G01N 23/20 — с помощью дифракции, например для исследования структуры кристаллов; с помощью отраженного излучения

Номер патента: 1081493

Опубликовано: 23.03.1984

Авторы: Берсудский, Малышева, Петьков, Подорожный

МПК: G01N 23/20

Метки: высокотемпературная, дифрактометру, камера-приставка, рентгеновскому

...образца со стороны рабочей эоны, а противоположные концы подпружинены к подвижным контактам.На чертеже представлена конструкция камеры-приставки, разрез.Высокотемпературная камера-приставка к рентгеновскому дифрактометру содержит герметичный корпус 1 с окнами 2, предназначенными для прохождения рентгеновских лучей, и высоковакуумный насос 3 с вентилем 4 для предварительной откачки, Бескерамический ленточный нагреватель 5 окружен радиационными экранами 6, состоящими из отдельных секций. Ленты нагревателя выполнены из тугоплавкого металла, например вольфрама, и установлены так, что между ними образуется щель для прохождения рентгеновских лучей. Держатель 7 образца через изолирующую втулку 8 соединен со шпинделем 9. Устройство для натяжения...

Номер патента: 1087852

Опубликовано: 23.04.1984

Авторы: Козорезов, Любезнова, Хельмер, Шуваев

МПК: G01N 23/20

Метки: рентгеновский, спектрометр

...цель достигается тем, что в рентгеновском спектрометре, содержащем источник рентгеновского излучения, держатель обраэца, а также кристалл-монохроматорс устройством для изгиба кристаллаи детектор, установленные с возможностью вращения вокруг оск, совпадающей с одной из образующих цилиндрической поверхности кристалла-монохроматора, причем детектор установленс возможностью вращения с удвоеннойскоростью вращения кристалла"монохроматора, устройство для изгиба крнсталла-монохроматора снабженоприводом и системой синхронизацииизгиба с поворотом кристалла-монохроматора.На чертеже показан предлагаежйспектрометр,Рентгейовский спектрометр содержит неподвижную рентгеновскуютрубку 1 с линейным фокусом Г, расположенным на окружности радиуса...

Номер патента: 1087853

Опубликовано: 23.04.1984

Автор: Турянский

МПК: G01N 23/20

Метки: качества, поверхности

...образца возникает дифрагированное излучение имеюшее ту же длину волны, что и первичное, но отличающееся от первичного по направлению, поэтому при фиксированном положении детектируюшего устройства углы рассеяния регистрируемых комптоновских квантов прямого и дифрагированного пучков и соответствующие значения д 3 или изменения энергии ЬЕ оказываются различными. Это приводит к появлению на комптоновском спектре дополнительных ликов, что позволяет судить о правильности установки образца. Кроме того, выход части интегрального потока комптоновских квантов через облучаемую поверхность наблюдается при любых направлениях падаюшего и дифрагированного пучков, что обеспечивает наличие достаточного для регистрации сигнала ггри различной толшине...

Номер патента: 1087854

Опубликовано: 23.04.1984

Авторы: Макаревич, Румак, Сакун, Сапожников, Скворцов, Тишкевич, Ярошевич

МПК: G01N 23/20

Метки: длинномерных, рентгеновского, текстуры

...текстуры длинномерных изделий, включающему облучение изделия пучком рентгеновских лучей и регистрацию интенсивности отраженного излучения, предварительно определяют угловые координаты и угловую ширину максимума полюсной плотности текстуры эталонного образца, размещают излучатель и детектор относительно изделия под углами, соответствующими полученным углом координатам максимума, проверяют наличие максимума интенсивности в искомой области совместным поворотом излучателя и детектора регистрируют интенсивность дифрагированного излучения в максимуме полюсной плотности текстуры исследуемого изделия, затем осуществляют поворот излучателя и детектора относительно изделия на угол, равный половине угловой ширины максимума полюсной плотности...

Номер патента: 1087855

Опубликовано: 23.04.1984

Авторы: Бабенко, Райцес, Утенкова

МПК: G01N 23/20

Метки: изучения, кинетики, материалах, превращений, фазовых

...и приемный барабаны протяжного механизма при этом должны быть смонтированы вне нагревателя. После монтажа камеры, вакуумирования и нагрева нагревателя камеры до заданной температуры включают механизм поступательного перемещения образца и рентгеновский аппарат. Рентгенографирование образца и поступательное перемещение его относительно рентгеновского пучка проводят одновременно. Перемещение образца через нагреватель осуществляют посредством перемотки его с одного барабана на другой. Скорость поступательного перемещения образца через нагреватель должна быть пропорциональна скорости протекания структурного изменения в материале, Скорость структурного изменения материала определяют предварительно по диаграммам изотермического превращения,...

Номер патента: 1101723

Опубликовано: 07.07.1984

Авторы: Бабенко, Григорьев, Райцес, Утенкова

МПК: G01N 23/20

Метки: длинномерных, образцов, приставка, рентгеновская

...контроляблагодаря сокращению времени сменыдлинномерного образца и устраненияобрывов при исследованиях,Поставленная цель достигаетсятем, что в рентгеновской приставкедля длинномерных образцов, включающей герметичный водоохлаждаемый корпус с крышкой, в котором выполненыокна, закрытые рентгенопрозрачнымматериалом, держатель образца, смонтированный внутри корпуса, съемныйстакан с отверстием в донной части,в котором смонтирован механизм поотяжки, выполненный в виде подающегои приемного барабанов, кронштейн,жестко соединенный с дном стакана инесущей пбвротный ролик и направляющие установленные одна вьние, а другая ниже окна, подающий и приемныйбарабаны смонтированы на индивидуальных осях, ось подающего барабана установлена на дне...

Номер патента: 1103125

Опубликовано: 15.07.1984

Авторы: Конников, Уманский

МПК: G01N 23/20

Метки: гетероструктуры, постоянной, решетки

...О дуемый образец, скалывая гетероструктуру по плоскости, перпендикулярной гетерогранице,облучают нолученную плоскость скола и по виду дифракционных линий судят о характере распределения постоянной решетки по толщине гетероструктуры, при этом изменение величины постоянной решетки по толщине гетероструктуры определяют по формуле где а(1) - постоянная решетки слоевгетероструктуры, А; 25а - постоянная решетки подоложки,М - разность длин волн дублетаК, иК,3,;М Ю.Ъ - средняя длина волны дублета,Ьг - расстояние между дифракционными линиями дублетаК и К на рентгенограмме, мкм;35Ьг(й) - зависимость расстояниямежду дифракционными линиями слоев гетероструктуры и подложки по толщине слоев, мкм, 40Размеры источника 1-2 мкм, что не.обходимо .для...

Номер патента: 1103126

Опубликовано: 15.07.1984

Авторы: Александров, Афанасьев, Головин, Имамов, Миренский, Степанов, Шилин

МПК: G01N 23/20

Метки: монокристаллов, приповерхностных, слоев, структурных, тонких, характеристик

...пучком рентгеновского излучения, выводят в положение, соответствующее дифракционному отражению в условиях полного внешнего отражения, путем поворота исследуемого кристалла и изме-, ряют интенсивность дифрагированного излучения, по которому судят о структурных характеристиках, пучок коллимируют только перпендикулярно плоскос. ти дифракции и интенсивность дифрагированного излучения в плоскости дифракции измеряют при неподвижном крис. талле в зависимости от угла выхода дифрагированного излучения с поверхностью кристалла.Кроме того, для различных углов выхода к поверхности кристалла измеряют зависимость интенсивности зеркальной компоненты от угла падения. На чертеже представлена схема реализации предлагаемого способа,Схема...

Номер патента: 1103127

Опубликовано: 15.07.1984

Авторы: Золотоябко, Иолин

МПК: G01N 23/20

Метки: монокристаллических, ориентации, пластин

...и величина 1, быстГ - ширина мессбауэровскай . ро уменьшается с ростом Ялинии;. Для получения функциональной эави к- величина вектора обрат- симости между измеряемыми интенсивной решетки;, ностями дифракции и углом отклонениями5К - радиус облучаемой об-. , нужно провести усреднение допплеласти пластины. ровского Сдвига .ЬЕ по облучаемой области йластины и учесть долю рассеянВ предлагаемом, способе пластину . ных квантов, попадающих в детекторпомещают на гониометр в отражающее;, при фиксированных коллимациях пучковположение, облучают пучком мессбауэ- излучения. Для осуществления способаровского. излучения, Дифрагированный необходимо, чтоьы облучаемая областьпучок фиксируют детектором, установ- . пластины содержала участкй, не...

Номер патента: 1104401

Опубликовано: 23.07.1984

Автор: Генкин

МПК: G01N 23/20

Метки: рентгеновский, спектрометр, трехкристальный

...является упрощение юстировки.Поставленная цель достигается тем, что рентгеновский трехкристальный спектрометр,содержащий источник рентгеновских лучей, три кристалла с держателями и устройствами поворота, поворотную платформу с установленными на ней источником и первым кристаллом, два детектора и две направляющие, снабжен дополнительной поворотной платформой, на которой расположены третий кристалл и дополнительно введенный третий детектор, причем обе платформы установлены с возможностью поступательного перемещения на направляющих, закрепленных каждая одним концом на общей опорной оси, на которой размещен держатель второго кристалла, а также в спектрометр введены тяги, укрепленные одним концом на общей опорной оси, а другим концом...

Номер патента: 1109614

Опубликовано: 23.08.1984

Авторы: Бухаленко, Ильинский, Коновалов, Кононенко, Мантуло, Петьков, Романова, Скляров

МПК: G01N 23/20

Метки: жидких, кювета, рентгенографирования

...цми и глубина кюветы ныбиракзтся с учетом нечинь поверхностноГо натяжения жзлксзст Из следующегос оотцошецил;з" а сз "2Где 11 - гцуйця ккзнсзт ы,- длина перегородок;1 О расстояние межлу перегородками,р - плотность жидкости;ускорене свободного падения;с, - коэффициент поверхностного15 натяжения .На чертеже дана схема предлагаемой кюветы,Ккцзета содержит корпус 1 с внутрец 11 ми перегородками 2, ггреднаэначеццыми длл выравнивания открытойповерхности расплава, что достигается правильным подбором следующихпараметров: длины перегородок, расстояния между ними и глубины кюветы.Капля жидкости удегзжиняется н каплеобрлзцом состоянии, если расстояниемежду перегородками или между стенкями кюветы при отсутствии перегородок болыпе диаметра...

Номер патента: 1117503

Опубликовано: 07.10.1984

Авторы: Асланян, Безирганян

МПК: G01N 23/20

Метки: атомной, искажений, монокристалла, рентгеноинтерферометрический, решетки

...При малых поворотах (повороты в пределах угловойобласти отражения) векторыНЬ Й и ЬН можно представить в следующем вйде (фиг.1):", лгде х, у и У - единичные векторы по направлениям осей ОХ, 07 и 02 соответственно.Следовательно, величину вектораЬ Нможно представить уравнением1 дн 1= (2) 7503 о повопериода торого где Ни Нбратных реше исталлов с При выводеуглы Е и Еционарных интся выражением(ЬНг) В этом случае внутри второго кр лярны к отражающи муаровые плоскости сталла перпендикуплоскостям (фиг. и 4),Муаровые плоско можно регистрирова(наблюдать),ых распределеисталла непароверхности вы(,наблюдаютсяторце получаютности второгортины, вызвайоси ОУ, нельзя если плоскости муаровний внутри второго кр ал 25лельны (пересекают) пхода этого...

Номер патента: 1117504

Опубликовано: 07.10.1984

Авторы: Данильченко, Кондратьев, Охрименко

МПК: G01N 23/20

Метки: камера, низкотемпературная, рентгеновская

...упора на лимбе камеры и реверсивный электродвигатель (не показаны)составляют механизм поворота. На цилиндрическом барабане. 8 рабочей камеры 5 установлены коллиматор 9, ловуш.ка первичного пуска 10 и выполненыокна для дифрагированного рентгеновского излучения. На верхнюю частьхладопровода 3 надет пенопластовыйцилиндр 1 1. Поверхность нижней части12 хладопровода 3 выполнена полированной и не изолирована пенопластом,Рентгеновская пленка в конверте (непоказаны) размещается на внешней поверхности цилиндрического барабана 8Криостат работает следующим образом.Цилиндрический образец впаивают сплавом Вуда в держатель 4, Поворотный сосуд 1 сочленяют с цилиндричес1117 Составитель Е. СидохинРедактор О. Черниченко Техред С.Легеза Корректор М Розман...

Номер патента: 1120226

Опубликовано: 23.10.1984

Авторы: Дзюбленко, Кононенко, Новоставский, Петьков

МПК: G01N 23/20

Метки: автоматическому, дифрактометру, приставка, рентгеновскому

...в частности базовое отверстие 2. На базовой опоре 3 корпуса 1 размещено устройство прижима, содержащее пластину 4 с механизмом 5 перемещения ее всобственной плоскости и установки в оптическом центре дифрактометра, В пластине 4 выполнены калиброванные отверстия 6 разного диаметра, причем нижняя поверхность ее лежит в плоскости, являющейся базовой, и проходит через оптический центр дифрактометра при установке приставки в гониометрическом устройстве. На каретке 7 в шарнирном зажиме 8 с пружиной 9 укреплена рама 10. На второй стороне рамы 10 соосно укреплены упор 11 и подпружиненный зажим 2 с устройством 13 поворота образца 4 вокруг его оси в ручном или автоматическом режиме, например, храповым механизмом, соединенным с...

Номер патента: 1125517

Опубликовано: 23.11.1984

Авторы: Алабужев, Кабалдин, Ковалев, Попов, Семин, Цырлин

МПК: G01N 23/20

Метки: камера, рентгеновская

...диафрагмы- ограничителя 19 в сторону стойки 17. 45 необходимым и достаточным для сохранения прямого угла с отраженным пучком рентгеновских лучей.Механизм 6 перемещения и Фиксации экрана 5 выполнен в виде четырех 50 направляющих 23, расположенных под прямым углом к базовой плоскости и жестко закрепленных между последней и кронштейнами 24, связанными жестко с опорной рамкой 22. Две направляю щие 23 связаны с ведущими элементами 25, а между ними размещен выполненный в виде пластины, содержащий сквозной по всей длине направляющий паз, экран 5, в ориентирующих отверстиях которого расположены направляющие 23. Экран 5 содержит паз иотверстие для прохода отраженных рентгеновских лучей и для отсчета показаний о перемещении кассеты 8.Кассета 8...

Номер патента: 1129516

Опубликовано: 15.12.1984

Авторы: Захаров, Леднева, Устинов

МПК: G01N 23/20

Метки: двухкристальному, держатель, образца, рентгеновскому, спектрометру, эталона

...показан предлагаемыйдержатель, поперечный разрез,Держатель состоит .з плоскопараллельной полированной пластины 1 круглой формы, в одной из половин кото -рой относительно диаметра вырезаноотверстие, в которое помещена втораяповоротная пластина 2.Лицевая сторона обеих пластин 1и 2 выполнена плоскои, а с противоположной стороны каждой нз них жестко закреплены кронштейны 3 и 4. Пластина 2 опирается на шарик 5, установленный в отверстии пластины 1,и поджнмается к нему другим шариком 6 че- .рез пружину 7 винтом 8. На концекронштейна 3 выполнена рамка 9 с окном и резьбовыми отверстиями, в которые ввернуты две пары винтов 10,взаимодействующих с хвостовиком кронштейна 4. Устройство работает следующим образом,Эталон и исследуемый образец...

Номер патента: 1130782

Опубликовано: 23.12.1984

Авторы: Мандрикова, Перозио

МПК: G01N 23/20

Метки: генетической, группы, доломита

...с рассчитанной интенсивностью базальных и сверхструктурных рефлексов относят доломит к хемогенной группе. На фиг, 1 изображена теоретическирассчитанная рентгенограмма эталонВ природных условиях распространения доломита, имеющие различные рентгеновские характеристики двух типов.Анализ рентгеновских картин природных доломитов проведен путем сравнения со схематической рентгенограммой доломита( фиг. ), построенной по данным теоретически рассчи3 11 таиным для идеальной доломитовой структуры 3)Дифрактограмма первого типа природных доломитов (фиг.2) характеризуется узкими, высокими, симметричными дифракционными маКсимумами, положение которых соответствует значениям межплоскостных расстояний эталонного доломита и увеличенной...

Номер патента: 1132205

Опубликовано: 30.12.1984

Авторы: Гусев, Ефанов, Комяк, Лютцау, Петрашень, Чуховский

МПК: G01N 23/20

Метки: монокристаллов, рентгеновской, топографии

...на расстояние, определяемое необходимым разрешением в горизонтальном направлении. Накопление изображения осуществляется соответствующей электронной схемой с аналоговым или цифровым запоминающим устройством, после чего изображение ,воспроизводится на телевизионном экране или любом другом средстве ви 35 зуализации иэображений.На фиг. 1 приведена геометрия ус. - тановки в вертикальной плоскости; на фиг, 2 - то же., в горизонтальной плоскости.40Устройство содержит источник 1, кристалл 2, линейный координатный детектор 3, щель перед детектором 4, экран прямоге пучка 5.Рассмотрим количественно достижимые характеристики устройства. Как видно из геометрии (фиг. 2) размытие изображения в плоскости образца, вызванное конечным размером фокуса,...

Номер патента: 1133519

Опубликовано: 07.01.1985

Авторы: Афанасьев, Бугров, Имамов, Маслов, Пашаев, Шилин

МПК: G01N 23/20

Метки: монокристаллов, структурных, характеристик

...глубиной выхода электронов 0,2-0,3 мкм, с точностью до4 -10 5, характерной для вторичныхпроцессов,На фиг.1 представлено устройствОдля осуществления предлагаемогоспособа; на фиг.2 - схема; поясняющая эксперимент.Устройство содержит источник 1рентгеновскогоизлучения, кристаллмонохромагор 2, исследуемый, кристалл3, гониометр 4, счетчики 5 и 6 рентгеновского излучения, детектор 7электронов ВЭУ, ось гониометра 8.Способ реализуется следующимобразом. Рентгеновское излучение из источника 1 падает на кристалл-монохроматор 2, находящийся в положении, удовлетворяющем условию дифракции в геометрии Брэгга. Монохроматиэированное и коллимированное излучениефпадает под малым углом 1-5 на исследуемый кристалл 3, сориентированный в положение,...

Номер патента: 1133520

Опубликовано: 07.01.1985

Авторы: Асланян, Безирганян, Заргарян

МПК: G01N 23/20

Метки: варианты, его, исследования, монокристаллов, рентгенографический, совершенства, структурного

...дифракцию лентообраэного падающего пучка на ступенчатый кристалл в двух случаях: первичный пучок падает с 1 О гладкой стороны монокристалла (фиг.1), первичный пучок падает со ступенча- той стороны монокристалла (фиг. 2). При лентообразном падающем пучке 15поперечное сечение пучков, дифрагированных в ступенчатых мозаичных и со,вершенных монокристаллах, будетиметь вид, показанный на фиг. 5-12,где обозначены . ступенчатый моно Окристалл 1, первичный пучок 2, поперечное сечение 3 дифрагированногопучка, когда первичный пучок падаетс гладкой стороны, поперечное сечение 4 дифрагированного пучка, когда 25первичный пучок падает со- ступенчатойстороны,Поперечные сечения пучков, дифрагироваиных в мозаичных и совершенных монокристаллах,...

Номер патента: 1138717

Опубликовано: 07.02.1985

Авторы: Гусев, Дорожкин, Комяк, Левчук, Петрашень, Чернов

МПК: G01N 23/20

Метки: дифракционных, монокристаллов, отражение, рентгеновских, топограмм

...1 рентгеновских лучей располагается в одной плоскости с фотопластинкой 2 или дру гим регистрирующим устройством. При этом отражающие плоскости кристалла 3 должны быть параллельны,пласкОС". ти;регистрации., Во время съемки кристалл облучают расходящимся йубж рентгеновских лучей через щель 4 так, чтобы имело место одновременное отражение обеих составляющих К дуплета (3, и д ) и линейно сканируют в направлении, перпендикулярном к отражающим плоскостям. При этом как и согласно известному способу, имеет место фокусировка по длинам волн ( см, чертеж, штриховые линии А( А") и В 1,Вц) - точки на кристалле; А и В - соответствующие им точки в плоскости регистрирующего устройства ). В симметричном случае дифракции изображение всегда...

Номер патента: 1144040

Опубликовано: 07.03.1985

Авторы: Бухаленко, Ильинский, Мантуло, Петьков, Романова, Скляров

МПК: G01N 23/20

Метки: дифрактометра, юстировки

...его положения. 50Наиболее близким по технической сущности к предлагаемому является способ юстировки первичного пучка дифрактометра, включающий фиксацию отклонения первичного пучка от опти ческого центра и поворот источника до совпадения первичного пучка с оптическим центром дифрактометра 3 . 3Недостатком известного способа является сложность юстировки первичного пучка дифрактометра ввиду необходимости установки на кронштейне . детектора специального устройства.Цель изобретения - упрощение юстировки рентгеновского дифрактометра.Поставленная цель достигается тем, что согласно способу юстировки дифрактометра, включающему фиксацию отклонения первичного пучка от оптического центра и поворот источника, устанавливают в держателе...

Номер патента: 1032882

Опубликовано: 23.03.1985

Авторы: Вейцман, Кривко, Самойлов, Скупов, Темес

МПК: G01N 23/20

Метки: металлических, поверхности, рентгеноструктурного, состояния

...прибором, соединен-, ных со счетчиком. Контролю подвергается деталь.Деталь перемещают относительно источника и счетчика, при этом измеряют интенсивность отраженного от детали излучения в зоне максимальнойкрутизны дифракционной линии и поизменению интенсивности определяют,например, изменение величины и знакаостаточных напряжений в поверхностном слое детали. В том случае, когда интенсивность отраженного излучения регистрируется,например, на диаграммной ленте, двигающейся с той же скоростью, что и . деталь, на ленте можно легко отметить все аномальные участки поверхности детали.Предлагаемый способ позволяет ускорить и упростить контроль состояния поверхности по всей протяженнос". ти детали и исключает вероятность появления...

Номер патента: 1149151

Опубликовано: 07.04.1985

Авторы: Грабина, Добровольский, Майборода

МПК: G01N 23/20

Метки: анализа, рентгеноструктурного

...897 Заказ 1 од Патент" илиал ППП Ужгород Проектная, 4 3 114915 счетным каналом при облучении исследуемого вещества, делят на суммарное количество импульсов, зарегистрированных другим счетным каналом при облучении аморфного вещества. Такое отношение берут для каждой точки кривой (угла) и строят график.П р и м е р, Регистрируется линияо200 (угол Я 65 ) остаточного аустенита легированной стали марки 10 35 ХНМФ, отпущенного при 250 С.Указанная линия получена на аппарате "Дрон", Образец стали, вырезанный в виде полукруга, устанавливают в кювету держателя образцов и гснио метрическом устройстве. Б другую половину кюветы устанавливают эталонный образец из аморфного железа. Пиния снимается по точкам.При каждом фиксированном положении...

Номер патента: 1151873

Опубликовано: 23.04.1985

Авторы: Белоцкая, Тихонов, Харькова

МПК: G01N 23/20

Метки: аномального, кососимметричных, методу, прохождения, пучке, рентгеновском, съемок, широком

...по топограмам различных угловых величин, ха"актеризующих структуру кристалла.едостаток обусловлен тем, что учасок (дуга), вырезаемый источникоментгеновских лучей из конуса возожных направлений падающих лучей,овлетворяющих закону Брэгга, неерпендикулярен штриху фокуса, т,е.лоскость дифракции - плоскость соержащая прямой и дифрагированныйучки не параллельна линии штрихаокуса.Цель изобретения - устранениескажения метрики дифракционных топорами и упрощение благодаря этомуоследующей обработки информации.Указанная цель достигаетсятем, что согласно способу кососимметричных съемок в широком рентгеновском пучке по методу аномального прохождения, включающему установку известной ориентации в держателе на оси гониометра, предварительную его...

Номер патента: 1151874

Опубликовано: 23.04.1985

Авторы: Ильинский, Мантуло, Минина, Новоставский, Петьков, Харитонов, Черепин, Щербединский

МПК: G01N 23/20

Метки: высокотемпературный, дифрактометр, рентгеновский

...через щели, Формирующиепервичный пучок излучения, и фокус источника рентгеновских лучей,при этом держатель кюветы с образцом установлен с возможностью жесткого соединения и совместного вращения с источником рентгеновских лучей, а источник установлен с возможностью дополнительного поворотавокруг оси, лежащей в плоскостистенки кюветки, выполненной из кристалла-монохроматора и параллельнойоси гониометра.На фиг.1 показан дифрактометр(вариаит кинематической.схейы 6-0,разрез по плоскости, перпендикулярной главной оси дифрактометра; нафнг.2 и 3 - схемы хода рентгеновскихлучей в дифрактометре,Высокотемпературный рентгеновский дифрактометр содержит источникрентгеновских лучей со щелями 2 дляформирования первичного пучка ндетектор 3 со...

Номер патента: 1155924

Опубликовано: 15.05.1985

Авторы: Никишин, Петьков, Утенкова, Шолин

МПК: G01N 23/20

Метки: анализа, высокотемпературного, рентгеноструктурного

...для прохождения рентгеновских лучей. Держатель 9 радиат ра 6 соединен с механизмом 1 О перемещения, привод 11 которого соединен со схемой получения сигнала (не показана), поступающего от дифференциальной термопары 12, контактов 6 , о ,. Спаи термопары 12 подведены к образцу 1 и эталону 2. Радиатор 6 соединен с охлаждаемым корпусом 13 камеры гибким тепло- проводящим жгутом 14. Нагреватель 5 соединен с токоподводами 15.Устройство для высокотемпературного рентгеноструктурного анализа работает следующим образом. 15 о35 40 45 50 55 Недостаток известного устройства состоит в том, что из-за того, что образец и эталон находятся в разных тепловых. условиях, снижается уровень рабочих температур, а это, в свою очередь, ухудшает условия получения...

Номер патента: 1158909

Опубликовано: 30.05.1985

Авторы: Аветян, Анчаракян, Аракелян, Мшецян

МПК: G01N 23/20

Метки: исследований, монокристаллов, рентгенотопографических

...платформу 4, на которойустановлены источник 1 и зеркала2 и 3, держатель 5 исследуемого монокристалла 6, рентгеновский видикон 1, телевизионный тракт 8 и видеоконтрольное устройство 9, Платформа4 установлена с воэможностью линей"ного перемещения перпендикулярно коптической оси устройства, Каждоеиз зеркал 2 и 3 установлено с возможностью юстировки углового положения относительно оптической оси 1 О(направления распространения центрального луча от источника 1) и ихплоскопараллельного перемещения перпендикулярно к оптической оси 10.Механизмы для выполнения движенияплатформы 4 и зеркал 2 и 3 сами посебе общеизвестны, В качестве зеркал 2 и 3 полного внешнего отражения используют стеклянные пластины с нанесенной пленкой серебра толщиной...

Номер патента: 1163227

Опубликовано: 23.06.1985

Авторы: Воронков, Максимов, Чуховский

МПК: G01N 23/20

Метки: деформаций, монокристаллических, пластин, упругих

...ориентация которой задана углами 1 имежду следами отражающейкристаллографической плоскости награнях пластины и ее ребрами, нафиг. 2 - схема измерений,На пластину действуют изгибающиеи крутящий моменты М 1, М и Н, которые создают определенное поле упругих смещений й(х,у,л) 1 4 1Исследуемую монокристаллическуюпластину облучают рентгеновским излучением от точечного фокуса Г. Коллиматор К 1 ограничивает размеры иугловую расходимость рентгеновскихлучей в одном направлении. Кристаллюстировкой на гониометрической приставке вводится в отражающее положение. Отражающие плоскости выбираются таким образом, чтобы выполнялосьусловие дифракции по Лауэ. Все отраженные рентгеновские лучи проходятчерез коллиматор К, который служитдля...

Номер патента: 1168839

Опубликовано: 23.07.1985

Авторы: Леви, Перлин

МПК: G01N 23/20

Метки: анализа, количественного, рентгенографического, фазового, хризотил-асбеста

...любом интервале концентраций исследуемой фазы.Указанная цель достигается тем,что согласно способу количественногорентгенографического фазового анализа хризотил-асбеста в пробе включающему ее усреднение, облучение пробырентгеновским излучением, получение дифракционной картины, и определение концентраций хризотил-асбеста в пробе по измеренным интенсивностям дифракционных отражений, пробу перед облучением нагревают до температуры превращения хризотил-асбеста в форстерит и выдерживают приэтой температуре до окончания процесса превращения и концентрацию хризо-тил-асбеста определяют по интенсивностям дифракционных отражений форстерита.Причем пробу нагревают до 700 о900 С и выдерживают при этой температуре в течение 1-3 ч.Хризотил-асбест при...