Патенты с меткой «топограмм»

Номер патента: 387269

Опубликовано: 01.01.1973

Автор: Хацернов

МПК: G01N 23/20

Метки: рентгеновских, съемки, топограмм

...как метод Ланга, предназначен для получения полной картины дефектов решетки в объеме кристалла, Изображение, зарегистрированное на топограмме, является проекцией всего объема кристалла в направлении дифрагированного пучка. В результате того, что изображения дефектов с разных глубин образца накладываются на топограмме, возможность разрешения отдельных дефектов с увеличением толщины образца уменьшается. Кроме того, невозможно судить о глубине залегания различных дефектов.Известен также способ съемки - так называемый метод ограниченных топограмм, который позволяет получать на одной топограмме изображение слоя только с одной глубины образца.Цель изобретения - разработка такого способа съемки топограмм, который позволил бы на одной...

Номер патента: 445364

Опубликовано: 05.08.1976

Авторы: Ефанов, Комяк, Лютцау, Рабодзей

МПК: G01N 23/20

Метки: кристаллов, топограмм

...кристалла ц положение соответствующего цм акта заиси ца детекторе. Причем в зависимости от требований к съемке матрица параллельных капилляров может быть установлена как перед исследуемым кристаллом, так и перед детектором.На чертеже схематически изображен один из вариантов исполнения предлагаемого устройства.Источник излучения 1 выполнен в в",де растровой рентгеновской трубки с анодом 2, нанесенным непосредственно на выходное окно из бериллия.Непосредственно у выходного окна источника излучения расположен коллиматор 3 в виде двумерной матрицы параллельных капилляров, вплотную к которому размещен исследуемый кристалл 4. 32 ис. следуемым кристаллом перед детектором 5 размещен другой коллиматор 6, выполненный также в виде двумерной...

Номер патента: 752161

Опубликовано: 30.07.1980

Авторы: Ведерников, Гавриловаи, Гундырев, Есин, Мотора, Смирнова, Соловьева

МПК: G01N 23/207

Метки: дифракционных, рентгеновских, топограмм

...На чертежах показаны средние лучи обоих пучков, Первоначальные положения кристалла и пленки показа)ны сплошныии линиями, положения кристалла и пленки в произвольно выбранный,момент съемки показаны пунктиррными1лнния 1 ми. Стрелки указывают направления вращений.В начальный момент времени,луч РО падает в точиу О кристалла и, дифрагируя в направлении ОО, попадает в мчи О, пленки. В процессе съемки кристалл вращаепся о пносительню оси О, лежащей в плоскостц его пюверхности, со скоростью а и юдноаременно воируг оси О, вращения системы кристалл - пленка, совмещенной с фокусом 1 рентгеновской ърубки, со скоростью а, Наложение этих двух вращений относительно параллельных осей дает результирующее доступательное перемещение кристалла. В...

Номер патента: 998928

Опубликовано: 23.02.1983

Авторы: Ведерников, Гаврилова, Гундырев, Есин, Мотора, Мясников, Смирнова, Соловьева

МПК: G01N 23/207

Метки: дифракционных, монокристаллов, рентгеновских, топограмм

...установлены толкающий механизм24 с двигателем 25, взаимодействующийс подвижным основанием 2, и неподвижный коллиматор 26, Ось шарнира 23ползуна 20 центры щелей коллиматора26 и фокус А лежат в одной плоскости,Камера работает следующим образомПри среднем положении камеры(Фиг. 1) узкий пучок характеристического излучения направляется в центробразца и по детектору 14 образец выводится в отражающее положение К,компоненты излуцения, После этого раскрываются щели неподвижного коллиматора 26 в соответствии с требуемойгоризонтальной расходимостью первичного пучка, которая определяется шириной используемой цасти спектра, углом дифракции вертикальными размерами образца (вследствие изгиба линиедифракции). Шторки 12 устанавливаются в положение...

Номер патента: 1138717

Опубликовано: 07.02.1985

Авторы: Гусев, Дорожкин, Комяк, Левчук, Петрашень, Чернов

МПК: G01N 23/20

Метки: дифракционных, монокристаллов, отражение, рентгеновских, топограмм

...1 рентгеновских лучей располагается в одной плоскости с фотопластинкой 2 или дру гим регистрирующим устройством. При этом отражающие плоскости кристалла 3 должны быть параллельны,пласкОС". ти;регистрации., Во время съемки кристалл облучают расходящимся йубж рентгеновских лучей через щель 4 так, чтобы имело место одновременное отражение обеих составляющих К дуплета (3, и д ) и линейно сканируют в направлении, перпендикулярном к отражающим плоскостям. При этом как и согласно известному способу, имеет место фокусировка по длинам волн ( см, чертеж, штриховые линии А( А") и В 1,Вц) - точки на кристалле; А и В - соответствующие им точки в плоскости регистрирующего устройства ). В симметричном случае дифракции изображение всегда...

Номер патента: 1206694

Опубликовано: 23.01.1986

Авторы: Бурбело, Золотарь, Орлинский

МПК: G01N 29/06

Метки: топограмм, фотоакустических

...к фотоакустической микроскоции и может быть использовано для визуализации струк". туркой однородности широкого класса веществ, в том числе оптически непрозрачных.Цель изобретения - повышение производительности и достоверности контроля.На чертеже представлено устройство, реализующее способ получения фотоакустических топограмм.Устройство содержит лазер 1, модулятор 2, поворотное зеркало 3, фокусирующую линзу 4, фотоакустическую ячейку 5 с микрофоном 6, резонансные усилители 7 и 8, синхронные детекторы 9 и 10, задающие генераторы 11 и 12 модуляции, дифференциальный усилитель 13.Предлагаемый способ осуществляют следующим образом.Луч лазера 1 модулируют с помощью модулятора 2 одновременно двумя частотами й, и Е . Далее лазерный луч с...

Номер патента: 1317342

Опубликовано: 15.06.1987

Авторы: Дегтярев, Никольский, Разумовский, Чернов

МПК: G01N 23/20

Метки: дифракционных, рентгеновских, топограмм

...Таким образом осуществляются сканирование кристалла в характеристическом рентгеновском излучении. Фокусировка отраженных лучейна пленке 4 происходит за счет вращения пленки со скоростями 2 ы и -ывокруг осей О и О ., Экранирующаящель 5 отслеживает дифрагированныйпучок, поскольку она совершает вращение в плоскости дифракции вокругоси О с удвоенной по отношению ккристаллу скоростью при одновременном вращении ее в противоположномнаправлении в той же плоскости вокруг оси, лежащей в плоскости щелии проходящей через ее середину, сугловой скоростью, равной скоростивращения кристалла. Из анализа рентгенооптических схем (Фиг,1 и 2) следует, что радиус К вращения щели 5 может быть определен по Формуле: отсчет против часовой стрелки, знак "+- по...

Номер патента: 1442906

Опубликовано: 07.12.1988

Авторы: Булах, Бурбело, Кузьмич, Кучеров

МПК: G01N 29/06

Метки: топограмм, фотоакустических

...излучателя и преобразователя путем сравнения с параметрами эталонной точки.На чертеже представлена блок-схема устройства, осуществляющего способ.Устройство содержит отклоняющую систему 1, направляющую зондирующий луч 2 на твердое тело 3, пьезоэлект рический преобразователь 4Ось вращения преобразователя обозначена позицией 5.Для получения строки ФА топограммы пространственную модуляцию зондирующего луча 2 осуществляют только по одной координате с одновременным поворотом твердого тела 3 вокруг оси 5, перпендикулярной его поверхности и проходящей через эталонную точку А. Это позволяет фор - мировать строку йА топограммы, Для формирования второй и последующих строк ФА топограммы изменяют размах .пространственной модуляции...

Номер патента: 1497532

Опубликовано: 30.07.1989

Авторы: Аристов, Шабельников

МПК: G01N 23/00

Метки: поликристаллов, рентгеновских, топограмм

...зерна от 1 до 3 мкм, При измерениях падаюций пучок пропускают через щели01Соллера (угол расходимости М,= 2,5и кварцевый коллиматор 2 полного вне шнего отражения, уменьшающего ширину падающего пучка до Ь = 20 мкм. Дифрагированное излучение, соответствующее, дебаевской линии (200) кремния с дифракционным углом В гго = 10,5 на излучении р,1 выделяют ограничивающей щелью 6 шириной Б = 50 мкм и щелью 5 Соллера К = 2,5") . Распределение интенсивности регистрируют линейным координатным детектором РКЛ(7), имеющим линейное разрешение2 = 300 мкм (для излучения М,1 с,). 1 опо раммы по - лучают при непрерывном перемещении объекта по одной из координат Х (или У) при фиксированном значении второй координаты У (соответственно Х), Пределы непрерывного...

Номер патента: 1658050

Опубликовано: 23.06.1991

Автор: Гундырев

МПК: G01N 23/20

Метки: монокристаллов, рентгеновских, топограмм

...27, содержащая системутонких плоских пластин 28, равномерно распределенных по всему основаниюгребенки 27 и выполненных иэ хорошопоглощающего рентгеновские лучи материала. Плоскость каждой пластины28 проходит через точечный фокус Френтгеновского источника и перпендикулярна отражающим кристаллографическим плоскостям.Устройство работает следующим образом.При среднем положении камеры узкий пучок характеристического излучения направляется на центр образца ипо детектору 14 образец выводится вотражающее положение К компонентыизлученияПосле этого раскрываютсящели неподвижного коллиматора 26 всоответствии с требуемой горизонтальной расходимостью первичного пучка,которая определяется шириной используемого участка спектра, углом...

Номер патента: 1748030

Опубликовано: 15.07.1992

Авторы: Абоян, Безирганян, Хзарджян

МПК: G01N 23/20

Метки: проекционных, рентгеновских, топограмм

...рассеяния (в рассеиваемом объеме не происходит многократныхотражений); на фиг. 3 и 4 - топографы, полученные способом-прототипом и предлагаемым способ соответственно.Определив ширины первичного и дифрагированного пучков и их направленияхнаправления сканирования), можно с помощью часового механизма регулироватьшаговые движения образца и пластинки,Казалось бы, при сканировании образца(кристалла) с шагом, равным ширине первичного пучка, области кристалла,подобные ВВ 1 В (фиг, 1), проектируютсядважды и независимо от скорости перемещения пластинки картины таких областейна ней получаются дважды.Однако нетрудно убедиться в том, чтодифракционно проектируемыми зонамикристалла являются только области, облучаемые первичными пучками, т,е....