ на экране исследуемого ультразвукового дефектоскопа и избежать трудоемкого и малопроизводительного процесса построения графика амплитудно-частотной характеристики по точкам.На чертеже изображена структурная схема устройства для испытащя ультразвуковых дефектоскопов. Устройство содержит последователь. но соединенные генераторкачающейся частоты (ГКЧ), частотно-временной преобразователь...

Имитатор сигналов для поверки и калибровки электромагнитных дефектоскопов

Загрузка...

Номер патента: 1158917

Опубликовано: 30.05.1985

Автор: Теренько

МПК: G01N 27/90, G01N 27/82

Метки: имитатор, электромагнитных, поверки, калибровки, дефектоскопов, сигналов

...и может быть использовано для настройки и поверкиэлектромагнитных дефектоскопов движущихся изделий.Цель изобретения - расширение функциональных возможностей.На фиг.1 представлена блок-схема 10 имитатора сигналов; на фиг.2 - диаграмма токов в возбуждающих катушкахИмитатор сигналов для поверки И и калибровки электромагнитных дефектоскопов содержит задающий генератор 1корпус 2 в виде отрезка контрольного профиля, (о+1) излучающиекатушки 3, установленные вдоль по р верхности корпуса 2, подключенный к задающему генератору 1 блок 4 последовательного переключения токов, (о+1) блоков 5 Формирования тока возбуждения, соединенных первыми 15 входами с выходами блока 4 последовательного переключения токов,а выходами - с соответствующими...

Устройство для калибровки вихретоковых дефектоскопов

Загрузка...

Номер патента: 1165972

Опубликовано: 07.07.1985

Авторы: Мамаева, Хвостов, Попов, Демин, Покровский

МПК: G01N 27/90

Метки: калибровки, дефектоскопов, вихретоковых

...тем, чтоустройство для калибровки вихретоковыхдефектоскопов, содержащее управляемыйисточник тока, подключенную к нему катушку возбуждения с сердчником и формирователь опорного сигнала, снабжено блокомвычитания, вход которого подключен к выходу формирователя опорного сигнала, авыход - к входу управляемого источникатока, блоком деления, первый вход которого подключен к выходу блока вычитания,а выход - к второму входу последнего, идатчиком индукции, выход которого подключен к второму входу блока деления, асердечник выполнен тороидальным с зазором для размещения в нем датчика индукции.На чертеже представлена структурнаясхема устройства для калибровки вихретоковых дефектоскопов.Устройство содержит управляемый источник 1 тока,...

Имитатор дефектов для настройки дефектоскопов

Загрузка...

Номер патента: 1173296

Опубликовано: 15.08.1985

Авторы: Трефилов, Крашевский

МПК: G01N 27/82, G01N 27/90

Метки: дефектоскопов, настройки, дефектов, имитатор

...шириной поверхности,.6 - ширина дефекта меньше толщины проволоки 7 - ширина дефекта, равная толщине. проволоки, 8 - ширина 30 дефекта, равная толщине пряди, 9 - ширина дефекта, равная сумме диаметров прядей каната 10 " обрыв перпендикулярной оси проволоки, 11 обрыв перпендикулярной оси прядиф 12 - обрыв параллельной оси каната;13 " обрыв перпендикулярной оси каната; 14 - обрыв параллельной оси пряди, 15-18 - дефекты, имитирующие уменьшение диаметра каната. 40Ориентация обрывов проволок на имитаторе может быть выполнена са" мым различным образом и в различных направлениях, в зависимости от требуемой точности настройки дефектоскопа.Общее уменьшение (утоньшение) диаметра имитатора соответствует нормам браковки каната от поверхностного...